| 例文 |
shape measuring methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1107件
To provide an aspherical shape measuring method for measuring an aspherical lens precisely, and a highly precise lens manufacturing method.例文帳に追加
精度良く非球面レンズを測定する非球面形状測定方法及び高精度レンズ製造方法を提供する。 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING SHAPE, FLYING SPEED AND FLYING DIRECTION OF FLYING FINE PARTICLE, AND APPARATUS FOR MEASURING THEM例文帳に追加
飛翔している微小粒子の形状、飛翔速度、飛翔方向の計測方法、およびその計測装置 - 特許庁
To provide a shape measuring method and apparatus for a hole capable of measuring the shapes of various holes.例文帳に追加
様々な穴の形状を測定することのできる穴の形状測定方法及び装置を提供する。 - 特許庁
To provide a skin shape measuring method measuring the three-dimensional shape of the skin and its change with time stably with high accuracy.例文帳に追加
肌の立体的な形状やその経時的変化を、高精度で且つ安定して計測し得る肌形状計測方法を提供する。 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING SHEET SHAPE AND IMAGE FORMING APPARATUS EQUIPPED WITH SHEET SHAPE ABNORMALITY DIAGNOSTIC FUNCTION例文帳に追加
シート形状測定方法及び装置、並びに、シート形状異常診断機能付き画像形成装置 - 特許庁
To provide a shape measurement method and a shape measurement device capable of accurately measuring the shape of a predetermined object.例文帳に追加
所定の物体の形状を高精度に計測することのできる形状計測方法及び形状計測装置を提供する。 - 特許庁
To provide a three-dimensional shape measuring system, a three-dimensional shape measuring instrument, a solid measuring object and an alignment method, allowing easy and at high accuracy alignment.例文帳に追加
容易に且つ高精度に位置合わせすることが可能な3次元形状測定システム、3次元形状測定装置、立体測定物、及び位置合わせ方法を提供する。 - 特許庁
To provide a shape measuring method and a device or the like capable of measuring the shape of a measuring object with high measurement accuracy, even when having disturbance vibration or air fluctuation.例文帳に追加
外乱振動や空気の揺らぎがある場合であっても、高い測定精度で被測定物の形状測定を可能にする形状測定方法及び装置等を提供する。 - 特許庁
To provide a shape measuring device and a shape measuring method which measure a three-dimensional shape of an object using a plurality of reference planes constituting two-dimensional planes.例文帳に追加
二次元平面を構成する基準面を複数用いて物体の三次元形状を計測する形状計測装置及び形状計測方法を提供する。 - 特許庁
To provide a three-dimensional shape measuring apparatus and a three-dimensional shape measuring method which can measure the shape of a specular surface with high accuracy.例文帳に追加
鏡面反射する表面の形状を高精度に測定することができる3次元形状測定装置及び3次元形状測定方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
REAL-TIME SHAPE MEASURING METHOD AND DEVICE BY CCD CAMERA THROUGH USE OF DMD例文帳に追加
DMDを用いたCCDカメラによる実時間形状計測方法と装置 - 特許庁
MEASURING METHOD OF MINUTE PARTICLE SHAPE, SYSTEM THEREFOR, AND SIGNAL PROCESSING CIRCUIT THEREFOR例文帳に追加
微小粒子形状の計測方法、そのシステム及びその信号処理回路 - 特許庁
APPARATUS FOR MEASURING THREE-DIMENSIONAL SHAPE, PROCESSING EQUIPMENT, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
立体形状計測装置、加工装置、および半導体デバイス製造方法 - 特許庁
PLANE SHAPE MEASURING METHOD IN PHASE SHIFT INTERFERENCE FRINGE SIMULTANEOUS IMAGING DEVICE例文帳に追加
位相シフト干渉縞同時撮像装置における平面形状計測方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR MEASURING THREE-DIMENSIONAL SHAPE OF OBJECT BY PROJECTING MOIRE FRINGE例文帳に追加
モアレ縞の投影による物体の三次元形状測定法及びその装置 - 特許庁
PLANE SHAPE MEASURING METHOD FOR PHASE-SHIFT INTERFERENCE FRINGE SIMULTANEOUS PHOTOGRAPHING DEVICE例文帳に追加
位相シフト干渉縞同時撮像装置における平面形状計測方法 - 特許庁
LENS SHAPE MEASURING METHOD OF DUMMY LENS, AND LENS CONTOUR ENHANCING TOOL THEREOF例文帳に追加
ダミーレンズの玉型形状測定方法及びそのためのレンズ輪郭強調具 - 特許庁
STRIPE IMAGE ANALYTICAL METHOD, INTERFEROMETER DEVICE, AND PATTERN PROJECTION SHAPE MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加
縞画像解析方法、干渉計装置、およびパターン投影形状測定装置 - 特許庁
IMAGE GAIN ADJUSTING DEVICE AND METHOD, AND THREE-DIMENSIONAL SHAPE MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加
画像ゲイン調整装置およびその方法、並びに三次元形状測定装置 - 特許庁
MEASURING METHOD OF SCREW, APPARATUS THEREFOR AND DETERMINING APPARATUS FOR PROPRIETY OF SHAPE OF SCREW例文帳に追加
ねじの測定方法及びその装置並びにねじ形状合否判定装置 - 特許庁
RANGE FINDER, RANGE FINDING METHOD, AND OPTICAL THREE-DIMENSIONAL SHAPE MEASURING MACHINE例文帳に追加
距離計及び距離測定方法並びに光学的三次元形状測定機 - 特許庁
NORMAL REFLECTION TYPE SURFACE SHAPE MEASURING METHOD AND DEVICE WITH CCD CAMERA例文帳に追加
CCDカメラによる正反射式表面性状測定方法及びその装置 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING SHAPE OF CORE IN TRANSPARENT CYLINDRICAL COLUMN例文帳に追加
円柱透明体中のコア形状測定装置及びコア形状測定方法 - 特許庁
GRIPPER FOR HOLDING SEMICONDUCTOR WAFER AND HOLDING METHOD, AND SHAPE MEASURING DEVICE例文帳に追加
半導体ウェーハの保持用グリッパー及び保持方法並びに形状測定装置 - 特許庁
METHOD FOR CALIBRATING COORDINATE AXES SQUARENESS ERROR AND 3-DIMENSION SHAPE MEASURING DEVICE例文帳に追加
座標軸直角度誤差の校正方法及び三次元形状測定装置 - 特許庁
DEVICE FOR MEASURING WAFER SURFACE SHAPE AND WAFER EVALUATION METHOD USING THE SAME例文帳に追加
ウェーハ表面形状測定装置、及び、それを用いたウェーハの評価方法 - 特許庁
To provide a thin film shape measuring method and a thin film shape measuring instrument for minutely measuring the shape of each reflective surface of a physical object and its film thickness distribution on a quadratic plane.例文帳に追加
被対象物の各反射面の形状や膜厚の分布を、二次平面上で精密に測定することができる薄膜形状測定方法および薄膜形状測定装置を提供する。 - 特許庁
To provide a three-dimensional shape measuring system and a three-dimensional shape measuring method allowing a three-dimensional shape of a measuring object to be measured with high accuracy even if it is moved at a high speed.例文帳に追加
測定対象物を高速で移動させても高精度で3次元形状を計測できる3次元形状測定システム、及び、3次元形状測定方法を提供することを課題とする。 - 特許庁
To provide a shape measuring method and instrument capable of measuring accurately a surface shape including a surface shape component of a quadratic function, without requiring a severe condition for position setting precision of a measuring object.例文帳に追加
測定対象の位置設定精度に対する厳しい条件がなく、2次関数の表面形状成分を含む表面形状も正確に測定できる形状測定方法及び装置を提供する。 - 特許庁
To provide a shape measuring apparatus, a shape measuring method, and a shape measuring program which can calculate a measurement point accurately even when a contact is not an ideal sphere.例文帳に追加
接触子の形状が理想的な球ではない場合であっても、測定点を正確に算出可能な形状測定装置、その形状測定方法並びに形状測定プログラムを提供する。 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR SHAPE MEASURING, COMPUTER PROGRAM AND STORAGE MEDIUM STORING COMPUTER PROGRAM FOR SHAPE MEASURING, SHAPE CORRECTING PROCESS METHOD, TYPE, MOLD GOODS AND OPTICAL SYSTEM FOR SHAPE COPYING例文帳に追加
形状測定装置、形状測定方法、形状測定用コンピュータプログラムを記憶する記憶媒体及び形状測定用コンピュータプログラム、形状修正加工方法、形状転写用の型、成型品及び光学システム - 特許庁
WORK HOLDING METHOD, WORK HOLDING JIG, AND WORK SHAPE MEASURING METHOD USING THE WORK HOLDING JIG例文帳に追加
ワークの保持方法およびワーク保持治具ならびに該ワーク保持治具を用いたワーク形状測定方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING ASPHERICAL SHAPE, PROJECTION OPTICAL SYSTEM AND EXPOSING METHOD例文帳に追加
非球面形状測定方法、非球面形状測定装置、投影光学系、および露光方法 - 特許庁
DETECTING METHOD, DETECTING APPARATUS, AND MEASURING METHOD FOR SURFACE SHAPE OF AREA NEAR TIRE GROUND-CONTACT PART例文帳に追加
タイヤ接地部付近の表面形状検出方法と装置及び表面形状測定方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR MEASURING POSITION OF MEASUREMENT POINT, METHOD OF MEASURING CURVED SHAPE, AND SCREEN MEANS例文帳に追加
測定点位置計測方法、測定点位置計測装置、曲面形状計測方法、曲面形状計測方法及びスクリーン手段 - 特許庁
To provide a slab piling shape measuring device and a method capable of measuring a slab piling shape simply and quickly with excellent heat resistance.例文帳に追加
耐熱性よく簡便・迅速にスラブの積み形状を測定するスラブ積み形状測定装置および方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a measuring method of a tooth face shape of a hypoid gear capable of measuring accurately a tooth face of a ring gear.例文帳に追加
リングギヤの歯面を正確に測定することができるハイポイドギヤの歯面形状の測定方法を提供する。 - 特許庁
AUTOMATIC SHAPE MEASURING METHOD FOR PHOTOMASK PATTERN, ITS MEASURING INSTRUMENT AND PROGRAM, PHOTOMASK MANUFACTURING METHOD AS WELL AS MANUFACTURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
フォトマスクパターン形状自動計測方法及びその装置及びそのプログラム及びフォトマスク製造方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁
To provide a wavefront shape measurement method for measuring a surface shape of a large diameter optical system to be inspected and a wavefront shape measurement device for measuring a surface shape of a large diameter optical system to be inspected.例文帳に追加
大口径の被検光学系の面形状を測定する波面形状測定方法、及び大口径の被検光学系の面形状を測定するための波面形状測定装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method for measuring tire shape which is advantageous to measure the shape of a tread of a rotating tire.例文帳に追加
回転するタイヤのトレッド部の形状を測定する上で有利なタイヤ形状の測定方法を提供する。 - 特許庁
To provide an interference method and a system for measuring complicated surface shape such as internal conical shape.例文帳に追加
内部円錐などの複雑な表面形状を測定するための干渉方法およびシステムを提供する。 - 特許庁
Concerning a method for measuring the shape of the rolled object, this shape measuring method is characterized by covering the surface of the rolled object with a sheet material, and measuring the shape of the rolled object through the sheet material.例文帳に追加
ロール状物の形状を測定する方法において、前記ロール状物の表面をシート状物で覆い、前記ロール状物の形状を前記シート状物を介して測定することを特徴とする形状測定方法。 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD OF MEASURING PLANAR SHAPE UNDER HIGH RADIATION ENVIRONMENT例文帳に追加
高放射線環境下で平面形状を測定する装置および測定する方法 - 特許庁
APPROACH DIRECTION SETTING METHOD FOR PROBE, SHAPE MEASURING APPARATUS PROGRAM, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加
プローブのアプローチ方向設定方法、形状測定装置プログラム及び記憶媒体 - 特許庁
SURFACE SHAPE MEASURING SYSTEM AND METHOD USING THE SAME, PROGRAM USED FOR THE SAME AND STORAGE MEDIUM USED FOR THE SAME例文帳に追加
表面形状測定装置及びその方法、プログラム並びに記憶媒体 - 特許庁
| 例文 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|