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n layerの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 6825件
Each emitter electrode 19 is so disposed as to be contacted with each n-type emitter layer 15 and each central exposed portion 12a of the p-type base layer 12.例文帳に追加
エミッタ電極19は、n型エミッタ層15と、p型ベース層12の中心露出部分12aとにコンタクトするように配設される。 - 特許庁
On it, a second n^- layer (second semiconductor layer) 13 which is silicon single crystal is selectively epitaxially grown (figure 1(b): first growing step).例文帳に追加
この上に、シリコン単結晶である第2n^−層(第2の半導体層)13を選択エピタキシャル成長させる(図1(b):第1成長工程)。 - 特許庁
A high concentration layer 12b having n-type impurities at a concentration higher than that in other regions is provided at a part of the first SiC layer 12.例文帳に追加
第1SiC層12のうちの一部に他の領域よりも高い濃度のn型不純物を有する高濃度層12bが設けられている。 - 特許庁
The inorganic n-channel TFT has an amorphous Si active layer, and the organic p-channel TFT has an α-hexathienylene (α-6T) active layer.例文帳に追加
n−チャネル無機TFTはアモルファスSi活性層を有し、p−チャネル有機TFTはα−ヘキサチエニレン(α−6T)活性層を有する。 - 特許庁
An SiGe alloy layer 6 is formed on the active region 2a, and an Si film 7 and an n-type diffusion layer 13 are formed thereon.例文帳に追加
活性領域2a上にはSiGe合金層6を形成し、この上にはSi膜7およびn型拡散層13を形成する。 - 特許庁
A voltage source 11a applies a potential higher than that of an n^+ diffusion layer 41c to the p^+ diffusion layer 43c of the cell to be driven.例文帳に追加
電圧源11aは、駆動対象のセル中のP^+拡散層43cに対して、N^+拡散層41cよりも高い電位を与える。 - 特許庁
The embedded layer 16 comprises an n-type (Al_xGa_1-x)_yIn_1-yP, and the p-type clad layer 14 comprises p-type Al_xGa_1-xAs.例文帳に追加
埋め込み層16はn型(Al_x Ga_1-x )_y In_1-y Pにより構成され、p型クラッド層14は、p型Al_z Ga_1-z Asにより構成されている。 - 特許庁
Thereby, a decoupling capacitance C1 connected parallelly with the power source is formed between the P^+-type silicon layer and the N^+-type silicon layer 4.例文帳に追加
これにより、P^+型シリコン層とN^+型シリコン層4との間に、電源に並列に接続されたデカップリング容量C1が形成される。 - 特許庁
A protecting layer 14 mainly composed of Si-O-N is formed at least on a heating part 12a of the heating resistor layer 12.例文帳に追加
そして、発熱抵抗体層12の少なくとも発熱部12a上に、Si−O−Nを主成分とする保護層14が形成される。 - 特許庁
Each transistor 6 has an n-type high-temperature buffer layer 8, and p-type clad layers 11a and 11b on both sides of the high-temperature buffer layer 8 in the direction of row.例文帳に追加
各トランジスタ6は、n型の高温バッファ層8およびその列方向の両側にp型クラッド層11a,11bを有している。 - 特許庁
The HEMT has a nitride semiconductor multilayer structure portion 2 where an intrinsic GaN layer 3 and an n-type AlGaN layer 4 are laminated.例文帳に追加
このHEMTは、真性GaN層3およびn型AlGaN層4が積層された窒化物半導体積層構造部2を備えている。 - 特許庁
The polyurethane resin constituting the surface layer has 100% modulus value of from 5 to 50 N/cm, and the surface layer has a degree of foaming of from 1.3 to 2.0 times.例文帳に追加
表皮層を構成するポリウレタン樹脂の100%モジュラス値が5〜50N/cm、表皮層の発泡度が1.3〜2.0倍である。 - 特許庁
On the P type SiGe layer 7, a P type Si layer 8 including N+ type emitter region 19 and the external base region is formed.例文帳に追加
そのP型SiGe層7上にN+型エミッタ領域19と外部ベース領域とを含むP型Si層8が形成されている。 - 特許庁
A semiconductor light-emitting element comprises an n-type semiconductor layer, a p-type semiconductor layer, a light-emitting part, and a p-side electrode.例文帳に追加
実施形態によれば、n形半導体層、p形半導体層、発光部、p側電極を備えた半導体発光素子が提供される。 - 特許庁
Carrier extracting electrodes 11b and 11c are electrically connected to the p-type semiconductor layer 10b and the n-type semiconductor layer 10c.例文帳に追加
p形半導体層10bおよびn形半導体層10cそれぞれにキャリア引抜用電極11b,11cが電気的に接続されている。 - 特許庁
Upon starting movement prediction processing (S10), a movement predicting section 5 performs movement prediction of the LL component of a deepest layer (N-th layer) (S12).例文帳に追加
動き予測部5は動き予測処理を開始すると(S10)、一番深い階層(第N階層)のLL成分の動き予測を行う(S12)。 - 特許庁
An N-type epitaxial layer 12 is formed on a substrate 11 and an annular P+ guard ring region 15 is formed on the surface of the epitaxial layer 12.例文帳に追加
基板11上にN—型エピタキシャル層12を形成し、エピタキシャル層12表面に環状のP+ガードリング領域15を形成する。 - 特許庁
A Zener diode by breakdown voltage of the laser diode 11 is composed of the p-type diffusion layer 9 and the n-type diffusion layer 10.例文帳に追加
このp型拡散層9およびn型拡散層10により、レーザダイオード11のブレークダウン電圧によるツェナーダイオードを構成している。 - 特許庁
A lower layer silicon nitride film is formed by a CVD method by using NH_3 as the nitrogen source gas and contains more N-H bondings than that in the upper layer.例文帳に追加
下層の窒化シリコン膜は、窒素ソースガスにNH_3を用いてCVD法で形成され、N−H結合を上層よりも多く含む。 - 特許庁
This electron emission device 10 includes a metal electrode 12, an electron injection layer 14, and an electron emission layer 16 made from n-type diamond.例文帳に追加
電子放出デバイス10は、金属電極12と、電子注入層14と、n型ダイヤモンドからなる電子放出層16とを有する。 - 特許庁
The barrier layer 24 N of the fuel tank body 14 is exposed at the inner edge of an annular part 40, so that the exposed part 28 of the barrier layer is constituted.例文帳に追加
環状部40の内縁では燃料タンク本体14のバリアー層24Nが露出しておりバリアー層露出28が構成される。 - 特許庁
The P^+-type silicon layer 3 is connected to a ground potential interconnection GND, and the N^+-type silicon layer 4 is connected to a power source potential interconnection VDD.例文帳に追加
そして、P^+型シリコン層3を接地電位配線GNDに接続し、N^+型シリコン層4を電源電位配線VDDに接続する。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing a semiconductor device which suppresses degradation of a withstand voltage caused by charge unbalance between a p-type pillar layer and an n-type pillar layer.例文帳に追加
p型ピラー層とn型ピラー層とのチャージアンバランスに起因する耐圧低下を抑制する半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
A Schottky barrier diode 20 is formed, which has an N-silicon region 21 in a region neighboring a vertical P-channel power MOSFET and demarcated by an insulating layer, a Schottky electrode 23 Schottky-connected with the N-silicon region 21, an N+silicon region 22 formed in the surface layer part of the N-silicon region 21, and a diode electrode 24 electrically connected with the N+silicon region 22.例文帳に追加
縦型PチャネルパワーMOSFETに隣接し、絶縁層により区画された領域にN−シリコン領域21と、N−シリコン領域21とショットキー接続されるショットキー電極23と、N−シリコン領域21の表層部に形成されたN+シリコン領域22と、N+シリコン領域22と電気的に接続されたダイオード電極24と、を有するショットキーバリアダイオード20を形成する。 - 特許庁
A semiconductor device 1 includes: an n-type epitaxial layer 8; body regions 12 formed in a surface portion of the n-type epitaxial layer 8; n-type source regions 16 formed in a surface portion of the body regions 12; a gate insulating film 19 formed on the n-type epitaxial layer 8; and gate electrodes 20 and a gate protection diode 30 formed on the gate insulating film 19.例文帳に追加
半導体素子1は、n型エピタキシャル層8と、n型エピタキシャル層8の表層部に形成されたボディ領域12と、ボディ領域12の表層部に形成されたn型ソース領域16と、n型エピタキシャル層8上に形成されたゲート絶縁膜19と、ゲート絶縁膜19上に形成されたゲート電極20およびゲート保護ダイオード30とを含む。 - 特許庁
This photoelectric conversion function element is provided with electrodes on the front and rear surfaces of a II-VI group compound semiconductor crystal having at least pn junction, and it is also provided with a contact layer between an n-type semiconductor layer and an n-type electrode, and furthermore at least a part of the contact layer is made of n-type semiconductor containing an In element as an n-type impurity.例文帳に追加
pn接合を少なくとも有するII−VI族化合物半導体結晶の表面と裏面にそれぞれ電極を設けてなる光電変換機能素子において、n型半導体層とn型電極との間にコンタクト層を有するとともに、前記コンタクト層の少なくとも一部は、In元素をn型不純物として含むn型半導体で構成されるようにした。 - 特許庁
A carrier storage preventive layer 8 having a striped opening section in the top face of a ridge section, a low carrier concentration layer 9 and an N-current block layer 10 are formed successively on a P-clad layer 6 with a ridge section.例文帳に追加
リッジ部を有するp−クラッド層6上に、リッジ部の上面にストライプ状開口部を有するキャリア蓄積防止層8、低キャリア濃度層9およびn−電流ブロック層10が順に形成されている。 - 特許庁
Then, an N-type epitaxial growth layer 15 is formed on the surface of the P-type substrate, and a P-type diffusion layer 16 is diffused and formed on the P-type first embedded diffusion layer and the P-type second embedded diffusion layer.例文帳に追加
次に、P型基板の表面上にN型エピタキシャル成長層15を形成し、P型第一埋込み拡散層とP型第二埋込み拡散層との上にP型拡散層16を拡散形成する。 - 特許庁
The optical semiconductor element B comprises an n-type Zn_1-zMg_zO (barrier layer) 11/Zn_1-xMg_xO (active layer) 15/p-type Zn_1-yMg_yO (barrier layer) 17, and has a structure for emitting light from the active layer 15.例文帳に追加
光半導体素子Bは、n型Zn_1−zMg_zO(バリア層)11/Zn_1−xMg_xO(活性層)15/p型Zn_1−yMg_yO(バリア層)17からなり、活性層15から発光する構造である。 - 特許庁
This semiconductor leaser is provided with an n-type Al_xGa_xAs clad layer 2 below an active layer 4, and a p-type (Al_xGa_1-x)_yIn_1-yP clad layer 6 for controlling barrier height above the active layer 4.例文帳に追加
半導体レーザ装置は、活性層4の下方にAl_x1Ga_1-x1Asからなるn型クラッド層2を、活性層4の上方に(Al_x Ga_1-x )_y In_1-y Pからなる障壁高さ規定用p型クラッド層6をそれぞれ備えている。 - 特許庁
On the surface of the silicon substrate 40, a p-side electrode layer 42 is formed via an insulating layer 46 so as to surround the recessed portion 40a, and on the backside of the silicon substrate layer 40, an n-side electrode layer 44 is formed.例文帳に追加
シリコン基板40の表面には、凹部40aを取り囲むように絶縁層46を介してp側電極層42が形成され、シリコン基板40の裏面には、n側電極層44が形成されている。 - 特許庁
A buffer layer 43, a non-doped InGaAs channel layer 44, a barrier layer 45 composed of a plurality of layers, and an n^+-type contact layer 46 of thickness 50 nm are formed on a semi-insulating GaAs substrate 42.例文帳に追加
半絶縁性GaAs基板42上にバッファ層43、ノンドープInGaAsのチャネル層44、複数層からなる障壁層45、n+型GaAsからなる膜厚50nmのコンタクト層46が形成される。 - 特許庁
A p-InGaAs clad layer 2, an AlInGaP-MQW active layer 3, a n-InGaAs clad layer 4 and an InGaP adhesion layer 5 are sequentially crystal-grown on a GaAs substrate 1 of a growth substrate.例文帳に追加
成長基板のGaAs基板1上にp−InGaAsクラッド層2、AlInGaP−MQW活性層3、n−InGaAsクラッド層4及びInGaP接着層5を順次結晶成長させる。 - 特許庁
The conduction band energy Ecp in the p-type clad layer is set to be higher than the conduction band energy Ecn in the n-type clad layer (Ecp>Ecn) so that the electrons in the active layer do not go out to the clad layer.例文帳に追加
活性層から電子がp型クラッド層へ出て行かないようにp型クラッド層での伝導帯エネルギーEcpを、n型クラッド層での伝導帯エネルギーEcnより高くなるようにした(Ecp>Ecn)。 - 特許庁
The transparent layer 20 is formed by depositing AlGaN and GaN periodically and the effective gap thereof is set wider than the band gap of an emission layer comprising the N type layer 14 and the P type layer 16.例文帳に追加
透明層20は、AlGaNとGaNとを周期的に積層したものであり、その実効バンドギャップがN型層14とP型層16とで構成される発光層のバンドギャップよりも広く設定されている。 - 特許庁
An upper semiconductor reflection mirror is constituted by the p-type multilayer-film reflective layer 10, and a lower semiconductor reflection mirror is constituted by the p-type multilayer-film reflective layer 2, the i-type multilayer-film reflective layer 3, and the n-type multilayer-film reflective layer 4.例文帳に追加
上部半導体反射ミラーはp型多層膜反射層10で、下部半導体反射ミラーはp型多層膜反射層2とi型多層膜反射層3とn型多層膜反射層4で構成されている。 - 特許庁
A plurality of stripe shape grooves 5 are formed at a p-type base layer 4 side which has a p-type emitter layer 3, a n-type base layer 1 and a p-type base layer 4, and an insulated gate electrode 7 is embedded/formed in the groove 5.例文帳に追加
p型エミッタ層3,n型ベース層1,p型ベース層4を持つp型ベース層4側に複数のストライプ状の溝5が形成され、この溝5に絶縁ゲート電極7が埋込み形成される。 - 特許庁
The photodetector comprises a photodetectro section having a p-type diffused layer 101 and a p-type semiconductor layer 102 sequentially formed on a silicon substrate 100, and an n-type diffused layer 103 provided near a surface of the layer 102.例文帳に追加
シリコン基板100上に、順に、P型拡散層101と、P型半導体層102とを備え、このP型半導体層102の表面付近に、N型拡散層103を設けて受光部を構成する。 - 特許庁
An n-type AlGaN clad layer 18, an active layer 24, a p-type AlGaN clad layer 34, and a p-type GaN contact layer 36 are sequentially formed on a GaN substrate 14 as a semiconductor laminated structure 16.例文帳に追加
GaN基板14上に、半導体積層構造16として、n型AlGaNクラッド層18、活性層24、p型AlGaNクラッド層34、及びp型GaNコンタクト層36が順次形成されている。 - 特許庁
The semiconductor laser device includes a semiconductor layer laminate 100 including an n-type cladding layer 103, an active layer 105 and a p-type cladding layer 108 which are sequentially laminated on a substrate 101, and forming a resonator.例文帳に追加
半導体レーザ装置は、基板101の上に順次積層されたn型クラッド層103、活性層105及びp型クラッド層108を含み、共振器を構成する半導体層積層体100を備えている。 - 特許庁
The n-type layer 12 is exposed partially by removing a part of the p-type layer 14 and the light emitting layer 13 from the GaN-based semiconductor layer L by etching, and a negative electrode 15 is formed on the exposed surface.例文帳に追加
GaN系半導体層Lからp型層14と発光層13の一部をエッチング除去することにより、n型層12が部分的に露出しており、その露出面上に負電極15が形成されている。 - 特許庁
In this absorption type semiconductor quantum well optical modulator, thickness of semiconductor well layers 27p to 27n are made to become successively thinner from the semiconductor well layer 27p being the closest to a p-InP clad layer 25 toward the semiconductor well layer 27n being the closest to n-InP clad layer 21.例文帳に追加
p−InPクラッド層25に最も近接する半導体井戸層27_p から、n−InPクラッド層21に最も近接する半導体井戸層27_n に向かって、それら層厚を順次薄くなるようにした。 - 特許庁
On a GaN substrate 10, a first clad layer 14 of n-type AlGaN, an active layer 18, a second clad layer 24 of p-type AlGaN, and a contact layer 26 of p-type GaN are sequentially formed.例文帳に追加
GaN基板10上に、n型AlGaNからなる第1クラッド層14、活性層18、p型AlGaNからなる第2クラッド層24及びp型GaNからなるコンタクト層26が順次形成されている。 - 特許庁
In the surface of each portion of the p-type base layer 12 which is surrounded by each main trench 25 and each transverse trench 26, each n-type emitter layer 15 is so formed, that each central exposed portion 12a of the p-type base layer 12 is left in each layer 15.例文帳に追加
主及び横断トレンチ25、26で包囲されたp型ベース層12の各部分の表面において、p型ベース層12の中心露出部分12aを残すようにn型エミッタ層15が形成される。 - 特許庁
Then, the liquid-like films are successively dried/baked or dried, so as to form a transparent electrode 5, an N-type semiconductor layer 7, an I-type semiconductor layer 9, a P-type semiconductor layer 11 and a reflecting layer 13.例文帳に追加
そして、これら各液状膜を順次乾燥・焼成又は乾燥して、透明電極5、N型半導体層7、I型半導体層9、P型半導体層11及び反射電極13を形成するようにした。 - 特許庁
The N^+ layer 10 is provided at the left side end part of the element formation region 20 so as to be surrounded by the element isolation region, the P^+ source layer 9, and the P^+ source layer 11 and also provided at the bottom of the P^+ source layer 11.例文帳に追加
N^+層10は、素子分離領域、P^+ソース層9、及びP^+ソース層11に取り囲まれるように素子形成領域20の左側端部に設けられ、P^+ソース層11の底部にも設けられる。 - 特許庁
The group III nitride semiconductor laminated-layer structure 2 has the m surface as a main surface of crystal growth and constructed so that an n type semiconductor layer 11, light emitting layer 10, and p type semiconductor layer 12 are laminated in the m axis direction.例文帳に追加
III族窒化物半導体積層構造2は、m軸を結晶成長の主面としており、m軸方向に、n型半導体層11、発光層10、およびp型半導体層12を積層して構成されている。 - 特許庁
At least one of an n-type nitride semiconductor layer or a p-type nitride semiconductor layer further has a clad layer made of a nitride semiconductor containing Al, and the thickness of the clad layer is 10 nm or less.例文帳に追加
n型窒化物半導体層またはp型窒化物半導体層の少なくとも一方が、Alを含む窒化物半導体からなるクラッド層をさらに有し、前記クラッド層の膜厚を50nm以下とする。 - 特許庁
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