「"at test"」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

A transmission side circuit part of the interface circuit 100 transmits, at test time, a repeating signal 111 of a fixed amplitude to a transmission path 123 via an output buffer circuit 117 comprising a CML circuit.例文帳に追加

インタフェース回路１００の送信側回路部分では、テスト時に一定振幅の繰り返し信号１１１をＣＭＬ回路で構成される出力バッファ回路１１７を経て伝送路１２３に送出する。 - 特許庁

Then, an open reference, a short reference, and a load reference are measured in succession, with the adapter in a disassembled state, at test ports to be connected with the adapter during calibration.例文帳に追加

そして、校正時にアダプタが接続されたテスト・ポートにおいて、アダプタを取り外した状態で、オープン標準、ショート標準およびロード標準を順次測定する。 - 特許庁

A test apparatus 500 receives the output voltage Vaf from the airflow meter 42 at test, converts it into a corresponding simulated voltage Vsm when the airflow meter 42 is in a degraded state with the passage of time, and outputs it.例文帳に追加

試験装置５００は、試験時に、エアフローメータ４２からの出力電圧Ｖａｆを受けて、エアフローメータ４２の経年劣化状態時に対応する模擬電圧Ｖｓｍに変換して出力する。 - 特許庁

To provide an assembling method of a light source device, which simply reduces deviation, if any, even at test lighting, of an arc position of a lamp and thereby improves light utilization efficiency.例文帳に追加

ランプのアークの位置が試験的点灯でずれた場合にも簡易にずれを低減することができ、光利用効率を高めることができる光源装置の組立方法を提供すること。 - 特許庁

To obtain a method for facilitating tests by a frequency divider circuit that verifies a timing, even at test operation by adding a test circuit to the frequency divider circuit so as to reduce a test pattern and to obtain the frequency divider circuit with the test circuit.例文帳に追加

分周回路にテスト回路を追加することによりテストパタンを短縮化し、且つテスト動作時でもタイミング検証を可能にする分周回路によるテスト容易化方法及びテスト回路付き分周回路を提供する点にある。 - 特許庁

Actual equipment is connected with an evaluation device in which an expectation value at test signal processing by the imaging apparatus is stored, and a quality of assembly of the imaging apparatus is evaluated by comparing the expectation value prepared beforehand in the evaluation device with an output of the actual equipment.例文帳に追加

撮像装置でテスト信号を処理させた時の期待値を格納した評価装置に実機を接続して、評価装置に予め用意しておいた期待値と実機出力との比較を行うことで撮像装置の組み立て品質を評価する。 - 特許庁

The rotating drum 4 is driven to rotate by the drive more 5 at test, the injection nozzle 25 injects a flow of water to the test pieces T1-T6 mounted to the rotating drum 4 to rotate, and abrasion by the flow of water is accelerated to reproduce a state of abrasion.例文帳に追加

試験時には、回転ドラム４を駆動モータ５により回転駆動させ、噴射ノズル２５により回転ドラム４に装着されて回転される試験体Ｔ１〜Ｔ６に対して水流を噴射し、水流による摩耗を促進させて摩耗状態を再現させるようになっている。 - 特許庁

An organic EL material is ejected toward non-coating regions 12 of a substrate 1 while keeping the non-coating regions 12 of the substrate 1 at test coating positions and moving back and forth a nozzle along the X direction, so as to form coating lines CL on the non-coating regions 12 of the substrate 1.例文帳に追加

基板１の非塗布領域１２を試塗位置に位置させた状態でノズルをＸ方向に往復移動させながら基板１の非塗布領域１２に向けて有機ＥＬ材料を吐出させて塗布軌跡ＣＬを基板１の非塗布領域１２上に形成する。 - 特許庁

To prevent the generation of malfunction such as increase in error in recording parameter to be obtained or the obtainment of erroneous values, when the property of a recording track (sector) to be used is deteriorated due to defect or expiration of its life at test recording or reproducing operation to obtain recording pulse condition.例文帳に追加

記録パルス条件を求めるテスト記録再生時に、使用する記録トラック（セクタ）が、ディフェクトや寿命などで特性劣化していると、求まる記録パラメータの誤差が大きくなったり、誤った値を求めてしまう不具合が起こる。 - 特許庁

Fourteen of nineteen（75％）and seventeen of nineteen（90％）scores were within plus or minus two and four points of the median, respectively. As such, it was determined that changes in ICI scores at test sites compared to an ecoregional biocriterion or to an upstream control station should be considered in a zone of insignificant departure if the ICI difference is four points or less.例文帳に追加

スコア19個のうち14個（75％），19個のうち17個（90％）がそれぞれ中央値からプラスマイナス2，4点であった。かくして，ICIスコアの差が4点未満なら，生態地域生物クライテリアまたは上流参照地点と比較した披験地点でのICIスコアにおける変化は有意でないずれの範囲内とみなされることが決定された。 - 英語論文検索例文集

Test signals are transmitted through a transmission electrode at test frequencies which are changed monotonously in a specified frequency band (S410), the test return loss value and insertion loss value for each test signal are derived, and then the test return loss value and insertion loss value thus derived are stored in a memory (S420).例文帳に追加

規定周波数帯域内において単調に変化させたテスト周波数でのテスト信号が送信電極を介して送信され（Ｓ４１０）、それらのテスト信号それぞれに対するテスト反射損失値及び挿入損失値を導出すると共に、それらの導出したテスト反射損失値及び挿入損失値をメモリに記憶する（Ｓ４２０）。 - 特許庁

By turning a switch 50 and to short-circuiting the output terminals 30A and 30B and alternately inputting signals of different levels to the inverter circuits 11 and 12 at test, a current is made to alternately flow through an NchMOS transistor and a PchMOS transistor included in the two CMOS circuits to activate them.例文帳に追加

テスト時に、スイッチ５０をオンにして出力端子３０Ａ、３０Ｂを短絡するとともに、インバータ回路１１、１２に異なるレベルの信号を交互に入力することによって、２つのＣＭＯＳ回路に含まれるＮｃｈＭＯＳトランジスタ及びＰｃｈＭＯＳトランジスタに交互に電流を流し活性化させる。 - 特許庁

A verification trace log when the fiber channels witch is in normal operation is prepared, the verification trace log is given to a fiber channel switch under a test, where the log is interpreted and executed, outputs a trace log at test and the operation of the fiber channel switch is verified by comparing the verification trace log with the test trace log.例文帳に追加

このファイバチャネルスイッチが正常に動作している場合の検証用トレースログを用意して、検証用トレースログを、テストをおこなうファイバチャネルスイッチに入力し、解釈・実行させて、テスト時トレースログを出力し、検証用トレースログと、このテスト時トレースログとを比較することにより、ファイバチャネルスイッチの動作を検証する。 - 特許庁

The semiconductor storage device is equipped with control circuits (116, 118 and 121) which at test time and in the 1st mode, always generates refresh just before the read/write operation and sets always the latency as a 1st fixed value, and in the 2nd mode, always generates refresh just after the read/write operation and sets always the latency as a 2nd fixed value.例文帳に追加

半導体記憶装置は、テスト時に、第１のモードでは、リフレッシュを決まってリード／ライト動作の直前に発生させ、レイテンシーを常に第１の固定値に設定し、第２のモードでは、リフレッシュを決まってリード／ライト動作の直後に発生させ、レイテンシーを常に第２の固定値に設定する制御回路（１１６、１１８、１２１）を備えている。 - 特許庁