「branch testing」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

METHOD AND DEVICE FOR TESTING OPTICAL FIBER HAVING BRANCH例文帳に追加

分岐を有する光ファイバの試験方法及び装置 - 特許庁

If you want to use a specific software version from the testing branch but you don't want Portage to use the testing branch for subsequent versions, you can add in the version in the package.keywords location.例文帳に追加

特定のバージョンをtestingブランチから利用したいがその後はPortageに利用して欲しくないときには、package.keywordsにバージョンを追加することができます。 - Gentoo Linux

For example, to select the testing branch for the x86 architecture, edit/etc/make.conf and set: 例文帳に追加

例えば、x86アーキテクチャのtestingブランチを選択するには、/etc/make.confを編集してこのように設定します。 - Gentoo Linux

You can ask Portage to allow the testing branch for particular packages but use the stable branch for the rest of the system.例文帳に追加

特定のパッケージに対してtestingブランチの利用を許可するがシステムにはstableブランチを利用するようにPortageに指示することができます。 - Gentoo Linux

If you want to use more recent software, you can consider using the testing branch instead.例文帳に追加

より新しいソフトウェアを利用したいなら、testingブランチを代わりに利用することを考えてください。 - Gentoo Linux

To achieve this, add the package category and name you want to use the testing branch of in /etc/portage/package.keywords.例文帳に追加

これを有効にするには、/etc/portage/package.keywordsにtestingブランチを利用したいパッケージのカテゴリと名前と記述します。 - Gentoo Linux

Mind you though: when you have updated your system to use the testing branch there is usually no easy way back to the stable, official branch (except for using backups of course).例文帳に追加

注意してください: testingブランチを利用してシステムを更新したら、オフィシャルブランチであるstableに戻すのはたいてい優しい方法はありません(もちろんバックアップを取っている場合は除きます)。 - Gentoo Linux

Most new software titles,when committed, are added to the testing branch, meaning more testing needs to be done before it is marked as stable.例文帳に追加

ほとんどのコミットされた新しいソフトウェアのタイトルは、stableにされる前にもっとテストが必要だという意味のテストブランチに追加されます。 - Gentoo Linux

A branch type probe is used for contact with an object for testing to detect the electric characteristics.例文帳に追加

分岐型プローブが、その電気的特性を検出するために、テスト用物体との接触に使われる。 - 特許庁

Changes go into this branch at a different pace, and with the general assumption that they have first gone into FreeBSD-CURRENT for testing. 例文帳に追加

このブランチに加えられる変更は原則として、 事前に FreeBSD-CURRENTで試験ずみであるという特徴があります。 - FreeBSD

The microprocessor is provided with a plurality of test processing means individually testing the same predetermined processing result, a plurality of branch processing means respectively performing branch processing according to test results by the respective test processing means, and a trap means performing failure handling process when branch processing cannot be carried out by a predetermined branch processing means operated preferentially to other branch processing means.例文帳に追加

同一の所定の処理結果をそれぞれテストする複数のテスト処理手段と、各テスト処理手段によるテスト結果に応じてそれぞれ分岐処理を行う複数の分岐処理手段と、他の分岐処理手段に優先して実行される所定の分岐処理手段にて分岐できなった場合に障害対応処理を実行するトラップ手段と、を備えた。 - 特許庁

For example, if the branch used to be called 6.2-STABLE, its name will be changed to 6.3-PRERELEASE to signify the code freeze and signify that extra pre-release testing should be happening. 例文帳に追加

たとえば、4.0-STABLE と 呼ばれていたブランチは名前が 4.1-BETAへと 変えられ、コードフリーズとリリース前のテストが 始まったことを示します。 - FreeBSD

To provide a testing apparatus which can dynamically control a conditional branch based on a match detection and a conditional determination based on a logical comparison.例文帳に追加

マッチ検出にもとづく条件分岐と、論理比較にもとづく条件判定を動的に制御可能な試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of testing an optical fiber having a branch capable of monitoring increase in loss or the like in an N-branch optical fiber network, in a branched part of an optical fiber, by a simple process.例文帳に追加

本発明の課題は、簡単なプロセスにより、Ｎ分岐光ファイバネットワークの損失増加等のモニタリングを、分岐部以下の光ファイバにおいて可能とする分岐を有する光ファイバの試験方法を提供することにある。 - 特許庁

DEVICE, METHOD AND PROGRAM FOR TESTING BRANCH PREDICTION CIRCUIT OF INFORMATION PROCESSOR例文帳に追加

情報処理装置の分岐予測回路の試験装置、情報処理装置の分岐予測回路の試験方法及び情報処理装置の分岐予測回路の試験プログラム - 特許庁

To provide a device, method and program for testing a branch prediction circuit of an information processor, in which verification of the branch prediction circuit can be easily and efficiently performed without performing processing for specifying a branch point and substituting a branch instruction by the other instruction.例文帳に追加

分岐ポイントを特定して分岐命令を他の命令で置き換える処理を行うことなく、容易に、かつ効率的に分岐予測回路の検証を可能とする情報処理装置の分岐予測回路の試験装置、情報処理装置の分岐予測回路の試験方法及び情報処理装置の分岐予測回路の試験プログラムを提供すること。 - 特許庁

To provide a testing system for branch light ray line or the like capable of ensuring the dynamic range of a test at a low system cost and dis pensing with the temperature regulation of light branching and coupling unit.例文帳に追加

システムコストが安く、試験のダイナミックレンジを確保することが可能で、光分岐結合器の温度調節が不要な分岐光線路試験システム等を提供する。 - 特許庁

Pulsated testing lights with plural wavelengths are made incident from a wavelength-variable OTDR testing device 11 to an optical fiber 19 before branched as a branched optical line, to detect the reflected light from optical fibers 21 after being branch connected via a branching element 20.例文帳に追加

波長可変であるＯＴＤＲ試験装置１１から複数の波長のパルス状の試験光を分岐光線路の分岐前光ファイバ１９に入射し、分岐素子２０を介して接続された分岐後光ファイバ２１からの反射光を検出する。 - 特許庁

To provide a method for restoring the state of algorithmic control at that by returning a branch to a proper position in a test program when an error occurs within a DUT during testing the DUT by a memory tester.例文帳に追加

メモリテスタでのＤＵＴの試験中にＤＵＴ内でエラーが生じた場合に、テストプログラム中の適正な位置に分岐を戻し、アルゴリズム的制御のその時点の状態を回復するための方法を提供する。 - 特許庁

In a multilayer interconnection substrate constituting a part of a wafer collective contact board used for collectively testing semiconductor devices formed on a wafer in multiple numbers, a resistor, for example, is provided on each I/O branch wiring 17 branching from an I/O common wiring.例文帳に追加

ウエハ上に多数形成された半導体デバイスの試験を一括して行うために使用されるウエハ一括コンタクトボードの一部を構成する多層配線基板において、例えば、Ｉ／Ｏ共通配線から分岐した各Ｉ／Ｏ分岐配線１７上に抵抗を設ける。 - 特許庁

In this semiconductor testing device constituted so that input terminals of the plurality of DUTs are connected in parallel, and that a test signal is applied thereto simultaneously, the plurality of DUTs are mounted on a common DUT interface board, and a wiring pattern distributed in the branched state to the plurality of DUTs is branched at one branch point, and formed so that each length from the branch point to each DUT point is set to be equal.例文帳に追加

複数のＤＵＴの入力端子を並列接続して試験信号を同時に印加するように構成された半導体試験装置において、 前記複数のＤＵＴは共通のＤＵＴインタフェースボードに実装され、前記複数のＤＵＴに分岐配線する配線パターンは１箇所の分岐点で分岐され、この分岐点から各ＤＵＴ点までが等しい長さになるように形成されていることを特徴とするもの。 - 特許庁