test aの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 26595件
a positive result of a tuberculin test 例文帳に追加
BCG接種によるツベルクリン反応の陽転 - EDR日英対訳辞書
To provide a test method and a test device testing a flash memory in a short time.例文帳に追加
フラッシュメモリを短時間に試験する試験方法と、試験装置を提供する。 - 特許庁
A test circuit 20 is provided on a circuit for transmitting a test signal inputted from a test signal input section 12 to a test signal output section 14.例文帳に追加
テスト回路20は、テスト信号入力部12から入力されたテスト信号を、テスト信号出力部14へと伝達する回路に設ける。 - 特許庁
To provide a scan base ATPG (automatic test pattern generation) test circuit and test method, and a scan chain reconfiguration method.例文帳に追加
スキャンベースATPGテスト回路、テスト方法及びスキャンチェーン再配置方法を提供する。 - 特許庁
The programmable test clock controller includes a test clock generator for generating a configurable test clock.例文帳に追加
プログラム可能テストクロックコントローラは、構成可能なテストクロックを生成するためのテストクロックジェネレータを含む。 - 特許庁
A test pattern generation circuit 1 to generate a test pattern for disturbance test is provided within on SDRAM.例文帳に追加
ディスターブテスト用のテストパターンを生成するテストパターン発生回路1をSDRAM内に設ける。 - 特許庁
To prevent failure of a test sample by accurately scanning a test head on the surface of the test sample.例文帳に追加
検査ヘッドを検査試料の表面に正確に走査させて、検査試料の破損を防止する。 - 特許庁
An IC test circuit 2 pretests the IC 1A prior to a burn-in test by a simplified function test.例文帳に追加
IC試験回路2は、バーンイン試験前のIC1Aを簡易ファンクションテストによりプリテストする。 - 特許庁
A test performance table 33 stores actual test man-hours in each test project using each test specification set.例文帳に追加
テスト実績テーブル33には、各テスト仕様書の各テストプロジェクトにおけるテストの実績工数が格納される。 - 特許庁
To reduce a test data quantity and a test application time in an ATE (automatic test equipment) in a scan-based integrated circuit.例文帳に追加
スキャンベースの集積回路中のATEでのテストデータ量およびテスト適用時間を削減する。 - 特許庁
A test voltage V_T and a test current I_T to be applied at the time of a switching test of contact points are predetermined.例文帳に追加
接点の開閉試験時に印加する試験電圧V_Tと試験電流I_Tを予め規定する。 - 特許庁
To reduce the number of test patterns and a test time in a test of a memory of a RAM and the like incorporated in a LSI, and to enable a test by actual operation speed.例文帳に追加
LSIに内蔵されたRAM等のメモリのテストにおけるテストパターン数およびテスト時間を削減し、また実動作スピードによるテストを可能とする。 - 特許庁
To test a memory in a short test time without increasing a circuit scale.例文帳に追加
回路規模を増加させることなく、短いテスト時間でメモリのテストを行う。 - 特許庁
A test stream generating means 13 transmits a test stream to a receiving node.例文帳に追加
試験ストリーム生成手段13は、受信ノードに試験ストリームを送信する。 - 特許庁
To provide a device for quick loading test of a pile and a method for quick loading test of a pile capable of conducting a test easily and obtaining a highly accurate test result.例文帳に追加
簡単に実施でき、精度の高い試験結果が得られる杭の急速載荷試験装置及び杭の急速載荷試験の方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit that has a built-in test controller for generating a test pattern only for a pin necessary in a test and a test pattern for all pins.例文帳に追加
テストに必要なピンのみのテストパターンから、すべてのピンに対するテストパターンを生成するテストコントローラを内蔵した半導体集積回路を得ること。 - 特許庁
a test that is given to determine whether or not a person is qualified to hold a license 例文帳に追加
資格検定をするための試験 - EDR日英対訳辞書
equipment required to perform a test 例文帳に追加
テストを行うのに必要な設備 - 日本語WordNet
perform a diagnostic test 例文帳に追加
診断のための検査を実行する - 研究社 英和コンピューター用語辞典
The biochemistry test was a cinch. 例文帳に追加
生化学の試験はやさしかった。 - Tanaka Corpus
The biochemistry test was a cinch.例文帳に追加
生化学の試験はやさしかった。 - Tatoeba例文
a test that determines mental development 例文帳に追加
精神的発達を調べる検査 - EDR日英対訳辞書
a test copy of printed matter 例文帳に追加
活字を組んで作った印刷版 - EDR日英対訳辞書
a test that determines the content of the urine. 例文帳に追加
尿の成分を調べる検査。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
The record test carry out means carries out the record test to a prescribed record test area.例文帳に追加
記録テスト実行手段は、所定の記録テスト領域に対して記録テストを行う。 - 特許庁
To compactly generate a test series of high test quality for an actual working speed function test.例文帳に追加
実動作速度機能テストにおけるテスト品質の高いテスト系列をコンパクトに生成する。 - 特許庁
To easily set a test condition of respective test processes and to simplify building-up of a test flow of a retesting when controlling the test flow including a plurality of test processes.例文帳に追加
複数のテスト工程を含んだテストフローを管理する場合に、やり直しテストのテストフローの作成を簡単化し、また各テスト工程のテスト条件の設定を容易にする。 - 特許庁
To provide a test piece extensometer capable of enabling a test piece extensometer to automatically separate from a test piece after breakdown test and elastic modulus test in a material testing machine.例文帳に追加
材料試験機における耐力試験、弾性率試験が終了した後、試験片伸び計が試験片から自動的に離脱することができる試験片伸び計を提供する。 - 特許庁
To provide a test printed wiring board enabling to acquire many data relating to a test body under a test with less test pieces and to easily seize a frequency of durable bending test times and variations therein.例文帳に追加
少ない試験片数で被試験体に関する多くのデータが得られ、耐屈折回数とそのバラツキを容易に把握できる試験用プリント配線基板を提供する。 - 特許庁
To reduce the number of timing sets in a test pattern for a tester without lowering test accuracy of a function test by a tester.例文帳に追加
テスタによる機能テストのテスト精度を低下させずに、テスタ用テストパタンにおけるタイミングセット数を削減する。 - 特許庁
To provide a test method and a sensor which shorten time required for a test in a test unit even if time is required for the test of a sensor in a test system.例文帳に追加
感知器の試験に時間を要する場合でも、試験器における試験に要する時間を短縮することの可能な試験システムおよび試験方法および感知器を提供する。 - 特許庁
A test request control part 14 transmits the test request to a test authorized person in accordance with the test process data determined by the test process determining part 12.例文帳に追加
テスト依頼制御部14は、テスト工程設定部12によって設定されたテスト工程データに従ってテスト依頼をテスト関係者に送信する。 - 特許庁
To provide a semiconductor device including a test circuit following a desired phase during a test to test a DDRif inexpensively.例文帳に追加
テスト中に所望の位相に対して追随できるテスト回路を備え、安価にDDRifのテストを行うことを目的としている。 - 特許庁
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