「X diffraction」に関連した英語例文の一覧と使い方(15ページ目) - Weblio英語例文検索

The aluminum oxide carrier has a diffraction pattern obtained by X-ray diffractometry having a specific spacing d between lattice planes and a peak corresponding to a relative intensity I/I_0 in a calcined state.例文帳に追加

この触媒は、該アルミニウム酸化物支持体が、焼成状態において、特定の格子面間隔ｄ、及び相対強度Ｉ／Ｉ_０に対応するピークを含む、Ｘ線回折により得られた回折図を有する。 - 特許庁

The crystal of the lipocine-type prostaglandin D synthetase is formed, and the three-dimensional space structure of the enzyme is obtained from the X-ray diffraction to enable the inhibitor to be designed and selected.例文帳に追加

リポカリン型プロスタグランジンＤ合成酵素の結晶を作成しそのＸ線回折から該酵素の三次元立体構造を得ることにより該酵素の阻害剤を設計、選択することができる。 - 特許庁

A cesium-containing aluminosilicate compound obtained by hydrothermal synthesis is subjected to heating treatment at ≥500°C, so that cesium-containing zeolite having a specified X-ray powder diffraction pattern can be crystallized.例文帳に追加

水熱合成により得られたセシウム含有アルミノシリケート化合物を５００℃以上の温度で加熱処理することによって特定のＸ線粉末回折パターンを有するセシウム含有ゼオライトが結晶化される。 - 特許庁

To measure X-ray and radiation light powder diffraction data by using one-dimensional or two-dimensional (for example, a position sensitive proportional counter (PSPC), an image plate, a large-scale CCD detector).例文帳に追加

１次元又は２次元検出器〔例えは、比例計数管位置敏感検出器（ＰＳＰＣ）、イメージングプレート、大型ＣＣＤ検出器〕を用いたＸ線及び放射光粉末回折データの測定に利用される。 - 特許庁

The piezoelectric layer 5B in the peripheral area has a rocking curve half-value width of X-ray diffraction, which is less than or equal to two degrees, and a surface roughness indicated by RMS fluctuations of the top surface height of the base, which is less than or equal to 2 nm.例文帳に追加

周辺領域の圧電体層５Ｂは、Ｘ線回折のロッキングカーブ半値幅が２．０度以下で、下地の上面の高さのＲＭＳ変動で表される表面粗さが２ｎｍ以下である。 - 特許庁

An X-ray diffraction result of powder of the cement or the clinker is analyzed by using a profile fitting method, thereby acquiring crystal information about a clinker mineral substance, and the change in the cement quality is predicted on the basis of the acquired information.例文帳に追加

セメントまたはクリンカーの粉末Ｘ線回折結果を、プロファイルフィッティング法により解析し、これから得られるクリンカー鉱物の結晶情報を基に、セメントの品質の変化を予測する。 - 特許庁

The stamper can be produced by a method including: a stage where a rugged pattern is formed on a substrate; a stage where a layer of the material 110 having no crystalline peak in X-ray diffraction is formed on the rugged pattern; and a stage where the adhesion face among the substrate, the rugged pattern and the layer of the material 110 having no crystalline peak in X-ray diffraction is peeled.例文帳に追加

こうしたスタンパは、基板上に凹凸パターンを形成する工程と、その凹凸パターンの上にＸ線回折において結晶性ピークを有していない材料１１０の層を形成する工程と、前記基板及び前記凹凸パターンと、前記Ｘ線回折において結晶性ピークを有していない材料１１０の層との密着面を剥離する工程とを含む方法で製造できる。 - 特許庁

The electrophotographic photoreceptor having a layer containing a titanyl phthalocyanine pigment on an electrically conductive support, is characterized in that the titanyl phthalocyanine pigment has the maximum diffraction peak at 26.3° Bragg angle (2θ±0.2°) in its X-ray diffraction spectrum with Cu-Ka characteristic X-rays and a 2-12C alkylenediol is contained in the layer containing the titanyl phthalocyanine pigment.例文帳に追加

導電性支持体上にチタニルフタロシアニン顔料を含有する層を有する感光体において、前記チタニルフタロシアニン顔料が、Ｃｕ−Ｋα特性Ｘ線によるＸ線回折スペクトルにおいて、ブラッグ角（２θ±０．２°）２６．３°に最大回折ピークを有するチタニルフタロシアニン顔料であり、チタニルフタロシアニン顔料を含有する層に、炭素数２〜１２のアルキレンジオールを含有していることを特徴とする電子写真感光体。 - 特許庁

The porous silica aggregate particles are one that are obtained by aggregating porous silica spherical primary particles which exhibit an X-ray diffraction pattern having one or more diffraction lines in a range of diffraction angle (2θ/°) corresponding to a lattice spacing (d) of at least 1 nm, wherein pores are formed in the porous silica spherical primary particles and void layers are formed in the gaps between these porous silica spherical primary particles.例文帳に追加

１ｎｍ以上の格子面間隔（ｄ）に対応する回折角（２θ／°）の範囲に１つ以上の回折線を有するＸ線回折パターンを示す多孔質シリカ球状一次粒子を集合してなる多孔質シリカ凝集粒子であり、多孔質シリカ球状一次粒子内に細孔を形成するとともに、これらの多孔質シリカ球状一次粒子間の間隙に空隙層を形成した。 - 特許庁

The photomask blank is for dry-etching processing and has, in order from the light-transmissive substrate side, a layer comprising a material having metal, silicon, oxygen, and/or nitrogen as main components and a layer comprising a material mainly containing chromium and nitrogen and substantially having a diffraction peak of CrN(200) in X-ray diffraction.例文帳に追加

該フォトマスクブランクは、ドライエッチング処理用のフォトマスクブランクであって、透光性基板側から、金属、シリコン、酸素及び／又は窒素を主たる構成要素とする材料からなる層と、主にクロムと窒素とを含む材料からなり、かつ、Ｘ線回折による回折ピークが実質的にＣｒＮ(２００)からなる層とを有する。 - 特許庁

A photosensitive layer 6 provided on a conductive substrate 2 of an electrophotographic photoreceptor 1 contains a crystalline oxotitanium phthalocyanine that exhibits a diffraction peak at least at 27.3° of the Bragg angle 2θ in an X-ray diffraction spectrum, and surface-free energy (γ) on its surface is set to 20-35mN/m.例文帳に追加

電子写真感光体１の導電性基体２上に設けられる感光層６は、Ｘ線回折スペクトルにおけるブラッグ角２θで少なくとも２７．３°に回折ピークを示す結晶型のオキソチタニウムフタロシアニンを含有し、かつ表面の表面自由エネルギー（γ）が、２０〜３５ｍＮ／ｍに設定される。 - 特許庁

Hydrogen is brought into contact with the carbon fiber interlaminar reaction product, which contains a carbon structure wherein a diffraction peak position (2θ) due to wide angle X-ray diffraction analysis appears at 9-14° and obtained by electrochemically treating carbon fibers in an acidic solution, is brought into contact with hydrogen to be occluded by the carbon fiber interlaminar reaction product.例文帳に追加

炭素繊維を酸性溶液中にて電気化学処理してなる、広角Ｘ線回折分析による回折ピーク位置（２θ）が９°〜１４°に現れる炭素構造を含有する炭素繊維層間反応生成物に、水素を接触させて炭素繊維層間反応生成物に水素を吸蔵させる。 - 特許庁

The tissue structure has the structural characteristic in which the crystal structure substantially exclusive of a graphite structure does not substantially exist, the diffraction lines belonging to the metal Si and Si compound by the pattern analysis using an X-ray diffraction method are not detected and the granular structure is not identifiable by the observation of a transmission type electronmicroscope(TEM).例文帳に追加

その組織構造は、実質的に黒鉛構造以外の結晶構造が存在せず、Ｘ線回折法によるパターン解析により金属Ｓｉ及びＳｉ化合物に帰属する回折線が検出されず、透過型電子顕微鏡(TEM) の観察によって粒状組織が識別できない組織性状を備えている。 - 特許庁

The method for producing the metal oxide-containing titanium oxide compound comprises the steps of: mixing a raw material of titanium oxide, which has ≤1.40° half-value width of a diffraction peak of the (101) plane when measured by X-ray diffraction analysis, with an oxide of a metal other than titanium; and firing the obtained mixture at 300-600°C.例文帳に追加

Ｘ線回折分析による（１０１）面の回折ピークの半値幅が１．４０°以下である原料酸化チタンと、チタン以外の金属の酸化物とを混合し、得られた混合物を３００℃〜６００℃で焼成することを特徴とする金属酸化物含有酸化チタン化合物の製造方法である。 - 特許庁

The niobium oxide in which diffraction intensity ratio in X-ray diffraction patterns is in a specific range and average particle size is 3 μm or less is used as the positive active material, a silicon oxide in which an atomic ratio of lithium and oxygen is specified is used as a negative active material, and heat resistant resin such as a liquid crystal polymer is used in a gasket.例文帳に追加

Ｘ線回折パターンの回折強度比が特定の範囲であり平均粒径が３ミクロン以下のニオブ酸化物を正極活物質とし、負極活物質にリチウムとシリコンと酸素の原子比を特定したＳｉ酸化物を用い、ガスケットとして液晶ポリマー等の耐熱性樹脂を用いる。 - 特許庁

On each position in which the diffraction grating is at least partly destroyed with energy beam irradiation, a destroyed section P2 destroyed with energy beam irradiation is away from each cell adjacent in the X direction to the cell in which the diffraction grating is at least partly destroyed with the energy beam irradiation.例文帳に追加

エネルギービーム照射によって回折格子が少なくとも部分的に破壊された各位置において、エネルギービーム照射によって破壊された破壊部Ｐ２は、このエネルギービーム照射によって回折格子が少なくとも部分的に破壊されたセルに対してＸ方向に隣り合った各セルから離間している。 - 特許庁

This aqueous ink composition contains, as the main ingredients, a crystalline colored organic pigment of which the half value width of a diffraction ray with the maximum strength in the X-ray diffraction spectrum is 0.4° or lower and an organic compound having a hydrophilic site and a hydrophobic site in the molecule.例文帳に追加

Ｘ線回折スペクトルにおける最大強度を示す回折線が０．４°以下の半値幅を有する結晶性カラー有機顔料と、分子内に親水性部位と疎水性部位を有する有機化合物とを主成分として含むことを特徴とするインク組成物により、上記の課題を解決する。 - 特許庁

The Si dispersed vitreous carbon material is provided with structural performance that a crystalline structure except graphite structure does not exist practically in the structure, the diffraction line attributed to metal Si or an Si compound is not detected in an X-ray diffraction method and granular structure is not discriminated by the observation by a transmission electron microscope(TEM).例文帳に追加

また、その組織中には実質的に黒鉛構造以外の結晶構造が存在せず、Ｘ線回折法により金属ＳｉおよびＳｉ化合物に帰属する回折線が検出されず、透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）の観察によって粒状組織が識別できない組織性状を備えている。 - 特許庁

This is the non-aqueous electrolyte secondary battery which is equipped with a cathode 1 that contains a cathode active material having reflecting angles 2θ of peak positions of diffraction pattern by X-ray diffraction method at least at 40±2°, 47±2°, and 68±2°, a cathode 2 that contains a material that stores and releases lithium ions, and a non-aqueous electrolyte 5.例文帳に追加

この非水電解質二次電池は、Ｘ線回折法による回折パターンのピーク位置の反射角２θを、少なくとも、４０±２度と、４７±２度と、６８±２度とに有する正極活物質を含む正極１と、リチウムイオンを吸蔵および放出する材料を含む負極２と、非水電解質５とを備えている。 - 特許庁

This composite particles for cosmetics are obtained by covering 3-70 wt.% cerium oxide having 0.01-0.5 μm number average particle diameters and 0.7-0.15 half value width 2θ(°) at 28.6° diffraction angle (111 plane) in the X-ray diffraction, on the surface of mother particles having 0.3-50 μm number average particle diameters.例文帳に追加

数平均粒子径が０．３〜５０μｍの母粒子の表面に、数平均粒子径が０．０１〜０．５μｍであり、且つＸ線回折の回折角度２８．６°（１１１面）の半価幅２θ（°）が０．７〜０．１５である酸化セリウムを３〜７０重量％被覆したことを特徴とする化粧品用複合粒子。 - 特許庁

The sputtering target is made from Ru or an Ru alloy, and the content ratio of a crystal orientation on a face (002) in an integrated intensity value measured on the surface of the target with an X-ray diffraction analysis is set to be 0.05 or larger.例文帳に追加

ＲｕまたはＲｕ合金からなるスパッタリングターゲットであって、ターゲット表面においてＸ線回折法で測定された積分強度値における（００２）面の結晶方位含有比を０．０５以上とする。 - 特許庁

The hydraulic alumina has a broad peak top at 2θ=25±5° in a powder X-ray diffraction spectrum at 1.5405Å wave length, and 10-20° half-value width measured by using the base line of the broad peak as a standard.例文帳に追加

この水硬性アルミナは、波長１．５４０５Åにおける粉末Ｘ線回折スペクトルが、２θ＝２５±５°にブロードなピークの頂点を有し、ブロードなピークのベースラインを基準とした半値幅が１０°〜２０°である。 - 特許庁

The lattice distortion of a plating film measured by using an X-ray diffraction apparatus is 0.02 to 0.35% and the carbon content in the plating film is 0.01 to 0.07 wt.%.例文帳に追加

Ｘ線回析装置を用いて測定したメッキ皮膜の格子歪が０．０２〜０．３５％であり、かつメッキ皮膜中の炭素含有量が０．０１〜０．０７重量％である亜鉛メッキ品により課題を解決できる。 - 特許庁

The first rising part of the light intensity distribution on the light receiving face of a line sensor by the Fresnel diffraction of a monochromatic parallel light by an edge of a shielding matter, is approximated by a hyperbolic second function sech(x).例文帳に追加

遮蔽物のエッジによる単色平行光のフレネル回折によるラインセンサの受光面上での光強度分布の最初の立ち上がり部分をハイパボリックセカンド関数ｓｅｃｈ（ｘ）により近似する。 - 特許庁

In a preferable mode of the method for evaluating the hard texture, the orientation of the crystal is evaluated by at least one type selected from a group of an X-ray diffraction method, an SEM method, and a TEM method.例文帳に追加

また、本発明の硬組織の評価方法の好ましい態様において、結晶の配向性を、Ｘ線回折法、SEM法、TEM法からなる群から選択される少なくとも1種により評価することを特徴とする。 - 特許庁

In the orientating properties of the crystal of a metal measured by the X-ray diffraction of the metal mask, the ratio of the peak strength on a (220) face to the sum of those on a (111) face, a (200) face and the (220) face is set to be at least 0.4.例文帳に追加

メタルマスクのＸ線回折により測定したメタルの結晶の配向性において、（１１１）面、（２００）面及び（２２０）面ピーク強度の合計に対する（２２０）面のピーク強度比が０．４以上にする。 - 特許庁

The negative electrode active material used is a carbon whose inter layer distance d(002) by an X-ray diffraction method is not less than 0.377 nm, and the size of the crystalit in the c-axial direction is not larger than 1.29 nm.例文帳に追加

負極活物質として、Ｘ線回折法による層間距離ｄ（００２）が０．３７７ｎｍ以上であり、ｃ軸方向の結晶子の大きさＬｃが１．２９ｎｍ以下である炭素材料を用いる。 - 特許庁

The crystal orientation ratio of a peak intensity of crystal faces (111) and (200) obtained by the X-ray diffraction of the face to be sputtered is made to 0.1-0.4 and the variation of the crystal orientation ratio is made to 40% or less.例文帳に追加

また、スパッタリングされる面のＸ線回折により求められた結晶面（１１１）と（２００）のピーク強度の結晶方位比率を０．１〜０．４、またはそれと結晶方位比率のバラツキを４０％以下とする。 - 特許庁

In the thermosensitive recording material having a thermosensitive recording layer and a protective layer on one side of a support, the peak intensity of the X-ray diffraction of the support is at least 60,000 cps.例文帳に追加

支持体の一方の側に感熱記録層と保護層とを有する感熱記録材料において、前記支持体のＸ線回折ピーク強度が６００００ｃｐｓ以上であることを特徴とする感熱記録材料である。 - 特許庁

The first cBN sintered compact contains 70 to 99.5 vol.% of cBN, wherein the remaining part comprises a bond phase and an inevitable impurity, a residual stress measured by X-ray diffraction of a face (220) of cBN is -40 MPa or less.例文帳に追加

第一のcBN焼結体は、cBNを70体積％以上99.5体積％以下含有し、残部が結合相及び不可避不純物からなり、cBNの（220）面のＸ線回折により測定した残留応力が-40MPa以下である。 - 特許庁

The electronic part has a ratio of 0.02-1 of a maximum peak intensity of X-ray diffraction of a product existing on the surface of the dielectric porcelain composite to that of the dielectric porcelain composite.例文帳に追加

前記誘電体磁器組成物表面に存在する生成物のＸ線回折における最高ピーク強度と、前記誘電体磁器組成物の最高ピーク強度の比を０．０２〜１である電子部品とする。 - 特許庁

To provide a method for measuring distortion by which the distortion of a distorted layer in a horizontal direction and a vertical direction are speedily and simply measured by an X-ray diffraction in a laminated distorted wafer.例文帳に追加

貼り合せ歪みウェーハにおいて、Ｘ線回折法により、歪み層の水平方向、垂直方向の歪み量をより短時間で簡便に測定することを可能にする歪み量測定方法を提供する。 - 特許庁

The evaluation of the crystallinity of the aluminum electrode film 34 by the specific resistance value requires less trouble and time compared with a prior art method evaluating by using an x-ray diffraction method or the like, and a used apparatus is comparatively inexpensive.例文帳に追加

この比抵抗値によるアルミニウム電極膜３４の結晶性の評価は、Ｘ線回折法などを用いて評価する従来の方法に比べて、手間や時間がかからず、また用いる装置も比較的安価である。 - 特許庁

The copper-based alloy excellent in press-workability and its manufacturing method are characterized in that the total of diffracted intensities of {111} and {222} is twice or more of the diffracted intensity of {200} in surface X-ray diffraction of materials.例文帳に追加

材料の断面のＸ線回折強度で｛１１１｝と｛２２２｝の回折強度の合計が｛２００｝回折強度の２倍以上であることを特徴とするプレス加工性に優れた銅基合金とその製造方法。 - 特許庁

A third arithmetic means 38 discriminates the reciprocal lattice point group forming X-ray diffraction at every twin crystal component based on the crystal azimuth matrix at every twin crystal component to form display data for three-dimensionally displaying them in the same way.例文帳に追加

第３演算手段３８は，結晶方位行列に基づいて，Ｘ線回折が生じる逆格子点群を，双晶成分ごとに区別して，それを同様に立体的に表示するための表示データを作成する。 - 特許庁

The parallel radiation (12) emitted from the sample (4) in a known apparatus for X-ray analysis (e.g.; diffraction) is analyzed corresponding to a wavelength and matched with a focus 20 by a parabolic multilayered mirror 14.例文帳に追加

公知のＸ線分析（例えば、回折用）の装置における試料（４）から発する並行放射線（１２）は波長に応じて分析され、方物面多層鏡１４によって焦点２０に焦点が合わされる。 - 特許庁

This aluminum nitride sintered compact contains carbon in which a peak can not be detected at a position of 10-90° reflection angle in an X-ray diffraction chart or is equal to or lower than the detection limit in a matrix composed of aluminum nitride.例文帳に追加

窒化アルミニウムからなるマトリックス中に、Ｘ線回折チャートでは反射角が１０〜９０°の位置でピークを検出することができないか、検出限界以下であるカーボンを含有する窒化アルミニウム焼結体。 - 特許庁

In the ceramic substrate for semiconductor producing/inspecting apparatus, conductors are arranged on a ceramic substrate containing carbon by such a quantity as a peak can not be detected on an X-ray diffraction chart or lower than a detection limit.例文帳に追加

Ｘ線回折チャート上ではピークが検出できないか、検出限界以下であるカーボンを含有するセラミック基板に、導電体を配設してなることを特徴とする半導体製造・検査装置用セラミック基板。 - 特許庁

A crystalline structure observed in the surface side of the electrophotographic photoreceptor by X-ray diffraction analysis exhibits a ≤0.8 ratio of the reflection intensity in a 101 direction of crystal plane to the peak reflection intensity in a 110 direction of crystal plane.例文帳に追加

電子写真用感光体表面がわからみた結晶構造のＸ線回折で得られる面方位１１０の反射強度のピーク値に対する、面方位１０１の反射強度の比率が０．８以下とする - 特許庁

A fiber has a mean diameter of about 1 to about 4 μm, and a degree of crystallization of at least about 5 to about 50% that can be detected by an X-ray diffraction, and has a size of crystal of about 50 to about 500 A.例文帳に追加

ファイバーは約１〜約１４μｍの平均直径を有し、Ｘ線回折により検出される少なくとも約５〜約５０％の結晶化度を有し、かつ約５０〜約５００Ａの結晶の大きさを有する。 - 特許庁

In the electrode, the ratio I (111)/I (200) of the peak intensity I (111) for the (111) face and the peak intensity I (200) for the (200) face in the X-ray diffraction measurement of the catalyst material on the electrode surface is made 1.7 or less.例文帳に追加

電極表面の触媒物質のＸ線回折測定値における（１１１）面のピーク強度Ｉ（１１１）と（２００）面のピーク強度Ｉ（２００）との比率Ｉ（１１１）／Ｉ（２００）を、１．７以下とする。 - 特許庁

The negative collector uses copper or copper alloy wherein the ratio (200)/(111) of the X-ray diffraction intensity on the (200) face of a XRD device having a CuKα line as a ray source to that on the (111) face is from 0.3 to 4.0.例文帳に追加

負極集電体として、ＣｕＫα線を線源とするＸＲＤ装置による（２００）と（１１１）面のＸ線回折強度比（２００）／（１１１）が０．３以上、４．０以下の銅または銅合金を用いる。 - 特許庁

In a surface layer part forming a rolling face 2a, half-power band width of diffraction X ray in martensite crystal is 6.0° or less, hardness is Hv 653 or more, and amount of remaining austenite is less than 2.0 vol.%.例文帳に追加

そして、転がり面２ａをなす表層部において、マルテンサイト結晶での回折Ｘ線の半価幅を６．０°以下とし、硬さをＨｖ６５３以上とし、残留オーステナイト量を２．０体積％未満とする。 - 特許庁

It is preferable that the electrolytic manganese dioxide has a (110)/(021) peak intensity ratio of 0.50-0.80 in the X-ray diffraction peak pattern, and an interplanar distance between the (110) planes of 4.00-4.06 Å.例文帳に追加

電解二酸化マンガンのＸ線回折ピークにおける（１１０）／（０２１）のピーク強度比が０．５０以上０．８０以下、（１１０）面の面間隔が４．００Å以上４．０６Å以下であることが好ましい。 - 特許庁

The texture structure thereof has the texture characteristics that the metal Si and Si compound cannot be observed by X-ray diffraction and the granular texture cannot be observed by a transmission electron microscope(TEM).例文帳に追加

その組織構造は、Ｘ線回折によって金属ＳｉおよびＳｉ化合物が観察されず、透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）の観察によって粒状組織が識別できない組織性状を備えたものである。 - 特許庁