「X diffraction」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a sample fixing method and a sample fixing implement for acquiring X-ray diffraction patterns of foil-like samples without being affected by a matter except the foil-like samples.例文帳に追加

箔状サンプル以外の物による影響を受けること無く、箔状サンプルのＸ線回折パターンを得る試料固定方法および試料固定具を提供する。 - 特許庁

The hologram element 20 has two diffraction areas 261 and 262 partitioned by a straight line 260 extending in the radial direction (X direction) of the information recording medium 10.例文帳に追加

ホログラム素子２０は、情報記録媒体１０のラジアル方向（Ｘ方向）に延びる直線２６０により区画された２つの回折領域２６１及び２６２を有する。 - 特許庁

The fused protein facilitates to equalize the orientation of the objective proteins on crystallization, thereby enabling to surely obtain the X-ray diffraction image of the objective protein.例文帳に追加

当該融合タンパク質によれば、結晶化の際に目的タンパク質の配向性が揃いやすく、目的タンパク質のＸ線回折像を確実に得ることができる。 - 特許庁

A pixel pattern having a diffraction grating formed by arranging grating lines directed at the azimuth angle θ to an X axis is allocated to a pixel positioned at the reference point P.例文帳に追加

基準点Ｐに位置する画素には、Ｘ軸に対して方位角θをなす方向を向いた格子線を配置してなる回折格子を有する画素パターンを割り付ける。 - 特許庁

The formed crystal is collected and dehydrated to afford the objective βd-crystal of the ivabradine hydrochloride, having a specific X-ray diffraction pattern.例文帳に追加

それにより生成した結晶を回収し、次いで脱水し、下記式（Ｉ）で示され、特定のＸ線回析パターンを有するイバブラジン塩酸塩のβｄ−結晶を得る。 - 特許庁

To provide an X-ray diffracting apparatus for appropriately discriminating diffraction patterns from a plurality of crystals which are necessary for analyzing the crystalline structure of a sample.例文帳に追加

本発明は試料の結晶構造を解析するのに必要な、複数の結晶からの回折パターンを適切に識別するＸ線回折装置を提供する。 - 特許庁

The elements are shifted from the aligned state of the grating patterns by about 1/4 of the grating pitch Δ in the diffraction direction X of light and fixed with an adhesive 4.例文帳に追加

このとき、格子パターンが合致した状態から光が回折する方向Ｘへ格子ピッチΔの１／４程度互いに位置をずらし、接着剤４により固定する。 - 特許庁

The electron emission film 1 having an X-ray diffraction pattern of diamond, constituted by a plurality of diamond particles with the size of 5 nm to 10 nm is formed on a substrate 2.例文帳に追加

基板２上に、Ｘ線回折においてダイヤモンドのパターンを有し、粒径が５nmから１０nmである複数のダイヤモンド粒子より構成された電子放出膜１を形成する。 - 特許庁

As a result, the diffracted X-rays from the rail 1 enters an imaging plate 7a, and the whole image of the diffraction ring is imaged and recorded by the imaging plate 7a.例文帳に追加

その結果、レール１からの回折Ｘ線がイメージングプレート７ａに入射して回折環の全体画像がイメージングプレート７ａによって撮像され記録される。 - 特許庁

This crystal is, for example, characterized by an X-ray powder diffraction pattern given by copper radiant rays which are passed through a monochromator and have a λ of 1.5418Å.例文帳に追加

本発明の結晶は、例えば、モノクロメーターを通したλ＝１．５４１８Åの銅放射線で得られるＸ線粉末回折パターンにおいて特徴づけられる。 - 特許庁

To provide a simple method for quickly synthesizing a heavy atom-substituted protein suitable for the X-ray crystal structural analysis for protein, particularly phase determination by MAD(multiwavelength anomalous diffraction) method.例文帳に追加

タンパク質のＸ線結晶構造解析、特にＭＡＤ法による位相決定に適した重原子置換体タンパク質の迅速且つ簡便な合成方法を提供する。 - 特許庁

The substantially non-photosensitive thermographic recording material contains a phase II behenic acid silver and/or a phase III behenic acid silver having a specific X-ray diffraction spectrum, by 1% to a phase I behenic acid silver having a specific X-ray diffraction spectrum, in a thermosensitive element constituted of a substrate, the phase I behenic acid silver, a reducer and a binder.例文帳に追加

支持体ならびに特定のＸ線回析スペクトルを有する相Ｉベヘン酸銀と還元剤及び結合剤からなる感熱要素に、特定のＸ線回析スペクトルを有する相ＩＩベヘン酸銀及び／又は相ＩＩＩベヘン酸銀を相Ｉベヘン酸銀に対して１％含有することを特徴とする実質的に非−感光性のサーモグラフィ記録材料。 - 特許庁

In this mold copper plate 1 for continuous casting, the coated layer 5 composed of mainly nitride of Ti is formed on the copper plate surface at the side in contact with solidified shell and the ratio (XTi/XTiN) of X-ray diffraction strength of Ti and X-ray diffraction strength of TiN in the coated layer, is 0.05-0.8.例文帳に追加

本発明の連続鋳造用鋳型銅板１は、凝固シェルと接触する側の銅板表面に、主にＴｉの窒化物からなる被覆層５が形成され、当該被覆層におけるＴｉのＸ線回折強度とＴｉＮのＸ線回折強度との比（ＸＴｉ／ＸＴｉＮ）が０．０５〜０．８であることを特徴とする。 - 特許庁

The feed material 11 is one in which a diffraction peak corresponding to a (111) crystal plane and a diffraction peak other than that corresponding to the (111) plane are observed as diffraction peaks corresponding to polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C, through X-ray diffractometry of the surface layer containing polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C.例文帳に追加

フィード材１１は、結晶多形が３Ｃである多結晶炭化ケイ素を含む表層のＸ線回折により、結晶多形が３Ｃである多結晶炭化ケイ素に対応した回折ピークとして、（１１１）結晶面に対応した回折ピークと、（１１１）結晶面に対応した回折ピーク以外の回折ピークとが観察されるものである。 - 特許庁

A cerium oxide abrasive is provided that contains slurry, wherein ceric oxide having 2.5 or more of an integrated intensity ratio a/b, when the diffraction intensity by the face (111) obtained by X-ray diffraction is (a), the diffraction intensity by the face (200) is b is dispersed in a medium, and a method of grinding a predetermined substrate with this ceric oxide abrasive is provided.例文帳に追加

Ｘ線回折法で得られる（１１１）面による回折強度ａと（２００）面による回折強度ｂがａ／ｂの積分強度比で２．５以上である酸化セリウムを媒体に分散させたスラリーを含む酸化セリウム研磨剤及びこの酸化セリウム研磨剤で、所定の基板を研磨することを特徴とする基板の研磨法。 - 特許庁

The SiC film is coated on the glassy carbon material by a chemical vapor deposition(CVD) method, the X-ray diffraction peak strength of the SiC crystal face (111) of the film is ≤10 kc.p.s, and the diffraction peak strength of the SiC crystal face (111) is ≥80% of the diffraction peak strength of the whole crystal faces (hkl).例文帳に追加

ＣＶＤ法によりＳｉＣ膜を被覆したＳｉＣ膜被覆ガラス状炭素材において、Ｘ線回折によるＳｉＣ膜のＳｉＣ（１１１）結晶面の回折ピーク強度が１０ｋｃ．ｐ．ｓ以下であり、該ＳｉＣ（１１１）結晶面の回折ピーク強度が全結晶面（ｈｋｌ）の回折ピーク強度の８０％以上であることを特徴とする。 - 特許庁

This thin film of the wax composition consists of a composition containing the wax and has >1.0 value of a ratio (Ib/Ia) of diffraction intensity Ia in the normal direction of surface of the thin film of the wax composition in X-ray diffraction peaks developed by accompanying with the orientation of the crystallized wax to diffraction intensity Ib in a direction making right angle to the normal direction.例文帳に追加

本発明のワックス組成物薄膜は、ワックスを含有する組成物からなり、結晶化した前記ワックスの配向に伴い発現するＸ線回折ピークの前記ワックス組成物薄膜表面の法線方向の回折強度Ia及び該法線方向と９０度をなす方向における回折強度Ibの比Ib/Iaが１．０より大きい値である。 - 特許庁

This glass substrate for a display, comprising a glass substrate on whose surface a metal ion diffusion-preventing film 2 is formed, characterized in that the metal ion diffusion-preventing film 2 is a crystalline SnO2 film having a half-value width of ≤1 at one or more diffraction peaks at diffraction angles of about 26.5°, about 37.9° and about 51.6° by X-ray diffraction.例文帳に追加

表面に金属イオン拡散防止膜２が形成されたガラス基板よりなるディスプレイ用ガラス基板において、該金属イオン拡散防止膜２がＸ線回折による回折角約２６．５°、約３７．９°及び約５１．６°のいずれか１以上の回折ピークにおける半値幅が１°以下の結晶性ＳｎＯ_２膜であるディスプレイ用ガラス基板。 - 特許庁

The electrostatic charge image developing toner contains at least a binder resin, a colorant, a release agent and a modified resin, wherein the release agent has a diffraction peak 2θ in the range of 15 to 20° in X-ray diffraction using Cu Kα-ray, and the toner including the release agent has also the diffraction peak in the same range.例文帳に追加

少なくとも結着樹脂、着色剤、離型剤、変性体樹脂を含有する静電荷像現像用トナーにおいて、ＣｕのＫα線を用いたＸ線回折において２θが１５〜２５°の範囲に回折ピークを持つ離型剤が、該離型剤を含有したトナーにおいても同じ範囲に回折ピークが現れることを特徴とする。 - 特許庁

Additional information can be imparted to an image without harming the color tone of an image by forming a first image region using a toner containing a crystallinity resin and a second image region using a toner containing no crystallinity resin, controlling a gloss or an X-ray diffraction intensity at the diffraction angle of a specified X-ray diffraction peak derived from the crystallinity resin to be different between the first image region and the second image region.例文帳に追加

結晶性樹脂を含有するトナーを用いた第１画像領域と、結晶性樹脂を含有しないトナーを用いた第２画像領域とを形成し、第１画像領域と第２画像領域とにおいて、結晶性樹脂に起因する特定のＸ線回折ピークの回折角におけるＸ線回折強度あるいは光沢度を異ならせることにより、画像の色調を阻害することなく画像中に付加情報を付与することができる。 - 特許庁

Since the 2θ moving speed of the CCD sensor 27 is synchronized with the charge transfer in the CCD sensor 27, the same diffraction angle data are accumulated in respective picture elements of the CCD sensor 27, so as to allow quick and highly sensitive X-ray diffraction measurement.例文帳に追加

ＣＣＤセンサ２７の２θ移動の速度と、ＣＣＤセンサ２７における電荷転送とが同期するので、ＣＣＤセンサ２７の各画素に同一の回折角度のデータを蓄積でき、それ故、高速で高感度のＸ線回折測定を行うことができる。 - 特許庁

The skirt portion 13 which is the sliding surface of a piston 10 is coated with a highly oriented specific graphite 15 (exhibiting a remarkable low frictional property) in which the full width at half maximum is equal to or less than 7° in the rocking curve at a (002) diffraction position of graphite-2H by X-ray diffraction measurement.例文帳に追加

ピストン１０の摺動面であるスカート部１３が、Ｘ線回折測定によるグラファイト−２Ｈ ００２回折位置でのロッキングカーブにおける半値幅が７°以下の高配向性の特定グラファイト（著しい低摩擦特性を示す）１５で被覆されている。 - 特許庁

In the Mex layer, an index QI regulated by a ratio of diffraction strength I(200) and I(100) which are allotted on a (200) surface and a (111) surface is selected to be not less than 1, in the X-ray diffraction of material using a θ-2θ method.例文帳に追加

ＭｅＸ層において、θ−２θ法を使用する材料のＸ線回折において（２００）面および（１１１）面にそれぞれ割当てられる回折強度Ｉ（２００）対Ｉ（１１１）の比によって規定される指数Ｑ_Iは、１以上に選択される。 - 特許庁

To provide an apparatus for correcting deviation of an irradiation position and precisely measuring strain through diffraction, when a position irradiated with electromagnetic waves is deformed by the movement and deformation of an object to be measured, during measurement in measurement of strain by a diffraction method of electromagnetic waves, such as X-rays.例文帳に追加

Ｘ線など電磁波の回折法によるひずみ測定において、測定中に被測定物の移動や変形により電磁波照射位置が変化した場合に、照射位置のずれを補正し、回折によるひずみ測定を精度良くする装置を提供する。 - 特許庁

A water-insoluble monoazo dyestuff has a crystal transformation characterized by an X-ray diffraction pattern (CuKα) showing a strong peak at a diffraction angle (2θ) of about 11.1° and four intermediate peaks at about 8.1°, about 21.8°, about 23.1° and about 25.2°, and is represented by the formula.例文帳に追加

回析角（２θ）約１１．１°に１本の強いピーク、更に約８．１°、約２１．８°、約２３．１°、約２５．２°に４本の中間ピークを示すＸ線回析図（ＣｕＫα）により特徴づけられる結晶変態を有する下記構造式で示される水不溶性モノアゾ染料。 - 特許庁

To provide an electrophotographic photoreceptor exhibiting excellent evenness of halftone images together with fine line reproduction, in which an oxytitanium phthalocyanine pigment having a maximum diffraction peak at a Bragg angle (2θ±0.2) of 27.2° in CuKα X-ray diffraction is used, and an image forming method.例文帳に追加

ＣｕＫα線によるＸ線回折においてブラッグ角（２θ±０．２）２７．２°に最大回折ピークを有するオキシチタニウムフタロシアニン顔料を使用して、ハーフトーン画像の均一性や細線再現性に優れた電子写真感光体及び画像形成方法の提供。 - 特許庁

Amorphous β-FeOOH having a mode diameter of particles of 10 μm or less and indicating the (110) face diffraction peak having a half- value width Y of 0.3<Y(2θ) in the X-ray diffraction method using the CuKα beam, is used as a positive electrode active material of the nonaqueous electrolyte secondary battery.例文帳に追加

非水電解質二次電池の正極活物質として、粒子のモード径が１０μｍ以下で、ＣｕＫα線を用いたＸ線回折法で、半値幅Ｙが０．３°＜Ｙ（２θ）の（１１０）面回折ピークを示す非晶質β−ＦｅＯＯＨを用いる。 - 特許庁

The substrate with an ink accepting layer has at least one peak in an X-ray diffraction pattern, and the diffraction angle (2θ) of at least one peak has a layer containing a micelle-containing inorganic oxide (C) represented by the formula, 2θ=2sin^-1(λ/2d).例文帳に追加

Ｘ線回折パターンにおいて、少なくとも一つのピークを有し、かつそのうちの少なくとも一つのピークの回折角度（２θ）が（１）式で表されるミセル含有無機酸化物（Ｃ）を含んでなる層を有することを特徴とするインク受容層付基材である。 - 特許庁

A pellet is obtained by cutting polyethylene terephthalate with an intrinsic viscosity of 0.70 dl/g or higher, whose diffraction peak intensity ratio of surface (100) and surface (110) is 1.4 or higher and 2.4 or lower when measured by the X-ray diffraction of the cut surface.例文帳に追加

固有粘度が０．７０ｄｌ／ｇ以上のポリエチレンテレフタレートを切断して得られるペレットであって、そのカット面のＸ線回折により測定した（100）面と（110）面の回折ピーク強度比が１．４以上２．４以下であることを特徴とするポリエチレンテレフタレート樹脂ペレット。 - 特許庁

This antistatic agent comprises a composite material which comprises a long chain alkyl quaternary ammonium compound and a silica wall honeycomb-network surrounding the quaternary ammonium compound and has an X-ray diffraction peak at a diffraction angle of 2.2 to 4.4° (Cu-α).例文帳に追加

長鎖アルキル第４級アンモニウム化合物とこの第４級アンモニウム化合物を囲むシリカ壁のハニカム状ネットワークとから成り且つ回折角２．２乃至４．４゜（Ｃｕ−α）にＸ線回折ピークを有する複合体から成ることを特徴とする帯電防止剤。 - 特許庁

The plastic multilayer container 1 comprises inner and outer layers each made of a thermoplastic polyester, the oxygen absorption layer between the inner and outer layers so that a half-width of a peak of a diffraction profile by an X-ray diffraction of the inner and outer layers in at least a container body 4 is 15° or less.例文帳に追加

熱可塑性ポリエステルからなる内外層と、前記内外層の間に酸素吸収層を有し、少なくとも容器胴部４における内外層のＸ線回折による回折プロファイルのピークの半値幅が１５°以下であるプラスチック多層容器１とする。 - 特許庁

The powder X-ray diffraction diagram is measured by using an X'Celerator detector and a PANalytical X' Pert Pro diffracting device and the diagram is represented by items of ray position, ray height, ray range, ray width in half height and face-to-face dimension.例文帳に追加

Ｘ’Ｃｅｌｅｒａｔｏｒ検出器とともにＰＡＮａｌｙｔｉｃａｌ Ｘ’Ｐｅｒｔ Ｐｒｏ回折装置を用いて測定され、光線位置、光線高、光線範囲、半分の高さにおける光線幅および面間距離の項目で表される。 - 特許庁

To perform accurate qualitative analysis by accurately performing the comparison of the measured data of the intensity of diffracted X-rays and standard data even in such a case that a measuring condition of the measured data and the standard data is different, especially, a diffusion slit is different in the X-ray diffraction device.例文帳に追加

Ｘ線回折装置において、回折Ｘ線強度の測定データと標準データの測定条件、特に、発散スリットが異なる場合でも、測定データと標準データの比較を正確に行い正確な定性分布を行う。 - 特許庁

This hydrophilic azo-based organic pigment is characterized by containing at least one sulfonic group and a monovalent or more-valent inorganic counter ion to be coupled with the sulfonic group and exhibiting an amorphous structure in X-ray diffraction spectrum.例文帳に追加

少なくとも1つのスルホン酸基及び該スルホン酸基と結合する1価及び2価以上の無機対イオンを含み、X線回折スペクトルにおいて非晶質構造を示すことを特徴とする親水性アゾ系有機顔料により上記の課題を解決する。 - 特許庁

When the center axis of an X-ray polygon crystal 7 is set to [0, 1, -1] of a silicon single crystal, a surface index enabling geometric reflection becomes xhh and a large number of reflecting surfaces are obtained according to an extinction rule of X-ray diffraction of a diamond structure.例文帳に追加

Ｘ線ポリゴン結晶７の中心軸をシリコン単結晶の〔０，１−１〕とすると、幾何学的に反射可能な面指数がｘｈｈとなり、ダイヤモンド構造のＸ線回折の消滅則に従えば、多数の反射面が得られる。 - 特許庁

With this constitution, a blast angle and a rotary angle can be respectively optimized independently, and the crystal azimuth 12 is accurately and easily adjusted, with respect to the respective directions of incident X rays 2A and diffracted X rays 3A and enables measurement of the X-ray diffraction pattern of the lattice surface 11 of the single-crystal substrate 10 with high accuracy.例文帳に追加

これにより、あおり角と回転角とをそれぞれ独立して最適化することができ、入射Ｘ線２Ａおよび回折Ｘ線３Ａの各方向に対して結晶方位１２を正確かつ容易に調整し、単結晶基板１０の格子面１１におけるＸ線回折パターンを高精度に測定することができる。 - 特許庁

In the phase cotrast X-ray imaging device using an X-ray interferometer, a simultaneous reflection type X-ray interferometer is used wherein a signal wave is coupled to a reference wave by the simultaneous reflection of a coplanar or nonplanar Bragg case instead of coupling the signal wave to the reference wave by the diffraction of a Laue case as in the past.例文帳に追加

Ｘ線干渉計を利用した位相コントラスト型Ｘ線撮像装置において、従来のラウエケースの回折による信号波と参照波の結合の代わりに、coplanarあるいはnonplanarのブラッグケースの同時反射により信号波と参照波を結合する同時反射型Ｘ線干渉計を用いる。 - 特許庁

To measure the thickness of a thin film by an X-ray diffraction method by performing the parameter fitting of a theoretical rocking curve of diffracted X-ray intensity considering orientation to a measured rocking curve, even when film thickness measurement by an X-ray reflectivity method can not be performed because of a reason as existence of a contiguous layer having an approximate density or the like.例文帳に追加

密度が近い隣接層が存在するなどの理由でＸ線反射率法による膜厚測定ができない場合でも，配向性を考慮した回折Ｘ線強度の理論ロッキングカーブを測定ロッキングカーブにパラメータフィッティングすることで，Ｘ線回折法によって薄膜の膜厚を測定可能にする。 - 特許庁

To provide an X-ray imaging device and an imaging method capable of performing observation with time in a short measuring time at the same density resolution and in the same dynamic range as those for a diffraction contrast X-ray imaging method, and observing a sample with high sensitivity even if the intensity of an incident X-ray varies with time.例文帳に追加

屈折コントラストＸ線撮像法と同じ密度分解能及びダイナミックレンジで、測定時間が短く、経時的な観察が可能で、かつ入射Ｘ線強度が時間的に変動している場合でも高い感度で試料を観察できるＸ線撮像装置及び撮像方法を提供する。 - 特許庁

The seed material 12 is one in which a primary diffraction peak corresponding to a (111) crystal plane is observed and no other primary diffraction peaks having diffraction intensity of 10% or more that corresponding to the (111) crystal plane are not observed as diffraction peaks corresponding to polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C, through X-ray diffractometry of the surface layer containing polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C.例文帳に追加

シード材１２は、結晶多形が３Ｃである多結晶炭化ケイ素を含む表層のＸ線回折により、結晶多形が３Ｃである多結晶炭化ケイ素に対応した回折ピークとして、（１１１）結晶面に対応した１次回折ピークが観察され、（１１１）結晶面に対応した１次回折ピークの回折強度の１０％以上の回折強度を有する他の１次回折ピークが観察されないものである。 - 特許庁

In a sputtering target of high-purity TaN, the intensity peak ratio (101) plane:(110) plane is 1: 0.49±30%, where the intensity peaks are measured on the surface of the target through an X-ray diffraction method.例文帳に追加

高純度ＴａＮからなるスパッタターゲットであって、ターゲット表面においてＸ線回折法で測定された (101)面のピーク強度と (110)面のピーク強度の比（(101)/(110))が0.49±30% 以内である。 - 特許庁

The half width of a peak of a crystal face (111) obtained by X-ray diffraction of a face to be sputtered is made to 0.3 or less and the variation of the half width is made to 30% or less.例文帳に追加

スパッタリングされる面のＸ線回折により求められた結晶面（１１１）のピークの半値幅を０．３以下、またはそれと半値幅のバラツキを３０％以下とする。 - 特許庁

In the X-ray diffraction pattern of the NOx absorbent material a peak due to the (111) face of BaCO3 is present and the intensity ratio (IA/IF) of the intensity IA of the peak after long-term use to the initial intensity IF is 0.2-1.例文帳に追加

そのＸ線回折パターンには、ＢａＣＯ_３の（１１１）面のピークが存在し、このピークの耐久後強度（Ｉ_Ａ）と初期強度（Ｉ_Ｆ）との強度比Ｉ_Ａ／Ｉ_Ｆが、０．２〜１である。 - 特許庁

The characteristic of this electrophotographic photoreceptor is to use a photosensitive layer comprising a dihydroxysilicon phthalocyanine compound having 9.3, 13.4, 20.0, 23.9 and 27.4° Bragg angles 2θ(±0.3°) in an X-ray diffraction pattern with Cu-Kα radiation on an electrocoductive support.例文帳に追加

Ｃｕ−Ｋα線によるＸ線回折パターンにおいて、ブラッグ角２θ（±０．３°）９．３，１３．４，２０．０，２３．９，２７．４°にピークを有するジヒドロキシシリコンフタロシアニン化合物、およびそれを含有する電子写真感光体。 - 特許庁

Alternatively, in the Mo target material, the relative intensity ratio R_(110) in the (110) plane standardized by the main peak 4 points in the X-ray diffraction of the sputter face is ≥40%.例文帳に追加

また、好ましくは、スパッタ面のＸ線回折における主ピーク４点で規格化した（１１０）面の相対強度比Ｒ_（１１０）が４０％以上であるＭｏターゲット材である。 - 特許庁