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cu-xの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 115件
This glass contains MVxOy (wherein, M is Ag, Cu, Cr, Li, Sr or Ca; x is 1-10; and y is 2-30).例文帳に追加
MVxOy(M:Ag,Cu,Cr,Li,Sr,Ca)、(x:1〜10,y:2〜30)を含有する。 - 特許庁
In the chemical formula A, M is at least one transition metal selected from V, Cr, Mn, Fe, Co, No, and Cu, and the range of x is 0<x<2.例文帳に追加
化学式A:Ti_2-x M_xO_4 (ただし、M=V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cuから選ばれる少なくとも1種の遷移金属、0<x<2) - 特許庁
X value = Cr+Mo+1.5Si+0.5Nb+0.2V+0.3W+8 Al-Ni-0.6Co≥-0.5Mn-30C-30N-0.5Cu...(1).例文帳に追加
X値=Cr+Mo+1.5 Si+0.5 Nb+0.2 V+0.3 W+8Al−Ni−0.6 Co−0.5 Mn−30C−30N−0.5 Cu --- (1) - 特許庁
(where [Mn], [Cu], [Ni], [Nb] and [C] represent contents of Mn, Cu, Ni, Nb and C, respectively) satisfies the relation of (value X>1); and has a microstructure which mainly includes bainite.例文帳に追加
K_0={0.08[Mn]+0.04([Cu]+[Ni])+2[Nb]}/5[C] …(1) 但し、[Mn]、[Cu]、[Ni]、[Nb]および[C]は、夫々Mn、Cu、Ni、NbおよびCの含有量を示す。 - 特許庁
Here, this perovskite type oxide is represented by LnE_xCo_yFe_(1-y-x)O_3 (Ln is La or Nd, E is Cu or Ni, and x and y satisfy relations of 0.3≤x≤0.6, 0.1≤y≤0.3, and x+y≤0.9).例文帳に追加
ここで、このペロブスカイト型酸化物は、LnE_xCo_yFe_(1-y-x)O_3(LnはLaまたはNd、EはCuまたはNi)で示され、0.3≦x≦0.6,0.1≦y≦0.3,かつx+y≦0.9の範囲とされたものである。 - 特許庁
In the formula, X+Y+Z=3, X>0, Y≥0, and Z>0 are satisfied, and L and M each is Co, Ni, Fe, Cu, or Si.例文帳に追加
式中、X+Y+Z=3、X>0、Y≧0、Z>0であり、L及びMは、それぞれCo,Ni,Fe,Cu及びSiのいずれかである。 - 特許庁
In the aluminum nitride powder, the intensity ratio I(002)/I(100) of diffraction peak of (002) plane to that of (100) plane in X-ray diffraction using a Cu-Kα ray is 0.2-0.5.例文帳に追加
Cu−Kα線を用いたX線回折において(002)面と(100)面からの回折ピークの強度比I(002)/I(100)が0.2〜0.5であることを特徴とする窒化アルミニウム粉末。 - 特許庁
The thermoelectric element has a ZrCuSiAs type crystal structure, and the composition is shown as LnTPnO_x (Ln is rare earth, M is at least metal atom chosen from Fe, Ru, Os, Co, Ni and Cu, Pn is P, As or Sb, and x is a number of 1.1-0.5).例文帳に追加
ZrCuSiAs型結晶構造を持ち、かつ組成がLnTPnO_x(Lnは希土類を、MはFe,Ru,Os,Co,NiおよびCuから選ばれた少なくとも金属原子を、PnはP、AsまたはSbを、xは1.1〜0.5の数を示す)で示される熱電素子。 - 特許庁
A cold cathode source is used for a cathode 2 of an x-ray tube, and a Cu target, for example, is used for an anode 3.例文帳に追加
X線管のカソード2に冷陰極源を使用し、アノード3に例えばCuターゲットを使用する。 - 特許庁
In the formula Sb-Mo-X-Ni-Y-Z-Si-C-O (1), X reprensents at least one kind of an element selected from V and Nb and Z represents at least one kind of an element selected from Cu and W.例文帳に追加
Sb-Mo-X-Ni-Y-Z-Si-C-O(1)(式中、XはVおよびNbから選ばれた少なくとも一種の元素を示し、ZはCuおよびWから選ばれた少なくとも一種の元素を示す。) - 特許庁
The Cu-based metal glass alloy has a composition expressed by Cu_36-xPd_xZr_48Ag_8Al_8 (x is atomic%, and 0<x≤10).例文帳に追加
Cu基金属ガラス合金は、Cu_36−xPd_xZr_48Ag_8Al_8(xは原子%で、0<x≦10)で示される組成を有している。 - 特許庁
The Cu-based metallic glass alloy has a composition expressed by Cu_36-xNi_xZr_48Ag_8Al_8 (where x is atom% and 0<x≤10).例文帳に追加
Cu基金属ガラス合金は、Cu_36−xNi_xZr_48Ag_8Al_8(xは原子%で、0<x≦10)で示される組成を有している。 - 特許庁
The ratio between the Cu concentration (X) in the surface and the Cu concentration (Y) in the central part, (X/Y) is ≤5.0.例文帳に追加
Feを0.1〜0.5重量%、Siを0.01〜0.2重量%及びCuを0.001〜0.05重量%含む組成を有し、かつ表面のCu濃度(X)と中心部のCu濃度(Y)との比(X/Y)が5.0以下であるアルミニウム合金板とした。 - 特許庁
To provide a method for evaluating the total amount of Cu that is solid-solved in a silicon wafer, and moreover the Cu concentration of a bulk region even though in the use of a total X-ray reflection fluorescence (TXRF) method for measuring the Cu concentration of a surface of the silicon wafer.例文帳に追加
シリコンウェーハの表面におけるCuの濃度を測定するTXRF法を用いるにもかかわらず、シリコンウェーハ中に固溶しているCuの全量、ひいてはバルク領域中のCu濃度を評価する方法を提供する。 - 特許庁
This white light emitting device is provided with an LED 1, and a phosphor 3 ZnS_xSe_1-x(0<x<1) containing at least one kind of activator Cu, Ag and Au to be excited by rays of light outgoing from the LED to emit rays of light.例文帳に追加
LED1と、付活剤Cu、AgおよびAuのうちの少なくとも1種を含み、LEDから出射される光によって励起されて、光を発する蛍光体ZnS_xSe_1-x(0<x<1)3とを備える。 - 特許庁
Here, M is at least one or more kinds of element out of Ni, C, B, Cr, Cu, Fe, Mn, Ti, and Y, and the element X is at least one or more kinds of element out of Ag, Cu, Au.例文帳に追加
ただし、前記MはNi、C、B、Cr、Cu、Fe、Mn、Ti、Yのうちの少なくとも1種以上の元素であり、元素XはAg、Cu、Auのうちの少なくとも1種以上の元素である。 - 特許庁
Since the intensity of reflected light changes to X and Y when a wafer W is polished and the Cu film is exposed, a computer 36 discriminates the polishing ending point based on the X and Y.例文帳に追加
コンピュータ36は、ウェーハWが研磨されてCu膜が露出すると、反射光の光強度がX、Yに変化するので、これに基づき研磨の終点判定を行う。 - 特許庁
Two kinds of compounds expressed in Li_a(Co_1-x-y-zNi_xMn_yM_z)O_2 [wherein, M is at least a kind out of Li, Mg, Al, Si, Fe, Ti, and Cu] with a, x, y, z satisfying specific conditions are contained in the lithium secondary battery as a cathode active material.例文帳に追加
Li_a(Co_1-x-y-zNi_xMn_yM_z)O_2[MはLi,Mg,Al,Si,Fe,Ti及びCuのうちの少なくとも一種]で表され、a、x、y、及びzが特定条件を満たす2種類の化合物を、正極活物質として含有するリチウム二次電池とする。 - 特許庁
The nano sheet is made up of Ti_2-xMeO_4 (Me is one or more kinds selected from Co, Cu, Zn, and Fe; and (x) is 0.4 or 0.8).例文帳に追加
ナノシートは、Ti_2-xMe_xO_4(MeはNi、Co、Cu、Zn、及びFeから選ばれる1種以上、xは0.4又は0.8)からなる。 - 特許庁
Incident X-rays 203 of Kα of copper Cu from an X-ray tube 201 are passed through a slit 202, a reflected by a crystal surface (r) of a lumbered quartz crystal 220 at a point of incidence 204, and enter a scintillation counter 214 which is an X-ray detecting part as reflected X-rays 213.例文帳に追加
X線管201からの銅CuのKαの入射X線203はスリット202を通り入射点204でランバード加工水晶220である水晶r面で反射し、反射X線213として、X線検出部であるシンチレーションカウンタ214にはいる。 - 特許庁
Here, M is at least one or more kinds of elements out of Ni, Co, As, B, Cr, Cu, Fe, Mg, Mn, and Y, and the element X is at least one or more kinds of elements out of Ag, Cu, Au.例文帳に追加
ただし、前記MはNi、Co、As、B、Cr、Cu、Fe、Mg、Mn、Yのうちの少なくとも1種以上の元素であり、元素XはAg、Cu、Auのうちの少なくとも1種以上の元素である。 - 特許庁
In this general formula, a B component is at least one kind among a group composed of Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Ce, Zr and W, 0<x≤1 and 1≤y≤4.例文帳に追加
ただし、B成分はTi,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Ce,Zr及びWからなる群のうち少なくとも一種であり、0<x≦1であり、1≦y≦4とする。 - 特許庁
An X-ray 10 tube has an anticathode equipped with the first target domain 24 comprising Co and the second target domain 26 comprising Cu.例文帳に追加
X線管10は,Coからなる第1ターゲット領域24と,Cuからなる第2ターゲット領域26とを備える対陰極を有している。 - 特許庁
Thus, titanyl phthalocyanine crystals having a peak at 27.2±0.2° in an X-ray diffraction diagram with Cu-Kα ray can be produced without using sulfuric acid or the like.例文帳に追加
硫酸等を使用せずにCu−Kα線によるX線回折図で27.2±0.2°にピークをもつチタニルフタロシアニン結晶を製造できる。 - 特許庁
This copper alloy has a fundamental composition of Cu-Zn-Sn containing, by weight, 23 to 28% Zn and 0.3 to 1.8% Sn and satisfying the following inequality: 6.0≤0.25X+Y≤8.5 (wherein, X is Zn wt.%, and Y is Sn wt.%).例文帳に追加
銅合金をZnを23〜28wt%、Snを0.3〜1.8wt%含有し、かつ次式を満たす基本組成のCu−Zn−Snとする。 - 特許庁
The plasmonic antenna is preferably constructed of AuX, where X is Cu, Ni, Ta, Ti, Zr or Pt having a concentration less than 5 atomic percent.例文帳に追加
プラズモンアンテナは、好ましくは、AuXから構成され、Xは、Cu、Ni、Ta、Ti、Zr、またはPtであり、5原子パーセント未満の濃度を有する。 - 特許庁
A M_xV_2O_5 crystal is selectively deposited in V-based glass, where M is either of metallic elements Fe, Sb, Bi, W, Mo, Mn, Ni, Cu, Ag, alkaline metals, and alkaline earth metals, and 0<x<1.例文帳に追加
V系ガラス中に、M_xV_2O_5結晶(M:Fe,Sb,Bi,W,Mo,Mn,Ni,Cu,Ag,アルカリ金属,アルカリ土類金属)のいずれかの金属元素、0<x<1)を選択的に析出させる。 - 特許庁
In the powder X-ray diffraction by using a Cu-Ka beam as a beam source, the crystal modification shows strong peaks at 11.22, 8.93, 6.23, 3.42 and 3.27 Å.例文帳に追加
Cu−Ka線を線源とした粉末X線回折において、11.22、8.93、6.23、3.42、3.27オングストロングに強いピークを示す結晶変態である。 - 特許庁
The phosphor contains manganese as a light emission center and is represented by composition formula (1): Cu(Al_1-xGa_x)(S_1-ySe_y)_2:Mn,Si (wherein x is a number meeting 0≤x≤0.4 and y is a number meeting 0≤y≤0.4).例文帳に追加
発光中心原子としてマンガンを含む、組成式(1)Cu(Al_1-xGa_x)(S_1-ySe_y)_2:Mn,Si (1)(式中、xは0≦x≦0.4を満たす数を示し、yは0≦y≦0.4を満たす数を示す。)で表される。 - 特許庁
The crystal of (2R,4R)-monatin potassium salt shows an X-ray powder diffraction pattern having characteristic peaks at diffraction angles 2θ of 5.5°, 7.2°, 8.1°, 8.9° and 16.3°, by powder X-ray diffraction (Cu-Kα ray).例文帳に追加
Cu−Kα線による粉末X線回折で得られるX線回折パターンにおいて、5.5°、7.2°、8.1°、8.9°および16.3°に回折角2θの特徴的ピークを有する、(2R,4R)−モナティンのカリウム塩結晶。 - 特許庁
An X-ray detector 20 detects separately a diffraction X-ray coming out of the first sample domain irradiated with a characteristic X-ray of Co and a diffraction X-ray coming out of the second sample domain irradiated with a characteristic X-ray of Cu, being of a position sensitive type at least in the Z-direction, for example, a two-dimensional CCD sensor capable of TDI operation.例文帳に追加
X線検出器20は,Coの特性X線が照射された第1試料領域から出てくる回折X線とCuの特性X線が照射された第2試料領域から出てくる回折X線とを分離して検出できるような,少なくともZ方向に位置感応型のX線検出器であり,例えば,TDI動作が可能な2次元CCDセンサである。 - 特許庁
The ferrite particle includes a material expressed by a compositional formula: (MxFe_3-x)O_4 (wherein, M is at least one metal element selected from a group consisting of Fe, Mg, Mn, Ti, Cu, Zn, Sr and Ni; 0≤X<1) as a main component, and Ca element and P element are incorporated.例文帳に追加
組成式(M_XFe_3−X)O_4(ただし、MはFe,Mg,Mn,Ti,Cu,Zn,Sr,Niからなる群より選ばれる少なくとも1種の金属元素、0≦X<1)で表される材料を主成分とし、Ca元素とP元素とを含有させる。 - 特許庁
The X-ray transmissive film constituting the X-ray transmitting portion has a layer composed of at least one kind of metal selected from Al, Ti, Cr, Mn, Fe, Co, Ni and Cu or of their metal compounds.例文帳に追加
このX線透過部を構成するX線透過膜は、Al、Ti、Cr、Mn、Fe、Co、NiもしくはCuのうち少なくとも1つの金属、または、その金属化合物により構成される層を有することを特徴とする。 - 特許庁
(2) The sputtering target contains Bi, B and at least one element X selected from Ge, Li, Sn, Cu, Fe, Pd, Zn, Mg, Nd, Mn and Ni.例文帳に追加
(2)Bi、Bを含有し、更にGe、Li、Sn、Cu、Fe、Pd、Zn、Mg、Nd、Mn、Niから選択される少なくとも一種の元素Xを含有するスパッタリングターゲット。 - 特許庁
This thermoelement material has a structure of the formula AxB2Oy [A is Na, Li, K, Ca, Sr, Ba, Bi, Y or La; B is Mn, Fe, Co, Ni or Cu; 1≤(x)≤2; 2≤(y)≤4].例文帳に追加
A_xB_2O_y(A:Na、Li、K、Ca、Sr、Ba、Bi、Y、La、B:Mn、Fe、Co、Ni、Cu、1≦x≦2、2≦y≦4)型構造を有する熱電素子材料。 - 特許庁
A wiring 3 consists of a metal such as Al and Cu and extends in x- direction, and a plurality of wirings 3 are arranged at predetermined intervals in y-direction, thereby composing a line-and-space structure.例文帳に追加
x方向に延在し、AlやCu等の金属から成る配線3が、y方向に所定間隔で複数並んで、ラインアンドスペース構造4を構成している。 - 特許庁
Furthermore, in the case the Cu content is defined as (x) (ppm), and the Pb content is defined as (y) (ppm), the inequality of -0.01x+0.60≤6≤-0.012x+1.44 is satisfied.例文帳に追加
更に、Cu含有量をx(ppm)とし、Pb含有量をy(ppm)としたとき、−0.01x+0.60≦y≦−0.012x+1.44なる式を満足する。 - 特許庁
The mating-type connecting part includes as the surface coating layer, an Sn coating layer group X observed as a plurality of parallel lines, and the CU-Sn alloy layer 2 present adjacent to each side of each of the Sn coating layers 1a-1d constituting the Sn coating layer group X.例文帳に追加
表面被覆層として複数の平行線として観察されるSn被覆層群Xを含み、該Sn被覆層群Xを構成する個々のSn被覆層1a〜1dの両側にCu−Sn合金被覆層2が隣接して存在する。 - 特許庁
The active substance for a nonaqueous electrolyte battery is a dioxide metal oxide M1 selected from among Ti, Mo, and W, added by M2 selected from among Cr, Fe, Ni, Cu, Zr, Ge, Sn, and Zn, and half-value width at the peak of maximum strength in an X-ray diffraction pattern is 1 degree or larger and 4 degrees or smaller.例文帳に追加
本発明の非水電解質電池用活物質は、Cr, Fe, Ni, Cu, Zr, Ge, Sn, Znから選ばれるM2が添加された、Ti, Mo, Wから選ばれるM1の二酸化金属酸化物であり、X線回折パターンにおいて最も強度の大きいピークの半値幅が1°以上4°未満であることを特徴とする。 - 特許庁
This etching method of copper uses water solution containing Cu(NH_3)_4X_2 and NH_4X (X is halogen elements), and uses water solution in which the number of mols of contained NH_4X is more than the number of mols of Cu(NH_3)_4X_2, and pH ranges from 6.5 to 8.1 as etching liquid.例文帳に追加
Cu(NH_3)_4X_2、及び、NH_4X(ここで、Xはハロゲン元素である)を含む水溶液であって、含有されるNH_4Xのモル数がCu(NH_3)_4X_2のモル数よりも多く、且つ、pHが6.5〜8.1である水溶液をエッチング液として使用することを特徴とする銅のエッチング方法。 - 特許庁
The characteristic of this electrophotographic photoreceptor is to use a photosensitive layer comprising a dihydroxysilicon phthalocyanine compound having 9.3, 13.4, 20.0, 23.9 and 27.4° Bragg angles 2θ(±0.3°) in an X-ray diffraction pattern with Cu-Kα radiation on an electrocoductive support.例文帳に追加
Cu−Kα線によるX線回折パターンにおいて、ブラッグ角2θ(±0.3°)9.3,13.4,20.0,23.9,27.4°にピークを有するジヒドロキシシリコンフタロシアニン化合物、およびそれを含有する電子写真感光体。 - 特許庁
The solder material includes: a tin-bismuth (Sn-Bi) alloy; copper (Cu); and an alloy represented by X-Y; wherein X is at least a metallic element selected from a metallic element group comprising Cu, Ni, and Sn and Y is at least a metallic element selected from a metallic element group comprising Ag, Au, Mg, Rh, Zn, Sb, Co, Li and Al.例文帳に追加
はんだ材料は、スズ-ビスマス(Sn-Bi)合金と、銅(Cu)と、X−Yで表記される合金、を含み、前記Xは、Cu、Ni、Snからなる金属元素グループから選択される少なくとも1つの金属元素であり、前記Yは、Ag、Au、Mg、Rh、Zn、Sb、Co、Li、Alからなる金属元素グループから選択される少なくとも1つの金属元素である。 - 特許庁
An Sn coating layer group X observed as a plurality of parallel lines is formed as a surface coating layer, and a Cu-Sn alloy coating layer 2 is exposed to the outermost surface on both sides of individual Sn coating layers 1a-1d constituting the Sn coating layer group X.例文帳に追加
表面被覆層として複数の平行線として観察されるSn被覆層群Xが形成され、該Sn被覆層群Xを構成する個々のSn被覆層1a〜1dの両側でCu−Sn合金被覆層2が最表面に露出している。 - 特許庁
This perylene hybrid pigment is characterized in that an X-ray diffraction pattern of the pigment obtained by including one or more metal atoms has the diffraction peaks at 6.2, 10.1 and 12.2 expressed in terms of 2θ (2θ±0.2) angles in the Cu-Kα characteristic X-ray diffraction.例文帳に追加
1つ以上の金属原子を含有させて得られる顔料のX線回折パターンがCu−Kα特性X線回折の2θ(2θ±0.2)角度で少なくとも6.2、10.1、12.2、に回折ピークを有することを特徴とするペリレン混成顔料。 - 特許庁
The color filter has a colored layer, wherein the colored layer shows a diffraction peak of which the half-value width is ≥0.6° at a Bragg angle of 28±1° in an X-ray diffraction spectrum for a Cu-Kα ray.例文帳に追加
着色層を有するカラーフィルタであって、該着色層が、Cu−Kα線に対するX線回折スペクトルにおいて、ブラッグ角28±1°に、半値幅が0.6°以上の回折ピークを示すカラーフィルタ。 - 特許庁
In the formula (I) above, M is a metal atom containing at least one kind of metal atoms selected from a group consisting of Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Mg, Zn, V, Ca, Sr, Ba, Ti, Al, Si, and Mo, satisfying:0<X<2.例文帳に追加
Li_XMPO_4 (I)(上記式(I)において、Mは、Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Mg,Zn,V,Ca,Sr,Ba,Ti,Al,Si,B及びMoからなる群から選択された金属原子少なくとも一種類を含む金属原子であり、0<X<2である。) - 特許庁
The electrophotographic photoreceptor is prepared by using crystalline dichloro-tin phthalocyanine of which the X-ray diffraction spectrum with Cu-Kα ray has peaks at Bragg angles 2θ (±0.3°) of 8.6°, 11.4°, 15.7°, and 25.7°.例文帳に追加
Cu−Kα線に対するX線回折スペクトルにおいて、ブラッグ角2θ(±0.3°)=8.6°、11.4°、15.7°及び25.7°にピークを示す結晶型ジクロロスズフタロシアニン及びそれを用いた電子写真感光体。 - 特許庁
The crystalline oxytitanium phthalocyanine shows peaks at 7.6, 14.5 and 26.7° Bragg angle 2θ(±0.3°) in the X ray diffraction spectrum for Cu-Kα line, and the compound is used for the electrophotographic photoreceptor.例文帳に追加
Cu−Kα線に対するX線回折スペクトルにおいて、ブラッグ角2θ(±0.3゜)7.6、14.5及び26.7゜にピークを示す結晶型オキシチタニウムフタロシアニン及びそれを用いた電子写真感光体。 - 特許庁
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