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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > trench coverに関連した英語例文

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trench coverの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 37



例文

TRENCH COVER例文帳に追加

溝 蓋 - 特許庁

And a pinning layer 311 is formed so as to fill the inside of the first trench TR1 and cover an inner surface of the second trench TR2.例文帳に追加

そして、第1トレンチTR1の内部を埋め込むと共に、第2トレンチTR2の内側の面を被覆するようにピニング層311を形成する。 - 特許庁

Between gate trenches 70, there are provided an emitter trench 80 having an emitter trench groove 80a that has the same depth with a gate trench groove 7a of a gate trench 70, emitter insulation film 80b formed to cover the inner surface of the emitter trench groove 80a, and emitter trench electrode 80c composed of doped poly silicon to fill the emitter trench groove 80a.例文帳に追加

ゲートトレンチ70の間に、ゲートトレンチ70のゲートトレンチ溝7aと同じ深さを有するエミッタトレンチ溝80aと、このエミッタトレンチ溝80aの内表面を覆うように形成されたエミッタ絶縁膜80bと、エミッタトレンチ溝80aを充填するようにドープドポリシリコンなどからなるエミッタトレンチ電極80cとを有するエミッタトレンチ80が設けられている。 - 特許庁

An n-type channel layer 8 is formed to cover the entire area of a wall surface 7 of the trench 6.例文帳に追加

トレンチ6の壁面7の全域を覆うように、n型チャネル層8が形成されている。 - 特許庁

例文

An oxide film 7 made of silicon oxide is formed to cover the internal wall of the trench 6.例文帳に追加

トレンチ6の内壁面を覆うように、酸化シリコンからなる酸化膜7が形成されている。 - 特許庁


例文

A gate electrode 33 is formed on the gate insulating film 6 so as to cover the trench portion 8.例文帳に追加

ゲート絶縁膜6上には、トレンチ部8を覆うようにゲート電極33が設けられる。 - 特許庁

A cover 54 for sealing the inside of the trench 52 hermetically is fixed to the heating mounting table 42.例文帳に追加

そして,溝52の内部を密閉可能な蓋体54を加熱載置台42に取り付ける。 - 特許庁

A BPSG film 36 is deposited to cover the upper part of the trench 31 for separating devices.例文帳に追加

BPSG膜36を堆積し、素子分離用トレンチ31の上部を塞ぐ。 - 特許庁

The trench capacitor 25 has a first electrode 22, formed in the semiconductor substrate 11 to surround the trench 20 and containing an impurity, a capacitor insulating film 23 formed to cover the inner wall of the trench 20, and a second electrode 24 formed so as to fill the trench 20 with itself.例文帳に追加

トレンチキャパシタ25は、トレンチ20を囲むように半導体基板11に形成され、不純物を含有する第1電極22と、トレンチ20の内壁を被覆するように形成されたキャパシタ絶縁膜23と、トレンチ20を埋めるように形成された第2電極24とを有する。 - 特許庁

例文

A trench 100 is formed in the surface side of a substrate 1, a sacrifice layer being dissolved by wet etching for forming a trench 5 from the rear surface side of the substrate 1 is formed in a region of the substrate 1 contiguous to that trench 100, and then a protective film 95 is formed to cover the trench 100 and the sacrifice layer.例文帳に追加

基板1の表側の面に溝100を形成し、基板1の、この溝100に隣接する領域に、基板1の裏側から溝5を形成するためのウエットエッチングによって溶解される犠牲層を形成し、さらに、溝100と犠牲層とを覆って、保護膜95を形成する。 - 特許庁

例文

The wafer is positioned overlying the pedestal cover in a material deposition chamber, with the cover defining a peripheral circumferential trench therein.例文帳に追加

ウェハが材料堆積用のチャンバ内で台座カバーに被せられて配置され、カバーがその周縁部に円周の溝を規定する。 - 特許庁

A barrier film 6 comprising the silicon nitride film is formed from the opening end of the trench 2 through the liner film 4 on the sidewall of the trench 2 to the silicon oxide film 7 so as to cover the films.例文帳に追加

トレンチ2の開口端からトレンチ2の側壁のライナー膜4を経てシリコン酸化膜7にわたり、これらの膜を覆うように、シリコン窒化膜からなるバリアー膜6が形成されている。 - 特許庁

Unnecessary parts without a trench in an unequal pattern formed on the photo resist 7 are covered with a cover resist 8 or 8' to form a normal and unequal-pitch deep trench pattern.例文帳に追加

フォトレジスト7に形成された均等なパターンの内、トレンチを形成しない不要な部分をカバーレジスト8又は8′で被覆して通常の不均等なピッチのディープトレンチパターンを形成する。 - 特許庁

In a bidirectional Zener diode IZD having a trench structure, an upper electrode UE is formed that extends from the inside of an opening OP to cover a trench TR (isolation region).例文帳に追加

本発明におけるトレンチ構造の双方向ツェナーダイオードIZDは、上部電極UEを、開口部OP内からトレンチTR(アイソレーション領域)までを覆うように延在して形成している。 - 特許庁

An insulating film IIA is formed over the transistor and in the trench DTR, so as to cover the transistor and form an air-gap space SP in the trench DTR.例文帳に追加

そのトランジスタ上を覆うように、かつ溝DTR内に中空SPを形成するようにトランジスタ上および溝DTR内に絶縁膜IIAが形成される。 - 特許庁

A first insulating film (an interlayer dielectric II) is formed on the element and in the trench DTR to cover the element and form a hollow space in the trench DTR, respectively.例文帳に追加

上記素子上を覆うように、かつ溝DTR内に中空を形成するように素子上および溝DTR内に第1の絶縁膜(層間絶縁膜II)が形成される。 - 特許庁

A trench 32 is formed in the source-side surface of a drift region 11, a p-type gate region 13 and a gate electrode 23 are provided at the bottom of the trench 32, and a source electrode 22 is formed to cover the whole surface of a unit element with an insulating film 33 between the two.例文帳に追加

ドリフト領域11のソース側の面にトレンチ溝32を形成し、溝32の底部にp型ゲート領域13とゲート電極23を設け、絶縁膜33を介して単位素子全面にソース電極22を形成する。 - 特許庁

Next, an Si layer 10 is formed on the Si substrate 1 so as to bury the trench and cover the SiGe layer 3.例文帳に追加

次に、このトレンチ内が埋め込まれ且つSiGe層3上が覆われるように、Si基板1上にSi層10を形成する。 - 特許庁

Upper surface of the ink channel 21 and the nonejection trench 22 is covered with a cover plate having a driving electrode touching the upper end of the sidewall 24.例文帳に追加

側壁24の上端に接触する駆動電極を有するカバー板でインク流路21と非噴射溝22の上面を覆う。 - 特許庁

The main body 82 has a peripheral trench 82A in which a peripheral edge of the penetrating hole 75 in the cover member 70 is fitted.例文帳に追加

その本体82は、そのカバー部材70における貫通孔75の周縁部が嵌め込まれる周溝82Aを有する。 - 特許庁

A part of the short-sized bare fiber projected from the sealing cover and the pigtail bare fiber 16 are optically coupled directly on the outside of the sealing cover on the same V-shaped trench.例文帳に追加

封止カバーから突出した短尺ベアファイバの一部とピグテールベアファイバ16とは、同じV字溝上の封止カバーの外部で直接光結合される。 - 特許庁

The optical semiconductor device and the short-sized bare fiber are aligned with the V-shaped trench, and are thermocompression-bonded and fixed to the silicon board by solder or a low melting-point glass 42, formed to a sealing cover 40 by the sealing cover 40 from upper section.例文帳に追加

光半導体デバイスと、短尺ベアファイバとをV字溝へ整列後、上部から封止カバー40で同カバーに形成した半田又は低融点ガラス42によりシリコン基板と熱圧着固定する。 - 特許庁

The semiconductor device has a trench 102 formed in the interlayer insulating film 101 on a semiconductor substrate, a first barrier metal film 103 formed to cover a bottom portion and a sidewall of the trench 102 and made of a conductor containing a platinum group element, high-melting-point metal and nitrogen, and a metal film 105 formed in the trench 102 on the first barrier metal film 103.例文帳に追加

半導体装置は、半導体基板上の層間絶縁膜101に形成されたトレンチ102と、トレンチ102の底部及び側壁を覆うように形成され、白金族元素、高融点金属及び窒素を含有する導電体からなる第1のバリアメタル膜103と、トレンチ102において、第1のバリアメタル膜103上に形成された金属膜105とを備える。 - 特許庁

The termination structure includes: a trench 220; a MOS gate 240 formed on the sidewall of the trench 220 as a spacer; a termination structure oxide layer 245 formed so as to cover the spacer and a portion of the bottom of the second trench 220; and first and second electrodes respectively formed on the back surface and the front surface 260 of a semiconductor substrate.例文帳に追加

終端構造は、トレンチ220と、このトレンチ220の側壁にスペーサとして形成されたMOSゲート240と、スペーサ及び第2のトレンチ220の底面の一部を覆うように形成された終端構造酸化層245と、半導体基板の背面及び表面260にそれぞれ形成された第1及び第2の電極とを備える。 - 特許庁

After a wiring trench 7 corresponding to the contact hole 6 is formed in the third interlayer insulation film 11, a second barrier metal film 8 is formed on the third interlayer insulation film 11 to cover the inner surface of the contact hole 6 and the wiring trench 7.例文帳に追加

また、第3の層間絶縁膜11に接続孔6に対応する配線溝7を形成した後、接続孔6および配線溝7の内面を被覆するようにして、第3の層間絶縁膜11の上に第2のバリアメタル膜8を形成する。 - 特許庁

A silicon nitride film 5 and a silicon oxide film 2 are formed to cover the trench isolation region, and a memory cell region is exposed by patterning them.例文帳に追加

トレンチ分離領域を覆うようにシリコン窒化膜5およびシリコン酸化膜2を形成し、これらをパターニングしてメモリセル領域を露出させる。 - 特許庁

A protection film 2 filled in the trench 23 formed on the back side of the metal cover 1 promotes laser marking and realizes better sawing quality of the package.例文帳に追加

保護膜2が金属カバー1の背面上に形成されトレンチ23内に充填されることによって、レーザマーキングを促進させより良好なパッケージの鋸による切断性を達成する。 - 特許庁

In the lower electrode 3, a plurality of trenches T are formed, and a thin film-like dielectric layer 4 is formed so as to cover the upper surface of the lower electrode 3 including an inner wall surface of the trench T.例文帳に追加

下部電極3には、トレンチTが複数形成されており、その内壁面を含む下部電極3の上面を覆うように、薄膜状の誘電体層4が形成されている。 - 特許庁

A positive resist is then applied to cover the surface of the silicon oxide film deposited on the surface of the SOI substrate, and the bottom of the trench and only the resist applied to the silicon oxide film is removed by exposure and development.例文帳に追加

次にSOI基板表面のシリコン酸化膜の表面及び前記トレンチの底部が覆われるようにポジ型レジストを塗布し、シリコン酸化膜上に塗布したレジストのみを露光、現像して除去する。 - 特許庁

An infiltration institution can be obtained by reduced labor for construction work by laying the percolating pipe on the upper part covered with crushed stone in the bottom section of a trench and carrying out earth cover from the upper part.例文帳に追加

この浸透管を、溝の底部に砕石を敷いた上部に設置し、上方から覆土して得られた施工の手間を軽減した浸透施設である。 - 特許庁

A pattern such as a deep trench or the like is equally drawn on a first photoresist 7 applied on the entire surface of a wafer (semiconductor substrate 1), and the wafer is covered with a cover resist 8 (second photoresist) to cover the circumferential edge of a memory array, thereby improving a global dimensional controllability.例文帳に追加

ウェーハ(半導体基板1)全面に塗布された第1のフォトレジスト7にディープトレンチなどのパターンを均等に描画し、その上からカバーレジスト(第2のフォトレジスト)8を被覆して、メモリセルアレイの周端部分を被覆してグローバルな寸法制御性の改善を図る。 - 特許庁

The via 116 comprises a first metal film 110 formed to cover the side walls of the trench, a metal oxide film 112 formed to cover the first metal film 110, and a second metal film 114 provided on the metal oxide film 112.例文帳に追加

ビア116は凹部の側壁を覆うように形成された第一の金属膜110と、第一の金属膜110を覆うように形成された金属酸化膜112と、金属酸化膜112上に設けられた第二の金属膜114と、を含む。 - 特許庁

The semiconductor device comprises a support substrate (1), an embedded insulating layer (2) provided on the substrate, semiconductor elements (3, 5 and 6) provided on the insulating layer, a trench (T) provided in the insulating layer so as to surround the elements, and a passivation film (8) made of an amorphous insulator provided to embed the trench and to cover the elements.例文帳に追加

支持基板(1)と、前記支持基板の上に設けられた埋め込み絶縁層(2)と、前記埋め込み絶縁層の上に設けられた半導体素子(3、5、6)と、前記半導体素子を取り囲むように前記埋め込み絶縁層に設けられたトレンチ(T)と、前記トレンチを埋め込み且つ前記半導体素子の上を覆うように設けられた非晶質の絶縁体からなるパッシベーション膜(8)と、を備えた半導体装置を提供する。 - 特許庁

The vertical power MOSFET 1 is provided with gate electrode layers 3a and 3b, that are formed inside a trench and have specified concentration and cap oxidized layers 2a and 2b that cover the gate electrode layers 3a and 3b, and of which the impurity concentrations are lower than those of the gate electrode layers 3a and 3b.例文帳に追加

本発明の縦型パワーMOSFET1は、トレンチ内部に形成された所定の不純物濃度を有するゲート電極層3a,3bと、ゲート電極層3a,3bを絶縁被覆し、ゲート電極層3a,3bの不純物濃度よりも低い不純物濃度であるキャップ酸化層2a,2bとを有する。 - 特許庁

The elastic pawl 2 performs elastic engagement to the engagement hole 13, the cut trench 4a tears the outer cover and connection is performed to the core wire so as to be able to make current flow while the clamping hand 3 energizes the lead leg 21, and the lead leg 21 is clamped with the housing 10.例文帳に追加

弾性爪2が係合孔13に弾性係合することにより、挟着手3がリード脚21を付勢してリード脚21をハウジング10に挟着させると共に、切溝4aが外皮を切り裂いて芯線に通電可能に接続する。 - 特許庁

In work for closing an opening of a cut and cover trench A formed in a roadbed B by a group of covering plates C arranging a plurality of covering plates 6, the covering plates 6 located on the circumference of a group of the covering plates C are formed by making a low stage section 9 on the side coming into contact with the roadbed B.例文帳に追加

路盤Bに形成した開削溝Aの開口を複数の覆工板6を敷き並べた覆工板群Cによって閉塞する施工において、覆工板群Cの外周部に位置する施工板6を、その路盤Bと接する側の辺部に低い段部9を設けて形成する。 - 特許庁

例文

The wafer-level package comprises a wafer 5 on which a plurality of dice are formed, and a thin metal cover 1, in which a trench 23 is formed and stuck to the wafer 5 with an adhesive 3 for improving the thermal conductivity of the package.例文帳に追加

ウェーハレベルパッケージは、その上に形成される複数のダイスを有するウェーハ5と、パッケージの熱伝導性を向上させるために接着剤3によってウェーハ5に固着され、中に形成されるトレンチ23を備える薄い金属カバー1とを備える。 - 特許庁

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