「sample process」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

TESTING PROCESS OF POOLED BLOOD SAMPLE例文帳に追加

プールされた血液サンプルの試験方法 - 特許庁

Note: Examples of the charts and diagrams are shown in Exhibit 2, “Business process flowchart (sample)” and “Business process description (sample).” 例文帳に追加

（注）図や表の例としては、参考２（業務の流れ図（例）、業務記述書（例））が挙げられる。 - 金融庁

APPARATUS AND PROCESS FOR TRANSPORTING SAMPLE PLATE例文帳に追加

サンプルプレートを移送するための装置およびプロセス - 特許庁

SAMPLE STAGE FOR PLASMA PROCESSING SYSTEM AND ITS MANUFACTURING PROCESS例文帳に追加

プラズマ処理装置用試料台及びその製法 - 特許庁

CONTROL METHOD FOR SAMPLE TEMPERATURE AND VACUUM PROCESS DEVICE例文帳に追加

試料温度制御方法及び真空処理装置 - 特許庁

JUNCTION, DEVICE AND PROCESS FOR TRANSPORTING SAMPLE RACK例文帳に追加

試料ラックの移送のためのジャンクション、装置および方法 - 特許庁

SAMPLE SUPPORT BUILT BY SEMICONDUCTOR SILICON PROCESS TECHNIQUE例文帳に追加

半導体シリコンプロセス技術によって作製した試料台 - 特許庁

DEVICE AND PROCESS FOR PREPARING PLANE TEM SAMPLE例文帳に追加

平面ＴＥＭ試料作製装置および作製方法 - 特許庁

I was constantly modifying the process. with each modification, I created another sample group.例文帳に追加

常にプロセスを変え 比較のグループを作ったからね - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

To provide a method for pretreating a biological sample, by which the efficiency and simplification of a sample pre-treating process for analyzing molecules in the sample are improved.例文帳に追加

試料中の分子を解析するためのサンプル前処理工程の効率化かつ簡便化を図ること。 - 特許庁

Besides, the analysis method includes: a process for putting a sample into the inner tube 12 of the NMR sample tube 10; and a process for measuring the NMR of the sample by using the NMR sample tube 10 in which the sample is put.例文帳に追加

また、分析方法は、ＮＭＲ試料管１０の内管１２に試料を入れる工程と、試料が入れられたＮＭＲ試料管１０を用いて、試料のＮＭＲを測定する工程を有する。 - 特許庁

In this way, a process for mixing the reagent B with the sample A and a process for stirring the sample A and the reagent B can be performed by one process.例文帳に追加

このようにして、試薬Ｂを試料Ａに混ぜる工程と試料Ａと試薬Ｂとを攪拌する工程を一つの工程で行うことができる。 - 特許庁

The sample storing method includes a process for heat-sealing the opening and closing the sample after the sample is inserted from the opening of the sample storing sheet.例文帳に追加

当該サンプル保管用シートの開口部からサンプルを挿入した後、開口部をヒートシール等してサンプルを閉じ込める工程を含む、サンプル保管方法。 - 特許庁

PROCESS ANALYSIS SYSTEM CONNECTED TO PROCESS CONTROL SYSTEM HAVING AUTOMATIC LIQUID SAMPLE PREPARATION例文帳に追加

自動液体サンプル調製を備えるプロセスコントロールシステムに接続されたプロセス分析システム - 特許庁

PARAFFIN INFILTRATION PROCESS FOR TISSUE SAMPLE AND PROCESSING DEVICE THEREFOR例文帳に追加

組織標本のパラフィン浸透処理方法及びその処理装置 - 特許庁

PROCESS MONITOR AND CONTROL METHOD FOR SAMPLE PROCESSING DEVICE例文帳に追加

試料処理装置用プロセスモニタ及び試料処理装置の制御方法 - 特許庁

The method includes the process of locating a datum mark on the sample, and the process of identifying an area of interest within the sample.例文帳に追加

上記方法は、上記サンプル上に基準マークを配置する工程と、上記サンプル内の対象領域を識別する工程とを含む。 - 特許庁

The evaluating method of the internal defect of the sample comprises a dipping process of dipping the sample in molybdenum-containing solution containing molybdenum; a depressurizing process of depressurizing the molybdenum-containing solution in which the sample is dipped; a drying process of drying the sample; and a detecting process of detecting the distribution of the molybdenum in the sample.例文帳に追加

本発明は、モリブデンを含むモリブデン含有溶液に試料を浸漬する浸漬工程と、試料が浸漬されたモリブデン含有溶液を減圧する減圧工程と、試料を乾燥する乾燥工程と、試料中の前記モリブデンの分布を検出する検出工程とを含む試料内部欠陥の評価方法である。 - 特許庁

To provide a sample plate being a functional sample plate which has a sample fixed to its surface and ionizes the sample by applying energy to the sample, simplified in manufacturing process and flexibly altered in its constitution.例文帳に追加

表面に固着されるサンプルにエネルギーを与えることによりこれをイオン化させる機能性サンプルプレートであって、製作工程が簡略化され、構成を柔軟に変更可能なサンプルプレートを提供する。 - 特許庁

The quantity of the additive contained in the analysis sample is determined by using the analytical curve created in the above process by the analysis sample analysis process and the quantitative process.例文帳に追加

分析試料分析工程および定量工程によって、前記工程で作成した検量線を用いて分析試料に含有される添加剤を定量する。 - 特許庁

To provide a paraffin infiltration process for a tissue sample to sufficiently infiltrate paraffin into the tissue sample even if the tissue sample is such that it is hard to sufficiently infiltrate paraffin into the tissue sample by a conventional paraffin infiltration process.例文帳に追加

従来のパラフィン浸透処理方法では、組織標本内にパラフィンを充分に浸透し難い組織標本でも、充分にパラフィンを浸透し得る組織標本のパラフィン浸透処理方法を提供する。 - 特許庁

The sample S is extracted from rolled stock Y passed through a hot rolling process.例文帳に追加

熱間圧延工程を経た圧延材ＹからサンプルＳを採取する。 - 特許庁

This sample is a real-world BPEL process sample constructed using the majority of BPEL elements and several partner web services.例文帳に追加

このサンプルは、BPEL 要素の大部分と、いくつかのパートナー Web サービスを使用して構築された実世界の BPEL プロセスサンプルです。 - NetBeans

This measuring method includes a process of preparing a substrate (sample S), and a measuring process.例文帳に追加

本発明に従った測定方法は、基板（試料Ｓ）を準備する工程と、測定工程とを備える。 - 特許庁

SYSTEM, METHOD AND COMPUTER IMPLEMENTED PROCESS FOR ANALYZING COAGULATION OF FLUID SAMPLE例文帳に追加

流体サンプルの凝固を分析するシステム、方法およびコンピュータ実施プロセス - 特許庁

To automate a process for thinning a sample taken out from a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウエハから取り出された試料を薄くするプロセスを自動化する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR IDENTIFYING PROCESS VARIABLES AND SAMPLE FOR EVALUATION例文帳に追加

プロセス変数同定方法、プロセス変数同定装置、及び評価用試料 - 特許庁

Then the process time required for the data processing of each representative sample is tabulated (S7) to calculate a process time per each unit figure from the process time and the number of figures in the representative sample.例文帳に追加

続いて、各代表サンプルのデータ処理にかかった処理時間を集計しＳ７、その処理時間と代表サンプルの図形数Ｆとから単位図形当たりの処理時間を算出する。 - 特許庁

To provide a sample processing device which can highly accurately process a sample also in a stopper-closed state, and to provide a sample processing method.例文帳に追加

閉栓状態においても高精度にて検体の処理を行うことができる検体処理装置及び検体処理方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The apparatus executes a sample showing table photographing process for photographing a sample showing table 10 by a camera 30, based on position information of two light spots 40 being reference points; and a sample photographing process for photographing a sample S after the camera 30 recognizes the size of the sample, based on the position information of the sample S set on the table 10.例文帳に追加

基準点である２つの光点４０の位置情報に基づいてカメラ３０が資料提示台１０を撮影する資料提示台撮影プロセスと、資料提示台１０にセットされた資料Ｓの位置情報に基づいてカメラ３０が資料Ｓのサイズを認識して資料を撮影する資料撮影プロセスとを行う。 - 特許庁

When the sample data stored in the RAM 1 reach a prescribed amount, a decoding operation is started to enable the sample data to undergo expansion process.例文帳に追加

ＲＡＭ１に格納されたサンプルデータが所定の量に達したときデコード処理を開始し、伸長処理を行う。 - 特許庁

This method comprises, in addition to a process for processing arbitrary area of an object sample into a fine sample piece by using charged particle beam and extracting the sample piece, a process for attaching fine conductors 30a and 30b to the extracted fine sample piece 72, and a process for applying voltage to the attached fine conductors.例文帳に追加

荷電粒子ビームを用いて、対象試料の任意の領域を微小試料片に加工、摘出する工程に、摘出した微小試料片７２に微細導線３０ａ，３０ｂを取り付ける工程、取り付けた微細導線に電圧を印加する工程を加える。 - 特許庁

The carbon nanotube sample is subjected to a pore making process to make many pores.例文帳に追加

カーボンナノチューブ試料に多数の孔を形成する多孔化処理工程を行う。 - 特許庁

You can design your BPEL process by modifying existing sample processes. 例文帳に追加

既存のサンプルプロセスを変更することによって、独自の BPEL プロセスを設計できます。 - NetBeans

JIG FOR CONDUCTION PROCESS OF NONCONDUCTIVE SAMPLE AND METHOD FOR EVALUATING CONTAMINATION OF CONDUCTION PROCESS APPARATUS USING THE JIG例文帳に追加

非導電性試料の導電処理用治具およびこれを用いた導電処理装置の汚染評価方法 - 特許庁

The method of fabricating the acicular sample for field ion microscopy includes a process for machining the desired part of the sample to be observed with a field ion microscope into an acicular shape by irradiating the sample with a focused charged-particle beam, a process for cutting the acicular sample away from a sample base, and a process for fixing the cut acicular sample to an electrode bar.例文帳に追加

電界イオン顕微鏡観察用針状試料の作製方法は、集束した荷電粒子ビームを照射することにより電界イオン顕微鏡で観察する所望の箇所を針状に加工する工程と、針状試料を試料基板から切り離し摘出する工程と、摘出した針状試料を電極棒に固定する工程を含むことを特徴とする。 - 特許庁

A sample machining method includes a process for machining one portion of a sample 14 into a micro sample 6 by irradiating it with a first ion beam radiated from a first ion source for scanning; a process for separating the micro sample machined by the first ion beam from the sample; and a process for machining the micro sample 6 by using the second ion beam through irradiation with an ion beam from a second ion beam machining apparatus 17.例文帳に追加

第１のイオン源から放出される第１のイオンビームを照射し走査して試料１４の一部をマイクロサンプル６に加工する手段と、前記第１のイオンビームにより加工された前記マイクロサンプルを前記試料から分離するプローブと、第２のイオンビーム加工装置１７から照射し、前記マイクロサンプル６を前記第２のイオンビームを用いて加工する方法。 - 特許庁

Impurities can be detected as a marker in a sample inspection process 10.例文帳に追加

不純物をマーカーとしてサンプル検査工程１０で検出することが可能になる。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING INTERNAL MACHINING PROCESS FOR TRANSPARENT SAMPLE BY LASER例文帳に追加

レーザーによる透明試料の内部加工過程の測定方法及びそのための装置 - 特許庁

Preferred embodiments of the present invention deposit material onto the face of a TEM sample during the process of preparing the sample.例文帳に追加

本発明の好ましい実施形態は、試料を作製するプロセスの最中に、ＴＥＭ試料の面に材料を付着させる。 - 特許庁

A sample movement process is performed on a current sample in the first prediction pattern to change a current position of the current sample in the first prediction pattern.例文帳に追加

サンプルの移動処理が、最初の予測パターン内の対象のサンプルに対して実行され、最初の予測パターン内にある対象のサンプルの現在の位置を変化させる。 - 特許庁

A layer structure of a sample is obtained from frequency spectral intensity to dispersion waveform of reflection light from a sample in CMP process and a measurement position of a sample is specified.例文帳に追加

ＣＭＰ加工中、試料からの反射光の分光波形に対する周波数スペクトル強度から試料の層構造を求め、試料の計測位置を特定する。 - 特許庁

The step of preparing the sample data is followed by a data binning process (a1), and the data are used as a normalizing sample suitable for unit integration for converting the data into a sample profile.例文帳に追加

サンプルデータを準備する工程はデータをビニングする工程ａ１）が続き、データは、データをサンプルプロファイルに変換するための単位積分によい正規化サンプルとする。 - 特許庁

For the examples of the charts and diagrams described above, refer to exhibit number 2, "Business process flowchart (sample)" and "Business process description (sample)," and 3, "Relationship between risks and controls (sample)," included in "II. Assessment and Report on Internal Control Over Financial Reporting." 例文帳に追加

上記ａ．ｂ．における図や表については、「Ⅱ 財務報告に係る内部統制の評価及び報告」参考２（業務の流れ図（例）、業務記述書（例））～参考３（リスクと統制の対応（例））が参考となる。 - 金融庁

To process an inspection, exposure or the like of a wafer without polluting a sample, a lens or the like.例文帳に追加

試料やレンズ等を汚染することなく、ウエハの検査や露光等の作業を行う。 - 特許庁