「加算検査」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

ステップＳ３０１では、検査対象物を撮像した画像の所定方向に並んだ各画素の画素値の加算値を算出する。例文帳に追加

A step S301 calculates an additional value of the pixel value of each pixel arranged in a predetermined direction of an image taken of a test object. - 特許庁

次の処理により求めた加算スペクトルＳＳ（ｆ）により腐食程度を判定するコンクリ−ト中の鉄筋腐食程度の非破壊検査方法。例文帳に追加

In the nondestructive inspection method of the degree of reinforcement corrosion in concrete, the degree of corrosion is determined with an addition spectrum SS(f). - 特許庁

ステップＳ３０９では、補正後の加算値と閾値を比較した結果に基づいて、検査対象物上の線状欠陥の有無を判定する。例文帳に追加

A step S309 determines presence or absence of a linear defect on the test object based on a result of comparing the corrected additional value with a threshold value. - 特許庁

この検査の結果、所定以下の場合（Ｓ６でＹＥＳ）、制御用マイコンは受信不能カウンタに記憶されている数に１を加算する（Ｓ７）。例文帳に追加

As the result of the inspection, when the level is equal to a prescribed level or lower (YES at S6), the control microcomputer adds 1 to the number stored by a receiption disabled counter (S7). - 特許庁

検出画素ずれおよび画素割れによる影響を回避し、概略同一の領域から発生する散乱光同士を加算可能にする欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a device and method for defect inspection, capable of avoiding the effect caused by detected pixel shift and pixel crack, and capable of mutually adding scattered lights generated from almost the same region. - 特許庁

第２欠陥検査は、ショット毎の画像を加算平均した平均ショット画像を作成し、該平均ショット画像の四隅を所定サイズで切り出し、対角位置の平均輝度差によって欠陥を検査する。例文帳に追加

In a second defect check, a mean shot image obtained by summing averaging the image at each shot is formed, four corners of the mean shot image are sliced into a prescribed size, and the defect is checked according to the mean luminance value of the diagonal positions. - 特許庁

試料の表面の欠陥を検査する欠陥検査方法であって、Ｈａｚｅ信号の分布と予め定めた光量分布とを比較して算出した検出信号の画素ずれ量を補正した検出信号を加算処理して欠陥を検出する工程を有する欠陥検査方法。例文帳に追加

A defect inspection method for inspecting the defect of the surface of a sample, includes the step of detecting the defect by addition processing of a detecting signal in which the amount of the misalignment of a pixel of detection signals calculated by comparing the distribution of Haze signal and predetermined light quantity distribution is corrected. - 特許庁

書き換え部４は、プログラム記憶部２が記憶する検査用プログラムに記述されるポインタ変数を、ポインタ変数が示すアドレスを指すポインタ値と、ポインタ変数が示すアドレスに先頭アドレスを示す識別番号を加算した検査値とを格納する拡張ポインタ構造体に書き換える。例文帳に追加

A rewriting part 4 rewrites a pointer variable to be described in an inspection program stored by a program storage part 2 to an expansion pointer structure storing a pointer value indicating an address indicated by the pointer variable and an inspection value obtained by adding an identification number indicating the first address to the address indicated by the pointer variable. - 特許庁

ＴＤＩセンサのラインレートとステージスキャン速度を非同期で制御し、且つＴＤＩセンサの電荷蓄積による画像加算ずれの課題を解決するため、被検査物に細線照明を照射し、ＴＤＩセンサの任意の画素ラインのみに被検査物の散乱光を受光させる。例文帳に追加

To asynchronously control the line rate of a TDI sensor and a stage-scanning speed and to solve the problem of image addition variations due to electric charge accumulation of the TDI sensor, an object to be inspected is irradiated with thin-line illumination, and only given pixel lines of the TDI sensor are made to receive light scattered by the object to be inspected. - 特許庁

符号化装置１は、入力されたデータに対してパリティ検査符号化を行うパリティ検査符号化器１０と、このパリティ検査符号化器１０により符号化されたデータを構成する各ビットの順序を置換して並べ替えるインターリーバ２０と、このインターリーバ２０から供給されたデータに対して累積加算による畳み込み符号化を行うアキュムレータ３０とを備える。例文帳に追加

The encoder 1 comprises a parity check encoder 10 performing parity check encoding of input data, an interleaver 20 for reordering respective bits constituting data encoded by the parity check encoder 10, and an accumulator 30 performing convolution encoding of data delivered from the interleaver 20 by accumulation. - 特許庁

前記画像処理手段は、前記波長毎の信号を前記検出面の入射位置に対応付けて加算処理して波長および信号強度の情報を含む加算画像データを生成し、該加算画像データに基づいて検査対象のパターンにおける欠陥の有無を判定し、欠陥が有ると判定した場合に前記基体に垂直な方向における前記欠陥の位置を検出する。例文帳に追加

The image processing means generates added image data including information of wavelengths and signal intensity by additionally processing the signals of respective wavelengths correspondingly to the incident positions on the detection surface, determines whether or not a defect exists on the pattern to be inspected based on the added image data, and when determining the existence of a defect, detects the position of the defect in a direction vertical to the substrate. - 特許庁

絹糸，毛糸，又は綿糸以外のその他の糸について，当該糸を乾燥状態にした後得られる重量に加算すべき水分率は，ストーブ検査器具と共に提供される公式基準表に従うものとする。例文帳に追加

In the case of silk, or woolen or other yarns other than cotton yarn the regain to be added to the weight obtained after reducing such yarns to dry condition shall be according to the table of official standards supplied with the stove test apparatus. - 特許庁

ＲＯＭ１１は、ＳＥＬ１＃１〜＃ＣＷに指示して、reg（Ｍ）１３からの値の内、検査行列が１の位置に対応する値をセレクタＳＥＬ１で選択し、加算器に送る。例文帳に追加

The ROM 11 instructs selectors SEL1 #1 to #CW to select values corresponding to the position of 1 in the check matrix from among values from a reg(M) 13, and to transmit the values to the adder. - 特許庁

これにより、発振回路４から出力される検査信号が、加算回路５を介してモニタライン３３に入力され、リレースイッチ回路７及びマイクロホンライン３１を経て、検出回路６に入力される。例文帳に追加

Thus, an inspection signal outputted from an oscillation circuit 4 is given to a monitor line 33 via an adder circuit 5 and given to a detection circuit 6 via the relay switch 7 and a microphone line 31. - 特許庁

次いで、検査回数カウンタのカウント値を順次加算し、そのカウント値に対応した各保存領域に格納されている大当り判定用乱数値を順次読み出して大当り判定モジュールを実行する。例文帳に追加

Then, the counting values of the inspection frequency counter are added up sequentially and the random numbers for determining big win housed in the respective preservation areas corresponding to the counting values are read out sequentially to execute a big win determination module. - 特許庁

制御部３０１により、読み取られたら該バーコードに基づいて物品の品質の検査条件が変更され、バーコードリーダ４００により読み取られた回数が内部カウンタ３４０の値に１だけ加算される。例文帳に追加

A quality inspection condition of an article is altered based on the read bar code by a control part 301, and the number of times read by the bar code reader 400 is added by one to a value of an internal counter 340. - 特許庁

次いで、検査回数カウンタのカウント値を順次加算し、そのカウント値に対応した各保存領域に格納されている大当り判定用乱数値を順次読み出して大当り判定モジュールを実行する。例文帳に追加

Then, the counts of the number-of-inspection counter are added up sequentially while the random number values for judging big wins stored in the respective preservation areas corresponding to the counts are read out sequentially to execute a big win judgment module. - 特許庁

加算器１３は、サイクリックシフト回路１２から供給される６ビットの情報語D12と、その情報に対応する検査行列Hの情報部との積を、６行単位で行ごとに積算し、和D15としてRAM１４に供給する。例文帳に追加

An adder 13 summates a product between a 6-bit information word D12 supplied from a cyclic shift circuit 12 and an information part of a check matrix H corresponding to the information of the information word in the unit of 6 rows by the rows and gives the result to a RAM 14 as a sum D15. - 特許庁

欠陥の画像を拡大すると共に画像情報を積分する加算回路を有することにより、微細線幅の欠陥であっても欠陥として正確に検査することができる。例文帳に追加

As it has an addition circuit to integrate the image information as well as it enlarges the image of a defect, even a defect of fine line width can be inspected exactly as a defect. - 特許庁

この２回の撮像処理で得た画像から同一部品の画像を切り出し、これらの加算平均処理を行うことによって検査用の画像を生成する。例文帳に追加

An image of the same component is cut from the image obtained by two instances of image pick-up processing, and an image for inspection is created by these additions of averaging processing. - 特許庁

部品供給装置１６から取出された電子部品１５のリード浮き量をリード浮き検査ユニットで検出し、ＣＰＵ２５がＲＡＭ２５内に所定のリード浮き量の区間毎に設けられたカウンタに加算して行く。例文帳に追加

A floating amount of a lead of an electronic component 15 taken out by a component-supply apparatus 16 is detected by a lead float inspection unit, and the value is added to a counter provided in each section for a set lead float amount in a RAM 25 by a CPU 25. - 特許庁

スタンパの検査時、補償回路３０２は、メモリ３１２に記憶されたオフセットを反転してトラッキングサーボ信号に加算し、補償信号を生成する。例文帳に追加

When the stamper is inspected, a compensating circuit 302 inverts and adds the offset stored in the memory 312 to the tracking servo signal to generate a compensation signal. - 特許庁

次いで、検査回数カウンタのカウント値を順次加算し、そのカウント値に対応した各保存領域に格納されている大当り判定用乱数値を順次読み出して大当り判定モジュールを実行する。例文帳に追加

Then, the counts of a number-of-inspection counter are added up sequentially while the random numbers for judging big wins stored in the respective preservation areas corresponding to the counts are read out sequentially to execute a big win judgment module. - 特許庁

本発明は、少なくとも２つの重み付けされた再構成画像を加算して組合わせることにより検査される対象の３次元画像を形成する方法及びＸ線装置に係る。例文帳に追加

This invention relates to the method and the X-ray system for forming a three-dimensional image of an object inspected by adding and combining at least two weighted reconstituting images. - 特許庁

既測定半導体ウェハの同一座標位置にあるチップ領域において、不良判定がなされている場合には（Ｓ１０６）、被検査対象となっているチップ領域の不良が領域性起因不良とみなし、被検査対象となっているチップ領域で不良判定がなされていても、連続フェイルカウントを加算しない。例文帳に追加

In the chip region at the same coordinates of the semiconductor wafer which has been already measured, if failure determination is made (S106), a failure of the chip region to be inspected is regarded as a failure caused by regionality, and a continuous fail count is not incremented even if the failure determination is made in the chip region to be inspected. - 特許庁

ストーブ検査を実施するに当たり，綿糸の場合は，当該綿糸が絶対乾燥状態にされた後に得た重量に対して水分率8.5パーセントを加算しなければならず，そのようにして得た数値は，標準状態での当該糸の実重量とみなす。例文帳に追加

In carrying out the stove test, in the case of cotton yarn a regain of 8 1/2 per cent shall be added to the weight obtained after the yarn is reduced to an absolute dry conditions, and the figure so obtained shall be regarded as the actual weight of the yarn under normal conditions. - 特許庁

面積算出手段１３ｂは、位置検出手段１４が被検査物２の先端を検出した後、Ｘ線透過量に応じた電気信号がしきい値を越える画素部分を加算して気泡と判別された部分の面積を算出する。例文帳に追加

After a position detection means 14 detects the tip of the product 2, an area calculation means 13b adds a pixel part at which the electrical signal corresponding to the degree of transmission of the X rays exceeds the threshold to calculate the area of parts determined to be bubbles. - 特許庁

二次電池１２の電圧を記憶する電池電圧記憶回路４１の出力電圧と直流電圧源４２の出力電圧との差電圧を正極入出力端子１６と負極入出力端子１７との間の電圧に加算して制御回路１３に検査電圧として入力する。例文帳に追加

The difference voltage between the output voltage of a battery voltage memory circuit 41 for storing the voltage of a secondary battery 12 and the output voltage of a direct current voltage source 42 is added to the voltage between an anode input/output terminal 16 and a cathode input/output terminal 17, which is input to a control circuit 13 as a test voltage. - 特許庁

線状照明を行う照明光学系、被照明領域をラインセンサで分割して検出する検出光学系により、一度の検査で同一欠陥を複数回照明し、それらの散乱光を加算することにより検出感度を向上させる。例文帳に追加

A same defect is lit in plural times in a single inspection by an illumination optical system performing linear lighting and a detection optical system dividing illuminated region by a line sensor and performing detection, and scattering light is added, and thereby, the detection sensitivity is improved. - 特許庁

この発明の方法・装置は、３次元データ収集処理と並行してサブ・サイノグラム群の加算・読み出しと画像再構成を行なうので、データ記憶量低減と検査開始から画像化終了迄の時間短縮が図れる。例文帳に追加

In this method/device, the data storage quantity can be reduced and the time from inspection start until imaging finish can be shortened, since addition/reading-out of a sub-sinogram group and image reconstruction are performed in parallel with the three-dimensional data collection processing. - 特許庁

スイッチ１３３がＰ端子に設定されることにより、レジスタ１３４−１乃至１３４−１５に格納される情報が３つのループで巡回し、加算器１３５−１には、パリティ検査行列の情報部の対象行の非零元に応じた値が入力される。例文帳に追加

A switch 133 is set in a P terminal to thereby circulate information to be stored in registers 134-1 to 134-15 among three loops, and a value corresponding to the non-zero element of a target row of an information part of a parity check matrix is inputted to an adder 135-1. - 特許庁

制御部９は、メモリ７へデータ信号を供給する転送レートと、光ピックアップ２のシークタイムとを計測し、メモリ７の記録開始閾値から記録停止閾値を減算した値を転送レートで除算し、除算した値にシークタイムの時間を加算して記録停止時間を算出し、光ディスクＤの必要な検査内容を決定する。例文帳に追加

A control unit 9 measures a transfer rate for supplying a data signal to a memory 7 and the seek time of an optical pickup 2, divides a value obtained by subtracting a recording stop threshold from the recording start threshold of the memory 7 by the transfer rate, adds the seek time to the divided value to calculate recording pause time, and determines necessary inspection contents of an optical disk D. - 特許庁

不揮発性メモリ１４には検査領域２０の同じ領域の輝度データが重複して加算されるので、外乱の影響を受けた輝度データが積算値全体に対して占める重みが減少し、照明やコントラストの変化を始めとする外乱の影響を排除した適切な欠陥検出作業が可能となる。例文帳に追加

Because the luminance data in the same area of the area 20 are repeatedly added to the memory 14, the ratio of the luminance data affected by disturbance to the entire integrated values is reduced, and an appropriate fault detection working from which a disturbance effect including the change in illumination and contrast is eliminated is made possible. - 特許庁