colliding particleとは 意味・読み方・使い方

To provide a film deposition device and a film deposition method by which a fine particle film is grown on a target by colliding fine particles with the target while preventing the fine particles from being scattered and from contaminating a deposition chamber and the target.例文帳に追加

微粒子の飛散を防止し、微粒子が堆積室やターゲットを汚染しないようにしながら、微粒子をターゲットに衝突させて、ターゲット上に微粒子膜を成長させることができるようにする。 - 特許庁

Particles colliding with a wall surface or other particles up until a next point of time are determined (S5), and the impact vector with the wall surface is calculated by calculating the velocity vector and the rotational angular velocity after collision of the particle (S6).例文帳に追加

そして、次の時点までに壁面又は他の粒子に衝突する粒子を決定し（Ｓ５）、それらの衝突後の速度ベクトル及び回転角速度を演算して壁面への衝突ベクトルを演算する（Ｓ６）。 - 特許庁

The liquid droplets ejected from the liquid ejection ports 10 are prevented from colliding with each other and can maintain a uniform particle size distribution as gas is jetted out from the gas jet ports 11 in a direction same as the direction in which liquid droplets are ejected from the liquid ejection ports 10.例文帳に追加

各液体吐出口１０から吐出される液滴の吐出方向と同方向に各ガス噴出口１１からガスを噴出することで、液滴同士が衝突するのを抑止し、均一な粒度分布を保つことができる。 - 特許庁

To reduce noise when colliding with a key or a hammer or the like and prevent granular bodies from spilling out of a bag part in the case of using a particle bag composed by filling the bag part with the granular bodies as a stopper member of the key or the hammer or the like of an electronic piano.例文帳に追加

電子ピアノの鍵またはハンマ等のストッパ部材として、バッグ部に粒状体を充填して成るパーティクルバッグを使用する場合、鍵またはハンマ等が衝突した際の雑音を低減するとともに、バッグ部外への粒状体の漏れを防止する。 - 特許庁

After scanning a desired region of a testpiece by a primary charged particle beam and colliding secondary charged particles secondarily generated from the region by irradiation of the primary charged particle beam with secondary electron conversion electrodes 33, secondary electrons generated by a first E×B deflector 31 fixed to the surface on the sample side of the secondary electron conversion electrodes 33 via an insulating material is taken in a detector 34.例文帳に追加

試料の所望領域を一次荷電粒子ビームで走査し、一次荷電粒子ビームの照射により領域から二次的に発生する二次荷電粒子を二次電子変換電極33に衝突させた後、二次電子変換電極33の上記試料側の面に絶縁物を介して固定した第１のE×B偏向器31により発生する二次電子を検出器34に取り込む。 - 特許庁

To provide a mass spectrometry and device capable of acquiring much structural information with one device by generating high-speed particles with another high-speed particle source, colliding them with ions, and making collision energy adjustable.例文帳に追加

本発明は質量分析方法及び装置に関し、別の高速粒子源にて高速粒子を作り出してイオンに衝突させ、また、衝突エネルギーを可変にすることで、１つの装置で多くの構造情報を得ることができる質量分析方法及び装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

This method for producing the CMP abrasive is characterized in that the average particle diameter of the cerium oxide particles is regulated so as to be 0.15-1 μm by adding the cerium oxide particles to a solvent containing a dispersant and water, and colliding the cerium oxide to each other under a pressure of ≥90 MPa to pulverize the cerium oxide particles.例文帳に追加

酸化セリウム粒子を分散剤及び水を含む溶媒中添加し、９０ＭＰａ以上の圧力で酸化セリウムどうしを衝突させることにより粉砕し、酸化セリウム粒子の平均粒子径を０．１５〜１μmにすることを特徴とするＣＭＰ研磨剤の製造法。 - 特許庁

A composite charged particle beam device equipped with an FIB column and an SEM column is provided with an SE3 detector detecting a secondary electron (referred to herein as a third-order electron) emitted by a back scattered electron generated when a sample is irradiated with an electron beam and colliding a structure in a sample chamber.例文帳に追加

本発明では、FIBカラムとSEMカラムを備える複合荷電粒子線装置に、電子ビームを試料に照射したときに発生する後方散乱電子が試料室の構造物に衝突することによって放出される二次電子（本明細書では、三次電子という）を検出するSE3検出器を設けている。 - 特許庁