「X diffraction」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING DIFFRACTION OF OBLIQUELY EMITTED X-RAYS例文帳に追加

斜出射Ｘ線回折測定装置及びこれを用いた斜出射Ｘ線回折測定方法 - 特許庁

The peak order is preferably unchanged even when the X-ray diffraction is performed for the powder thereof.例文帳に追加

粉末にしてＸ線回折を行ってもピークの順番が変わらないことが好ましい。 - 特許庁

DETERIORATION DIAGNOSING METHOD OF NI-BASED HARD METAL BY X-RAY DIFFRACTION METHOD AND FUTURE LIFETIME EVALUATION METHOD例文帳に追加

Ｘ線回折法によるＮｉ基超合金の劣化診断法および余寿命評価法 - 特許庁

To provide a method and device for X-ray transmission diffraction analysis remarkably improved in particle statistics.例文帳に追加

粒子統計が著しく改善されたＸ線透過回折分析方法および装置の提供。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING ALLOY PHASE ADHESION IN PLATED LAYER USING X-RAY DIFFRACTION METHOD例文帳に追加

Ｘ線回折法を用いためっき層中の合金相付着量の測定方法及び装置 - 特許庁

CAPILLARY ROTATION APPARATUS, X-RAY DIFFRACTION APPARATUS USING THE SAME, AND RAMAN SPECTROMETRY ANALYZER例文帳に追加

キャピラリー回転装置並びにこれを用いたＸ線回折装置及びラマン分光分析装置 - 特許庁

The solid crystal, called COK-7, has a specific X-ray diffraction pattern.例文帳に追加

本発明は、ＣＯＫ−７と称される、特定のＸ線回折図を有する固体結晶に関する。 - 特許庁

The α-crystal form of the compound represented by formula (I) shows a characteristic powder X-ray diffraction pattern.例文帳に追加

その粉末Ｘ線回折パターンを特徴とする、式（Ｉ）の化合物のα結晶型。 - 特許庁

The X-ray diffraction device 5 is stopped at an arbitrary measuring spot on the rail 1, and an X-ray irradiation point on the head top face 1d is irradiated with the X-ray generated by an X-ray generation device 3 from an X-ray irradiation part 6.例文帳に追加

レール１上の任意の測定箇所でＸ線回折装置５を停止させて、Ｘ線発生装置３が発生するＸ線をＸ線照射部６から頭頂面１ｄのＸ線照射点に照射する。 - 特許庁

To calibrate the intensity of X-rays with high accuracy for a short time in quantitative analysis by an X-ray diffraction method using a monochromator.例文帳に追加

モノクロメータを用いたＸ線回折法での定量分析において、短時間で高精度なＸ線強度の較正を実現する。 - 特許庁

Further, the X-ray diffraction peak ratio between the ζ-phase and δ1 phase, (ζ/δ), is made to <0.2 or the area ratio of the ζ-phase in the surface layer is made to <10%.例文帳に追加

また、ζ相とδ_1相のX線回折ピーク比率（ζ/δ）が0.2未満、あるいは表層のζ相面積率が10%未満である。 - 特許庁

To provide a multi-focus x-ray source (MFXS) for a multiple inverse fan beam x-ray diffraction imaging (MIFB XDI) system.例文帳に追加

多重逆ファンビームｘ線回折イメージング（ＭＩＦＢ ＸＤＩ）システムのための多焦点ｘ線源（ＭＦＸＳ）を提供すること。 - 特許庁

The unnecessary diffraction X-ray included in the diffraction X-ray beam is removed by a pinhole 109, and only diffraction light 108 from the irradiation area of the Bessel beam on the sample 106 is made to get incident into a detector 110, so as to measure intensity thereof.例文帳に追加

そして、回折Ｘ線ビームに含まれる不要な回折Ｘ線をピンホール１０９により除去して、試料１０６上のベッセルビームの照射領域からの回折光１０８のみを検出器１１０に入射させて強度測定を行なう。 - 特許庁

The imaging device comprises an X-ray source 110, a diffraction grating 130 for diffracting X-rays emitted from the X-ray source 110, a shielding grating 150 for shielding a part of the X-rays diffracted by the diffraction grating 130 and a detector 170 for detecting intensity distribution of the X-rays having passed through the shielding grating 150.例文帳に追加

撮像装置はＸ線源１１０とＸ線源１１０から出射したＸ線を回折する回折格子１３０と回折格子１３０によって回折されたＸ線の一部を遮る遮蔽格子１５０と遮蔽格子１５０を経たＸ線の強度分布を検出する検出器１７０とを有する。 - 特許庁

This invention relates to: the azo pigment that is represented by formula (1) and has characteristic X-ray diffraction peaks at 7.5°, 25.8° and 26.9° of Bragg angle (2θ±0.2°) in CuKα characteristic X-ray diffraction; or an tautomer thereof.例文帳に追加

ＣｕＫα特性Ｘ線回折におけるブラッグ角（２θ±０．２°）が７．５°、２５．８°及び２６．９°に特徴的Ｘ線回折ピークを有する下記式（１）で表されるアゾ顔料、又はその互変異性体。 - 特許庁

In the evaluation method for evaluating a silicon wafer that has been subjected to heat treatment, the X-ray diffraction intensity of the silicon wafer is measured by an X-ray diffraction method, thus evaluating the IG capability of the silicon wafer.例文帳に追加

熱処理後のシリコンウェーハの評価方法であって、Ｘ線回折法によりシリコンウェーハのＸ線回折強度を測定することによって当該シリコンウェーハのＩＧ能力を評価するようにした。 - 特許庁

The azo pigment, or a tautomer thereof, is represented by formula (1) and has distinctive X-ray diffraction peaks at Bragg angles (2θ±0.2°) of 7.2°, 13.4°, 15.0° and 25.9° in CuKα characteristic X-ray diffraction.例文帳に追加

ＣｕＫα特性Ｘ線回折におけるブラッグ角（２θ±０．２°）が７．２°、１３．４°、１５．０°及び２５．９°に特徴的Ｘ線回折ピークを有する下記式（１）で表されるアゾ顔料、又はその互変異性体。 - 特許庁

This azo pigment is a compound represented by formula (1), in which the Bragg angle (2θ±0.2°) in CuKα characteristic X-ray diffraction includes its own X-ray diffraction peak at 6.6° and 25.7°, and its tautomer.例文帳に追加

ＣｕＫα特性Ｘ線回折におけるブラッグ角（２θ±０．２°）が６．６°及び２５．７°に特徴的Ｘ線回折ピークを有する下記式（１）で表されるアゾ顔料、又はその互変異性体。 - 特許庁

The period of the diffraction grating structure is predetermined by a function f(x) providing the period of chirp diffraction gratings monotonously changing with coordinates on an (x) axis set for the predetermined axis Ax.例文帳に追加

回折格子構造の周期は、所定の軸Ａｘに取られたｘ軸上の座標に対して単調に変化するチャープ回折格子の周期を提供する関数ｆ（ｘ）によって規定される。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for stably supplying a phase diffraction grating constituting an X-ray Talbot interferometer and an amplitude diffraction grating.例文帳に追加

Ｘ線タルボ干渉計を構成する位相型回折格子及び振幅型回折格子を安定的に供給可能な製造方法を提供する。 - 特許庁

Furthermore, the anode active material is capable of reaction with lithium, and has a reaction phase in which the half width of a diffraction peak obtained by X-ray diffraction is 1° or more.例文帳に追加

また、負極活物質は、リチウムと反応可能であり、Ｘ線回折により得られる回折ピークの半値幅が１°以上である反応相を有する。 - 特許庁

The x-ray diffraction apparatus includes: an x-ray emitter 13 for applying an x-ray to a measuring object OB; a table 27 for receiving the x-ray diffracted by the measuring object OB and fixing an imaging plate 28 for recording a diffraction ring; and a laser detection device PUH for applying a laser beam to the imaging plate 28 and reading out a shape of the diffraction ring.例文帳に追加

測定対象物ＯＢにＸ線を照射するＸ線出射器１３、測定対象物ＯＢにて回折したＸ線を受光して回折環を記録するイメージングプレート２８を固定するテーブル２７及びレーザ光をイメージングプレート２８に照射して、回折環の形状を読み取るレーザ検出装置ＰＵＨを設ける。 - 特許庁

There is provided the crystal of a hydrate of 3-(2-cyanophenyl)-5-(2-pyridyl)-1-phenyl-1,2-dihydropyridin-2-one, which shows a diffraction peak at a diffraction angle (2θ±0.2°) of 8.7° in a powder X-ray diffraction.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折において、回折角度（２θ±０．２°）８．７°に回折ピークを有する、３−（２−シアノフェニル）−５−（２−ピリジル）−１−フェニル−１，２−ジヒドロピリジン−２−オンの水和物の結晶。 - 特許庁

To provide a sample position adjusting device, capable of detecting the diffraction peaks of radiation, such as X rays, neutron beams, etc. with high accuracy in short time, a radiation diffraction device and a radiation diffraction method.例文帳に追加

Ｘ線及び中性子線等の放射線の回折ピークを高精度且つ短時間で検出可能とする試料位置調整装置、放射線回折装置及び放射線回折法を提供する。 - 特許庁

The light receiver is a TDI type light receiving element, and light-receives a diffraction image with a diffraction direction inclined by an angle of θ to an X axis in an XY plane from the diffraction element.例文帳に追加

受光器は、ＴＤＩ型の受光素子であり、回折素子からの回折像が、その回折方向がＸＹ面内でＸ軸方向に対して角度θ傾斜した状態で受光される。 - 特許庁

To provide a manufacturing method which makes it possible to stably supply X-ray diffraction gratings with a high aspect ratio to be used for an X-ray Talbot interferometer.例文帳に追加

Ｘ線タルボ干渉計に用いる高アスペクト比のＸ線回折格子を安定的に供給可能な製造方法を提供する。 - 特許庁

HIGH-ORDER HARMONIC X-RAY GENERATING APPARATUS AND ITS GENERATING METHOD, AS WELL AS POINT-DIFFRACTION INTERFEROMETER USING HIGH-ORDER HARMONIC X-RAY例文帳に追加

高次高調波エックス線発生装置及びその発生方法、並びに高次高調波エックス線を利用したエックス線干渉計測装置 - 特許庁

A calculator 19 detects a diffraction angle θ from an intensity distribution of the diffraction X-ray 5 measured by the detector 6, the diffraction angle when no influence of refraction of X-ray exists from the data of the angles α, θ is obtained, and an internal stress of the sample 3 is calculated base on the diffraction angle.例文帳に追加

算出部１９は、Ｘ線検出器６で測定された回折Ｘ線５の強度分布から回折角度θを検出し、入射角度αと回折角度θのデータから、Ｘ線の屈折による影響がないときの回折角度を求め、それに基づいて試料３の内部応力を算出する。 - 特許庁

A diffraction X-ray pattern is accurately read since an incident X-ray 2 serving as a reference is recorded in the position sensitive X-ray detector, by thinning a film thickness of the measured sample to measure the diffracted X-ray by the transmission X-ray.例文帳に追加

測定試料の膜厚を薄くして透過Ｘ線で回折Ｘ線を測定することにより、基準となる入射Ｘ線２も位置感応型Ｘ線検出器に記録されるため、回折Ｘ線パターンを正確に読み取ることができる。 - 特許庁

To provide an inexpensive X-ray analyzer for having fluorescence and diffraction for common use having functions of both of fluorescent X-ray analysis and diffracted X-ray analysis and capable of constituting an optimum X-ray detection system.例文帳に追加

蛍光Ｘ線分析と回折Ｘ線分析の両方の機能を有するとともに、それぞれ最適なＸ線検出系を構成できる、安価な蛍光・回折共用Ｘ線分析装置を提供する。 - 特許庁

An X-ray generator 1 emits an X-ray to a sample 3 of oxide heated in a high temperature chamber 4, and a two-dimensional X-ray detector 5 measures X-ray diffraction intensity in the sample 3.例文帳に追加

高温チャンバー４内で加熱されている酸化物の試料３に対してＸ線発生装置１からＸ線を照射し、試料３におけるＸ線回折強度を、二次元Ｘ線検出器５により測定する。 - 特許庁

Preferably, the Ti-MWW layered precursor is one giving an X-ray diffraction pattern having values below and having a composition represented by general formula: xTiO_2-(1-x)SiO_2 (wherein x is a numerical value of 0.0001-0.1).例文帳に追加

該Ｔｉ-ＭＷＷ層状前駆体としては、下記に示す値のＸ線回折パターンを有し、かつ一般式ｘTiO2・(1−x)SiO2（式中ｘは0.0001〜0.1の数値を表す。）で表される組成を有するものであることが好ましい。 - 特許庁

To provide an apparatus where an x-ray diffraction and a computed tomography are combined, and to provide a method.例文帳に追加

Ｘ線回折（ＸＲＤ）及びコンピュータトモグラフィ（ＣＴ）を組み合わせた装置及び方法に関する。 - 特許庁

This magnesium omeprazole has a degree of crystallinity higher than 70% determined by X-ray powder diffraction.例文帳に追加

Ｘ線粉末回折によって測定して７０％より高い結晶化度を有するオメプラゾールマグネシウム。 - 特許庁

To perform X-ray diffraction measuring and thermal analytical measuring at the same time with respect to a plurality of samples.例文帳に追加

複数の試料について，同時にＸ線回折測定と熱分析測定を実施できるようにする。 - 特許庁

An X-ray diffraction pattern of the composite metal cyanide complex catalyst involved in this invention is represented by the figure.例文帳に追加

本発明に係る複合金属シアン化物錯体触媒の例のＸ線回折パターンを図に示す。 - 特許庁

A plurality of diffraction spots 34 of the monocrystal sample are recorded on a two-dimensional X-ray recording region.例文帳に追加

２次元のＸ線記録領域上に単結晶試料の回折斑点３４を複数個記録する。 - 特許庁

The X-ray detector 20 is a unidimensional position response type within the plane parallel to the diffraction plane.例文帳に追加

Ｘ線検出器２０は、回折平面に平行な平面内において１次元の位置感応型である。 - 特許庁

The X-ray diffraction measurement method for a water-containing crystal includes a process of encapsulating a crystal in a water-soluble polymer.例文帳に追加

結晶を水溶性ポリマーで包み込む工程を含む含水結晶のＸ線回折測定方法。 - 特許庁

The chirped period of the respective diffraction grating portions 5a to 5n is predefined by the function f(x).例文帳に追加

回折格子部分５ａ〜５ｎの各々におけるチャープされた周期は関数ｆ（ｘ）によって規定される。 - 特許庁

(2) When a half-value width of a diffraction peak b in which a diffraction angle 2θ in powder X-ray diffraction measurement using CuKα_1 rays exists around 43.5° is FWHMb, an X-ray half-width value ratio XFab value stipulated in a formula (1) below is to be 1 or less.例文帳に追加

（ロ）ＣｕＫα_１線を使用した粉末Ｘ線回折測定における回折角２θが４３．５°付近に存在する回折ピークｂの半価幅をＦＷＨＭｂとした時に、下記式（１）で規定されるＸ線半価幅比ＸＦａｂ値が１以下である。 - 特許庁

A series of processes ranging over crystallization in a capillary, cryoprotectant processing and diffraction data collection by X-ray diffraction measurement is carried out using the capillary having a contraction area for preventing a crystal of a size suitable for the X-ray diffraction measurement from flowing out.例文帳に追加

Ｘ線回折測定に適した大きさの結晶の流出を防止する絞り領域を有するキャピラリーを用いて、その内部で結晶化、クライオプロテクタント処理およびＸ線回折測定による回折データ収集までの一連の工程を行う。 - 特許庁

The fiber-like porous silica particles has an X-ray diffraction peak at a diffraction angle of 0.5 to 5°(CuKα), the X-ray diffraction peak showing a regular arrangement structure of the pores, and has the maximum value of pore diameter distribution in the pore diameter range of ≥8 nm.例文帳に追加

繊維状多孔質シリカ粒子であって、回折角０．５乃至５度（ＣｕＫα）に細孔の規則配列構造を示すＸ線回折ピークを有し且つ細孔径８ｎｍ以上に細孔径分布の極大を有する繊維状多孔質シリカ粒子とする。 - 特許庁

This perylene hybrid pigment is characterized in that an X-ray diffraction pattern of the pigment obtained by including one or more metal atoms has the diffraction peaks at 6.2, 10.1 and 12.2 expressed in terms of 2θ (2θ±0.2) angles in the Cu-Kα characteristic X-ray diffraction.例文帳に追加

１つ以上の金属原子を含有させて得られる顔料のＸ線回折パターンがＣｕ−Ｋα特性Ｘ線回折の２θ（２θ±０．２）角度で少なくとも６．２、１０．１、１２．２、に回折ピークを有することを特徴とするペリレン混成顔料。 - 特許庁

To provide an X-ray analysis device, such as a fluorescent X-ray analysis device of a wavelength dispersion type, an X-ray diffraction device or the like, capable of making a prompt and accurate analysis by continuous scan.例文帳に追加

波長分散型の蛍光Ｘ線分析装置やＸ線回折装置等のＸ線分析装置において、連続スキャンで迅速かつ正確な分析を行える装置を提供する。 - 特許庁