加算検査の英語

ステップＳ３０９では、補正後の加算値と閾値を比較した結果に基づいて、検査対象物上の線状欠陥の有無を判定する。例文帳に追加

A step S309 determines presence or absence of a linear defect on the test object based on a result of comparing the corrected additional value with a threshold value. - 特許庁

この検査の結果、所定以下の場合（Ｓ６でＹＥＳ）、制御用マイコンは受信不能カウンタに記憶されている数に１を加算する（Ｓ７）。例文帳に追加

As the result of the inspection, when the level is equal to a prescribed level or lower (YES at S6), the control microcomputer adds 1 to the number stored by a receiption disabled counter (S7). - 特許庁

検出画素ずれおよび画素割れによる影響を回避し、概略同一の領域から発生する散乱光同士を加算可能にする欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a device and method for defect inspection, capable of avoiding the effect caused by detected pixel shift and pixel crack, and capable of mutually adding scattered lights generated from almost the same region. - 特許庁

第２欠陥検査は、ショット毎の画像を加算平均した平均ショット画像を作成し、該平均ショット画像の四隅を所定サイズで切り出し、対角位置の平均輝度差によって欠陥を検査する。例文帳に追加

In a second defect check, a mean shot image obtained by summing averaging the image at each shot is formed, four corners of the mean shot image are sliced into a prescribed size, and the defect is checked according to the mean luminance value of the diagonal positions. - 特許庁

試料の表面の欠陥を検査する欠陥検査方法であって、Ｈａｚｅ信号の分布と予め定めた光量分布とを比較して算出した検出信号の画素ずれ量を補正した検出信号を加算処理して欠陥を検出する工程を有する欠陥検査方法。例文帳に追加

A defect inspection method for inspecting the defect of the surface of a sample, includes the step of detecting the defect by addition processing of a detecting signal in which the amount of the misalignment of a pixel of detection signals calculated by comparing the distribution of Haze signal and predetermined light quantity distribution is corrected. - 特許庁

書き換え部４は、プログラム記憶部２が記憶する検査用プログラムに記述されるポインタ変数を、ポインタ変数が示すアドレスを指すポインタ値と、ポインタ変数が示すアドレスに先頭アドレスを示す識別番号を加算した検査値とを格納する拡張ポインタ構造体に書き換える。例文帳に追加

A rewriting part 4 rewrites a pointer variable to be described in an inspection program stored by a program storage part 2 to an expansion pointer structure storing a pointer value indicating an address indicated by the pointer variable and an inspection value obtained by adding an identification number indicating the first address to the address indicated by the pointer variable. - 特許庁

ＴＤＩセンサのラインレートとステージスキャン速度を非同期で制御し、且つＴＤＩセンサの電荷蓄積による画像加算ずれの課題を解決するため、被検査物に細線照明を照射し、ＴＤＩセンサの任意の画素ラインのみに被検査物の散乱光を受光させる。例文帳に追加

To asynchronously control the line rate of a TDI sensor and a stage-scanning speed and to solve the problem of image addition variations due to electric charge accumulation of the TDI sensor, an object to be inspected is irradiated with thin-line illumination, and only given pixel lines of the TDI sensor are made to receive light scattered by the object to be inspected. - 特許庁

符号化装置１は、入力されたデータに対してパリティ検査符号化を行うパリティ検査符号化器１０と、このパリティ検査符号化器１０により符号化されたデータを構成する各ビットの順序を置換して並べ替えるインターリーバ２０と、このインターリーバ２０から供給されたデータに対して累積加算による畳み込み符号化を行うアキュムレータ３０とを備える。例文帳に追加

The encoder 1 comprises a parity check encoder 10 performing parity check encoding of input data, an interleaver 20 for reordering respective bits constituting data encoded by the parity check encoder 10, and an accumulator 30 performing convolution encoding of data delivered from the interleaver 20 by accumulation. - 特許庁