「X diffraction」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a reflection type diffraction grating hologram which can generate X-ray having orbital angular momentum as diffraction wave, can weaken or completely extinguish unnecessary 0-order light, can easily change an emission direction of diffraction wave, further is capable of enlarging a diffraction grating and is easily prepared.例文帳に追加

軌道角運動量を持ったＸ線を回折波として発生させることができ、不要な０次の光を弱める又は完全に消すことができ、回折波の出射方向を容易に変えることができ、さらに、回折格子の拡大化が可能で、作成が容易な反射型回折格子ホログラムなどを提供する。 - 特許庁

This coloring composition comprises a benzimidazolone mixed pigment composed of a pigment (I) represented by formula (I) and a pigment (II) represented by formula (II) and having a strong diffraction intensity at a diffraction angle (2θ±0.2°) of 27.0°and weak diffraction intensities at 18.1° and 22.0°in the X-ray diffraction by Cu-K α ray.例文帳に追加

式（Ｉ）で示される顔料（Ｉ）と、式（ＩＩ）で示される顔料（ＩＩ）とからなり、Ｃｕ−Ｋα線によるＸ線回折において、回折角（２θ±０．２°）２７．０°に強い回折強度を有し、１８．１°、および２２．０°に弱い回折強度を有するベンツイミダゾロン系混晶顔料を含有する着色組成物。 - 特許庁

In the protective film 9, a peak is present at a diffraction angle, between a diffraction angle at which a peak generates when only one oxide of two oxides is analyzed in X-ray diffraction analysis on a specific azimuth surface and a diffraction angle at which a peak generates, when only the other oxide is analyzed.例文帳に追加

保護膜９は、特定方位面についてのＸ線回折分析において、２つの酸化物の一方の酸化物単体を分析したときにピークが発生する回折角と、他方の酸化物単体を分析したときにピークが発生する回折角との間の回折角に、ピークが存在するものである。 - 特許庁

When a theoretical diffraction X-ray intensity distribution is calculated based on a diffraction surface normal distribution function P by using overlapped orientation density distribution functions to which periodicity is given as the diffraction surface normal distribution function P(ϕ), its rocking curve reflects excellently an actual diffraction phenomenon.例文帳に追加

回折面法線分布関数Ｐ（φ）として，配向密度分布関数を周期化し，かつ，重ね合わせたものを用いることにより，この回折面法線密度分布関数Ｐに基づいて理論的な回折Ｘ線強度分布を計算すると，そのロッキングカーブは，現実の回折現象を良く反映したものになる。 - 特許庁

The X-ray diffraction device comprises: a casing 1 in which the samples are arranged; an X-ray irradiator 2 for radiating X-rays to the samples arranged in casing 1; an X-ray detector 3 for detecting the diffracted X-rays having transmitted through the samples; and the heater 4 that is arranged in the casing 1 and heats the samples arranged in this casing 1.例文帳に追加

試料が配置されるケーシング1と、ケーシング1内に配置された試料にＸ線を照射するＸ線照射器2と、試料を透過した回折Ｘ線を検出するＸ線検出器3と、ケーシング1内に配置され、このケーシング1内に配置された試料を加熱するヒータ4とを備える。 - 特許庁

The conductive compound has a main peak similar to a main peak of AgNiO_2 (X=Y=1) in X-ray diffraction, and is formed of a crystal where peaks of Ag_2O and AgO do not appear.例文帳に追加

この導電性化合物は、Ｘ線回折においてＡｇＮｉＯ_2（Ｘ＝Ｙ＝１）の主ピークと同じ主ピークを有し、Ａｇ_2ＯおよびＡｇＯのピークが現れない結晶からなる。 - 特許庁

When mounting parts 9, 10 are mounted on a rail 1, this X-ray diffraction device 5 is installed on the rail 1, and the incident angle ϕ_0 of X-rays is set at a single-incident angle.例文帳に追加

装着部９，１０をレール１に装着するとレール１上にＸ線回折装置５が設置されて、Ｘ線の入射角ψ_0が単一入射角度に設定される。 - 特許庁

When X-rays having different angles of diffraction or different energies are focused on a sample to be measured, the X-rays are dispersed again with a certain angle and reach a detector 23.例文帳に追加

回折角の異なる、あるいは異なるエネルギーを持つＸ線を測定試料上で収束させると、Ｘ線は再び任意の角度で分散し検出器２３に到達する。 - 特許庁

To provide a semiconductor X-ray detector which can be configured in a desired shape suitable for detecting diffraction X rays within a short distance by forming an opening in the center.例文帳に追加

所望の形状に構成能で、中央部に開口部を形成して近距離での回折Ｘ線の検出に好適な形状に構成可能な半導体Ｘ線検出器を提供する。 - 特許庁

To provide a stress holding device and an X-ray diffraction device having a low device height, allowing incidence of X-rays of wide angles and holding optional stress.例文帳に追加

本発明は、装置の高さが低く、広角度のＸ線が入射でき、かつ、任意の応力が保持できる応力保持装置およびＸ線回折装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

Angle dispersive X-ray diffraction is used to test pharmaceutical products including the dosage form inside packaging, for example the tablet inside a blister pack, without removing the dosage form from the packaging.例文帳に追加

パッケージング内の剤形、たとえばブリスターパック内の錠剤を含む医薬製品を、剤形をパッケージングから取り出すことなく試験するために角度分散X線回折が使用される。 - 特許庁

This optical lever method allows the Young's modulus to be measured with the laser beam without deforming the measuring object because measurement is performed with X-rays in the in-plane X-ray diffraction method.例文帳に追加

光てこ方式ではレーザ光によって、in-planeＸ線回折法ではＸ線によって測定を行うため被測定物を変形させることなくヤング率Εを測定することができる。 - 特許庁

The regenerated catalyst is subjected to an X-ray diffraction analysis and/or an X-ray photoelectron spectroscopic analysis of metal pieces to judge whether the regenerated catalyst is to be recovered.例文帳に追加

得られた再生処理後の触媒について、金属種のＸ線回折分析及び／又はＸ線光電子分光分析を行い、触媒の回収の要否を判定する。 - 特許庁

A knowledge of the Debye-Waller factor is essential in order to convert a structure factor measured by electron diffraction at temperature T into the corresponding X-ray structure factor at temperature T. 例文帳に追加

デバイワラー因子に関する知識は、温度Tにおいて電子回折によって測定された構造因子を温度Tにおけるその対応するX線の構造因子に変換するために不可欠である。 - 科学技術論文動詞集

The distortion application is performed by heating the rolled material RS in a heating furnace 10, and by passing the heated rolled material RS between heated rollers 21 thereby to bend the rolled material RS, so that the bent plate may have a half value width of the (0004) diffraction peak in the monochromatic X-ray diffraction, at 0.20 deg. to 0.59 deg.例文帳に追加

歪みの付与は、圧延材RSを加熱炉10で加熱し、加熱した圧延材RSを加熱したローラ21間に通過させて圧延材RSに曲げを付与し、付与後の板材の単色光X線回折における(0004)回折ピークの半価幅が0.20deg以上0.59deg以下となるように行う。 - 特許庁

To speed up a series of process operations of exposure - reading - erasure relatively easily, and to miniaturize a device and simplify the configuration, in an X-ray diffraction device for accumulating and recording an X-ray diffraction image in stimulable phosphor for reading.例文帳に追加

Ｘ線回折像を輝尽性蛍光体に蓄積記録させて読み取るＸ線回折装置において、露光−読取−消去の一連の工程動作を比較的簡単に高速化させるとともに、装置の小型化および構成の簡略化を可能にする。 - 特許庁

The azo pigment composition includes at least one of an azo pigment having a characteristic X-ray diffraction peak at Bragg angle (2θ±0.2°) of 7.6°, 25.6° and 27.7° in CuKα characteristic X-ray diffraction and represented by formula (1), and a tautomer.例文帳に追加

ＣｕＫα特性Ｘ線回折におけるブラッグ角（２θ±０．２°）が７．６°、２５．６°、２７．７°に特徴的なＸ線回折ピークを有する下式（１）で表されるアゾ顔料又は互変異性体を少なくとも１種含有することを特徴とするアゾ顔料組成物。 - 特許庁

The azo pigment composition contains at least either an azo pigment represented by formula (1) having a characteristic X ray diffraction peak of the Bragg angle (2θ±0.2°) in the CuKα characteristic X ray diffraction at 7.6°, 25.6°, 27.7° or a tautomer thereof.例文帳に追加

ＣｕＫα特性Ｘ線回折におけるブラッグ角（２θ±０．２°）が７．６°、２５．６°、２７．７°に特徴的なＸ線回折ピークを有する下式（１）で表されるアゾ顔料または互変異性体を少なくとも１種含有することを特徴とするアゾ顔料組成物。 - 特許庁

The azo pigment composition contains at least either an azo pigment represented by formula (1) having a characteristic X ray diffraction peak of the Bragg angle (2θ±0.2°) in the CuKα characteristic X ray diffraction at 7.2°and 25.9° or a tautomer thereof.例文帳に追加

ＣｕＫα特性Ｘ線回折におけるブラッグ角（２θ±０．２°）が７．２°及び２５．９°に特徴的なＸ線回折ピークを有する下式（１）で表されるアゾ顔料または互変異性体を少なくとも１種含有することを特徴とするアゾ顔料組成物。 - 特許庁

To provide an X-ray diffraction device which has exceedingly high resolution and also can acquire an X-ray diffraction image with high intensity, by enabling both cylindrical surface conversion processing and time delay integration processing to be performed in the same arithmetic control process.例文帳に追加

円筒面変換処理と時間遅延積分処理との両方を同じ演算制御過程内で行うことを可能にすることにより、極めて分解能が高く、しかも強度の高い回折Ｘ線像を得ることができるＸ線回折装置を提供する。 - 特許庁

Further, the stainless steel wire has a texture in which the ratio of a martensitic phase induced by wire drawing is ≤15 vol.%, and the balance austenitic phase, and the diffraction intensity of the austenitic phase by an X-ray diffraction method in the longitudinal direction satisfies both of I(200)/I(111)≥2.0 and I(220)/I(111)≥3.0.例文帳に追加

また、線引き加工によって誘起されるマルテンサイト相が15体積％以下、残部がオーステナイト相からなると共に、鋼線長手方向のX線回折法によるオーステナイト相の回折強度がI(200)/I(111)≧2.0、及びI(220)/I(111)≧3.0の双方を満たす集合組織を有する。 - 特許庁

Varying the scattering factors is accomplished by using different types of radiation, such as performing both X-ray and neutron diffraction, or by performing neutron diffraction on materials with the same composition but different isotopes. 例文帳に追加

散乱因子を変化させることは、X線回折と中性子回折の両方を行うことなどの異なる種類の放射線を使うことにより、或いは同じ組成であるが異なる同位体をもつ材料について中性子回折を行うことにより、果たされる。 - 科学技術論文動詞集

The color filter has a colored layer, wherein the colored layer shows a diffraction peak of which the half-value width is ≥0.6° at a Bragg angle of 28±1° in an X-ray diffraction spectrum for a Cu-Kα ray.例文帳に追加

着色層を有するカラーフィルタであって、該着色層が、Ｃｕ−Ｋα線に対するＸ線回折スペクトルにおいて、ブラッグ角２８±１°に、半値幅が０．６°以上の回折ピークを示すカラーフィルタ。 - 特許庁

The carrier for carrying a catalyst may contain 20 to 45% of a graphite-resembling structural component and 55 to 80% of an amorphous component in a peak near a diffraction angle of 26° in an X-ray diffraction graphic.例文帳に追加

前記触媒担持用担体は、Ｘ線回折図形における回折角２６°付近のピークが、２０〜４５％の黒鉛類似構造成分と、５５〜８０％のアモルファス成分と、を含むこととしてもよい。 - 特許庁

The μ-oxo-aluminum phthalocyanin dimer has crystal transformation exhibiting diffraction peaks at Bragg angles (2θ±0.2°) of 6.9°, 9,7°, 13.8°, 15.4°, 23.9° and 29.5°in a X-ray diffraction spectrum using CuKα rays.例文帳に追加

CuKα線によるＸ線回折スペクトルにおいて、ブラッグ角度（２θ±０．２°）６.９°、９.７°、１３.８°、１５.４°、２３.９°及び２９.５°に回折ピークを示す結晶変態を有する、μ−オキソ−アルミニウムフタロシアニンダイマー。 - 特許庁

When a powder X-ray diffraction analysis regarding the silicon alloy powder is executed, a high-intensity peak can be provided in a range, belonging to the copper/aluminum-containing phase 12, where a diffraction angle 2θ is 43.5-44.5°.例文帳に追加

このケイ素合金粉末について粉末Ｘ線回折分析を行うと、銅・アルミニウム含有相１２に帰属する回折角度２θが４３．５°〜４４．５°の範囲内に高強度の回折ピークが得られる。 - 特許庁

This active material for use in the second battery has β-FeOOH characterized in that in determination of X-ray diffraction using CuKα ray, a half width Y shows (211) plane diffraction peak of 0.2°<Y(2θ).例文帳に追加

二次電池用活物質として、ＣｕＫα線を用いたＸ線回折測定で、半値幅Ｙが０．２°＜Ｙ（２θ）の（２１１）面回折ピークを示すことを特徴とするβ—ＦｅＯＯＨを備える。 - 特許庁

The carbon fiber is obtained from wood tar as a raw material and has diffraction lines in the vicinity of 2θ=26° and in the vicinity of 2θ=44° in a powder X-ray diffraction pattern using CuKα as a radiation source.例文帳に追加

本発明の炭素繊維は、木タールを原料とし、線源にＣｕＫαを用いた粉末Ｘ線回折パターンにおいて、２θ＝２６°付近と２θ＝４４°付近に回折線を有することを特徴とする。 - 特許庁

In an X-ray diffraction chart made out by irradiating the thin diamond film layer, the diffraction peak intensity on the (110) surface of W exceeds 100 times that on the (200) surface of Cu.例文帳に追加

ダイヤモンド薄膜層にＸ線を照射して得られるＸ線回折チャートにおいて、Ｗの（１１０）面の回折ピーク強度がＣｕの（２００）面の回折ピーク強度の１００倍以上である。 - 特許庁

The titanosilicate catalyst is obtained by bringing the titanosilicate, which has an X-ray diffraction pattern having the following values and is shown by the formula: xTiO_2-(1-x)SiO_2 (wherein x is a numerical value of 0.0001-0.1), into contact with a zinc compound.例文帳に追加

下記に示す値のＸ線回折パターンを有し、かつ式 ｘＴｉＯ_２・（１−ｘ）ＳｉＯ_２ （式中ｘは０．０００１〜０．１の数値を表す。）で表されるチタノシリケートを亜鉛化合物と接触させて得られるチタノシリケート触媒。 - 特許庁

To improve the wavelength resolution of a characteristic X-ray used for analysis and the ratio of characteristic X-ray to background by using only a valid diffraction area of a dispersive crystal in an X-ray spectrometer using the curved dispersive crystal.例文帳に追加

湾曲分光結晶を用いるＸ線分光器において、分光結晶の有効回折領域のみを使用するようにして、分析に用いる特性Ｘ線の波長分解能、特性Ｘ線対バックグランド比の向上を図る。 - 特許庁

The X-ray imaging element 11 includes an X-ray conversion element 111 having a pattern equivalent to a diffraction grating formed of a material generating visible light by absorbing the X-ray, and an imaging element 112 for imaging the visible light.例文帳に追加

Ｘ線撮像素子１１は、Ｘ線を吸収して可視光を発生する材料で形成された回折格子に相当するパターンを有するＸ線変換素子１１１と、可視光を撮像する撮像素子１１２とを含む。 - 特許庁

Crystal A: the crystal of the optically active 4-amino-3-(4-chlorophenyl)butanoic acid having diffraction peaks in 8.7 to 9.4° range, 12.2 to 12.8° range and 24.8 to 25.4° range diffraction angle 2θ in a powder X-ray diffraction measurement at a Cu-Kα wavelength.例文帳に追加

Ａ晶： Ｃｕ−Ｋα波長の粉末Ｘ線回折測定において、回折角２θが８．７°〜９．４°の範囲内、１２．２°〜１２．８°の範囲内および２４．８°〜２５．４°の範囲内に回折ピークを有する光学活性４−アミノ−３−（４−クロロフェニル）ブタン酸の結晶。 - 特許庁

Crystal B: the crystal of the optically active 4-amino-3-(4-chlorophenyl)butanoic acid having diffraction peaks in 20.8 to 21.4° range, 26.7 to 27.3° range and 29.7 to 30.3° range diffraction angle 2θ in the powder X-ray diffraction measurement at the Cu-Kα wavelength.例文帳に追加

Ｂ晶： Ｃｕ−Ｋα波長の粉末Ｘ線回折測定において、回折角２θが２０．８°〜２１．４°の範囲内、２６．７°〜２７．３°の範囲内および２９．７°〜３０．３°の範囲内に回折ピークを有する光学活性４−アミノ−３−（４−クロロフェニル）ブタン酸の結晶。 - 特許庁

This bioactive crystallized glass bead contains Ca and the ratio of the intensity (I2) of diffraction peak at d=2.94 Å spacing of wallastonite and/or diopside over the intensity (I1) of diffraction peak at d= 2.94 Å of apatite satisfies the equation: 0<I2/I1<3/4 in an X-ray diffraction.例文帳に追加

Ｃａを含有し、Ｘ線回折においてウォラストナイト及び／又はディオプサイドの面間隔ｄ＝２．９４Åの回折ピーク強度（Ｉ_2）とアパタイトの面間隔ｄ＝２．８３Åの回折ピーク強度（Ｉ_1）の比が０＜Ｉ_2／Ｉ_1＜３／４の範囲となることを特徴とする。 - 特許庁

The target for ion plating used for forming the zinc oxide-based electroconductive film comprises a sintered compact mainly containing zinc oxide and has diffraction peaks by (100), (002) and (101) planes in X-ray diffraction pattern, wherein any of the diffraction peaks has a half-value width of ≤0.110°.例文帳に追加

酸化亜鉛主体の焼結体からなり、Ｘ線回折パターンにおいて（１００）、（００２）、（１０１）面による回折ピークを有し、該回折ピークの何れかの半値幅が０．１１０度以下である酸化亜鉛系導電膜形成用のイオンプレーティング用ターゲットを開示する。 - 特許庁

The reflecting zero-order light of the diffraction grating 2 deviates from the light source 1 in the direction of the X-axis, and the diffracted reflecting n-order light (n≠0) faces in the vertical direction to the diffraction groove (in the direction of the Y-axis), and thereby the diffraction grating reflecting light does not return to the light source 1.例文帳に追加

回折格子２の反射０次光は、光源１からＸ軸方向にずれ、回折された反射ｎ次光（ｎ≠０）は、回折溝方向に対して直交方向（Ｙ軸方向）にあるため、回折格子反射光は光源１に戻らない。 - 特許庁

The piezoelectric/electrostrictive body has a ratio between a diffraction peak intensity I_001 of the (001) face and a diffraction peak intensity I_100 of the (100) face of I_001/I_100≤1, in an X-ray diffraction pattern in the same plane after the polarization treatment.例文帳に追加

また、本発明の圧電／電歪体は、分極処理後の、電界の印加方向と垂直な面におけるＸ線回折パターンにおいて、（００ｌ）面の回折ピーク強度Ｉ_００ｌと（ｌ００）面の回折ピーク強度Ｉ_ｌ００との比がＩ_００ｌ／Ｉ_ｌ００≦１である。 - 特許庁

(2) An intensity ratio I_003/I_104 of diffraction peak intensity I_003 of (003) planes in the vicinity of 2θ=19° determined in the X-ray diffraction image and diffraction peak intensity of (104) planes in the vicinity of 2θ=44° is 1.0 to 1.5.例文帳に追加

（２）前記Ｘ線回折像において測定される２θ＝１９゜付近の（００３）面回折ピーク強度Ｉ_００３と２θ＝４４°付近の（１０４）面回折ピーク強度Ｉ_１０４との強度比Ｉ_００３／Ｉ_１０４が、１．０より大きく１．５より小さいこと。 - 特許庁

To provide an X-ray diffraction analyzing technique capable of simply acquiring the X-ray diffraction pattern equipped with the local structural data of a sample having a non-uniform crystal structure in a laboratory or on the spot by reducing the damping of intensity in a light path until the X-ray beam emitted from an X-ray tube arrives at a sample to the utmost.例文帳に追加

Ｘ線管から出射されたＸ線ビームが試料に到達するまでの光路における強度の減衰を極力小さくすることにより、不均一な結晶構造を有する試料の局所構造情報を備えるＸ線回折図形を、実験室や現場で短時間且つ簡単に取得することを可能とするＸ線回折分析技術を提供する。 - 特許庁

The RHx compound (R represents one metal element in rare earth elements, H is hydrogen and (x) is 2 or around 2) has an FCC (face-centered cubic) structure and a crystalline structure showing high diffraction intensity on the (311) plane than the diffraction intensity on the (111) plane by X-ray diffraction pattern analysis.例文帳に追加

本発明のＲＨｘ（Ｒは希土類元素のうちのいずれか一の金属元素。Ｈは水素元素。ｘは２又はその近傍。）化合物は、ＦＣＣ構造を有し、かつ、Ｘ線回折パターン結果において（１１１）面の回折強度よりも（３１１）面の回折強度のほうが大きい結晶構造を有することを特徴とするものである。 - 特許庁

An Ni_3Sn_4 film, in which the thin film X-ray diffraction peak intensity ratio between SnO and Ni_3Sn_4, that is, SnO/Ni_3Sn_4 satisfies ≤0.046, is formed on the surface of a metal plate.例文帳に追加

金属板の表面に、SnＯとNi_3Sn_4の薄膜Ｘ線回折ピーク強度比SnＯ／Ni_3Sn_4が0.046以下を満足するNi_3Sn_4系皮膜を形成する。 - 特許庁

The values (lattice spacings d/Å) of the X-ray diffraction pattern are 12.3±0.3, 9.0±0.3, 6.8±0.3, 3.9±0.2, 3.5±0.1 and 3.4±0.1.例文帳に追加

Ｘ線回折パターン 格子面間隔ｄ／Å（オングストローム） １２．３±０．３ ９．０±０．３ ６．８±０．３ ３．９±０．２ ３．５±０．１ ３．４±０．１ - 特許庁

To judge the presence of a twist distribution becoming important in the same material system by measuring the X-ray diffraction with respect to a GaN type sample.例文帳に追加

ＧａＮ系試料に対してＸ線回折測定をすることにより、同材料系で重要となるtwist 分布の存在を判定する。 - 特許庁

Therefore, the background due to the scattering of air and scattered X-rays is reduced and a diffraction pattern having a desired S/B ratio is measured.例文帳に追加

このため、空気散乱及び散乱Ｘ線によるバックグラウンドが低減され、所望のＳ／Ｂ比を有する回折パターンが測定される。 - 特許庁