「X-Ray Diffraction」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

When the diffraction intensity of the (101) face of hexacelsian in the crystallized glass in X-ray diffraction is represented by I(101) and diffraction intensity from the (110) face by I(110), the relation of 0≤I(101)/I(110)≤1.5 is satisfied.例文帳に追加

ヘキサセルジアンを主結晶相とする結晶化ガラスであって、Ｘ線回折においてヘキサセルジアンの（１０１）面の回折強度をＩ（１０１）とし、（１１０）面からの回折強度をＩ（１１０）としたとき、０≦Ｉ（１０１）／Ｉ（１１０）≦１．５である。 - 特許庁

The carrier is characterized by developing one or two main diffraction lines in the ranges of 2θ of 2-14° and 2θ of 14-50° and providing a characteristic diffraction line of anhydrous α-MgCl2 in the X-ray powder diffraction spectrum.例文帳に追加

この担体のＸ線粉末回折スペクトルには、１つあるいは２つの主要な回折ラインが２〜１４°の２θ、及び１４〜５０の２θの範囲に現れ、無水α−ＭｇＣｌ_２の特徴的な回折ラインが存在することを特徴とする担体。 - 特許庁

Next, by an in-plane method as one type of the X-ray diffraction method, the lattice surface interval of the horizontal surface direction of the thin film is measured, and distortion ε is determined.例文帳に追加

次に、Ｘ線回折法の一種であるin-plane法により、薄膜の水平面方向の格子面間隔を測定し、ひずみεを求める。 - 特許庁

In addition, the coefficient of variation of the first peak intensity showing the maximum intensity in an X-ray diffraction pattern inside a stimulable phosphor layer face is set at 40% or lower.例文帳に追加

そして、輝尽性蛍光体層面内のＸ線回折パターンにおいて最大強度を示す第１ピーク強度の変動係数を４０％以下とする。 - 特許庁

The spatical period d_1 of the first structure 21 and the spatical period d_2 of the second structure 24 are measured by an X-ray diffraction method.例文帳に追加

Ｘ線回折法により第１の周期構造２１の空間的周期ｄ_１、第２の周期構造２４の空間的周期ｄ_２をそれぞれ測定する。 - 特許庁

To provide a handy space-saving type imaging plate X-ray diffraction device, which expands a 2θ measuring range, and can be operated with high speed and high resolution.例文帳に追加

２θ測角範囲が拡大され、高速、高分解能で、しかも使い勝手のよい省スペースタイプのイメージングプレートＸ線回折装置を提供する。 - 特許庁

The relative strength of the (331) plane with respect to that of the (111) plane is 15 or greater, in the X-ray diffraction of the electrolytic copper foil after the thermal treatment is applied.例文帳に追加

また、該加熱処理を施した後のＸ線回析における（１１１）面の強度に対し、（３３１）面の相対強度が１５以上である電解銅箔。 - 特許庁

The catalytic fiver exhibits a peak corresponding to a titanium oxide in X-ray diffraction spectra but no peak corresponding to a vanadium oxide, a phosphorus oxide and a zirconium oxide.例文帳に追加

Ｘ線回折スペクトルにおいてチタン酸化物に相当するピークを示し、バナジウム酸化物、リン酸化物、ジルコニウム酸化物に相当するピークを示さない。 - 特許庁

The overlay layer is formed such that an intensity of X-ray diffraction thereof satisfies the relation: 1%≤(200)/{(200)+(111)+(220)+(311)+(222)}≤20%, and 1%≤(200)/(111)≤30% (wherein (200), (111) or the like means Miller index (200) plane, (111) plane or the like).例文帳に追加

オーバレイ層のＸ線回折の強度が、１％≦（２００）／｛（２００）＋（１１１）＋（２２０）＋（３１１）＋（２２２）｝≦２０％、且つ、１％≦（２００）／（１１１）≦３０％を満たすように形成する。 - 特許庁

The angle of diffraction θ22 varies depending on the position of an incident X-ray 21 which is incident on a spectral crystal, if the spectral crystal is a curved polychromatic crystal.例文帳に追加

分光結晶を湾曲型ポリクロ結晶とすると分光結晶へ入射する入射Ｘ線２１の位置によって回折角（θ）２２は異なる。 - 特許庁

Furthermore, the conditions of PHA in a WDS measuring system 8 are set, in such a way that only the X-ray signals of the specified diffraction order are sorted out.例文帳に追加

さらに、指定された回折次数のＸ線信号のみが選別されるように、ＷＤＳ測定系８内のＰＨＡの条件を設定する。 - 特許庁

The high frequency wave porcelain contains Al, Ti and Mn as metal elements, found no Al2TiO5 phase by X-ray diffraction analysis and baked at 1310°C or less.例文帳に追加

金属元素としてＡｌ、ＴｉおよびＭｎを含み、Ｘ線回折分析によりＡｌ_2ＴｉＯ_5相が認められず、１３１０℃以下で焼成される。 - 特許庁

In an X-ray diffraction of cerium oxide, the relative intensity of a (200) plane peak and that of a (311) plane peak to a (111) plane peak are 0.45-0.5 and 0.35-0.4 respectively.例文帳に追加

Ｘ線回折における酸化セリウムの（１１１）面ピークに対する（２００）面ピーク、（３１１）面ピークの相対強度が、各々０．４５〜０．５、０．３５〜０．４である。 - 特許庁

To provide an Si monochromator having excellent cooling performance and X-ray diffraction characteristics which can be applied even to a large-sized synchrotron radiation facility, and a method of manufacturing the same.例文帳に追加

優れた冷却性能およびＸ線回折特性を有し、大型の放射光設備でも適用可能なＳｉモノクロメータおよびその製造方法を得る。 - 特許庁

In the powder X-ray diffraction by using a Cu-Ka beam as a beam source, the crystal modification shows strong peaks at 11.22, 8.93, 6.23, 3.42 and 3.27 Å.例文帳に追加

Ｃｕ−Ｋａ線を線源とした粉末Ｘ線回折において、１１．２２、８．９３、６．２３、３．４２、３．２７オングストロングに強いピークを示す結晶変態である。 - 特許庁

In the analysis method, the governing factor of the spread shape of the peak to be measured is decided in the crystal structure evaluation through X-ray diffraction.例文帳に追加

Ｘ線回折により結晶構造評価を行う際、測定されるピークの拡がり形状の支配要因を判定する解析手法である。 - 特許庁

Related to the coat 12, A/B is 1 or higher for an X-ray diffraction pattern, where A is a peak intensity on (111) surface while B is a peak intensity on (220) surface.例文帳に追加

皮膜１２は，Ｘ線回折パターンにおける，（１１１）面のピーク強度をＡ，（２２０）面のピーク強度をＢとした場合，Ａ／Ｂが１以上である。 - 特許庁

Among the (111) crystal planes observed by X-ray diffraction of the surface layer, the proportion occupied by those having orientation angle of 67.5° or larger is 80% or more.例文帳に追加

表層のＸ線回折により観察される（１１１）結晶面のうち、配向角度が６７．５°以上であるものの占める割合が８０％以上である。 - 特許庁

Related to silicon carbide, A/B is 1 or higher for an X-ray diffraction pattern, where A is a peak intensity on (111) surface while B is a peak intensity on (220) surface.例文帳に追加

かつ，炭化珪素体は，Ｘ線回折パターンにおける，（１１１）面のピーク強度をＡ，（２２０）面のピーク強度をＢとした場合，Ａ／Ｂが１以上である。 - 特許庁

FINE SAMPLE INSERTING CONTAINER, FINE SAMPLE MOUNTING FIXTURE, X-RAY DIFFRACTION DEVICE, METHOD FOR FORMING FINE SAMPLE INSERTING CONTAINER AND FINE SAMPLE MOUNTING METHOD例文帳に追加

微小試料挿入容器、微小試料装着治具、Ｘ線回折装置、微小試料挿入容器の形成方法、および微小試料装着方法 - 特許庁

An Sn-based film which satisfies a thin-film X-ray diffraction peak intensity ratio FeSn/FeSn_2 of FeSn to FeSn_2 in the Sn-based film of 2.4 or larger is formed on a surface of a stainless steel.例文帳に追加

ステンレス鋼の表面に、Sn系皮膜中のFeSnと、FeSn_2の薄膜Ｘ線回折ピーク強度比FeSn／FeSn_2が2.4以上を満足するSn系皮膜を生成する。 - 特許庁

In this X-ray diffraction device, an incident part 110 and an emission part 150 both of which are formed of glass are provided at the wall surface of the sample chamber 100 and a first shading member 300 is arranged in the sample chamber 100.例文帳に追加

この装置は、試料室100の壁面にガラス製の入射部110と出射部150とを備え、試料室100内に第一遮蔽体300が配置される。 - 特許庁

The X-ray diffraction patterns (lattice spacing d/A) are as follows: 13.2±0.6, 12.3±0.3, 11.0±0.3, 9.0±0.3, 6.8±0.3, 3.9±0.2, 3.5±0.1, 3.4±0.1.例文帳に追加

Ｘ線回折パターン （格子面間隔ｄ／Å） １３．２±０．６ １２．３±０．３ １１．０±０．３ ９．０±０．３ ６．８±０．３ ３．９±０．２ ３．５±０．１ ３．４±０．１ - 特許庁

A difference between before crushing and after crushing of a peak intensity ratio of Fe_2O_3 to MnFe_2O_4 obtained from X-ray diffraction is set 0.015 or less in the absolute value.例文帳に追加

そして、Ｘ線回折で得られるＦｅ_２Ｏ_３とＭｎＦｅ_２Ｏ_４とのピーク強度比の、粉砕前と粉砕後の差を絶対値で０．０１５以下とする。 - 特許庁

To provide a preparation method of a protein crystal sample for simply applying to an X-ray diffraction experiment without damaging a protein crystal.例文帳に追加

タンパク質結晶に損傷を与えることなく、かつ、簡便に、Ｘ線回折実験に適用するためのタンパク質結晶試料の調製方法を提供する。 - 特許庁

This activated carbon for air cleaning contains 0.1-5 wt.% of cobalt component and has the x-ray diffraction intensity ratio of cobalt not lower than 50%.例文帳に追加

１．コバルト成分を０．１〜５重量％含有する活性炭であって、コバルトのＸ線回折強度比が５０％以上である空気浄化用活性炭。 - 特許庁

Zirconium hydroxide having an X-ray diffraction pattern exhibiting amorphous characteristics and a BET specific surface area of 250 m^2/g or more is prepared.例文帳に追加

水酸化ジルコニウムを、Ｘ線回折パターンが非晶質の特徴を示し、かつ２５０ｍ^２／ｇ以上のＢＥＴ表面積を有するものとする。 - 特許庁

The α-crystalline form of strontium ranelate represented by formula (I) is characterized by its powder X-ray diffraction diagram and by a water content of 22-24%.例文帳に追加

粉末Ｘ線回析ダイヤグラムおよび２２〜２４％の水分含有量により特徴付けられる、式（Ｉ）：のストロンチウムラネレートのα−結晶形。 - 特許庁

In the W sputtering target, the half-width of peak of crystal plane (110) obtained by X-ray diffraction of the plane to be sputtered is ≤0.35.例文帳に追加

Ｗスパッタリングターゲットは、スパッタリングされる面のＸ線回折により得られた結晶面（１１０）のピークの半値幅が０．３５以下であることを特徴とする。 - 特許庁

The graphite powder having a spacing of (002) planes in c axis determined by a lattice constant precision measuring method from X-ray diffraction pattern of 3.368 Å or less is preferably used.例文帳に追加

黒鉛粉末は、Ｘ線回折図から格子定数精密測定法で求めたｃ軸(002) 面格子間隔の値が3.368 Å以下であるのが好ましい。 - 特許庁

To provide an instrument and a method of high precision and high sensitivity for measuring X-ray diffraction having 0.1 μm order of spatial resolution.例文帳に追加

０．１μｍオーダの空間分解能を有する高精度・高感度なＸ線回折測定装置およびＸ線回折測定方法を提供すること。 - 特許庁

Among the (111) crystal planes observed by X-ray diffraction of the surface layer, the proportion of those having orientation angles of 67.5° or larger is less than 80%.例文帳に追加

表層のＸ線回折により観察される（１１１）結晶面のうち、配向角度が６７．５°以上であるものの占める割合が８０％未満である。 - 特許庁

The novel crystalline solid (called crystalline solid IM-10) gives an X-ray diffraction chart at least having a peak expressed in table 1.例文帳に追加

新規な結晶質固体（結晶質固体ＩＭ−１０と称する）であって、少なくとも表１に示すピークを持つＸ線回折図を有するものに関する。 - 特許庁

To provide a phase grating or the like used for X-ray phase imaging which makes it possible to narrow pitches by using a diffraction grating of a low aspect ratio.例文帳に追加

アスペクト比の低い回折格子を用い、挟ピッチ化を図ることが可能となるＸ線位相イメージングに用いられる位相格子等を提供する。 - 特許庁

Pitch with a crystallite thickness Lc (002) in c-axis direction of ≥5.0 nm, measured through X-ray diffraction, is successively subjected to carbonization treatment and activation treatment.例文帳に追加

Ｘ線回折によって測定されるｃ軸方向の結晶子厚さＬｃ（００２）が５．０ｎｍ以上のピッチを炭素化処理、次いで賦活処理する。 - 特許庁

At this time, the maximum value of the accumulation degree of each crystal plane in the iron base alloy sheet 2 measured by an X-ray diffraction method is preferably controlled to 20%.例文帳に追加

このとき、Ｘ線回折法によって測定される鉄基合金板２の各結晶面の集積度の最大値が２０％であることが好ましい。 - 特許庁

To provide a method capable of easily and highly accurately manufacturing a phase type diffraction grating for an x-ray Talbot interferometer without requiring an exposure mask.例文帳に追加

露光マスクを必要とせず、Ｘ線タルボ干渉計用位相型回折格子を容易かつ高精度で製造することができる方法を提供する。 - 特許庁

To prepare new six crystal polymorphs, α, β, γ, δ, ζ, and η, of a disazo colorant exhibiting characteristic reflection in an X-ray diffraction diagram.例文帳に追加

Ｘ線回折スペクトルにおいて特性反射を有する、ジアゾ着色剤の６つの新規な結晶多形α、β、γ、δ、ζ及びηを提供する。 - 特許庁

An areal (XY) determination of working layer thickness is made by ellipsometry, laser interferometry or x-ray diffraction or other known means.例文帳に追加

偏光解析法、レーザ干渉法、又はｘ線回折法又はその他の既知の手段により加工層７０の領域的（ＸＹ）厚さの決定が行われる。 - 特許庁

A first arm 20 and a second arm 22 are cooperatively rotated at the same angular velocity in mutually opposite directions at the time of X-ray diffraction measuring due to a concentration method.例文帳に追加

集中法によるＸ線回折測定の際には，第１アーム２０と第２アーム２２を互いに逆方向に，同じ角速度で連動回転する。 - 特許庁

To easily acquire the X-ray diffraction pattern equipped with the local structural data of a sample having a non-uniform crystal structure in a short time.例文帳に追加

不均一な結晶構造を有する試料の局所構造情報を備えるＸ線回折図形を短時間で容易に取得することを実現する。 - 特許庁

The polymorphic crystals of donepezil hydrochloride (I)-(IV) and (V) expressed by chemical formula (A) characterized in a powder X-ray diffraction pattern and an infrared absorption spectrum are provided.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折パターンおよび赤外吸収スペクトルにおいて特徴付けられる、下記化学式で表される塩酸ドネペジルの多形結晶(I)〜(IV)と(V)。 - 特許庁

Such a magnesium-alloy sheet as has a highest proportion between the peak of the (111) face and its equivalent peak in the X-ray diffraction pattern is used.例文帳に追加

Ｘ線回折パターンにおける（１１０）面のピーク及びこれと等価なピークの比率が最も高くなるようなマグネシウム合金薄板を用いる。 - 特許庁

To provide a protein crystallization method that affords a crystal of good qualities giving a high resolution when photographed using X-ray diffraction.例文帳に追加

Ｘ線回折を用いて撮影した時の解像度が高い良質な結晶を得ることができるタンパク質の結晶化方法を提供すること。 - 特許庁

The gamma-crystal form of perindopril tert-butylamine salt suitable for the object expressed by formula 1 characterized by powder X-ray diffraction data is provided.例文帳に追加

これらの目的にあう、粉末Ｘ線回折パターンを特徴とする、式１で示すペリンドプリルｔｅｒｔーブチル塩のγ結晶形を提供する。 - 特許庁