「impedance test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To reduce the occupation area of a test coupon for impedance measurement on a signal wiring layer, and to make the impedance measurement more efficient.例文帳に追加

信号配線層のインピーダンス測定用のテストクーポンの専有面積を縮小し、且つ、そのインピーダンス測定の効率化を図る。 - 特許庁

The output impedance of the semiconductor device at the terminal for test is matched to the impedance of a transmission system at testing time.例文帳に追加

試験用端子における半導体デバイスの出力インピーダンスを、試験時の伝送系のインピーダンスにマッチングさせる。 - 特許庁

To provide an impedance matching device having a test function for testing whether or not the mechanical part of a variable impedance element is normal.例文帳に追加

可変インピーダンス素子の機構部が正常であるか否かを検査する機能を備えたインピーダンス整合装置を提供する。 - 特許庁

To arrange a device under test (DUT) in a terminal end of a cable, with a characteristic impedance equal to a desired impedance.例文帳に追加

所望のインピーダンスに等しい特性インピーダンスを有してＤＵＴがケーブルの末端に配置できるようすること。 - 特許庁

To provide an electric source device and which is small in impedance in a signal transmission line; and a test device.例文帳に追加

信号伝送線路におけるインピーダンスの小さい電源装置及び試験装置を提供する。 - 特許庁

To simply estimate an arbitrary parameter, even if there is electromotive force in the impedance under test.例文帳に追加

供試インピーダンス中に起電力を有していても任意のパラメータを簡単に推定可能とする。 - 特許庁

The impedance of the test pattern 62 is measured by a measuring instrument connected to the probe A.例文帳に追加

プローブＡと接続される計測器でテストパターン６２のインピーダンスを測定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can test a programmable impedance control function simultaneously with a function test of a device.例文帳に追加

デバイスのファンクションテストと同時にプログラマブル・インピーダンス制御機能の試験を行うことができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

A body fat percentage calculation part 19 calculates the body fat percentage of a body M under test from biologic electric impedance, weight, height and the like of the body M under test.例文帳に追加

体脂肪率算出部１９は、被検体Ｍの生体電気インピーダンス、体重、身長などから被検体Ｍの体脂肪率を算出する。 - 特許庁

To provide a time domain reflection factor meter-testing device that is easy to manufacture, is inexpensive, and can test a matching impedance test point.例文帳に追加

製造が容易で安価な整合インピーダンス試験点の試験ができる自動化された時間領域反射率計試験装置を提供する。 - 特許庁

In the normalization fixture, an impedance matrix which enables to choose is set, the impedance matrix is adapted to the effective input impedance of a test probe corresponding to the stored transmission parameter.例文帳に追加

正規化フィクスチャ内には選択可能なインピーダンス・マトリクスが設けられており、蓄積された伝送パラメータに応じて、このインピーダンス・マトリクスをテスト・プローブの実効入力インピーダンスに適応させる。 - 特許庁

About one out of two conductors constituting a differential impedance test pattern 104, conductor of a characteristic impedance test pattern 105 is connected.例文帳に追加

差動インピーダンステストパターン１０４を構成する２本の配線のうち、１本について特性インピーダンステストパターン１０５の配線を接続する。 - 特許庁

This test instrument 14 for matched impedance of a printed circuit board has an upper plate 26 holding the printed circuit board, a matched impedance circuit trace 36 which is elongated from a test position on the printed board which needs an impedance test, and a spring probe transmitting a test signal from the test position on the printed circuit board to the matched impedance circuit trace is elongated via a hole 33 of the upper plate.例文帳に追加

プリント回路基板の整合インピーダンステスト用器具(14)は、前記プリント回路基板を支持する上端プレート(26)を有し、整合インピーダンステストを必要とする前記プリント回路基板上にあるテスト位置から延びる整合インピーダンス回路トレース(36)を有し、前記プリント回路基板上のテスト位置から前記整合インピーダンス回路トレースにテスト信号を伝送するスプリングプローブが、上端プレートにある穴(33)を通して延びる。 - 特許庁

To provide an electronic load device, used for driving performance test of an audio power amplifier, and for independently setting load impedance and phase.例文帳に追加

オーディオパワーアンプの駆動能力試験に用い、負荷インピーダンスと位相とを独立して設定できる電子負荷装置を提供する。 - 特許庁

To detect in advance the high output impedance defect of an output terminal before a probing test, and to perform speedy countermeasures.例文帳に追加

プロービングテスト前に事前に出力端子の高出力インピーダンス不良を検出し、迅速な対応をとることを可能にする。 - 特許庁

The output path 158 of the internal circuit connected to the function switchable external terminal 153 is controlled to the high impedance state in the test mode.例文帳に追加

機能切り替え可能な外部端子１５３へ接続される内部回路の出力経路１５８はテストモードではハイインピーダンス状態に制御する。 - 特許庁

APPARATUS FOR GENERATING TEST STIMULATION SIGNAL WITH CURRENT SOURCE IRRELEVANT TO INTERNAL IMPEDANCE CHANGE OF DEVICE TO BE TESTED例文帳に追加

被試験装置の内部インピーダンス変化に関係ない電流ソースを有するテスト刺激信号を発生させる装置 - 特許庁

A probe 31 of an impedance measuring instrument is brought closer from the side for bringing the probe 31 into contact with the test pattern 3 easily.例文帳に追加

インピーダンス測定器のプローブ３１を側方から近づけてテストパターン３に容易に接触させることができる。 - 特許庁

The acoustic impedance Z_2 of the test target 11 is calculated from the calculated transmittance T_121 and the acoustic impedance Z_1 of the air 24.例文帳に追加

この求めた透過率Ｔ_121と既知の空気２４の音響インピーダンスＺ_1とから目標とする試験体１１の音響インピーダンスＺ_2を算出する。 - 特許庁

It is determined within an LSI that a terminal which can not have Hi-Z (high impedance) during normal use by a user has Hi-Z (high impedance) at the time of testing and then the LSI goes into a test mode.例文帳に追加

通常ユーザーが使用時にはＨｉ−Ｚになり得ない端子が、検査時にＨｉ−ＺであることをＬＳＩ内部で判別してテストモードに移行するように構成したものである。 - 特許庁

An alternating current test voltage generating circuit 8 outputs alternating current test voltage to a high voltage battery 2 through an impedance element 7 and a coupling capacitor 6.例文帳に追加

交流試験電圧発生回路８はインピーダンス素子７とカップリングコンデンサ６とを通じて高電圧バッテリ２に交流試験電圧を出力する。 - 特許庁

To provide a testing instrument with an upper plate having matched impedance circuit trace to transmit a test signal to a tester in a test at a position with high frequency in a printed board.例文帳に追加

プリント回路基板にある高周波数の場所におけるテストで、テスタにテスト信号を伝送するため、整合インピーダンス回路トレースを有する上端プレートを含むテスト用器具である。 - 特許庁

To provide a pulse abnormal voltage applying test device capable of reliably executing a malfunction bearing test even if impedance of an AC power source line varies.例文帳に追加

交流電源線のインピーダンスが変動しても、誤動作耐力試験を高い信頼性をもって実施できるようにしたパルス性異常電圧印加試験装置を提供する。 - 特許庁

These algorithms remove a reference impedance offset between test pieces by using a mathematical technique, and corrects an offset drift in scanning, and can balance the system by using only a set of test pieces of unclear quality.例文帳に追加

これらのアルゴリズムは、数学的な手法を用いて、試験片間の基準インピーダンスオフセットを除去し、走査中、オフセットドリフトを補正し、不明な品質の一組の試験片だけを用いて、システム平衡化を可能にする。 - 特許庁

Pins 5 and 6 are fitted to both ends of the wiring pattern 111 for test respectively and impedance etc., is measured by supplying a current to evaluate the pattern 111 for test.例文帳に追加

テスト用配線パターン１１１の両端部にピン５，６がそれぞれ取り付けられ、電流を流してインピーダンス等を測定することによりテスト用配線パターン１１１の評価が行われる。 - 特許庁

In this case, a test pattern 3 for impedance measurement is formed in the same layer as the internal layer circuit 1, and at the same time at least one end of the test pattern 3 is exposed on an end face 16 at the core 2.例文帳に追加

内層回路１と同じ層にインピーダンス測定用のテストパターン３を形成すると共にテストパターン３の少なくとも一端をコア部２の端面１６に露出する。 - 特許庁

A step pulse is applied through a measuring pad 14 composing a part of one end of the test coupon, and an impedance of every test coupon is calculated from a reflection wave reflected from a connection of each pattern wiring portion.例文帳に追加

テストクーポンの一端を構成する測定用パッド１４からステップパルスを印加して、各パターン配線部の接続部から反射する反射波から各テストクーポン毎のインピーダンスを算出する。 - 特許庁

In a probe evaluation mode, test signals of predetermined frequency generated by a test signal generation section 51 are fed to signal wires 35 of N channels for connecting each of vibration elements to a transceiver section 2 provided in a diagnostic apparatus body via a test signal distribution section 52 having an output impedance substantially equal to the impedance of the vibration elements incorporated in an ultrasonic probe 3.例文帳に追加

プローブ評価モードにおいて試験信号発生部５１が発生した所定周波数の試験信号を、超音波プローブ３に内蔵された振動素子のインピーダンスと略等しい出力インピーダンスを有する試験信号分配部５２を介して前記振動素子の各々と診断装置本体１に設けられた送受信部２とを接続するＮチャンネルの信号線３５の各々に供給する。 - 特許庁

The test alarm generation confirming unit 25 controls an output impedance converting circuit 51 to change the alarm- generating current flowing in the sensor circuit through the test alarm generation by the fire sensor 14, and makes an alarm generation display lamp 52 of the fire sensor 14 flash.例文帳に追加

試験発報確認部２５は、出力インピーダンス変換回路５１を制御して火災感知器１４の試験発報により感知器回線に流れる発報電流を変化させて火災感知器１４の発報表示灯５２を明滅させる。 - 特許庁

To provide a surge absorbing circuit which is reduced in size over the entire circuit, suppresses a higher harmonic leak current by keeping a high impedance characteristic over the whole frequency region, operates at a voltage smaller than an insulation test voltage when a lightning surge is applied and does not operate during an insulation test.例文帳に追加

回路全体を小型化し、かつ全周波数領域で高インピーダンス特性を維持して高調波漏れ電流を抑制して、雷サージ印加時には絶縁耐圧試験電圧よりも小さい電圧値で動作し、絶縁耐圧試験時は動作しないサージ吸収回路を得る。 - 特許庁

At a retention test time, transistors Q21 and Q22 connected respectively to bit lines 2 and 3 are brought into an off state by a retention test signal RT, and one of the bit lines 2 and 3 is turned to a high impedance by a write driver 30 while '0' is outputted to the other bit line.例文帳に追加

リテンションテスト時に、リテンションテスト信号ＲＴによりビット線２，３にそれぞれ接続されたトランジスタＱ２１，Ｑ２２をオフ状態とするとともに、書き込みドライバ３０によりビット線２，３の一方をハイインピーダンスにし、かつ他方に「０」を出力するような構成とする。 - 特許庁

Also, at test mode, the switch circuit 702 is turned on, the power source voltage supply circuit 70 supplies ground voltage GndT supplied from the pad 41 to the memory cell array 110 through impedance.例文帳に追加

また、テストモード時、スイッチ回路７０２はオンされ、電源電圧供給回路７０は、パッド４１から供給された接地電圧ＧｎｄＴをメモリセルアレイ１１０にインピーダンスを介して供給する。 - 特許庁

To the tester, power is supplied from the power supply means with low output impedance when communication for test is performed between the tester and the sensor.例文帳に追加

前記試験器は、前記感知器との間で試験のための通信を行なうときには、出力インピーダンスの低い電源手段から電源を供給する。 - 特許庁

The RF test signal TS is input to the frequency divider PS through the varactor diodes VD1 and VD2 without being influenced by the buffer B10 with high impedance.例文帳に追加

ＲＦテスト信号ＴＳは、出力インピーダンスの高いバッファＢ１０の影響を受けることなく、バラクタダイオードＶＤ１、ＶＤ２を介して分周器ＰＳに入力される。 - 特許庁

A Z operation part 9 determines respective measured output values of the vector ratio measuring device 8, and calculates the test impedance from the ratio between the output values.例文帳に追加

Ｚ演算部９では、測定されたベクトル比測定器８のそれぞれの出力値を求め、これら出力値の比から供試インピーダンスを算出する。 - 特許庁

To provide a testing method and a testing device capable of detecting deterioration in insulation performance by pin holes and stably measuring the value of impedance without damaging an insulating layer accompanied by the test.例文帳に追加

試験に伴って絶縁層を破壊する事がなく、しかも、ピンホールによる絶縁性能の悪化を検知でき、更にはインピーダンスの値を安定して測定できる試験方法及び装置を実現する。 - 特許庁

This variable impedance test probe 20 comprises a first signal conductor 252, a first grounding reference conductor 92, and a first dielectric element 72 disposed between the first signal conductor 252 and the first grounding reference conductor 92.例文帳に追加

本発明の可変インピーダンステストプローブ(20)は、第１の信号導体(252)、第１の接地基準導体(92)、および第１の信号導体(252)と第１の接地基準導体(92)との間に配置された第１の誘電体要素(72)を含む。 - 特許庁

To provide a memory module test device which operates at a high speed by solving problems of round trip delay time and impedance mismatching.例文帳に追加

ラウンドトリップ遅延時間及びインピダンス不整合の問題を解決することにより、高速で動作するメモリモジュールのテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device interface for a semiconductor tester allowing a low-impedance device test easily with amplitude rise/fall time performance on each driver side of a conventional semiconductor tester.例文帳に追加

本発明は、従来の半導体試験装置の各ドライバ側の振幅と立ち上がりと立ち下がり時間の性能でも、低インピーダンスのデバイス試験が容易できる半導体試験装置のデバイスインタフェースを提供する。 - 特許庁

The probe A can be easily brought into contact with the very small test pattern 62 exposed to the end face 61 of the circuit board 3, and the impedance can be easily measured.例文帳に追加

回路板３の端面６１に露出した非常に小さなテストパターン６２へのプローブＡの接触を容易にし、インピーダンス測定を容易に行うことができる。 - 特許庁

The bearing test device 10 detects contacting/noncontacting conditions of the hydrodynamic bearing in a motor 1 based on variations of a resistance and a capacitance (i.e., impedance variations).例文帳に追加

軸受検査装置１０は、モータ１の動圧軸受部分の接触状態および非接触状態を抵抗および容量変化（インピーダンス変化）に基づき検出している。 - 特許庁

The semiconductor device is provided with the terminal for communication signal, a terminal for test provided correspondingly to the terminal for communicating signal, and an impedance element connected between the terminals.例文帳に追加

半導体デバイスは、通信信号用端子と、通信信号用端子に対応して設けられた試験用端子と、通信信号用端子と試験用端子との間に接続されたインピーダンス素子とを備える。 - 特許庁

An electrolytic capacitor using the electrolyte is small in variation of capacitance and impedance and extremely small in leakage current even after passage of 2,000 hours of a load test at 125°C and 100 V.例文帳に追加

この電解液を用いた電解コンデンサは、１２５℃１００Ｖ負荷試験２０００時間経過後であっても、静電容量及びインピーダンスの変化が小さく、漏れ電流も極めて小さい。 - 特許庁

A test circuit for semiconductor integrated circuits has a ring oscillation circuit having (2k+1: k being an integer of one or greater) pieces of inverters, and load circuits of the same impedance value are provided between the respective adjacent inverters, respectively.例文帳に追加

（２ｋ＋１：ｋは１以上の整数）個のインバータを具備したリング発振回路を有してなり、隣接するインバータの間に、各々、同一インピーダンス値の負荷回路が設けられてなる半導体集積回路用テスト回路。 - 特許庁

To provide an electrolytic capacitor having low impedance characteristics, suppressed in the characteristic change of an electrostatic capacity or the like even after the lapse of 10,000 hours in a load test at a high temperature of 105°C, and having a long lifetime.例文帳に追加

低インピーダンス特性を有し且つ１０５℃の高温での負荷試験において１００００時間経過後でも静電容量等の特性変化が少ない長寿命の電解コンデンサを提供する。 - 特許庁