テストの際の英語

実動作周波数を用いて半導体集積回路をテストする際のテスト時間を短縮すること。例文帳に追加

To reduce testing time for testing a semiconductor integrated circuit using an actual operation frequency. - 特許庁

半導体メモリをテストする際に用いられるテストプログラムの作成工数を大幅に低減する。例文帳に追加

To remarkably reduce the manhours for preparing a test program used when a semiconductor memory is tested. - 特許庁

テストの実施に際し、テストを実施するＷｅｂアプリケーションへのアクセスを再現し、また、テストによって被テストＷｅｂアプリケーションまたは他のＷｅｂアプリケーションへ及ぼす影響をテストする。例文帳に追加

To reproduce access to a testee Web application in a test, and test the influence of the test on the testee Web application or other Web applications. - 特許庁

それ以降のテスト実行では、実際の出力が output.xml の内容と比較されます。例文帳に追加

Subsequent test runs will compare the real output against the contents of output.xml.発音を聞く  - NetBeans

製造ラインでの燃焼テストの際にドレンを発生させないようにする。例文帳に追加

To prevent generation of drain in a combustion test in a manufacturing line. - 特許庁

これらのテストノードは、実際に SOAP メッセージデータが入った XML ファイルです。例文帳に追加

These test nodes are actually XML files that contain SOAP message data.発音を聞く  - NetBeans

progress: 実際の結果に関わらず、完了したテストを「success」として記録します。例文帳に追加

progress: Marks test completion as success, regardless of actual outcome.発音を聞く  - NetBeans

テスト中回路中の走査チェーンにビットの圧縮したテストパターンを提供し、これが解凍されたテストパターンを走査チェーンに適用するに際して、異なる走査チェーンの長さのテストパターンを扱えるようにする。例文帳に追加

To provide a bit-compressed test pattern to a scanning chain of a circuit under a test, and to handle test patterns of different scanning chain lengths when a decompressed test pattern thereof is applied to the scanning chain. - 特許庁