「X diffraction」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

The drawn wire material is irradiated with an X-ray from a target through an incident collimator, using a 2θ-θ method, and the X-ray diffracted from the drawn wire material is made to get incident into a counter through a photoreception side collimator, to measure diffraction peaks in a plurality of crystal faces in the drawn wire material.例文帳に追加

２θ−θ法を用いて、ターゲットからのＸ線を入射コリメータを通して伸線材に当て、伸線材からの回折したＸ線を受光側コリメータを通して計数器に入射して、伸線材の複数の結晶面による回折ピークを測定する。 - 特許庁

To develop a protein-removing treatment method using squid tendons as a raw material and not accompanying a deacetylating reaction, and provide a starting substance containing βbased-chitin (relative degree of crystallization of 10 to 80% by X-ray diffraction) such asβ-chitin and amorphous chitin and used for new uses.例文帳に追加

イカの腱を原料とした、脱アセチル化反応を伴わない脱タンパク処理方法を開発し、βキチン及びアモルフアスキチンなどのβ性キチン（X線回折による相対結晶化度１０〜８０％）を含む新しい用途への出発物質を提供する。 - 特許庁

A positive electrode active material is a nickel oxyhydroxide compound including zinc and cobalt, alone or in combination, as eutectic, the surface of particles of which compound is coated with a cobalt high-order oxide, and has a half band width of 0.4 to 0.48 at the diffraction peak near a diffraction angle of 18° in the X-ray diffraction pattern, thereby achieving a battery superior in characteristics.例文帳に追加

この発明は、正極材料として、亜鉛及びコバルト単独もしくはこれらを共晶させたオキシ水酸化ニッケル系化合物であって、この粒子の表面がコバルト高次酸化物で被覆され、ｘ線回折パターンにおいて、回折角１８°付近の回折ピークの半値幅が０．４〜０．４８である正極活物質を用いることによって特性の優れた電池を実現する。 - 特許庁

The electrolyzing electrode 21 is provided with a base body 22 and a surface layer 25 formed on the surface of the base material 22 and on the surface layer 25, the diffraction peak of monoclinic zirconium oxide (-111) plane is detected in X-ray diffraction and the diffraction peak of orthorhombic zirconium oxide (111) plane is not detected.例文帳に追加

基体２２と、前記基体２２の表面に構成された表面層２５を備えて成るものであって、表面層２５は、Ｘ線回折において単斜晶の酸化ジルコニウム（−１１１）面の回折ピークが検出されるとともに、斜方晶の酸化ジルコニウム（１１１）面の回折ピークが検出されないことを特徴とする電解用電極２１により課題を解決できる。 - 特許庁

An X-ray residual stress measuring method, which comprises a means for depositing a metal film of a known X-ray diffraction angle over a surface of a measured object, and a means for measuring a residual stress by irradiating the measured object surface with X rays, executes the X-ray residual stress measurement as holding the metal film deposit over the measured object surface.例文帳に追加

測定対象物の表面にＸ線回折角度が既知の金属の膜を付着させる手段と、測定対象物表面にＸ線を照射して残留応力を測定する手段とからなるＸ線残留応力測定方法において、測定対象物表面に金属膜を付着させた状態でＸ線により残留応力測定することを特徴とするＸ線残留応力測定方法。 - 特許庁

This X-ray diffraction device has in X-ray measuring instrument for acquiring data for a pole diagram, a memory for storing the measuring data acquired by the X-ray measuring instrument, a display device for displaying an image and an image data forming circuit for forming the image data displayed on the display device based on the data stored in the memory.例文帳に追加

極点図のためのデータを得るＸ線測定装置と、そのＸ線測定装置によって得られた測定データを記憶するメモリと、画像を表示する表示装置と、メモリに記憶されたデータに基づいて表示装置に表示するための画像データを生成する画像データ生成回路とを有するＸ線回折装置である。 - 特許庁

In the substrate for flexible print circuit having a crystalline thin film layer of copper on a sheet-like substrate, composed of aromatic polyamide, X-ray diffraction intensity ratio of the (200) face, and the (111) face of copper crystal is in the range of 0.3≤I(200)/I(111)≤1.0.例文帳に追加

芳香族ポリアミドからなるシート状基材上に結晶性の銅の薄膜層を有するフレキシブルプリント回路用基板であって、銅結晶の（２００）面と（１１１）面のX線回折強度比が０．３≦Ｉ（２００）／Ｉ（１１１）≦１．0の範囲であることを特徴とするフレキシブルプリント回路用基板。 - 特許庁

X rays made parallel with a multilayer film mirror 12 are made to irradiate a plated layer of the surface of the steel plate and diffraction X rays generated from the alloy phase contained in the plated layer are measured to determine the adhesion of the alloy phase in the plated layer on the steel plate.例文帳に追加

多層膜ミラー１２により平行化されたＸ線を、鋼板表面のめっき層に照射して、該めっき層に含まれる合金相から発生する回折Ｘ線を測定することにより、鋼板上のめっき層中の合金相の付着量を測定する。 - 特許庁

An area other than the crystal grain of a measuring object is coated thinly with an amorphous liquid material, an amorphous powder of high X-ray absorptivity is further applied thereto to be fixed, and only the crystal information about a specified crystal is thereby acquired by X-ray diffraction.例文帳に追加

測定対象である結晶粒以外の領域を非晶質の液状材料で薄く塗布して覆い、さらにＸ線吸収率が高い非晶質粉末を塗布して固着させて特定の結晶についての結晶情報のみをＸ線回折によって得る。 - 特許庁

According to such a configuration, this method which is different from X-ray diffraction method or X-ray transmission method that accompanies hazards and thermal analysis method that requires cutting of a material, and the presence of the crystallization or internal flaw of the metal glass can be evaluated safely, accurately and simply by a single method.例文帳に追加

かかる構成により、従来の危険を伴うＸ線回折法及びＸ線透過法や、材料の切り出しが必要な熱分析法と異なり、金属ガラス中の結晶化や内部欠陥の有無を、単一の方法で、安全に、且つ精度よく簡単に評価することができる。 - 特許庁

The residual life is predicted based on an existing amount of a micro void in an objective sample, by finding preliminarily a relation between a lapse time and the micro void measured by a small-angle X-ray diffraction method, when predicting the residual life of the brittle creep fracture in the molding component comprising the organic polymer material.例文帳に追加

有機高分子材料からなる成形部品の脆性クリープ破壊の余寿命を予測するに当たり、予め経過時間と小角X線回折法で測定したミクロボイド量の関係を求めておくことで、目的とする試料のミクロボイドの存在量から余寿命を予測する。 - 特許庁

The phase distribution I(x, y) is calculated in a step 101 and the max. and min. values of the phase distribution I(i, j) are detected along the parallel lines in the x-axis direction virtually drawn on the plane where a diffraction optical element is mounted in the process of steps 102 to 115.例文帳に追加

ステップ１０１において位相分布Ｉ（ｘ、ｙ）を演算し、ステップ１０２〜１１５の処理によって、回折型光学素子が置かれる平面上に仮想的に引かれた互いに平行なｘ軸方向の線に沿って、位相分布Ｉ（ｉ、ｊ）の極大値及び極小値を検索する。 - 特許庁

When a Bi-Te-based thermoelectric conversion material having a uniaxial temperature gradient applied thereto is cooled upon melting and solidifying the thermoelectric conversion material, the material exhibits a specific value of X-ray diffraction intensity ratio of reflection on a specific surface perpendicular to the temperature gradient direction when measured, and thus the figure of merit can be increased.例文帳に追加

Bi-Te系熱電変換材料の溶融固化又はホットプレスの際に、一軸性の温度勾配をかけて冷却すると、温度勾配の方向に垂直な面で測定した特定面の反射のX線回折強度比が特定値を示し、性能指数を大きく向上させる。 - 特許庁

Especially, the BaSi2O5:Pb fluorescent substance (treated in this mode) exhibits an improved maintenance factor in a fluorescent lamp, and a characteristic X-ray diffraction figure which proves the presence of the phosphate-containing protection surface layer.例文帳に追加

特に、この態様で処理されたＢａＳｉ_2Ｏ_5：Ｐｂ蛍光体は、蛍光ランプにおける向上した保守率、及びホスフェート含有保護表面層の存在を立証する特有のＸ−線回折図を示す。 - 特許庁

On the surface of steel, a rust layer in which the size of crystallites of β-FeOOH components is ≤50 nm by an X-ray diffraction method is formed, and also, the specific surface area of the rust layer is controlled to ≥10 m2/g by a molecular adsorption method.例文帳に追加

鋼材の表面に、β−FeOOH成分の結晶子サイズがＸ線回折法で５０nm以下の錆層を形成させ、且つ該錆層の比表面積を分子吸着法で１０m^2/g以上とする。 - 特許庁

A diffraction grating 10 is set up in an inclined state on this side of a light-receiving element 7 set up on the measurement axis X of the semiconductor laser 6 and a light-receiving element 9 for axial alignment is caused to receive the primary diffracted light of the grating 10.例文帳に追加

半導体レーザ６の測定軸上に設置された受光素子７の手前に回折格子１０を傾けて設置し、その一次回折光を軸合わせ用受光素子９に受光させる。 - 特許庁

The BiTe-based thin film is patterned and a c-axis orientation degree which is a ratio of the peak value of a (001) plane to the peak value of a (015) plane in X-ray diffraction is at least 1.0.例文帳に追加

そのＢｉＴｅ系薄膜は、パターニングされており、かつ、Ｘ線回折における（００１）面のピーク値と（０１５）面のピーク値との比であるｃ軸配向度が、１．０以上であることを特徴とする。 - 特許庁

The amorphous carbon preferably has an average space of (002) planes (d_002) as determined by an X-ray diffraction of 0.350-0.390 nm, and a crystallite size (L_c) in the direction of a c-axis of 70 nm or less.例文帳に追加

前記非晶質炭素は、Ｘ線回折法による（００２）面の平均面間隔ｄ_002が0.350〜0.390nmであるのが好ましく、ｃ軸方向の結晶子の大きさＬ_c（００２）が70nm以下であるのが好ましい。 - 特許庁

When determined that it is a periodic structure, the electron beam diffraction image and a limited visual field image are preserved as one data group together with an observation condition including the position of the sample stage, an X-ray spectrum or the like.例文帳に追加

周期構造であると判定したら、電子線回折像、及び、制限視野像を、試料ステージの位置を含む観察条件、Ｘ線スペクトル等と共に１つのデータ群として保存する。 - 特許庁

As to this steel wire rod, the total content of ferrite and pearlite in the structure is controlled to ≥80% by area ratio, and the half value width of the α(211) peak measured by X-ray diffraction is controlled to ≤0.200 degrees.例文帳に追加

本発明の鋼線材は、組織中のフェライトおよびパーライトの合計量を面積率で８０％以上とし、Ｘ線回折で測定するα（２１１）ピークの半価幅を０．２００度以下とする。 - 特許庁

The intensity ratio I1/I2 of an intensity of peak I1 resulting from (220) crystal face of silicon and the intensity of peak I2 resulting from (111) crystal face obtained by X-ray diffraction is 0.05 or more.例文帳に追加

Ｘ線回折によって得られるケイ素の（２２０）結晶面に起因するピークの強度Ｉ１と（１１１）結晶面に起因するピークの強度Ｉ２との強度比Ｉ１／Ｉ２は、０．０５以上である。 - 特許庁

The photoreceptor uses crystalline oxo-titanyl phthalocyanine having a specified X-ray diffraction spectrum as an electric charge generating material and a benzofuran-hydrazone compound as an electric charge carrying material.例文帳に追加

電荷発生物質として特定のＸ線回折スペクトルを有する結晶型オキソチタニルフタロシアニンを用い、かつ電荷輸送物質としてベンゾフラン−ヒドラゾン化合物を用いることにより、上記課題を解決する。 - 特許庁

To provide a method of analyzing a structure of crystal for easily analyzing and identifying peak spreading factors by dependency of a reflection index hkl when evaluating a crystal structure by X-ray diffraction measurement.例文帳に追加

Ｘ線回折測定により結晶構造を評価する際、反射指数ｈｋｌ依存性を用いて、ピーク拡がり要因を簡便に解析、同定する結晶の構造解析方法を提供する。 - 特許庁

The disclosure relates to a polymorphic form D of bazedoxifene acetate having a specific powder X-ray diffraction pattern, a pharmaceutical composition and treating method to use the polymorphic form D, and a method for producing the polymorphic form D of bazedoxifene acetate.例文帳に追加

本開示は、特定の粉末Ｘ線回折パターンを有する酢酸バゼドキシフェンの多形フォームＤ、それを用いた医薬組成物及び治療方法、並びにその製造方法に関する。 - 特許庁

The electrophotographic photoreceptor is prepared by using crystalline dichloro-tin phthalocyanine of which the X-ray diffraction spectrum with Cu-Kα ray has peaks at Bragg angles 2θ (±0.3°) of 8.6°, 11.4°, 15.7°, and 25.7°.例文帳に追加

Ｃｕ−Ｋα線に対するＸ線回折スペクトルにおいて、ブラッグ角２θ（±０．３°）＝８．６°、１１．４°、１５．７°及び２５．７°にピークを示す結晶型ジクロロスズフタロシアニン及びそれを用いた電子写真感光体。 - 特許庁

To provide a structure analysis method for accurately analyzing the structure and composition of a carbon material to be measured based on the X-ray diffraction data of the carbon material to be measured by utilizing a statistical method.例文帳に追加

統計的手法を利用し、被測定炭素材のＸ線回折データに基づいて、高い精度で被測定炭素材の構造および組成分析が可能な構造解析法を提供する。 - 特許庁

This electrophotographic photosensitive member uses a Piransron compound, having a crystal structure showing peaks at the Bragg angles of 12.3°, 20.5°, 25.3°, and 28.3° in an X-ray diffraction spectrum that has CuKα as radiation source.例文帳に追加

ＣｕＫαを線源とするＸ線回折スペクトルにおけるブラッグ角１２．３°、２０．５°、２５．３°、及び、２８．３°にピークを示す結晶構造を有するピランスロン化合物を用いる電子写真感光体。 - 特許庁

To display obtained spectra by converting into the values of the first-order rays with automatically setting the conditions for measuring the higher-order rays, in a state analysis using characteristic X-rays of higher-order diffraction.例文帳に追加

高次回折の特性Ｘ線を用いる状態分析において、高次線の測定を行う条件を自動的に設定し、得られたスペクトルを１次線の値に換算して表示できるようにする。 - 特許庁

The crystalline oxytitanium phthalocyanine shows peaks at 7.6, 14.5 and 26.7° Bragg angle 2θ(±0.3°) in the X ray diffraction spectrum for Cu-Kα line, and the compound is used for the electrophotographic photoreceptor.例文帳に追加

Ｃｕ−Ｋα線に対するＸ線回折スペクトルにおいて、ブラッグ角２θ（±０．３゜）７．６、１４．５及び２６．７゜にピークを示す結晶型オキシチタニウムフタロシアニン及びそれを用いた電子写真感光体。 - 特許庁

To provide an X-ray imaging apparatus having a simpler configuration compared to a conventional apparatus and obtaining differential phase contrast images in two directions crossing each other without rotating a diffraction grating and a masking grating.例文帳に追加

従来よりも装置の構成が簡単で、回折格子と遮蔽格子の回転操作なしでも交差する２方向の微分位相像を得ることができるＸ線撮像装置を提供する。 - 特許庁

In addition, the D enzyme can be used in combination with its L-enzyme counterpart in co-crystallation admixtures to form racemic crystals for determining crystallographic structures using X-ray diffraction data.例文帳に追加

加えて、Ｄ−酵素は、Ｌ−酵素の片割れと共に、Ｘ−線解析データを用いる結晶学的構造を決定するためのラセミ結晶を生成するのに共結晶化混合物で使用すりことができる。 - 特許庁

The electrolytic manganese dioxide is employed that has an alkali potential of 310 mV or more, an FWHM of 2.2° to 2.9°, and a (110)/(021) peak intensity ratio in the X-ray diffraction peaks of 0.50 to 0.80.例文帳に追加

アルカリ電位が３１０ｍＶ以上、ＦＷＨＭが２．２°以上２．９°以下、Ｘ線回折ピークにおける（１１０）／（０２１）のピーク強度比が０．５０以上０．８０以下の電解二酸化マンガンを用いる。 - 特許庁

Based on the X-axis diffraction profile of the carbon material to be measured, the weight coefficient of the theoretical scattering strength expression is calculated by the least square method, thus analyzing the structure and composition of the carbon material to be measured.例文帳に追加

被測定炭素材のＸ線回折プロファイルに基づいて、前記理論散乱強度式の重み係数を最小二乗法により算出し、被測定炭素材の構造および組成を解析する。 - 特許庁

In the titanium sputtering target, the half-width of the peak of crystal plane (101) determined by the X-ray diffraction of at least a part of the noneroded area of a surface to be sputtered is regulated to 0.25-0.5.例文帳に追加

スパッタされる面の非エロージョン領域の少なくとも一部のＸ線回折により求められる結晶面（１０１）のピークの半値幅が０．２５〜０．５であることを特徴とする、チタンスパッタリングターゲット。 - 特許庁

The zinc oxide-based sintered compact 1 containing, as a main component, zinc oxide and having a degree of orientation f1, expressed by I(110)/{I(110)+I(002)+I(101)}, of ≥0.24 in X-ray diffraction peaks on a specific face is produced.例文帳に追加

酸化亜鉛を主成分とし、特定面でのＸ線回折ピークにおいてＩ_(110_)/（Ｉ_(110)＋Ｉ_(002)＋Ｉ_(101)）で表される配向度ｆ_1が０．２４以上である酸化亜鉛質焼結体１を作製する。 - 特許庁

A graphite material having an intensity ratio of the I(110) plane/I(004) plane in the range of 0.01-0.7 determined by measurement of X-ray diffraction is used as a negative electrode active material contained in the negative electrode.例文帳に追加

負極中に含まれる負極活物質に、Ｘ線回折の測定によって得られるＩ（１１０）面／Ｉ（００４）面の強度比が０．０１以上０．７以下の黒鉛材料を用いる。 - 特許庁

There is provided the crystalline polymorphic form I of (-)-[[4-(1,4,5,6-tetrahydro-4-methyl-6-oxo-3-pyridazinyl)phenyl]hydrazono]propanedinitrile, characterized by the X-ray diffraction pattern having specific peak positions.例文帳に追加

特定のピーク位置を有するＸ線回折図によって特徴づけられる（−）−［［４−（１，４，５，６−テトラヒドロ−４−メチル−６−オキソ−３−ピリダジニル）フェニル］ヒドラゾノ］プロパンジニトリルの結晶状多形体Ｉ。 - 特許庁

The powder of the magnetic substance which is magnetically and particularly high and stable in the coercive force is prepared by regulating the content of the rare earth metal-iron-nitrogen-based magnetic powder to ≤3% by an X-ray diffraction intensity ratio.例文帳に追加

希土類金属−鉄−窒素系磁性粉末中の金属鉄の含有量がＸ線回折強度比で３％以下として、磁気的に特に保磁力の高い安定な磁性体粉末とする。 - 特許庁

Related to the lithium manganate, a 1/4 value width of (440) plane peak containing Kα1 ray and Kα2 ray which appears near 2θ=64° at powder X-ray diffraction method is at least 2.5 times of 3/4 value width of peak.例文帳に追加

マンガン酸リチウムが、粉末Ｘ線回折法において２θ＝６４°近傍に現れる、Ｋα１線とＫα２線とを含む（４４０）面ピークの１／４値幅が、ピークの３／４値幅の２．５倍以上である。 - 特許庁

A spray deposit of aluminum or aluminum alloy in which the ratio of the peak intensity of (200) face to that of (111) face by X-ray diffraction becomes <0.4 is formed on the surface of a member for a film deposition apparatus.例文帳に追加

成膜装置用部材の表面に、Ｘ線回折による（２００）面のピーク強度の（１１１）面のピーク強度に対する比が０．４未満となるアルミニウム若しくはアルミニウム合金溶射膜を形成する。 - 特許庁

In a spectral diffraction position where X-ray intensity is high, if the dispersion is greater than a certain degree Er (indicated allowable error), the counting is performed for "tm" time interval longer than "to", to increase the total value to a count Nm.例文帳に追加

Ｘ線強度の高い分光位置で、このばらつきが一定の大きさＥｒ（表示許容誤差）より大きい場合、ｔｏよりも長いｔｍ時間計数して総計数値をＮｍカウントに増やす。 - 特許庁

The crystalline polymorphic form I of substantially optically pure (-)-{[4-(1,4,5,6-tetrahydro-4-methyl-6-oxo-3-pyridazinyl)phenyl]hydrazono}propanedinitrile is characterized by the X-ray diffraction pattern having specific peak positions.例文帳に追加

特定のピーク位置を有するＸ線回折図によって特徴づけられる（−）−［［４−（１，４，５，６−テトラヒドロ−４−メチル−６−オキソ−３−ピリダジニル）フェニル］ヒドラゾノ］プロパンジニトリルの結晶状多形体Ｉ。 - 特許庁

The laminate is obtained by laminating moldings (moldings (A)) made of a polypropylene resin including a propylene resin, and smectic crystal structure decided by wide-angle X-ray diffraction and heating them.例文帳に追加

ポリプロピレン樹脂を含み、広角Ｘ線回折により決定される結晶構造がスメクチック晶であるポリプロピレン樹脂製成形体（成形体（Ａ））を積み重ね、加熱して得られる積層構造体。 - 特許庁

To provide a stress evaluation method and a stress evaluation device by X-ray diffraction capable of evaluating accurately and quantitatively a stress generated in a hetero interface between a crystal and a different kind of material.例文帳に追加

結晶と異種物質とのヘテロ界面に発生する応力を定量的に精度よく評価できるＸ線回折による応力評価方法及び応力評価装置を提供する。 - 特許庁

The system is provided with a plurality of relay medium parts 2, and those relay medium parts 2 are arranged with intervals x for strengthening the diffraction of radiated radio waves in a target direction by interference effect of the radio waves.例文帳に追加

複数の中継媒体部２を備えるとともに、これらの中継媒体部２が電波の干渉効果で発射電波の目的の方向への回折を強め合う間隔ｘで配設されてなる。 - 特許庁