「reference mark」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

REFERENCE MARK POSITION DETECTOR AND REFERENCE MARK POSITION DETECTION PROGRAM例文帳に追加

基準マーク位置検出装置および基準マーク位置検出プログラム - 特許庁

(2) Subregulations 16.3(2) (3) and (4) and regulation 16.4 apply to an application to approve the variation of the rules governing the use of a registered certification trade mark as if a reference in those provisions to an application for registration of a certification trade mark were a reference to an application to approve the variation of the rules governing the use of a registered certification trade mark.例文帳に追加

規則 16.10 規約変更についての決定 - 特許庁

To acquire a position of a correct reference mark even in the case that a mark which is not the reference mark is erroneously recognized as the reference mark.例文帳に追加

基準マークでないものが基準マークとして誤認識される場合でも正しい基準マークの位置を取得する。 - 特許庁

REFERENCE DEVICE AND REFERENCE MARK FOR AUTOMOBILE RUNNING例文帳に追加

自動車走行用基準装置並びに基準マーク - 特許庁

Then, the position of the second reference position mark 41b is corrected to an ideal reference position mark 41c against the first reference position mark 41a.例文帳に追加

そして、第２基準位置マーク４１ｂの位置を第１基準位置マーク４１ａに対し、理想的基準位置マーク４１ｃに補正する。 - 特許庁

A base plate stage is provided with a reference mark (a second mark) SM.例文帳に追加

基板ステージには基準マーク（第２マーク）ＳＭが設けられている。 - 特許庁

A registration precision measurement mark is constituted of a reference mark 10 and an overlap mark 20.例文帳に追加

重ね合わせ精度測定マークは、基準マーク１０と合わせマーク２０とからなる。 - 特許庁

(a) the reference in that section to a registered trade mark shall be treated as a reference to a protected international trade mark (Singapore); and例文帳に追加

(a)当該条文にいう登録商標は，保護国際商標(シンガポール)として扱われ，かつ - 特許庁

REFERENCE MARK REGISTRATION DEVICE FOR COMPONENT MOUNTING AND REFERENCE MARK REGISTRATION METHOD FOR COMPONENT MOUNTING例文帳に追加

部品実装用基準マーク登録装置及び部品実装用基準マーク登録方法 - 特許庁

First, the reference mark 1 is image-processed to obtain the positional data of the reference mark 1 (S2).例文帳に追加

まず基準マーク１を画像処理して、前記基準マーク１の位置データを求める（Ｓ２）。 - 特許庁

The substrate S is formed with a first reference mark P1, a third reference mark P3 and a fourth reference mark P4 each having a predetermined diameter and a second reference mark P2 having a larger diameter than the above reference marks P1, P2, P4.例文帳に追加

基板Ｓに所定径の第１基準マークＰ１、第３基準マークＰ３および第４基準マークＰ４とこれら基準マークＰ１、Ｐ３、Ｐ４より大きい径の第２基準マークＰ２とを形成する。 - 特許庁

The notational system of character reference to Onsen mark is ♨ (♨). 例文帳に追加

温泉マークの文字参照による表記方法は、♨（♨）である。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

REFERENCE MARK MOVING APPARATUS AND SUBSTRATE ALIGNMENT APPARATUS例文帳に追加

基準マーク移動装置及び基板アライメント装置 - 特許庁

X-RAY DETECTING METHOD FOR REFERENCE MARK OF MULTILAYER LAMINATED BOARD例文帳に追加

多層積層板の基準マークのＸ線検出方法 - 特許庁

DISPLAY METHOD AND DRAWING DEVICE FOR REFERENCE MARK例文帳に追加

基準マークの表示方法および作図装置 - 特許庁

REFERENCE MARK BODY AND ALIGNER HAVING THE SAME例文帳に追加

基準マーク体及びそれを有する露光装置 - 特許庁

Thereafter, the reference mark 1 is erased.例文帳に追加

その後、基準マーク１を消去する。 - 特許庁

REFERENCE MARK MODEL TEMPLATE CREATING METHOD例文帳に追加

基準マークモデルテンプレート作成方法 - 特許庁

INSPECTION APPARATUS FOR REFERENCE MARK OF INSPECTION OBJECT例文帳に追加

検査対象物の基準マーク検査装置 - 特許庁

The reference mark to be a reference for the position of a mark frame is printed on the mark sheet 2 by an optically readable color.例文帳に追加

マークシート２２上には、光学的に読取可能な色でマーク枠２３の位置の基準となる基準マーク２４が印刷されている。 - 特許庁

For example, the pixel value of a "reference" mark is calculated by an interpolation operation of four pixels ("black circle" mark) around the pixel of the "reference" mark.例文帳に追加

例えば、※印の画素値を、※印の画素の周囲の４つの画素（●印）の補間演算によって算出する。 - 特許庁

Since the picture image is scanned by the mark corner detecting part 51 until the reference mark is detected, the reference mark can be surely detected.例文帳に追加

基準マークが検出されるまでマーク角検出部５１で画像イメージの走査を行うので、確実に基準マークを検出することができる。 - 特許庁

The position of each reference mark to the index mark is obtained by counting each reference mark, for instance.例文帳に追加

電子像形成システムが、基準パターンの指標マーク(90)に対して、プローブチップの幾何学的重心を求める。 - 特許庁

REFERENCE LINE POSITION MEASURING INSTRUMENT, PROGRAM FOR REFERENCE LINE POSITION MEASUREMENT, AND REFERENCE LINE MARK例文帳に追加

標線位置測定装置、標線位置測定用プログラム、および標線マーク - 特許庁

When a detected mark image coincides with a reference mark image, it is recognized as a mark and accurate position detection of a mark is executed by an electron beam at the position.例文帳に追加

検出マーク像が基準マーク像と一致すれば、マークと認識し、この位置で電子ビームによるマークの正確に位置検出が実行される。 - 特許庁

A signal cross of the reference mark secondary signal is identified in the spatial vicinity of the signal cross of the reference mark primary reference signal.例文帳に追加

基準マーク二次信号の信号クロスは、基準マーク一次基準信号の信号クロスの空間的近傍で特定される。 - 特許庁

(a) a reference to a trade mark is taken to include a collective trade mark; and例文帳に追加

(a) 商標についての言及は、団体商標を含んでいるものとみなし、また - 特許庁

A reference mark BM is provided on the entrance part 24b of the mask mark detection microscope 24.例文帳に追加

また、基準マークＢＭをマスクマーク検出顕微鏡２４の光入射部２４ｂに配置する。 - 特許庁

The reference image 64 is provided with a body mark 69 and a probe mark 74.例文帳に追加

参照画像６４はボディマーク６９とプローブマーク７４とを有する。 - 特許庁

A mark light source 1120 for illuminating a reference mark 1118 is provided in the finder 1140.例文帳に追加

基準マーク１１１８を照明するためのマーク光源１１２０がファインダー１１４０に設けられる。 - 特許庁

The encoder includes a reference mark detector for generating the first reference mark signals when the first reference marks pass the reference mark detector.例文帳に追加

エンコーダには、第１基準標識が基準標識検出器を通過した場合に第１基準標識信号を生成する基準標識検出器も含まれている。 - 特許庁

The reference plate for irradiating the observational light to a reference mark pattern, detecting the light reflected by it, and obtaining the position of the reference mark pattern is set to a place, where the reference mark pattern is not exposed directly to the observational light.例文帳に追加

基準マークパターンに観察光を照射し、そこで反射された光を検出し、基準マークパターンの位置を求めるための基準プレートにおいて、基準マークパターンを観察光に直接曝されない位置に設ける。 - 特許庁

(b) to removing a trade mark from the Register is taken to be a reference to ceasing protection of a trade mark as a protected international trade mark; and例文帳に追加

(b) 登録簿からの抹消についてのものは、商標についての国際保護商標としての保護の停止についての言及であるとみなし、また - 特許庁

The positions of each inherent calibration mark and the common calibration mark are acquired by means of the reference mark camera of the first unit.例文帳に追加

第一ユニットの基準マークカメラにより１つずつの固有較正マークと共通較正マークとの位置を取得する。 - 特許庁

In the mark edge deviation measuring part 70, mark edge deviation between a reference clock edge and a mark edge is measured.例文帳に追加

マークエッジずれ測定部７０は、基準クロックエッジとマークエッジとの間のマークエッジずれを測定する。 - 特許庁

A mark reference program 22 receives control by the detection of a mark and extracts the digital watermark information from the mark image.例文帳に追加

マーク参照プログラム２２は、マークの検出によって制御を受け、マーク画像から電子透かし情報を抽出する。 - 特許庁

(a) a reference in that Part to a registered trade mark were a reference to the protected international trade mark; and例文帳に追加

(a) 前記の部における登録商標についての言及は、国際保護商標についての言及とすること、及び - 特許庁

(c) a reference in that Part to the registered owner of a trade mark were a reference to the holder of the protected international trade mark; and例文帳に追加

(c) 前記の部における商標の登録所有者についての言及は、国際保護商標の名義人についての言及とすること、及び - 特許庁

(b) the reference in paragraph 60(a) to the priority date for the registration of the trade mark were a reference to the priority date for the trade mark that is the subject of the IRDA.例文帳に追加

(b) 第 60条(a)における商標登録の優先日についての言及は、IRDAの対象である商標の優先日についての言及とする。 - 特許庁

(b) a reference to an application for the registration of a collective trade mark is taken to be a reference to an IRDA in respect of the collective trade mark; and例文帳に追加

(b) 団体商標の登録出願についての言及は、団体商標に関する IRDAについての言及であるとみなし、また - 特許庁

(a) the reference in section 35(4) of the Act to the registration of the trade mark shall be treated as a reference to the protection of a protected international trade mark (Singapore); and例文帳に追加

(a)商標法第35条(4)にいう商標登録は，保護国際商標(シンガポール)の保護として扱われる。及び - 特許庁

A reference mark detection section 272 detects a reference mark rm relative to the printing matter image data Dpd and generates its position data.例文帳に追加

基準マーク検出部２７２は、印刷物画像データＤｐｄに対して基準マークｒｍを検出し、その位置データを生成する。 - 特許庁

A reference mark detection section 272 detects the position of an intersection P corresponding to a reference mark (rm) included in the printed matter image data.例文帳に追加

基準マーク検出部２７２は、印刷物画像データに含まれる基準マークｒｍに対応する交点Ｐの位置を検出する。 - 特許庁

The position of the probe chip 48 is obtained with respect to an index mark of the reference plate 50 to obtain the position of the next probe chip 48 to an adjacent reference mark.例文帳に追加

複数の半導体プローブカードのプローブチップ(48)は、プレート上の基準パターンと接触する。 - 特許庁

The difference between the stop start- time reference mark and the stop end-time reference mark is the service stop continuation time for the data cell stream.例文帳に追加

停止開始時間順基準標識と停止終了時間順基準標識の差が、データセルストリームのサービス停止継続時間になる。 - 特許庁