「けんびきょうざ」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

ビームスプリッター装置ならびにそれを使用したレーザー走査顕微鏡例文帳に追加

BEAM SPLITTER DEVICE AND LASER SCANNING MICROSCOPE USING THE SAME - 特許庁

走査型レーザ顕微鏡において、Ｚ方向の輝度変化を補正する。例文帳に追加

To correct the Z-directional luminance variation of a scanning type laser microscope. - 特許庁

本発明は、例えば、位相差顕微鏡のアナライザ装置に適用できる。例文帳に追加

The present invention is applicable to an analyzer device for a phase difference microscope. - 特許庁

インク残量検知方法、記録装置、プログラムおよび記憶媒体。例文帳に追加

INK RESIDUAL AMOUNT DETECTING METHOD, RECORDING DEVICE, PROGRAM, AND MEMORY MEDIUM - 特許庁

レーザー内視鏡検査における高解像度の顕微鏡画像又は切断のための方法及び装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR HIGH-RESOLUTION MICROSCOPIC IMAGING OR CUTTING IN LASER ENDOSCOPY - 特許庁

標本から得られる複数の光を同時に検出することができるレーザ顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a laser microscope which can simultaneously detect a plurality of light beams obtained from a sample. - 特許庁

顕微鏡用対物レンズおよびそれを備えた蛍光検出システムと多光子励起レーザー走査型顕微鏡例文帳に追加

OBJECTIVE LENS FOR MICROSCOPE, FLUORESCENT DETECTION SYSTEM EQUIPPED WITH THE SAME, AND MULTIPHOTON EXCITATION LASER SCANNING TYPE MICROSCOPE - 特許庁

レ—ザ走査顕微鏡に使用される波長別検出のためのシステムおよび画像記録方法例文帳に追加

SYSTEM FOR DETECTION BY WAVELENGTHS TO BE USED FOR LASER SCANNING MICROSCOPE, AND IMAGE RECORDING METHOD - 特許庁

ウィーンフィルタ型エネルギーアナライザ及び放出電子顕微鏡例文帳に追加

WIEN FILTER TYPE ENERGY ANALYZER AND DISCHARGE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

人材派遣業務を円滑に行わせる方法及び記録媒体例文帳に追加

METHOD FOR SMOOTHLY PERFORMING TALENTED PERSON DISPATCH JOB AND RECORDING MEDIUM - 特許庁

光コネクタ用保持部材及び光コネクタ端面観察用顕微鏡例文帳に追加

HOLDING MEMBER FOR OPTICAL CONNECTOR AND MICROSCOPE FOR OBSERVING OPTICAL CONNECTOR END SURFACE - 特許庁

特に顕微鏡検査および走査型レーザ顕微鏡検査における様々な検査条件に、フレキシブルに適合し得る方法および構成を提供すること。例文帳に追加

To provide method and constitution capable of flexibly coping with various examination conditions, particularly, for a microscopic examination and a laser scanning microscopic examination. - 特許庁

電子顕微鏡観察用染色剤および該染色剤を用いた染色方法例文帳に追加

DYEING AGENT FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION AND DYEING METHOD USING THE SAME - 特許庁

標本に色を付けるために蛍光顕微鏡検査法で使用される様々な蛍光物質のどれか例文帳に追加

any of various fluorescent substances used in fluorescence microscopy to stain specimens  - 日本語WordNet

電子顕微鏡を用いた鉄鋼材料の微細構造の観察に適した電子顕微鏡観察用試料の作製方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for preparing a sample for electron microscope observation suitably employed for observation of a fine structure of a steel material. - 特許庁

座標検出用受光装置、座標入力／検出装置、電子黒板、装着位置検出方法及び記憶媒体例文帳に追加

LIGHT RECEIVER FOR COORDINATE DETECTION, COORDINATE INPUT/ DETECTING DEVICE, ELECTRONIC BLACKBOARD, LOADING POSITION DETECTING METHOD AND STORAGE MEDIUM - 特許庁

複数のレーザー光源の光量調整手段及びそれを用いるレーザー顕微鏡例文帳に追加

MEANS FOR ADJUSTING QUANTITY OF LIGHT OF A PLURALITY OF LASER LIGHT SOURCES, AND LASER MICROSCOPE USING THE SAME - 特許庁

多くの装置が、電子顕微鏡法による材料の研究を推進するために設計されてきた。例文帳に追加

A number of instruments have been designed to advance the study of materials by electron microscopy.  - 科学技術論文動詞集

高いＳ／Ｎを得られ、精度の高い分光検出を行なうことができるレーザ顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a laser microscope capable of obtaining a high S/N thereby performing a highly precose spectral detection. - 特許庁

歯科保健教育システム、歯科保健啓蒙啓発方法、ならびにその教材及び記録媒体例文帳に追加

DENTAL HEALTH EDUCATION SYSTEM, DENTAL HEALTH ENLIGHTENMENT METHOD AS WELL AND THEIR TEACHING MATERIAL AND RECORDING MEDIUM - 特許庁

走査型電子顕微鏡及び電子線プローブマイクロアナライザー例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM PROBE MICROANALYZER - 特許庁

電子顕微鏡を操作するユーザごとにコンピュータ４４にログオンする。例文帳に追加

The electron microscope is logged on a computer 44 for each operating user. - 特許庁

レーザ走査顕微鏡におけるパルス形態の最適化のためのシステム例文帳に追加

SYSTEM FOR OPTIMIZING PULSE FORM IN LASER-SCANNING MICROSCOPE - 特許庁

標本のＸＹ平面内での解像度を向上させることができる、レーザ顕微鏡、光学装置、及び顕微鏡を提供すること。例文帳に追加

To provide a laser microscope, an optical device and a microscope, capable of improving resolution in the XY plane of a specimen. - 特許庁

電子顕微鏡装置の寸法校正用標準部材、その製造方法、およびそれを用いた電子顕微鏡装置の校正方法例文帳に追加

REFERENCE MEMBER FOR CALIBRATING DIMENSION OF ELECTRONIC MICROSCOPE DEVICE, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND METHOD OF CALIBRATING ELECTRONIC MICROSCOPE DEVICE USING THE SAME - 特許庁

試料ステージは、共焦点顕微鏡の対物レンズの光軸及び電子顕微鏡のビーム軸と直交する２次元平面内の位置を規定する２次元座標系を有し、共焦点顕微鏡及び電子顕微鏡は座標系を共有する。例文帳に追加

The sample stage has a two-dimensional coordinate which regulates a position within a two-dimensional plane crossing the optical axis of an objective lens and the beam axis of the electronic microscope, and the confocal microscope and the electronic microscope commonly have the coordinate. - 特許庁

シリコンウェーハ及び同様の材料の研磨剤であって、研磨速度の向上による生産性の向上、及び金属汚染の防止によるウェーハ品質の向上を図る研磨剤及びその研磨剤を用いる研磨方法を提供する。例文帳に追加

To provide a polishing agent for a silicon wafer and a material of the same kind which can improve productivity by raising a polishing rate and improve wafer qualities by preventing metal contamination, and a polishing method using the polishing agent. - 特許庁

複雑な構造のフィルタを必要としない走査型レーザ顕微鏡を提供すること。例文帳に追加

To provide a laser scanning microscope which does not require a filter having complicated structure. - 特許庁

生物試料のＸ線顕微鏡観察に好適なＸ線顕微鏡像観察用試料支持部材を提供すること。例文帳に追加

To provide a supporting member for X-ray microscope image observation suitable for X-ray microscope observation of a biological sample. - 特許庁

使用を重ねても検出感度が低下しないＰＭＴを用いたレーザ走査顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a laser scanning microscope using a PMT by which detection sensitivity does not deteriorate even if it is repeatedly used. - 特許庁

共焦点及び線共焦点顕微鏡の利点と、システムの単純さ及び経済性とを併せもつ顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide microscopes which combine the advantages of confocal and line confocal microscopes with the simplicity and economy of systems. - 特許庁

鎌倉幕府第15代執権（在職期間：1326年3月16日(旧暦)-3月26日(旧暦)）。例文帳に追加

He was the fifteenth regent of the Kamakura bakufu (Japanese feudal government headed by a shogun) from April 19 until April 29, 1326.  - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

整備資料検索システム、そのサーバ、ユーザ端末及び記録媒体例文帳に追加

MAINTENANCE MATERIAL RETRIEVAL SYSTEM AND ITS SERVER, USER TERMINAL, AND RECORDING MEDIUM - 特許庁

基板上の測定対象物を第１の顕微鏡と電子顕微鏡とで同視野観察するに際して、第１の顕微鏡における測定対象物および基板の２つの点の座標と、電子顕微鏡における基板の２つの点の座標とに基づいて電子顕微鏡における測定対象物の座標を決定する方法。例文帳に追加

In this position determination method of the measuring object, when performing same-field observation of the measuring object on a substrate by the first microscope and the electron microscope, the coordinate of the measuring object in the electron microscope is determined based on the coordinates of two points on the measuring object and the substrate in the first microscope and the coordinates of two points on the substrate in the electron microscope. - 特許庁

交信不調により、非接触券がアンテナに再度かざされたときの２度引きを効果的に防止する。例文帳に追加

To efficiently prevent double charging when a non-contact ticket is put on an antenna again due to fault communication. - 特許庁

レーザ欠陥検出機能を備えた走査型電子顕微鏡におけるＣＣＤカメラ自動切替方式例文帳に追加

AUTOMATIC CCD CAMERA CHANGEOVER SYSTEM IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE WITH LASER DEFECT DETECTING FUNCTION - 特許庁

本発明では、ユーザーの顕微鏡の操作性の向上させることが可能な顕微鏡コントローラを提供する。例文帳に追加

To provide a microscope controller for improving user operability of a microscope. - 特許庁

顕微鏡における短パルスレーザーのレーザー出力および／またはパルス幅調整のための配置例文帳に追加

ARRANGEMENT FOR ADJUSTING LASER OUTPUT AND/OR PULSE WIDTH OF SHORT-PULSE LASER IN MICROSCOPE - 特許庁

搭載されているソフトウェアの改ざんとソフトウェア構成の改ざんとを容易に検知可能なソフトウェア改ざん検知方法、ソフトウェア改ざん検知プログラム及び機器を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a software alteration detection method, a software alteration detection program, and equipment capable of easily detecting alteration of loaded software and alteration of software configuration. - 特許庁

走査型レーザ顕微鏡の構成を複雑にすることなく色収差の補正を行えるようにする。例文帳に追加

To make compensation possible for chromatic aberration without complicating the structure of a scanning laser microscope. - 特許庁

レーザ欠陥検出機能を備えた走査型電子顕微鏡のオートフォーカス方式例文帳に追加

AUTOMATIC FOCUSING METHOD FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING LASER DEFECT DETECTION FUNCTION - 特許庁

この顕微鏡装置１において、観察顕微鏡２０の光学系と、上記レーザ装置の光学系とは、夫々独立している。例文帳に追加

The optical system of the observation microscope 20 and that of the laser device are independent in the microscope device 1. - 特許庁

ユーザが顕微鏡本体のメーカとは異なる外部メーカ製のＯＰ装置を使用する際の操作性のよい顕微鏡装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a microscope device of proper operability, when a user uses an OP device manufactured by an outside manufacturer which is different from the manufacturer of the microscope body. - 特許庁

体から採取する組織で、疾患が存在するかどうかを調べるために顕微鏡下で検査する。例文帳に追加

tissue removed from the body and examined under a microscope to determine whether disease is present.  - PDQ®がん用語辞書 英語版

顕微鏡は、探針１１ｂが設けられた撓み部材１１ａを有する力検出器１１を備える。例文帳に追加

The microscope is provided with a force detector 11 with a flexible member 11a for which a probe 11b is provided. - 特許庁