「electron beams」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

ELECTRON EMITTER DEVICE ASSEMBLY AND METHOD FOR GENERATING ELECTRON BEAMS例文帳に追加

電子放出素子アセンブリ、並びに電子ビームを発生する方法 - 特許庁

The electron beam irradiator 3 has an electron beam taking-out window 7 for taking out electron beams 5.例文帳に追加

電子線照射器３は、電子線５を取り出す電子線取出窓７を有している。 - 特許庁

This electron beam irradiation device is provided with an electron source 8a generating electron beams 22.例文帳に追加

この電子線照射装置は、電子線２２を発生する電子源８ａを備えている。 - 特許庁

The electron gun 13 has an electron source 16 for generating electron beams 26, an extraction electrode 18 for extracting the electron beams 26 from the electron source 16, an acceleration electrode 19 for accelerating the electron beams 26 extracted by the extraction electrode 18, and a lens electrode 20 (an electrooptical element) for converging the electron beams 26 accelerated by the acceleration electrode 19.例文帳に追加

電子銃13は、電子ビーム26を発生する電子源16、この電子源16から電子ビーム26を引き出す引出電極18、この引出電極18により引き出された電子ビーム26を加速する加速電極19、およびこの加速電極19で加速された電子ビーム26を収束させるレンズ電極20を有する。 - 特許庁

Accordingly, electron beams can be generated by driving the electron gun 2.例文帳に追加

これにより、電子銃を駆動して電子ビームを発生させることができる。 - 特許庁

An electron gun 45 is equipped with the cathode to emit electron beams and a plurality of electrodes to focus the emitted electron beams.例文帳に追加

電子銃４５は、電子ビームを放出する陰極と、放出された電子ビームを集束するための複数の電極とを備える。 - 特許庁

An electron beam structure 7 is provided with an auxiliary lens for pre-focusing electron beams, and a main lens for focusing the electron beams on the phosphor screen.例文帳に追加

電子銃構体７は、電子ビームを予備集束する補助レンズと、蛍光体スクリーン上に集束する主レンズとを備えている。 - 特許庁

An electron emitter device assembly and a method for generating electron beams are provided.例文帳に追加

電子放出素子アセンブリ、並びに電子ビームを発生する方法を提供する。 - 特許庁

ELECTRON BEAM ALIGNER AND METHOD OF CORRECTING IRRADIATION DISPLACEMENT OF ELECTRON BEAMS例文帳に追加

電子ビーム露光装置及び電子ビームの照射位置ずれを校正する方法 - 特許庁

Electron beams emitted by a source of electron beams irradiate the subject of irradiation 15 after passing through a dose adjuster 10.例文帳に追加

電子ビーム源が発射する電子ビームは、線量調整器を通過した後に被照射物に照射される。 - 特許庁

It is preferred that irradiation with the electron beams occurs at a temperature of 100 to 500°C and with the electron beams having an accelerating voltage of 80 to 250 kV.例文帳に追加

１００〜５００℃の温度で、加速電圧８０〜２５０ｋＶの電子線を照射することが好ましい。 - 特許庁

A electron gun structure comprises an electron beam generation part for generating electron beams and an electron lens part for accelerating the electron beams toward the phosphor screen and focusing them on the phosphor screen.例文帳に追加

電子銃構体は、電子ビームを発生する電子ビーム発生部と、電子ビームを蛍光体スクリーンに向けて加速し、蛍光体スクリーン上に集束する電子レンズ部と、を有している。 - 特許庁

To provide an electron beam forming device which precisely controls electron beams generated by a plurality of electron sources.例文帳に追加

複数の電子源が発生する電子ビームを精度よく制御する電子ビーム生成装置を提供する。 - 特許庁

This matrix electron source is provided with an electron source chip 11 with electron source elements 10 for radiating electron beams, arranged on one face of an insulating substrate 12.例文帳に追加

電子線を放射する電子源素子１０を絶縁基板１２の一面に配置した電子源チップ１１を設ける。 - 特許庁

To provide an electron gun capable of aiming at higher quality of electron beams in a simple way and provide an electron microscope and an electron generation method.例文帳に追加

簡便に電子ビームの高品質化を図ることができる電子銃、電子顕微鏡、及び電子発生方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electron beam exposure system and electron lens, which focus a plurality of electron beams separately and thereby makes a wafer to be exposed on the electron beams to accurately form an accurate pattern.例文帳に追加

複数の電子ビームをそれぞれ独立に集束させ、精度よくウェハにパターンを露光することができる電子ビーム露光装置及び電子レンズを提供する。 - 特許庁

The convergence adjustment of the three electron beams 25 can easily be carried out.例文帳に追加

３本の電子ビーム25の集束調整が容易にできる。 - 特許庁

To enable to carry out blanking of electron beams with accuracy.例文帳に追加

精度よく電子線のブランキングを行うことを可能とする。 - 特許庁

To provide an electron beams inspection device of a multichannel type which is more concrete and has high practicability; and an electron beams inspecting method.例文帳に追加

より具体的で実用性の高いマルチチャンネル形の電子線検査装置と電子線検査方法を提供する。 - 特許庁

METHOD OF IRRADIATING OPEN CONTAINER WITH ELECTRON BEAMS, AND DEVICE FOR THE SAME例文帳に追加

開口容器の電子線照射方法及びその装置 - 特許庁

Intercepting parts 20b intercept the incident electron beams.例文帳に追加

遮断部２０ｂは、入射された電子線ビームを遮断する。 - 特許庁

To effectively detect each of a plurality of secondary electron beams.例文帳に追加

複数の２次電子ビームの各々を有効に検出する。 - 特許庁

To reduce an amount of electron beams colliding against a central beam of an irradiated window among electron beams extracted from an extraction electrode.例文帳に追加

引出し電極から引き出した電子線の内で、照射窓の中央桟に当たる電子線の量を低減する。 - 特許庁

To provide a multi-beam electron gun which generates a plurality of electron beams which are matched in characteristics.例文帳に追加

特性が揃った複数の電子ビームを発生するマルチ電子銃を提供する。 - 特許庁

An electron gun structure 7 has an electron beam generation part for generating three electron beams arranged on a line.例文帳に追加

電子銃構体７は、インライン上に配列された３電子ビームを発生する電子ビーム発生部を有している。 - 特許庁

The nozzle 42 includes an electron beam passage 52 where electron beams pass through after generated by the gun body 41 and an exit port 51 to exit electron beams outwardly through the electron beam passage 52.例文帳に追加

ノズル４２は、銃本体４１で生成される電子線が通る電子線通路５２と、電子線通路５２を通ってきた電子線を外部に出射する出射口５１とを有する。 - 特許庁

To provide a polarized electron gun for easily generating polarized electron beams, and to provide a method for generating polarized electron beams, a method for evaluating the electron gun, and a reverse photoelectron spectroscopy.例文帳に追加

偏極電子ビームを簡便に発生させることができる偏極電子銃、偏極電子線の発生方法、電子銃の評価方法、及び逆光電子分光方法を提供する。 - 特許庁

Electron beams first scan for drawing rectangular patterns Pa.例文帳に追加

電子ビームは先ず矩形パターンＰａを描くための走査を行う。 - 特許庁

In the manufacturing method, the irradiation amount of the electron beams is within the range of 1-2,000 kGy.例文帳に追加

電子線の照射量が１〜２０００kGyの範囲にある。 - 特許庁

A plurality of electron beams are formed around an optical axis A in the optical system irradiating electron beams and irradiate the sample.例文帳に追加

複数の電子ビームは、前記電子ビームを照射する光学系の光軸Ａの周りに形成されて試料上を照射する。 - 特許庁

This electron beam device is equipped with an optical system 10 forming an electron beam emitted from an electron gun 11 in a plurality of electron beams and scanning the electron beams on a sample S for irradiation; and a plurality of detectors 21 for detecting secondary electrons emitted from the sample by irradiation of the electron beams.例文帳に追加

電子銃１１から放出された電子線を複数の電子ビームに形成し、電子ビームで試料Ｓ上を走査して照射する光学系１０と、電子ビームの照射により試料から放出された二次電子を検出する複数の検出器２１とを備えている。 - 特許庁

An electron multiplication layer which multiplies the electron beams entered is provided at least at a part of the electron beam passage.例文帳に追加

電子ビーム通過行路の少なくとも一部に入射した電子ビームを増倍させる電子増倍層が設けられている。 - 特許庁

To provide an electron emission device configured such that electron beams do not impinge on a not-desired fluorescent layer.例文帳に追加

電子ビームが所望しない蛍光層に衝突しない電子放出素子を提供する。 - 特許庁

Furthermore, the electron irradiation efficiency can be doubled by making irradiating faces of the electron beams as both faces.例文帳に追加

また、電子ビームの照射面を両面とすることで、電子照射効率を２倍にできる。 - 特許庁

An electron gun 3 scans electron beams on an X-Y plane in the vicinity of the sample 20.例文帳に追加

電子銃３は、試料２０の近傍のＸ−Ｙ平面において、電子ビームを走査させる。 - 特許庁

To provide a sample evaluation method and an electron beam device using electron beams of a high throughput.例文帳に追加

高スループットの電子線を用いた試料評価方法及び電子線装置を提供する。 - 特許庁

This method for killing insect pests and their eggs in the grains comprises irradiating the grains with the electron beams in such conditions that the energy of the electron beams on the surfaces of the grains is 50 to 200 keV and that the dose of the electron beams is 0.05 to 150 KGy.例文帳に追加

穀物表面における電子線エネルギーが５０〜２００keVであり、かつ電子線の線量が０．０５〜１５０KGyとなる条件で電子線を照射する、穀物の殺虫、殺卵方法。 - 特許庁

The three electron beams 25 are converged in an opening part 29 of a shadow mask 30.例文帳に追加

３本の電子ビーム25がシャドウマスク30の開口部29に集束する。 - 特許庁

To correct irradiation displacement of electron beams appropriately and promptly.例文帳に追加

適切且つ迅速に電子ビームの照射位置ずれの校正を行う。 - 特許庁

WINDOW FOR ADMITTING PASSAGE OF ELECTRON BEAMS AND MANUFACTURING METHOD FOR WINDOW例文帳に追加

電子線を通す窓を製造する方法、及び、電子線を通す窓 - 特許庁

Vapor deposition onto the substrate is conducted using separate electron beams.例文帳に追加

基板への蒸着は各々別の電子ビームを使って実施する。 - 特許庁

To attain alignment without using electron beams in a detecting apparatus which detects the images of a sample surface using the electron beams.例文帳に追加

電子線を使用して試料表面の画像を検出する検出装置において、電子線を使用しないアライメントを可能にする。 - 特許庁

Then, the semiconductor wafer W is moved and electron beams are deflected, and electron beams are applied by an optical axis E2 to the same part.例文帳に追加

その後、半導体ウェハＷを移動し且つ電子ビームを偏向してその同一部位に光軸Ｅ２で電子ビームを照射する。 - 特許庁

Electron beams 9 molded through the mask 3 are so contracted to one fourth by lenses 4, 6 as to transcribe the molded electron beams on the sample 7.例文帳に追加

マスク３を通して成形された電子ビーム９はレンズ４、６によって１／４に縮小され試料７上に転写される。 - 特許庁

To increase a surface to be irradiated with electron beams in an object to be irradiated by devising a moving direction of the object to be irradiated with respect to electron beams in an electron beam irradiation region.例文帳に追加

電子線の照射領域において、電子線に対する被照射物の移動方向を工夫することで、被照射物における電子線の照射面を増加させる。 - 特許庁