「X diffraction」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

In the tungsten sputtering target, a crystal orientation ratio (110)/(200) of crystal surfaces (110) and (200) found by X-ray diffraction of a surface to be sputtered is 0.1 to 6.5.例文帳に追加

Ｗスパッタリングターゲットは、スパッタリングされる面のＸ線回折により求められた結晶面（１１０）及び（２００）の結晶方位比率（１１０）／（２００）が０．１〜６．５であることを特徴とする。 - 特許庁

The area shielded is changed according to the incident angle θ of the incoming X-ray, and a regularly or substantially optimum valid diffraction area on the curved dispersive crystal 3 can be thus used.例文帳に追加

遮蔽される領域は入射Ｘ線の入射角θに応じて変化し、常に最適又はそれに近い湾曲分光結晶３上の有効回折領域を用いることができる。 - 特許庁

In addition, it is expected that the present invention will provide a reliable and reproducible method for quantitative measurement of a very small amount of active oxygen produced therefrom through the X-ray diffraction analysis.例文帳に追加

また、本発明は、その時に発生する微量の活性酸素をＸ線回折分析で定量して、信頼性及び再現性ある活性酸素発生量の測定技術を提供する。 - 特許庁

To provide a point-diffraction interferometer capable of inspecting surface quality of an extreme ultraviolet lithography optical system using a high-order harmonic X-ray source with excellent coherence.例文帳に追加

干渉性が優秀な高次高調波エックス線光源を利用して超紫外線リソグラフィー用光学系の表面品質を検査できるエックス線干渉計測装置を提供する。 - 特許庁

The flake-like hydrous titanium oxide has such a layer structure that at least one peak of an X-ray diffraction pattern shows 2-4 nm d-spacing of lattice planes.例文帳に追加

Ｘ線回折パターンの少なくともひとつのピークが２ないし４ｎｍのｄ面間隔を示す層状構造を有することを特徴とする薄片状含水酸化チタンを開示する。 - 特許庁

To provide a structure analysis method of a crystal applicable even to a case where a peak usable as a reference peak cannot be observed near an analysis object peak in an X-ray diffraction method.例文帳に追加

Ｘ線回折法において、基準ピークとなるようなピークが解析対象ピークの近傍に観測できないような場合にも適用できる結晶の構造解析方法を提供する。 - 特許庁

This titanium hydride has microcrystal grains in which the half width value of the peak in the (1, 1, 1) plane as the strongest line of titanium hydride TiH1.971 by X-ray diffraction is 0.2122 degree or more.例文帳に追加

水素化チタンは、Ｘ線回折による水素化チタンＴｉＨ_１．９７１の最強線である（１，１，１）面におけるピークの半価幅値が０．２１２２ｄｅｇｒｅｅ以上である微小結晶粒を持つ。 - 特許庁

A ratio of peak intensity at (222) plane to that of (400) plane of the indium tin oxide of the ITO transparent conductive film at an X-ray diffraction is not less than 1:1 and not larger than 4:1.例文帳に追加

成膜されるＩＴＯ透明導電膜は、Ｘ線回析において、酸化インジウム錫の（２２２）面のピーク強度と（４００）面のピーク強度の比が１：１以上４：１以下である。 - 特許庁

The biaxially stretched polyamide film is characterized by that the fine crystal size thereof measured by X-ray diffraction is within a range of 45-100 Å over the total width thereof and the sonic wave elastic modulus thereof is 1.6 GPa or more.例文帳に追加

フィルムの全幅に渡って、Ｘ線回折により測定される微結晶サイズが４５〜１００Åの範囲内にあり、且つ、音波弾性率が１．６ＧＰａ以上である。 - 特許庁

When performing counting for "to" as time interval in a spectral diffraction position, the standard deviation Eo for the dispersion in the count N of X-ray total values which does not include statistical fluctuation is Sqrt (N).例文帳に追加

ある分光位置においてｔｏ時間計数したときの統計変動を含まないＸ線計数値Ｎカウントが持つばらつきの標準偏差ＥｏはＳｑｒｔ（Ｎ）である。 - 特許庁

<Positions (lattice plane distance d/Å) by the lattice plane distance display of the peaks in the X-ray diffraction pattern>: 12.4±0.8, 10.8±0.5, 9.0±0.3, 6.0±0.3, 3.9±0.3, 3.4±0.1.例文帳に追加

＜Ｘ線回折パターンにおけるピークの格子面間隔表示による位置（格子面間隔ｄ／Å）＞１２．４±０．８、１０．８±０．５、９．０±０．３、６．０±０．３、３．９±０．３、３．４±０．１ - 特許庁

Through X-ray diffractometry of the surface layer, a primary diffraction peak corresponding to at least one of the (111) crystal plane, (200) crystal plane and (311) crystal plane is observed.例文帳に追加

表層のＸ線回折により、（１１１）結晶面、（２００）結晶面、（２２０）結晶面及び（３１１）結晶面の少なくとも一つに対応した１次回折ピークが観察される。 - 特許庁

This is conductive paste containing silver powder, an organic binder and solvent, and peak width at half band width of the main peak in the X-ray diffraction measurements of the silver powder is 0.25 degree or less.例文帳に追加

銀粉末と、有機バインダと、有機溶剤とを含有する導電性ペーストであって、前記銀粉末のＸ線回折測定におけるメインピークの半値幅が０．２５度以下である。 - 特許庁

In the step of forming the ZnO film, the ZnO film having a (002) peak at least 5 times greater than the (100) peak, as measured by X-ray diffraction, is formed.例文帳に追加

上記ＺｎＯ膜を形成する工程では、一般的に、Ｘ線回折により測定される（００２）ピークが（１００）ピークよりも５倍以上大きいＺｎＯ膜を形成させる。 - 特許庁

Amount of average gaps Δx of each layer is acquired from a specific algebraic expression using a crystal lattice constant a0 and c0, and a surface to layer distance d112 obtained from X-ray diffraction of a carbon material.例文帳に追加

炭素材料のＸ線回折から得られる、結晶格子定数ａ_0 およびｃ_0と面層間距離ｄ_112 を用い、特定の数式から各層の平均ずれ量Δｘを求める。 - 特許庁

The Ni-W-S alloy film 2 preferably has a finely uneven surface, and has an amorphous or microcrystalline X-ray diffraction pattern.例文帳に追加

このとき、Ｎｉ−Ｗ−Ｓ合金膜２の表面が微細凹凸面になっていることが好ましく、そのＸ線回折パターンがアモルファス状又は微結晶状であることが好ましい。 - 特許庁

Acoustic signals to be emitted from the speakers 10, 20 arranged on the maximum axis X of interaural level difference are subjected to attenuation of high frequency component by diffraction attenuation of the head of the listener M.例文帳に追加

両耳間レベル差最大軸Ｘ上に配置されたスピーカ１０，２０から発進される音響信号は、聴取者Ｍの頭部の回折減衰によって高周波成分が減衰する。 - 特許庁

To attain highly accurate thermal analysis measurement by making ambient environment of a sample for measurement and a standard sample the same on the premise of configuration for performing X-ray diffraction measurement by a transmission method.例文帳に追加

透過法によるＸ線回折測定ができる構造を前提として、被測定試料と標準試料の周囲環境を同じにして高精度な熱分析測定を実現する。 - 特許庁

The zirconia sintered compact is characterized in that the half-value width of a peak of (111)plane of the tetragonal system in the X-ray diffraction pattern by CuKα ray is 0.38-10°.例文帳に追加

ＣｕＫα線によるＸ線回折パターンにおける正方晶の（１１１）面のピークの半値幅が０．３８度以上１０度以下であることを特徴とするジルコニア焼結体。 - 特許庁

The sputtering target is characterized in that it contains indium, tin, zinc and oxygen and only a peak ascribed to a bixbyite structure compound is practically observed by X-ray diffraction (XRD).例文帳に追加

インジウム、錫及、亜鉛及び酸素を含有し、Ｘ線回折（ＸＲＤ）によってビックスバイト構造化合物のピークのみが実質的に観測されることを特徴とするスパッタリングターゲット。 - 特許庁

SODIUM CHANNEL SPECIFIC TO PERIPHERAL NERVOUS SYSTEM, DNA ENCODING THE SAME, CRYSTALLIZATION, X-RAY DIFFRACTION, COMPUTER MOLECULAR MODELING, RATIONAL DRUG DESIGNING, DRUG SCREENING, AND METHODS FOR MANUFACTURING AND USING THE DRUG例文帳に追加

末梢神経系特異的ナトリウムチャンネル、それをコードするＤＮＡ、結晶化、Ｘ線回折、コンピューター分子モデリング、合理的薬物設計、薬物スクリーニング、ならびにその製造法および使用法 - 特許庁

The electrolytic slime is mixed with a solution of potassium formate, potassium carbonate, potassium hydroxide and dithylenediaminetetraacetic acid, and barium sulfate which influences the X-ray diffraction method is dissolved and removed.例文帳に追加

電解スライムを蟻酸カリウム、炭酸カリウム、水酸化カリウム及びジエチレントリアミン五酢酸の溶液と混合して、Ｘ線回折に影響を与える硫酸バリウムを溶解除去する。 - 特許庁

To perform measurements on wide energy regions in the system which diffracts, with a diffraction grating, the characteristic X-ray from a sample irradiated with an electron beam and collects spectra with an image sensor.例文帳に追加

電子線を照射した試料からの特性Ｘ線を回折格子により回折させてイメージセンサでスペクトルを採取するシステムにおいて、幅広いエネルギー領域の測定を行う。 - 特許庁

Preferably, the fluorine content is ≤0.5 mass% and the half-value width (2θ) of the maximum peak of cerium oxide by X ray diffraction measurement is 0.10-0.50°.例文帳に追加

また、そのフッ素は０．５質量％以下であることが好ましく、Ｘ線回折測定における酸化セリウムの最大ピークの半値幅（２θ）が０．１０〜０．５０°であるものが望ましい。 - 特許庁

To provide a new form of 1,4-diketo-3,6-di(4'-tert-butylphenyl)-2,5- dihydropyrrolo[3,4-c]pyrrole pigment having a distinguished color property and a distinguished X-ray diffraction pattern.例文帳に追加

際立った色特性及びＸ線回折図形を有する新規形態の１，４−ジケト−３，６−ジ（４′−tert-ブチルフェニル）−２，５−ジヒドロピロロ〔３，４−ｃ〕ピロール顔料を提供すること。 - 特許庁

Since the charge transfer timing of the CCD sensor 22 is synchronized with its scanning moving distance, the X-ray intensity at each diffraction angle can be accumulated accurately by each CCD pixel.例文帳に追加

ＣＣＤセンサ２２の電荷転送タイミングとその走査移動距離が同期しているので、個々の回折角度におけるＸ線強度を個々のＣＣＤ画素によって正確に蓄積できる。 - 特許庁

The diffraction grating formed on the 1st surface 10A has its grating direction in parallel to a (y) axis and also has unevenness periodically formed in cycles Λ along an (x) axis.例文帳に追加

この第１面１０Ａに形成された回折格子は、格子方向がｙ軸方向に平行であり、ｘ軸方向に周期Λで凹凸が周期的に形成されたものである。 - 特許庁

The transmission type diffraction grating 21 is prepared by forming gratings extending in an x-axis direction at a given cycle and performs wavelength bifurcation on and outputs light inputted into an input port.例文帳に追加

透過型回折格子２１は、ｘ軸方向に延在する格子が一定周期で形成されたものであり、入力ポートに入力された光を波長分岐して出力する。 - 特許庁

To derive accurately a stress without limiting the wavelength and the diffraction surface of an X-ray used for measurement, even when a material has orientation or elastic anisotropy.例文帳に追加

材料の配向性や弾性異方性がある場合においても、測定に用いるＸ線の波長と回折面を限定することなく、応力を精度良く導き出すことができるようにする。 - 特許庁

Using the slurry containing iron with a half band width of an X ray diffraction peak on (110) plane of iron being at least 0.2° and not more than 0.6° and a mean particle diameter being in a range of 0.01-5 μm, is preferable.例文帳に追加

鉄の（１１０）面のＸ線回折ピ−クの半値幅が０．２°以上０．６°以下、平均粒子径が０．０１〜５μｍの範囲である鉄含有スラリ−を用いることが好ましい。 - 特許庁

This manufacturing method includes synthesizing AlH_3, and ball-milling the synthesized AlH_3 in a condition of applying a force of 2 G to 20 G (where G represents gravity acceleration) to make an X-ray diffraction pattern of AlH_3 into a halo pattern.例文帳に追加

ＡｌＨ_3を合成した後、２Ｇ〜２０Ｇ（Ｇは重力加速度）の力を付与する条件でボールミリングを行い、Ｘ線回折パターンがハローパターンとなるＡｌＨ_3とする。 - 特許庁

Here, Ip represents a maximum value of intensity of a part above a tangent drawn to both bottoms of the diffraction peak of the (002) surface, and Io represents the remaining X-ray intensity obtained by subtracting scatter intensity of air from measured diffraction intensity at an angle 2θ indicating Ip.例文帳に追加

（ここで、Ｉｐとは（００２）面の回折ピークの両裾に接線を引き、その接線から上の部分の強度の最大値であり、ＩｏとはＩｐを示す回折角２θにおける実測回折強度から空気の散乱強度を差し引いた残りのＸ線強度である。） - 特許庁

The faces of the flat plate 131 and the flat plate 132 which are in parallel with x-z plane hold the optical waveguide type diffraction grating element 110 and the dummy member 120 and the plates act as a load-giving means which gives a load to the optical waveguide type diffraction grating element 110 from the side direction.例文帳に追加

平板１３１および平板１３２それぞれは、ｘｚ平面と平行な面により光導波路型回折格子素子１１０およびダミー材１２０を挟んでおり、光導波路型回折格子素子１１０に対して側方より荷重を付与する荷重付与手段として作用する。 - 特許庁

Zinc borate has a specific chemical composition and has a crystalline size of not less than 60 nm determined based on any of diffraction peak of surface indices (020), (101) and (200) in an X-ray diffraction image and a sodium content of not more than 100 ppm measured by means of an atomic absorption method.例文帳に追加

特定の化学組成を有し、Ｘ線回折像（Cu-kα）における面指数(０２０)(１０１)及び(２００)の回折ピークから求めた結晶子サイズが何れも６０ｎｍ以上であり、且つ原子吸光法で測定したナトリウム分の含有量が１００ｐｐｍ以下であるホウ酸亜鉛。 - 特許庁

The ultraviolet sensor is of the type utilizing photoconductive effect of zinc oxide and is characterized in that the zinc oxide is additive-free zinc oxide and the half bandwidth of a diffraction peak in a (002) surface is not more than 0.5 degrees in an X-ray diffraction pattern of the zinc oxide.例文帳に追加

本発明の紫外線センサは、酸化亜鉛の光導電効果を利用した紫外線センサであって、前記酸化亜鉛が無添加の酸化亜鉛からなり、前記酸化亜鉛のＸ線回折パターンにおいて（００２）面における回折ピークの半値幅が０．５度以下であることを特徴とする。 - 特許庁

Lithium manganate satisfying that a Li/Mn composition ratio is 0.55 to 0.60, and the variation of half-value width of a main diffraction line by X-ray diffraction under a charging condition of 0% to 100%, is 25% or more is used as a positive electrode active material, and amorphous carbon is used in a negative electrode active material.例文帳に追加

正極活物質にＬｉ／Ｍｎ組成比が０．５５以上０．６０以下で、充電状態０％乃至１００％間のＸ線回折による主要回折線の半値幅変化を２５％以上としたマンガン酸リチウムを用い、負極活物質に非晶質炭素を用いた。 - 特許庁

This metallic film transfer film for an electronic component has such structure that a mold releasing layer and a metallic layer are made in this order on the plastic film, and the half-value width of the diffraction peak which shows the crystal plane (111) obtained by the wide-angle X-ray diffraction of a metallic film is 1.5° or under.例文帳に追加

プラスチックフィルム上に離型層および金属膜がこの順に成膜された構造を有しており、金属膜の広角Ｘ線回折によって得られる（１１１）結晶面を示す回折ピークの半値幅が１．５°以下であることを特徴とする電子部品用金属膜転写フィルム。 - 特許庁

This electrode for a lithium secondary battery comprises a current collector 7 and a positive electrode active material layer that is formed on the current collector 7 by a vacuum evaporator 1 and is made mainly of Fe_3O_4 and has a diffraction peak in the vicinity of 30° when evaluated by the X-ray diffraction method.例文帳に追加

このリチウム二次電池用電極は、集電体７と、集電体７上に真空蒸着装置１により形成され、Ｆｅ_3Ｏ_4を主成分とするとともに、Ｘ線回折法により評価した場合に３０°付近に回折ピークを有する正極活物質層とを備える。 - 特許庁

The spherical porous silica particle has an average particle diameter of 50-500μm and an X-ray diffraction peak at the diffraction angle (CuKα) of 1-5° and modified with an organic functional group of an organic silicon compound coordinated to the Si atom of a silicate skeleton.例文帳に追加

平均粒径が５０乃至５００μｍの範囲にあり、回折角１乃至５度（ＣｕＫα）にＸ線回折ピークを有し、且つ有機シリコン化合物に含まれる有機官能基がシリケート骨格中のＳi原子に配位されている有機官能基で修飾された球状多孔質シリカ粒子。 - 特許庁

This catalyst for decomposing a volatile organic matter containing a titanium oxide supporting at least, a cobalt oxide, (1) shows at least, a diffraction pattern of Co_3O_4 in X-ray diffraction measurement, and (2) is characterized in that the titanium oxide alone shows photocatalytic activity under exposure to a visible light.例文帳に追加

少なくともコバルト酸化物を担持した酸化チタンを含む触媒体であって、（１）Ｘ線回折測定で少なくともＣｏ_3Ｏ_4の回折パターンを示し、かつ（２）前記酸化チタンは酸化チタンのみで可視光線の照射下で光触媒活性を示す揮発性有機物分解用触媒体である。 - 特許庁

The size of a crystallite measured by a Hall method from the integration width of each diffraction peak acquired from an X-ray diffraction pattern is larger than 600 Å and less than 800 Å in the cathode active substance for the lithium secondary battery.例文帳に追加

前記正極活物質において、Ｘ線回折パタ−ンから得られる各回折ピ−クの積分幅からＨａｌｌ法によって測定した結晶子の大きさが600Åより大きく、800Å未満であることを特徴とするリチウム二次電池用正極活物質である。 - 特許庁

The perovskite complex oxide is generated by adding a hydroxide of an alkaline earth element to titanium oxide slurry and reacting it therewith, which is obtained by dispersing a titanium oxide powder, for which an integration width of a diffraction peak on a (101) plane to be measured by X-ray diffraction is less than or equal to 2.0°, in water.例文帳に追加

Ｘ線回折によって測定される（１０１）面の回折ピークの積分幅が２．０°以下である酸化チタン粉末を水に分散させた酸化チタンスラリーに、アルカリ土類元素の水酸化物を添加して反応させることによりペロブスカイト型複合酸化物を生成させる。 - 特許庁

The powder X-ray diffraction pattern of the biimidazole compound shows a diffraction peak at least in each region from 9.0° to 9.2°, from 11.0° to 11.2° and from 21.2° to 21.4° of 2θ angle by Cu-Kα characteristic X-ray diffraction.例文帳に追加

（Ａ）バインダー樹脂、（Ｂ）光重合性モノマー、（Ｃ）光重合開始剤、（Ｄ）着色材料および（Ｅ）溶剤を含有し、光重合開始剤として少なくともビイミダゾール化合物を含む着色感光性樹脂組成物において、ビイミダゾール化合物の（１）粉末Ｘ線回折パターンがＣｕ−Ｋα特性Ｘ線回折の２θ角度で少なくとも９．０°〜９．２°の範囲、１１．０°〜１１．２°の範囲および２１．２°〜２１．４°の範囲にそれぞれ回折ピークを有することを特徴とする着色感光性樹脂組成物。 - 特許庁

The negative electrode active material composed of a high-capacity layered silicate mineral is provided in which mineral a position of the highest peak in an X-ray diffraction spectrum thereof is shifted to a lower angle side with respect to a postion of the highest peak of an X-ray diffraction spectrum of an unprocessed layered silicate mineral.例文帳に追加

本発明は、未処理の層状珪酸塩鉱物について測定されるＸ線回折のスペクトルにおける最も高いピークの位置に対し、最も高いピークの位置が低角度側にシフトしたＸ線回折のスペクトルが測定される高容量層状珪酸塩鉱物からなることを特徴とする負極活物質を提供することにより、上記課題を解決する。 - 特許庁

The oxytitanium phthalocyanine composition shows the maximum diffraction peak at a Bragg angle (2θ±0.2°) of 27.3° on a powder X-ray diffraction spectrum by CuKα-X-ray, and a ratio of chlorinated oxytitanium phthalocyanine in the composition is 0.015-0.070 mass spectrum strength relative to a non-substituted oxytitanium phthalocyanine.例文帳に追加

ＣｕＫα特性Ｘ線による粉末Ｘ線回折スペクトルにおいて、ブラッグ角（２θ±０．２°）２７．３°に最大回折ピークを示すことを特徴とするオキシチタニウムフタロシアニン組成物であって、該組成物中の塩素化オキシチタニウムフタロシアニンの割合が、無置換オキシチタニウムフタロシアニンに対してマススペクトル強度比で０．０１５〜０．０７０であることを特徴とするオキシチタニウムフタロシアニン組成物。 - 特許庁