「compound microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

COMPOUND MICROSCOPE OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡と近接場光学顕微鏡の複合型顕微鏡 - 特許庁

HIGH-RESOLUTION COMPOUND MICROSCOPE例文帳に追加

高分解能複合型顕微鏡 - 特許庁

COMPOUND MICROSCOPE DEVICE AND METHOD OF OBSERVING SAMPLE例文帳に追加

複合型顕微鏡装置及び試料観察方法 - 特許庁

The scanning probe microscope 100 has an atomic force microscope mechanism and a caged compound releasing light introduction mechanism utilizing an inverted microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡１００は、原子間力顕微鏡機構と、倒立型顕微鏡を利用したケージド解除光導入機構とを有している。 - 特許庁

To provide a compound microscope capable of analyzing shape information acquired by an optical microscope or physical property information acquired by a scanning type probe microscope irrespective of a measurement mode, and to provide a measuring method of the compound microscope.例文帳に追加

測定モードに関係なく光学顕微鏡により取得される形状情報又は走査型プローブ顕微鏡により取得される物性情報を解析すること。 - 特許庁

LASER ILLUMINATION, TRANSMITTED ILLUMINATION, AND COAXIAL VERTICAL ILLUMINATION INTEGRATED COMPOUND MICROSCOPE PROVIDED WITH LASER ILLUMINATED MICROSCOPE例文帳に追加

レーザー照明顕微鏡を備えた、レーザー照明、透過照明及び同軸落射照明の一体化複合顕微鏡。 - 特許庁

COMPOUND SEMICONDUCTOR CANTILEVER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用化合物半導体カンチレバー、及びその製造法 - 特許庁

The interatomic force microscope (AFM) has the chip coated with the hydrophobic compound.例文帳に追加

疎水性化合物で被覆されたチップを備えた原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）。 - 特許庁

COMPOUND SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR DISPLAYING CANTILEVER POSITION OF THE SAME例文帳に追加

複合型走査プローブ顕微鏡及び複合型走査プローブ顕微鏡のカンチレバー位置表示方法 - 特許庁

To provide a compound microscope capable of performing highly accurate SPM measurement in a short time.例文帳に追加

短時間に、精度の高いＳＰＭ測定を行うことができる複合型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND COMPOUND INSPECTION METHOD OF PATTERN BY USING IT例文帳に追加

走査型電子顕微鏡、および走査型電子顕微鏡を用いたパターンの複合検査方法 - 特許庁

COMPOUND MICROSCOPE EQUIPPED WITH PROBE, METHOD OF CALCULATING HEIGHT OF PROBE, AND METHOD OF DRIVING PROBE例文帳に追加

プローブ付き複合顕微鏡、並びにプローブの高さ算出方法及びプローブ駆動方法 - 特許庁

To provide a confocal optical microscope controlling caged-state release of a caged compound.例文帳に追加

Ｃａｇｅｄ化合物のＣａｇｅｄ解除を制御可能な共焦点光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a compound microscope device effective to analyze a sample and capable of outputting a proper image information obtained by synthesizing various image information output from a confocal microscope and image information output from an electronic microscope.例文帳に追加

共焦点顕微鏡からの出力される各種画像情報と電子顕微鏡の出力画像情報とが合成された特有の画像情報を出力でき、試料分析に有用な複合型顕微鏡装置を実現する。 - 特許庁

This compound microscope comprises: a sample chamber, in which a sample stage for holding a sample to be observed is arranged; the electronic microscope which picks up an electronic microscope image of the sample; the confocal microscope which picks up a confocal point image of the sample; and a signal processing device which receives output signals from the electronic microscope and the confocal microscope and outputs various image signal.例文帳に追加

観察すべき試料を保持する試料ステージが配置される試料室と、試料の電子顕微鏡画像を撮像する電子顕微鏡と、試料の共焦点画像を撮像する共焦点顕微鏡と、電子顕微鏡及び共焦点顕微鏡からの出力信号とを受取り種々の画像信号を出力する信号処理装置を具える。 - 特許庁

To provide a compound scanning probe microscope, capable of accurately displaying a positional relation between the visual field of the objective lens of an optical microscope and the cantilever of an SPM unit, and to provide a method for displaying the position of the cantilever.例文帳に追加

光学顕微鏡の対物レンズの視野とＳＰＭユニットのカンチレバーとの位置関係を正確に表示できる複合型走査プローブ顕微鏡及びそのカンチレバー位置表示方法を提供する。 - 特許庁

PREPARATION OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OF GaAs, GaN-BASED COMPOUND SEMICONDUCTOR AND LAMINATED STRUCTURE ANALYSIS BY USING IT例文帳に追加

ＧａＡｓ、ＧａＮ系化合物半導体の透過電子顕微鏡用試料の作製方法及びそれを用いる積層構造解析法 - 特許庁

To provide a compound microscope capable of simultaneously observing the same part of the same sample by different methods.例文帳に追加

同一の試料の同一部分を、同時に異なる方法によって観察することが可能な複合顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The caged compound releasing light introduction mechanism is constructed utilizing the inverted microscope, and has a microscope case 101, an eye lens 102, an irradiation light source for observation 103, a dichroic mirror 105, a CCD camera 106, a TV monitor 107, and a light source unit for releasing a caged compound 120 which emits caged compound releasing light.例文帳に追加

ケージド解除光導入機構は、倒立型顕微鏡を利用して構成されており、顕微鏡筐体１０１、接眼レンズ１０２、観察用照明光源１０３、ダイクロイックミラー１０５、ＣＣＤカメラ１０６、テレビモニター１０７と、ケージド解除光を射出するケージド解除用光源ユニット１２０とを有している。 - 特許庁

In this chemical bonding condition analyzing method for elements in tungsten and its compound, the chemical bonding condition of the measuring material is analyzed by analyzing the characteristic X-ray wavelength provided from the electron microscope.例文帳に追加

タングステンおよびその化合物における元素の化学結合状態分析方法において、測定用材料を電子顕微鏡から取得される特性Ｘ線波長を解析することによって、化学結合状態を分析する。 - 特許庁

The texture structure thereof has the texture characteristics that the metal Si and Si compound cannot be observed by X-ray diffraction and the granular texture cannot be observed by a transmission electron microscope(TEM).例文帳に追加

その組織構造は、Ｘ線回折によって金属ＳｉおよびＳｉ化合物が観察されず、透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）の観察によって粒状組織が識別できない組織性状を備えたものである。 - 特許庁

The compound adheres spontaneously and irreversibly to DNA in an aqueous medium, and the marked DNA can be detected by means of a fluorescence microscope or known staining techniques.例文帳に追加

水溶性媒質中でこれらの化合物は自然に又は不可逆的にＤＮＡに吸着し、この標識されたＤＮＡは蛍光顕微鏡で、あるいは周知の染色法などで検出される。 - 特許庁

A cantilever for the scanning probe microscope or a sensor is manufactured by a method for molding integrally a beam, a chip and a pedestal from an arsenic-based, antimony-based or nitrogen-based 3-5 group compound semiconductor.例文帳に追加

砒素系、アンチモン系、窒素系３−５族化合物半導体でビーム+チップ+台座を一体成型する方法で走査プローブ顕微鏡用、又はセンサー用カンチレバーを製造する。 - 特許庁

To manufacture inexpensively with high yield and high reliability a cantilever having new magnetic characteristic and optical characteristic or the like using a compound semiconductor as a material, which is suitable to be used for a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡での利用に適した、化合物半導体を素材とする新しい磁気特性、光学特性等をもつカンチレバーを高い歩留まりと信頼性で安価に製造する。 - 特許庁

The composition comprises the following (A) to (C) ingredients; (A) ceramic particles having a number average particle size of 0.01-0.5 μm by an electron microscope method, (B) a compound containing polymerizable functional groups and (C) a photopolymerization initiator.例文帳に追加

（Ａ）電子顕微鏡法による数平均粒径が０．０１〜０．５μｍのセラミックス粒子、 （Ｂ）重合性官能基を有する化合物、及び （Ｃ）光重合開始剤 - 特許庁

By measuring the phase transition temperature of the compound (XA-1) with a texture observation by using a polarizing microscope, in the time of elevating temperature, it shows a smectic phase from 101 to 133°C, and also shows a nematic phase from 133 to 146°C.例文帳に追加

得られた化合物（ＸＡ−１）の相転移温度を偏光顕微鏡によるテクスチャー観察によって行うと、昇温時において、１０１℃から１３３℃までスメクチック相を呈し、１３３℃から１４６℃までネマチック相を呈する。 - 特許庁

The perovskite type compound oxide particle consists of a single crystal particle of a perovskite type compound oxide, has 5-50 nm average particle size, which is calculated by using the results measured by using a transmission electron microscope, and contains a noble metal in a crystal lattice of the single crystal particle.例文帳に追加

ペロブスカイト型複合酸化物の単結晶粒子からなり、透過型電子顕微鏡の観測結果から求めた平均粒子径が５ｎｍ以上５０ｎｍ以下であり、その結晶格子中に貴金属元素が含まれている構成とする。 - 特許庁

The ceria-zirconia based compound oxide satisfies A/B<1.5 wherein A is an average particle diameter estimated from surface area and B is an average particle diameter ratio measured by observation with an electron microscope, and a specific surface area of the compound oxide after firing at 1,000°C for 3 h is ≥40 m^2/g.例文帳に追加

セリア−ジルコニア系複合酸化物を表面積から推定される平均粒子径Ａと電子顕微鏡観察から測定される平均粒子径比Ｂの比Ａ／Ｂが＜１．５であり、かつ１０００℃で３時間焼成後の比表面積が４０ｍ^２／ｇ以上とする。 - 特許庁

In the method for inspecting the compound semiconductor substrate, the surface roughness Rms of the compound semiconductor substrate is measured by using an atomic force microscope at pitches of 0.4 nm or less in a visual field in a square of 0.2 μm or less.例文帳に追加

化合物半導体基板の検査方法は、化合物半導体基板の表面の検査方法であって、０．２μｍ以下四方の視野で、０．４ｎｍ以下のピッチで、原子間力顕微鏡を用いて化合物半導体基板の表面粗さＲｍｓを測定する。 - 特許庁

Diffraction lines attributed to metallic Si and Si compound cannot be detected in the texture structure by the pattern analysis by X-ray diffraction method and granular texture is unrecognizable by the observation with a transmission electron microscope(TEM).例文帳に追加

また、その組織構造は、Ｘ線回折法によるパターン解析により金属Ｓｉ及びＳｉ化合物に帰属する回折線が検出されず、透過型電子顕微鏡(TEM)の観察によって粒状組織が識別できない組織性状を備えている。 - 特許庁

The object surface is observed by measuring a horizontal force relative to the object whose surface has a part having different hydrophobicity or hydrophilicity by using the scanning probe atomic force microscope having a probe of a cantilever type modified by an organic compound.例文帳に追加

表面に疎水性または親水性が異なる部分を有する対象物を有機化合物で修飾されたカンチレバータイプの探針を有する走査プローブ原子間力顕微鏡を用いて水平力を測定することで対象物の表面を観察する。 - 特許庁

Otherwise, the cantilever for the scanning probe microscope or the sensor is manufactured by compounding a probe (a chip, a beam and a small pedestal) molded integrally from the arsenic-based, antimony-based or nitrogen-based 3-5 group compound semiconductor with a large pedestal manufactured from ceramics, glass and a cystal.例文帳に追加

また、砒素系、アンチモン系、窒素系３−５族化合物半導体で一体成型したプローブ（チップ+ビーム+小台座）とセラミクス、ガラス、水晶で作製した大台座を複合化して走査プローブ顕微鏡用、又はセンサー用カンチレバーを製造する。 - 特許庁

The method for detecting the polyphenol adsorbed on the microbial cells is provided by reacting the specimen containing the polyphenol with the microbial cells, then effecting a cerium compound with the reaction liquid, and then observing the crystalline materials of the cerium formed on the surface layer part of the microbial cells by an electron microscope.例文帳に追加

ポリフェノールを含有する試料と菌体とを反応させた後、該反応液にセリウム化合物を作用させ、次いで菌体表層部に形成されたセリウムの結晶物を電子顕微鏡により観察する菌体に吸着したポリフェノールの検出法。 - 特許庁

To provide a method capable of easily fabricating a sample for a transmission electron microscope in a short time without requiring troublesome pretreatments nor causing sample damage, for an organic material with a thin film of a metal or compound formed on at least one end surface thereof.例文帳に追加

有機材料表面の少なくとも片端面に金属薄膜あるいは化合物薄膜を成膜した材料について、面倒な前加工を施すことなく簡便、かつ短時間に、試料損傷を与えずに透過電子顕微鏡用試料を作製できる方法の提供。 - 特許庁

The confocal optical microscope 100 also has a caged-state release optical system for irradiating the sample with light for releasing the caged compound, and the system is constituted of the objective lens 107, a light source 131 for caged-state release, a dichroic mirror 132 and a shutter 133.例文帳に追加

共焦点光学顕微鏡１００は更にＣａｇｅｄ化合物を解除する光を試料に照射するＣａｇｅｄ解除光学系を有し、それは、対物レンズ１０７と共に、Ｃａｇｅｄ解除用光源１３１とダイクロイックミラー１３２とシャッター１３３とから構成される。 - 特許庁

The Si dispersed vitreous carbon material is provided with structural performance that a crystalline structure except graphite structure does not exist practically in the structure, the diffraction line attributed to metal Si or an Si compound is not detected in an X-ray diffraction method and granular structure is not discriminated by the observation by a transmission electron microscope(TEM).例文帳に追加

また、その組織中には実質的に黒鉛構造以外の結晶構造が存在せず、Ｘ線回折法により金属ＳｉおよびＳｉ化合物に帰属する回折線が検出されず、透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）の観察によって粒状組織が識別できない組織性状を備えている。 - 特許庁

The resin composition foam having foam cells whose average cell diameter measured with a scanning electron microscope (SEM) is 100-3,000 nm is obtained by melt-mixing and foaming a mixture comprising an olefinic rubber (A) containing a functional group, a compound (B) having a group reactive with the functional group contained in the olefinic rubber (A), and a thermoplastic resin (C).例文帳に追加

官能基を含有するオレフィン系ゴム（Ａ）、該オレフィン系ゴム（Ａ）に含まれる官能基と反応しうる基を有する化合物（Ｂ）、および熱可塑性樹脂（Ｃ）を含む混合物を、溶融混合および発泡することにより得られる、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）で測定した平均セル径１００〜３０００ｎｍの発泡セルを有する樹脂組成物発泡体。 - 特許庁

In this analysis method using the electron microscope for analyzing the material distribution condition of the material inside the capsule of the observation sample including the capsule, the observation sample including the capsule is prepared by irradiating the capsule storing a compound having a polymerizing group with ultrasonic waves.例文帳に追加

カプセルを含む観察用試料のカプセル内の材料の分布状態を電子顕微鏡により解析する方法であって、前記カプセルを含む観察用試料として、重合性基を有する化合物が内包されたカプセルに超音波を照射した観察用試料を用いることを特徴とするカプセル内の材料の分布状態を電子顕微鏡により解析する方法。 - 特許庁