impurityを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 7275件
IMPURITY DIFFUSION METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
不純物拡散方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD OF IMPURITY ADDIDING DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
不純物添加装置および半導体装置の作製方法 - 特許庁
Furthermore, the impurity-rich gas being separated is exhausted outside.例文帳に追加
また、分離された不純物リッチガスは、外部に排出される。 - 特許庁
In the n-type current confinement layer 8, the concentration of the n-type impurity is higher than that of the p-type impurity.例文帳に追加
n型電流狭窄層8においては、n型不純物の濃度はp型不純物の濃度よりも高くなっている。 - 特許庁
A body layer 2 made of a p-type impurity region is formed on an n^- layer 6 made of an n-type impurity region.例文帳に追加
N型不純物領域からなるN^-層6には、P型不純物領域からなるボディ層2が形成されている。 - 特許庁
PROCESSING METHOD AND DEVICE FOR WORKING FLUID CONTAINING FLOATING IMPURITY例文帳に追加
浮遊夾雑物を含む加工液の処理方法及び装置 - 特許庁
METHOD OF SEPARATING IMPURITY ELEMENT FROM PLATINUM GROUP SOLUTION例文帳に追加
白金族溶解液からの不純物元素の分離方法 - 特許庁
REMOVAL METHOD AND ANALYSIS METHOD OF IMPURITY IN SILICON WAFER例文帳に追加
シリコンウェハの不純物の除去方法及び分析方法 - 特許庁
An n^+ impurity region 3 and a p^+ impurity region 4 are interconnected and connected to a peripheral circuit 50.例文帳に追加
n^+不純物領域3及びp^+不純物領域4は互いに接続され、かつ周辺回路50に接続されている。 - 特許庁
IMPURITY-CONTAINING GALLIUM NITRIDE POWDER AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加
不純物含有窒化ガリウム粉体およびその製造方法 - 特許庁
Annealing for activating the impurity regions are performed.例文帳に追加
不純物領域を活性化するためのアニールが行なわれる。 - 特許庁
EVALUATION METHOD FOR METAL IMPURITY CONCENTRATION OF P-TYPE SILICON WAFER例文帳に追加
P型シリコンウェーハの金属不純物濃度評価方法 - 特許庁
HIGH CONCENTRATION IMPURITY DIAMOND THIN FILM, AND ITS PRODUCTION PROCESS例文帳に追加
高濃度不純物ダイヤモンド薄膜及びその製造方法 - 特許庁
Since an impurity element is added under a low temperature, amorphous state can be attained with a small quantity of impurity element.例文帳に追加
低温で不純物元素の添加を行なうことで、少量の不純物元素で非晶質状態を作ることが出来る。 - 特許庁
METHOD FOR REMOVING BASIC IMPURITY OF 6-CHLORONICOTINE DERIVATIVE例文帳に追加
6−クロロニコチン誘導体の塩基性不純物除去方法 - 特許庁
METHOD AND INSTRUMENT FOR MEASURING IMPURITY CONCENTRATION IN SUBSTRATE例文帳に追加
基板中の不純物濃度測定方法およびその装置 - 特許庁
TRANSPARENT IMPURITY CAPTURING FILM WITH LOW REFRACTIVE INDEX, AND ITS UTILIZATION例文帳に追加
低屈折率の透明不純物捕捉膜およびその利用 - 特許庁
Next, it is heated to activate impurities of the N-type impurity layer 32 and P-type impurity layer 34.例文帳に追加
次いで、熱処理を施して、N型不純物層32及びP型不純物層34の不純物を活性化させる。 - 特許庁
DEVICE FOR RECOVERING POLYSTYRENE AND METHOD FOR REMOVING IMPURITY THEREFOR例文帳に追加
ポリスチレン回収装置とそのための夾雑物除去方法 - 特許庁
A p^- impurity region 61 connected to the p^+ impurity region 6 is located below the metal electrode 14.例文帳に追加
p^+不純物領域6に接続されたp^-不純物領域61は金属電極14の下方に位置している。 - 特許庁
METHOD FOR PRODUCING TRICHLOROSILANE WITH REDUCED BORON COMPOUND IMPURITY例文帳に追加
ホウ素化合物の不純物を減じたトリクロロシラン製造方法 - 特許庁
The depth of the base portion of the second impurity diffusion layer 206-12 is coincident with the depth of the base portion of the first impurity diffusion layer 206-10.例文帳に追加
第2不純物拡散層206-12は、その底部の深さが第1不純物拡散層206-10の底部の深さに一致する。 - 特許庁
METHOD OF GETTERING TRANSITION METAL IMPURITY IN SILICON CRYSTAL例文帳に追加
シリコン結晶中の遷移金属不純物のゲッタリング方法 - 特許庁
IMPURITY DIFFUSION CONTROL METHOD IN SEMICONDUCTOR HETERO STRUCTURE例文帳に追加
半導体ヘテロ構造における不純物拡散制御手段 - 特許庁
METHOD OF QUANTITATIVE DETERMINATION OF IMPURITY IN CARBON NANOTUBE例文帳に追加
カーボンナノチューブ中の不純物を定量分析する方法 - 特許庁
To uniform a potential distribution between a first impurity region and a second impurity region (for example, a source and a drain).例文帳に追加
第1不純物領域−第2不純物領域間(たとえば、ソース−ドレイン間)の電位分布を均一にすること。 - 特許庁
The fuel reforming system is provided with a low temperature impurity removing part 40 and a high temperature impurity removing part 44.例文帳に追加
燃料改質システム15は、低温不純物除去部40と高温不純物除去部44とを備えている。 - 特許庁
Then, an impurity is injected into the area made into the amorphous form.例文帳に追加
アモルファス化された領域に不純物を注入する。 - 特許庁
After the removal of the impurity S attached to the chip 22 to cause the occurrence of the void, the bonding is conducted with the state of the impurity S removed by an impurity removal means 35 maintained.例文帳に追加
チップ22に付着してボイド発生要因となる不純物Sを除去した後、不純物除去手段35にて不純物Sが除去された状態を維持しつつボンディングする。 - 特許庁
The p+ type impurity region 33 has a higher impurity concentration than the p-type well 29 and the p+ type impurity region 33 is formed shallower than the p-type well 29.例文帳に追加
p^+型不純物領域33の不純物濃度はp型ウェル29の不純物濃度よりも高く、また、p^+型不純物領域33はp型ウェル29よりも浅く形成されている。 - 特許庁
The first buried layer 12 is formed by an N+ type first impurity layer 12A and an N type second impurity layer 12B dispersed in a region larger than that of the first impurity layer.例文帳に追加
第1の埋め込み層12はN+型の第1の不純物層12Aと、それより広い範囲に拡散されたN型の第2の不純物層12Bとによって形成される。 - 特許庁
At a position located on the outer side of the first high-concentration impurity region 31A and deeper than the first high-concentration impurity region, a second high-concentration impurity region 32A is formed.例文帳に追加
第1高濃度不純物領域31Aの外側方で且つ第1高濃度不純物領域よりも深い位置には、第2高濃度不純物領域32Aが形成されている。 - 特許庁
To provide a chemical filter in which a granular impurity and a gaseous impurity are not dropped off from a filter itself and an extremely low concentration of gaseous impurity can be efficiently removed.例文帳に追加
フィルタ自身からの粒子状不純物やガス状不純物の脱離がなく、極低濃度のガス状不純物を効率よく除去することができるケミカルフィルタを提供する。 - 特許庁
An impurity doped polysilicon film 31 is formed, and an impurity is diffused from the film 31 to the semiconductor substrate 30 side so that the impurity diffusion region for contact can be formed on the surface.例文帳に追加
不純物ドープトポリシリコン膜31を形成するとともに、膜31から半導体基板30側に不純物を拡散させて表層部にコンタクト用不純物拡散領域を形成する。 - 特許庁
Thus, the continuity of the impurity regions between the impurity region 172 and the impurity region 171 being a low density extension region can be ensured, and the electric connection can be stabilized.例文帳に追加
これにより、不純物領域172と低濃度エクステンション領域である不純物領域171相互間の不純物領域の連続性が確保され、電気的接続が安定化する。 - 特許庁
A second impurity diffusion region 11b is formed on the surface of the semiconductor substrate, one end of the second impurity diffusion region is contacted with the first side wall, and has the same conduction type as the first impurity diffusion region.例文帳に追加
第2不純物拡散領域11bは、半導体基板の表面に形成され、一端が第1側壁に接し、第1不純物拡散領域と同じ導電型を有する。 - 特許庁
To provide an impurity-concentration inspecting apparatus with which the impurity concentration of the whole of a semiconductor material as an object to be measured is measured and inspected simply, and with which the state of an impurity distribution is reproduced.例文帳に追加
被測定物たる半導体材料全体の不純物濃度を簡便に測定・検査し、不純物分布の様子を再生する不純物濃度検査装置を提供すること。 - 特許庁
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|