「X diffraction」に関連した英語例文の一覧と使い方(18ページ目) - Weblio英語例文検索

In the titanium alloy, an α phase of titanium is dispersed into a β phase of titanium so that the ratio (Iα/Iβ) between the peak intensity Iα of the α phase and the peak intensity Iβ of the β phase by X-ray diffraction in the titanium alloy is controlled to 0.03 to 0.4.例文帳に追加

チタン合金中にＸ線回折によるα相のピーク強度Ｉαとβ相のピーク強度Ｉβの比（Ｉα／Ｉβ）が０．０３以上、０．４以下となるように、チタンのβ相中にチタンのα相が分散される。 - 特許庁

This nickel electrode for the alkaline storage battery includes a positive electrode containing a positive electrode active material mainly composed of nickel hydroxide, and a compound including at least one of elements among erbium(Er), thulium(Tm), ytterbium(Yb) and ruthenium(Lu), having a diffraction peak with d=88 nm, d=84 nm and d=76 nm in the X-ray diffraction pattern by Kα line of Co.例文帳に追加

正極を水酸化ニッケルを主成分とする正極活物質と、ＣｏのＫα線によるＸ線回折図において、ｄ＝８８ｎｍ、ｄ＝８４ｎｍおよびｄ＝７６ｎｍに回折ピークを有するエルビウム（Ｅｒ）、ツリウム（Ｔｍ）、イッテルビウム（Ｙｂ）およびルテチウム（Ｌｕ）の中少なくとも一種の元素を含む化合物を含有することを特徴とするアルカリ蓄電池用ニッケル電極とする。 - 特許庁

In the method of forming an image which uses at least a photoreceptor and a toner, the electrophotographic photoreceptor has a photosensitive layer containing oxytitanium phthalocyanine, having the maximum diffraction peak at the Bragg angle (2θ±0.2) 27.3° in X-ray diffraction by CuKα line, and the toner has 3 to 8 μm volume average particle size and 20 mm or lower fluidity index.例文帳に追加

少なくとも感光体及びトナーを用いる画像形成方法において、該電子写真感光体が、ＣｕＫα線によるＸ線回折においてブラッグ角（２θ±０．２）２７．３゜に最大回折ピークを有するオキシチタニウムフタロシアニンを含有する感光層を有し、該トナーが体積平均粒径が３〜８μmであり且つ流動性指数が２０ｍｍ以下であることを特徴とする画像形成方法。 - 特許庁

Fullerenes are dissolved into an extracting solvent 11 by mixing a soot-like material 10 containing the fullerenes with the extracting solvent 11, and a carbon material 12 insoluble in the extracting solvent 11 and having the highest peak within the range of 12-16° within the range of 3-30° of the diffraction angle 2θ, in X-ray diffraction measurement results using CuKα rays, is separated and recovered.例文帳に追加

フラーレン類を含有する煤状物質１０を抽出溶媒１１と混合し、抽出溶媒１１にフラーレン類を溶解させ、抽出溶媒１１に不溶であり、且つＣｕＫα線を使用したＸ線回折測定結果における回折角２θが３〜３０°の範囲内で、最も強いピークが１２〜１６°の範囲に存在する炭素材料１２を分離回収する。 - 特許庁

In the ceramic film depositing method for growing a film on a substrate by spraying aerosol containing ceramic powder on the substrate to collide the ceramic powder on the substrate, the ceramic film is deposited by using the highly crystalline ceramic powder in which the half-width of the highest intensity diffraction ray peak of the X-ray diffraction ray when C-Kα ray is used is below 0.3°.例文帳に追加

セラミックス粉体を含むエアロゾルを基板に吹き付け、セラミックス粉体を基板に衝突させることによって基板上に膜を成長させるためのセラミックス膜の形成方法において、Ｃｕ−Ｋα線を使用したときのＸ線回折線の最強度回折線ピークの半値幅が０．３°未満である結晶性の高いセラミックス粉体を用いてセラミックス膜の形成を行う。 - 特許庁

The hydrogen-producing catalyst for producing hydrogen from carbon monoxide and water in internal-combustion engine exhaust gas contains: an oxide containing a cerium oxide in which the ratio of (111)-face diffraction peak intensity to background intensity in X-ray diffraction pattern is 4.3 or more; a zirconium oxide; and at least one noble metal selected from Pt, Pd and Rh.例文帳に追加

内燃機関排ガス中の一酸化炭素と水から水素を生成する触媒であって、Ｘ線回折パターンにおいて（１１１）面回折ピーク強度とバックグランドの比が４.３ 以上である酸化セリウムを含む酸化物と、ジルコニウム酸化物と、Ｐｔ，Ｐｄ，Ｒｈから選ばれる貴金属の少なくとも１つとを含むことを特徴とする水素製造触媒を用いる。 - 特許庁

The conductive substrate has an ITO film formed thereon, in which the integrated intensity ratio A/C of the integrated intensity A of 2θ peak corresponding to (222) plane and the integrated intensity of 2θ peak corresponding to (440) plane by the X-ray diffraction method is not less than 5.0.例文帳に追加

Ｘ線回折法による（２２２）面に相当する２θピークの積分強度Ａと（４４０）面に相当する２θピークの積分強度Ｃとの積分強度比Ａ／Ｃが５．０以上であるＩＴＯ膜が形成されていることを特徴とする、導電性基板。 - 特許庁

In the copper based alloy comprising, by weight, 2.0 to 4.0% Ti and 0.05 to 0.50% Fe, the total of the other impurity elements is ≤0.01 wt%, and the X-ray diffraction intensity ratio of I(311)/I(111)≥0.5 is satisfied.例文帳に追加

Ｔｉを２．０〜４．０重量％及びＦｅを０．０５〜０．５０重量％含有する銅基合金において、他の不純物元素が合計で０．０１重量％以下であり、Ｘ線回折強度比：Ｉ（３１１）／Ｉ（１１１）≧０．５を満たすことを特徴とする銅合金。 - 特許庁

To provide a structural analysis method of a crystal for easily deciding whether spread shape of a peak to be measured is measured, by reflecting the nonuniform distribution of the composition within the crystal, when evaluating the structure of the crystal through X-ray diffraction.例文帳に追加

Ｘ線回折により結晶構造評価を行う際、測定されるピークの拡がり形状が、結晶中の組成が不均一に分布していることを反映して決まっているか否かを、簡便に判定できる、結晶の構造解析方法を提供する。 - 特許庁

A hydrated crystal form of (±)-cis-FTC (that is, racemic cis-FTC) which is distinguishable from other form of FTC by its powder X-ray diffraction pattern, heat characteristic and production methods in a similar way, and a dehydrated form of the hydrate are also provided.例文帳に追加

同様にＸ線粉末回折パターン、熱特性、および製造の方法によって、ＦＴＣの他の型と区別することができる、（±）−シス−ＦＴＣの水和した結晶型（すなわちラセミ体のシス−ＦＴＣ）、およびこの水和物の脱水された型も提供する。 - 特許庁

The above diffraction peak strength is determined under the following conditions: X-ray source is Cuk α; tube bulb voltage is 40 kV; tube bulb current is 20 mA; filter is Ni-filter; divergent slit is 1°, scattering slit is 1°; and light receiving slit is 0.3 mm.例文帳に追加

但し、上記の回折ピーク強度とは、ＣｕＫαをＸ線源、管球電圧を４０ｋＶ、管球電流を２０ｍＡとし、Ｎｉフィルターを用い、発散スリットに１°、散乱スリットに１°、受光スリットに０．３ｍｍを使用した場合のピーク強度をいう。 - 特許庁

The surface of particles of nickel hydroxide powder is coated with the β-type cobalt hydroxide wherein the half-width obtained from the face (101) by X-ray diffraction is not less than 0.229° and not more than 0.851° or in which the crystallite diameter is not less than 100 Å and not more than 450 Å.例文帳に追加

Ｘ線回折において（１０１）面より求めた半価幅が０．２２９°以上０．８５１°以下、あるいは結晶子径が１００Å以上４５０Å以下であるβ型水酸化コバルトにより、水酸化ニッケル粉末の粒子の表面を被覆する。 - 特許庁

It is also desirable that the peak intensity P1 at an Si peak point appearing around 2θ=28° and the base intensity P2 at the peak point assumed by using the average gradient in the vicinity of the Si peak point satisfy (P1-P2)/P2≤0.2 in a graph obtained by X-ray diffraction.例文帳に追加

また、Ｘ線回折により得られたグラフにおいて、２θ＝２８°付近に発生するＳｉピーク点におけるピーク強度Ｐ１と、ピーク点前後の平均勾配から想定したピーク点におけるベース強度Ｐ２が、（Ｐ１−Ｐ２）／Ｐ２≦０．２を満足することが望ましい。 - 特許庁

The production method for a crystal polymorphism A (Fig.1: X-ray powder diffraction pattern) of a pitavastatin hemicalcium salt (formula) comprises allowing a sodium salt of pitavastatin to react with CaCl_2 in an aqueous reaction medium, separating a formed crystal, and drying it so that the water content is adjusted to 3-12%.例文帳に追加

ピタバスタチンのナトリウム塩とＣａＣｌ_2とを水性反応媒体中で反応させ、生成した結晶を分離し、乾燥して含水量を３〜１２％に調節する、ピタバスタチンヘミカルシウム塩（下式）の結晶多形Ａ（図１：Ｘ線粉末回折図形）の製造方法。 - 特許庁

The sputtering target comprises a zinc oxide sintered body, wherein a crystalline orientation degree I_002/(I_002+I_110) calculated by peak intensities in the X-ray diffraction measurement on the major face 11a to be exposed to a sputtering atmosphere, is 0.2 to <0.58.例文帳に追加

酸化亜鉛焼結体からなり、スパッタリング雰囲気にさらされる主面１１ａのＸ線回折測定のピーク強度により算出される結晶配向度Ｉ_００２／（Ｉ_００２+Ｉ_１１０）が０．２以上、０．５８未満であることを特徴とするスパッタリングターゲット。 - 特許庁

This slide fastener includes a lock pin and/or a spring composed of molecularly oriented polyethylene terephthalate-based resin having a half value width of azimuthal distribution of an X-ray diffraction strength of 30° or less in a crystal surface 100 (spacing of approximately 3.40Å).例文帳に追加

結晶面（１００）（面間隔約３．４０Å）について、Ｘ線回折強度の方位角分布の半値幅が３０°以下である分子配向したポリエチレンテレフタレート系樹脂からなるロックピンおよび／またはスプリングを含むことを特徴とするスライドファスナーである。 - 特許庁

A solid phase of amorphous (-)-FTC and (-)-cis-FTC called II and III(-)-cis-FTC which is distinguishable from I(-)-cis-FTC by its powder X-ray diffraction pattern, heat characteristic and production methods is provided.例文帳に追加

Ｘ線粉末回折パターン、熱特性、および製造の方法によってＩ型（−）−シス−ＦＴＣと区別することができ、ここでは非晶質（−）−ＦＴＣおよびＩＩおよびＩＩＩ型（−）−シス−ＦＴＣ）と呼ばれる（−）−シス−ＦＴＣの固相を提供する。 - 特許庁

To provide a structural analysis method of a crystal for easily deciding whether the spread shape of a peak to be measured is determined, by reflecting the nonuniform distribution of the composition in the crystal, when evaluating the structure of the crystal by X-ray diffraction.例文帳に追加

Ｘ線回折により結晶構造評価を行う際、測定されるピークの拡がり形状が、結晶中の組成が不均一に分布していることを反映して決まっているか否かを、簡便に判定できる、結晶の構造解析方法を提供する。 - 特許庁

Alternatively, a nonmagnetic part for magnetically separating the magnetic recording pattern part is formed by partially implanting atoms into a deposited Co-containing magnetic layer, and setting Co (002) or Co(110) peak strength of X-ray diffraction of the magnetic layer of a relevant part to 1/2 or less.例文帳に追加

または、磁気記録パターン部を磁気的に分離する非磁性部を、すでに成膜されたＣｏ含有磁性層に部分的に原子を注入し、該箇所の磁性層のＸ線回折によるＣｏ（００２）またはＣｏ（１１０）ピーク強度を１／２以下にして形成する。 - 特許庁

A β type crystal and a γ type crystal of 4-amino-5-chloro-2-ethoxy-N-[[4-(4-fluorobenzyl)-2-morpholinyl]methyl]benzamide-citrate which are characterized by a powder x-ray diffraction pattern and/or a differential scanning calorimetric analysis thermogram, and are stable at the room temperature are disclosed.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折パターン及び／又は示差走査熱量分析サーモグラムで特徴付けられ、室温で安定な、４−アミノ−５−クロロ−２−エトキシ−Ｎ−［［４−（４−フルオロベンジル）−２−モルホリニル］メチル］ベンズアミド・クエン酸のβ型結晶及びγ型結晶。 - 特許庁

To evade the lowering of measuring precision caused by a cross error in biaxial lines, simplify structure of a diffractometer, and shorten a measuring time, by omitting rotation corresponding to one axis out of biaxial rotations conducted conventionally in micro X-ray diffraction measurement.例文帳に追加

微小部Ｘ線回折測定において従来行われていた２軸回転のうちの１軸分を省略することにより、２軸線の交差誤差に起因する測定精度の低下を回避し、装置の構造を簡単にし、さらに測定時間を短縮する。 - 特許庁

The SiC dummy wafer being obtained by forming an SiC film on the surface of a basic material by CVD and then removing the basic material comprises an SiC shaped body having such properties as the half peak width of SiC (111) face measured by X-ray diffraction is 0.2° or less and the warp is 0.5 mm or less.例文帳に追加

ＣＶＤ法により基材面にＳｉＣ膜を成膜した後基材を除去して得られ、Ｘ線回折により測定されるＳｉＣ（１１１）面の半値幅が０．２°以下、反りが０．５mm以下の性状を備えたＳｉＣ成形体からなるＳｉＣダミーウエハ。 - 特許庁

It is desirable for the sintered body to contain MgO in addition, and if it contains MgAl_2O_4 and MgO, it is preferred that the peak intensity of MgO (200) plane in an X-ray diffraction pattern is in the range from 0.5 to 50, provided that the peak intensity of MgAl_2O_4 (311) plane is 100.例文帳に追加

この焼結体は、ＭｇＯをさらに含むことが好ましく、ＭｇＡｌ_２Ｏ_４及びＭｇＯを含む場合、Ｘ線回折によるＭｇＡｌ_２Ｏ_４（３１１）面のピーク強度を１００としたときのＭｇＯ（２００）面のピーク強度が０．５〜５０であること好ましい。 - 特許庁

In each TiO_2 film of the optical multilayer film formed by alternately stacking TiO_2 films and SiO_2 films, the X-ray diffraction peak intensity ratio (anatase structure/rutile structure) of anatase structure to rutile structure is within a range of 70/30 to 100/0.例文帳に追加

ＴｉＯ_２膜とＳｉＯ_２膜とを交互に積層してなる光学多層膜において、ＴｉＯ_２膜中におけるアナターゼ構造とルチル構造のＸ線回折ピーク強度比（アナターゼ構造：ルチル構造）が７０：３０〜１００：０の範囲内であることを特徴としている。 - 特許庁

The cellulose nanofiber has an average polymerization degree of not less than 600 and not more than 30,000, an aspect ratio of 20-10,000, and an average diameter of 1-800 nm, and has an X-ray diffraction pattern having a Iβ type crystal peak.例文帳に追加

本発明のセルロースナノファイバーは、平均重合度が６００以上３００００以下であり、アスペクト比が２０〜１００００であり、平均直径が１〜８００ｎｍであり、Ｘ線回折パターンにおいて、Ｉβ型の結晶ピークを有することを特徴とする。 - 特許庁

The TMPB substance of the present invention is a crystal of 2-methyl-2-triazolylmethylpenam-3-carboxylic acid 1,1dioxidodiphenylmethyl ester having peaks in lattice face intervals in X-ray diffraction pattern of powder obtained with copper radioactive ray of λ=1.5418 angstrom passed through a monochromater.例文帳に追加

本発明のＴＡＺＢ結晶は、モノクロメーターを通したλ＝１．５４１８Åの銅放射線で得られるＸ線粉末回折パターンで格子面間隔にピークを有する２−メチル−２−トリアゾリルメチルペナム−３−カルボン酸１，１−ジオキシドジフェニルメチルエステルの結晶である。 - 特許庁

The product proves to be a crystal by powder X-ray diffraction and gives a maximum endothermic peak at a temperature of 180°C or higher by DST to prove to be a uniform crystalline α-lipoic acid lysine salt in its chemical composition and crystalline shape.例文帳に追加

生成物は粉末Ｘ線回折により結晶であることを示し、ＤＳＴにおいて１８０℃以上の温度において最大吸熱ピークを示し、化学組成および結晶形態において均一な結晶性α−リポ酸リジン塩であることが証明された。 - 特許庁

The TMPB substance of the present invention is a crystal of 2-methyl-2-triazolylmethylpenam-3-carboxylic acid diphenylmethyl ester having peaks in lattice face intervals in X-ray diffraction pattern of powder obtained with copper radioactive ray of λ=1.5418 angstrom passed through a monochromater.例文帳に追加

本発明のＴＭＰＢ結晶は、モノクロメーターを通したλ＝１．５４１８Åの銅放射線で得られるＸ線粉末回折パターンで格子面間隔にピークを有する２−メチル−２−トリアゾリルメチルペナム−３−カルボン酸ジフェニルメチルエステルの結晶である。 - 特許庁

According to this method, the dendrite structure of the casting 1 composed of coarse crystal grains can be fined at the surface layer part 2, so that an X-ray diffraction phenomenon can be well generated to stably obtain the correct residual stress.例文帳に追加

この方法によれば、粗大な結晶粒からなる鋳物１の樹枝状晶組織を、その表層部２で微細化することができるため、Ｘ線の回折現象を良好に生じさせることができ、正しい残留応力を安定して求めることができ得る。 - 特許庁

This light scattering element 20 is provided with diffraction gratings 20R, 20G, 20B corresponding to each wavelength of the light source, and is arranged in the manner that the image forming position of the one-dimensional intermediate image corresponding to each wavelength is shifted in the direction of the arrow x corresponding to the scanning direction of a scanning optical system.例文帳に追加

この光散乱素子20を光源の各波長に対応する回折格子20R,20G,20Bを備え、各波長に対応する１次元中間像の結像位置を、走査光学系の走査方向と対応する矢印ｘで示す方向にずらして配置する。 - 特許庁

The metal partitioning material for the image display unit is the Fe-Ni alloy or the Fe-Ni-Cr alloy including, by wt.% 38-52% Ni, and the residual stress is controlled to 0.2-0.7 degrees by half-width of a X-ray diffraction peak for the face (311).例文帳に追加

重量％でＮｉを３８〜５２％含むＦｅ−Ｎｉ系合金またはＦｅ−Ｎｉ−Ｃｒ系合金であって、残留応力が（３１１）面Ｘ線回折ピークの半価幅で０．２〜０．７度に制御した画像表示装置用金属隔壁材とする。 - 特許庁

A crystal sample holder which is set on a sample stage of an X-ray diffraction system, is provided with a holder main body 2; a plurality of sample mount sections 3 formed on the holder main body 2; and a sample rotating mechanism which rotates each sample mount section 3 along a prescribed direction.例文帳に追加

Ｘ線回折装置の試料ステージに装着される結晶試料ホルダであって、ホルダ本体２と、このホルダ本体２に設けられた複数の試料マウント部３と、各試料マウント部３を所定の方向に回転させる試料回転機構とを備える。 - 特許庁

The manganese dioxide in which a content molar ratio (H_2O/MnO_2) of a structural water is larger than 0.20 and a ratio of peak strength for (110)/(021) of X-ray diffraction is 0.50-0.80 can stably exhibits an alkaline electric potential of 350-400 mV.例文帳に追加

構造水の含有モル比（Ｈ_２Ｏ／ＭｎＯ_２）が０．２０より大きく、Ｘ線回折の（１１０）／（０２１）のピーク強度比が０．５０以上０．８０以下の二酸化マンガンは、アルカリ電位が３５０ｍＶ以上４００ｍＶ以下を安定的に発揮することができる。 - 特許庁

This ceramic substrate for the semiconductor manufacture/ detector is composed by disposing a conductor to the ceramic substrate containing both of carbon for which a peak can not be detected or is at or below a detection limit on an X-ray diffraction chart and the carbon for which the peak can be detected.例文帳に追加

Ｘ線回折チャート上ではピークが検出できないか検出限界以下であるカーボンと、ピークが検出できるカーボンとの両方を含有するセラミック基板に、導電体を配設してなることを特徴とする半導体製造・検査装置用セラミック基板。 - 特許庁

The engine additive comprises a BN powder having an average particle diameter of above 1.0 to 3.0 μm, a maximum particle diameter of at most 15 μm, a graphitization index (GI) of 4.0 or below as measured by a powder X-ray diffraction method, and a boron oxide content of 0.5-5 mass %.例文帳に追加

平均粒径１．０μｍ超３．０μｍ以下、最大粒径１５μｍ以下、粉末Ｘ線回折法による黒鉛化指数（ＧＩ）４．０以下、酸化ほう素含有率０．５〜５質量％のＢＮ粉末からなることを特徴とするエンジンオイル添加剤。 - 特許庁

Moreover, the compositions having a powder X-ray diffraction pattern comprising at least three peaks with 2θ angles selected from about 18.2, 28.5, 29.5, 33.7, 41.2, 47.4, and 56.2 and a solid state ^23Na MAS NMR spectra peak at about 18 ppm.例文帳に追加

約１８．２、２８．５、２９．５、３３．７、４１．２、４７．４、および５６．２から選択される２θ角を有する少なくとも三つのピークを含有する粉末Ｘ線回折パターンおよび約１８ｐｐｍにおいて固体状態^２３Ｎａ ＭＡＳ ＮＭＲスペクトルピークを有する。 - 特許庁

ranging from 5 to 15° and 20 to 30° in CuKα characteristic X-ray diffraction and (B) is a vinyl polymer containing a hydrophobic structure unit (a) and a hydrophilic structure unit (c).例文帳に追加

Ａ：ＣｕＫα特性Ｘ線回折におけるブラッグ角（２θ±０．２°）が５〜１５°及び２０〜３０°に特徴的なＸ線回折ピークを１個以上有する下記式等で表されるアゾ顔料、Ｂ：疎水性構造単位（ａ）と、親水性構造単位（ｃ）とを含むビニルポリマー。 - 特許庁

The control of the density of the dislocation is carried out by suppressing the width of a half value in the X-ray diffraction of a base powder to low, or by the method of not applying a pressure of >100 kgf/cm2 in the steps before obtaining the sintered compact, or by sintering with nitrifying reaction of Si powder.例文帳に追加

転位密度の制御は、原料粉末のＸ線回折における半価幅を低く抑えるか、焼結体を得るまでの工程で１００ｋｇｆ／ｃｍ^2を越える圧力を加えない方法、又はＳｉ粉末の窒化反応焼結による。 - 特許庁

An Ag particle where a BET value and half-value width in an X-ray diffraction peak are controlled is contained into the conductive paste, thus allowing the contraction behavior of the conductive paste after the completion of degreasing in a burning process to coincide with that of the ceramic green sheet.例文帳に追加

導電性ペーストに、ＢＥＴ値、Ｘ線回析ピークの半値幅を規制したＡｇ粒子を含有させることにより、焼成過程の脱脂終了後の導電性ペーストの収縮挙動を、セラミックグリーンシートの収縮挙動に合わせることができる。 - 特許庁

This fiber-reinforced resin composition comprises a thermoplastic resin and a polyethylene naphthalate fiber and has a crystal volume obtained by an X-ray wide-angle diffraction of a fiber of 550 to 1,200 nm^3 and a crystallinity of 30 to 60%.例文帳に追加

熱可塑性樹脂とポリエチレンナフタレート繊維からなる繊維補強樹脂組成物であって、繊維のＸ線広角回折より得られる結晶体積が５５０〜１２００ｎｍ^３であり、結晶化度が３０〜６０％であることを特徴とする繊維補強樹脂組成物。 - 特許庁

The inorganic material is composed of a multiple oxide containing at least cerium and niobium having the maximum peak height originating from niobium oxide which is ≤1/10 of the maximum peak height originating cerium oxide in the X-ray diffraction using CuKα line.例文帳に追加

少なくともセリウムとニオブとを含有する複合酸化物からなり、ＣｕＫα線を用いたＸ線回折分析による酸化ニオブ由来の最高ピーク高さが、酸化セリウム由来の最高ピーク高さの１０分の１以下であることを特徴とする無機材料である。 - 特許庁

A horizontal intensity distribution curve from an asymmetric diffraction plane of a crystalline sample in a reciprocal space is obtained by irradiating the surface of the crystalline sample with X-rays, and thus dislocation of the crystalline sample is evaluated based on the half-width of the intensity distribution curve.例文帳に追加

結晶試料の表面にＸ線を照射することにより、逆格子空間における結晶試料の非対称回折面からの水平方向の強度分布曲線を作成し、該強度分布曲線の半値幅により結晶試料の転位を評価する。 - 特許庁

The invention provides a fine carbon fiber having a layer spacing d_002 of 0.337 nm measured by X-ray diffraction method, a fiber diameter of ≤1,000 nm and a compact specific resistance of ≤0.02 Ω.cm and a fine carbon fiber having a metal content of ≤500 mass ppm.例文帳に追加

Ｘ線回折法で求めた層面間隔ｄ_002が０．３３７ｎｍを超え、繊維径１０００ｎｍ以下、圧密比抵抗が０．０２Ω・ｃｍ以下の微細な炭素繊維及び金属含有量が５００質量ｐｐｍ以下である微細な炭素繊維である。 - 特許庁

The third carbonizing step is separated to the primary treatment and the secondary treatment, and the specific resistance value, the specific gravity, the N/C, the single fiber elongation and the crystal size by a wide angle x-ray measurement (at 26° diffraction angle) of the fiber, and the temperature and the draw ratio are regulated in each treatment.例文帳に追加

第三炭素化工程では、一次処理と二次処理とに分け、それぞれの処理における繊維の比抵抗値、比重、Ｎ／Ｃ、単繊維伸度、並びに、広角Ｘ線測定(回折角２６°)での結晶子サイズと、温度と、延伸倍率とを制御する。 - 特許庁

Requirement (1): Carbon powder obtained by subjecting the binder (B), which can be graphitized, to graphitization treatment has a spacing (d002) on the 002 face by the X-ray wide-angle diffraction method of 0.3357 nm or greater and 0.34 nm or less, and an Lc (004) of 10 nm or greater and 500 nm or less.例文帳に追加

条件（１）：黒鉛化可能なバインダー（Ｂ）を黒鉛化処理して得られた炭素粉末のＸ線広角回折法による００２面の面間隔（ｄ００２）が０．３３５７ｎｍ以上０．３４ｎｍ以下、且つＬｃ（００４）が１０ｎｍ以上５００ｎｍ以下である。 - 特許庁