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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 層間絶縁の意味・解説 > 層間絶縁に関連した英語例文

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層間絶縁の部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 5627



例文

半導体基板10上には、層間絶縁膜群20が設けられている。例文帳に追加

The group of interlayer insulating films 20 is located on the semiconductor device 10. - 特許庁

層間絶縁膜の表面改質方法及び表面改質装置例文帳に追加

METHOD OF IMPROVING SURFACE PROPERTY OF INTERLAYER INSULATION FILM AND APPARATUS FOR IMPROVING SURFACE PROPERTY - 特許庁

ポジ型感放射線性組成物、層間絶縁膜及びその形成方法例文帳に追加

POSITIVE RADIATION-SENSITIVE COMPOSITION, INTERLAYER DIELECTRIC AND METHOD FOR FORMING THE SAME - 特許庁

薄膜インダクタ10は、基板12上に、層間絶縁膜16,下部磁性薄膜18,層間絶縁膜20,第1層導体パターン22,層間絶縁膜26,第2層導体パターン28,層間絶縁膜32,上部磁性薄膜34が積層された構造となっている。例文帳に追加

The thin-film inductor 10 has a structure wherein an interlayer insulation film 16, a lower magnetic thin film 19, an interlayer insulation film 20, a first layer conductor pattern 22, an interlayer insulation film 26, a second layer conductor pattern 28, an interlayer insulation film 32 and an upper magnetic thin film 34 are stuck in sequence on a substrate 12. - 特許庁

例文

共通電位線COMを覆って層間絶縁膜14を形成する。例文帳に追加

An interlayer insulating film 14 is formed covering the common potential line COM. - 特許庁


例文

エピタキシャル層3には、層間絶縁膜11を積層する。例文帳に追加

An interlayer dielectric 11 is stacked on the epitaxial layer 3. - 特許庁

半導体装置、その製造方法及び層間絶縁膜の形成方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND METHOD OF FORMING INTERLAYER INSULATING FILM - 特許庁

段差膜10上に層間絶縁膜10aを形成する。例文帳に追加

An interlayer insulating film 10a is formed on the stepped film 10. - 特許庁

層間絶縁膜および配線構造と、それらの製造方法例文帳に追加

INTERLAYER INSULATING FILM AND WIRING STRUCTURE, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME - 特許庁

例文

感放射線性樹脂組成物、層間絶縁膜およびスペーサー例文帳に追加

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, INTERLAYER INSULATING FILM AND SPACER - 特許庁

例文

パッドの周囲の層間絶縁膜表面に溝を形成した構造とする。例文帳に追加

A groove is formed in a layer insulating film surface in the circumference of a pad. - 特許庁

半導体装置、その製造方法及び層間絶縁膜の形成方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR DEVICE, MANUFACTURE THEREOF, AND METHOD FOR FORMING INTERLAYER INSULATING FILM - 特許庁

膜形成用組成物、その製造方法および層間絶縁膜用材料例文帳に追加

FILM-FORMING COMPOSITION, MANUFACTURE THEREOF AND MATERIAL FOR LAYER INSULATING FILM - 特許庁

その後、通常の層間絶縁膜および遮光膜6を形成する。例文帳に追加

Thereafter, ordinary interlayer dielectric and a light shielding film 6 are formed. - 特許庁

トランジスタ3の上方には第1の層間絶縁膜12、第2の層間絶縁膜13を介して第3の層間絶縁膜14の内部に埋め込まれた形のキャパシタ15の蓄積電極7が形成され、第3の層間絶縁膜14上に保護膜16が形成されている。例文帳に追加

The storage electrode 7 of a capacitor 15 buried in a third interlayer insulating film 14 through the intermediary of a first interlayer insulating film 12 and a second interlayer insulating film is formed above the transistor 3, and a protective film 16 is formed on the third interlayer insulating film 16. - 特許庁

光電変換装置は、半導体基板に配された光電変換素子と素子分離領域とを有し、半導体基板に最も近接して配された第1の層間絶縁層と、第1の層間絶縁層を覆って配された第2の層間絶縁層と、を含む複数の層間絶縁層とを有する。例文帳に追加

The photoelectric conversion device is provided with the photoelectric conversion element and an element isolation region disposed to a semiconductor substrate, and has a plurality of inter-layer insulating layers including a first inter-layer insulating layer disposed most closely to the semiconductor substrate and a second inter-layer insulating layer disposed covering the first inter-layer insulating layer. - 特許庁

層間絶縁膜、その形成方法及び配線の形成方法例文帳に追加

INTERLAYER DIELECTRIC, ITS FORMING METHOD AND FORMING METHOD OF WIRING - 特許庁

下部層間絶縁膜67の上にハードマスク69を形成する。例文帳に追加

A hard mask 69 is formed on the lower part interlayer dielectric 67. - 特許庁

耐熱性樹脂組成物、層間絶縁膜及び多層回路基板例文帳に追加

HEAT-RESISTANT RESIN COMPOSITION, INTERLAYER INSULATING FILM AND MULTILAYERED CIRCUIT BOARD - 特許庁

その後、層間絶縁膜116上に配線層120を形成する。例文帳に追加

Finally, an interconnect layer 120 is formed on the interlayer insulating film 116. - 特許庁

感放射線性樹脂組成物およびその層間絶縁膜への使用例文帳に追加

RADIATION SENSITIVE RESIN COMPOSITION AND ITS USE FOR INTERLAYER DIELECTRIC - 特許庁

層間絶縁膜20にはコンタクトホール20hが形成されている。例文帳に追加

A contact hole 20h is formed in the film 20. - 特許庁

層間絶縁膜4及び配線膜6上のキャップ膜7及び層間絶縁膜8に第3の開口部が設けられ、層間絶縁膜8上の層間絶縁膜9に第3の開口部に接するように第2の開口部が設けられる。例文帳に追加

A third opening is formed on a cap film 7 and an interlayer insulation film 8 on the interlayer insulation film 4 and the wiring film 6, and a second opening is formed on an interlayer insulation film 9 on the interlayer insulation film 8 to contact the third opening 3. - 特許庁

半導体基板10上には、層間絶縁膜20が設けられている。例文帳に追加

The interlayer insulating film 20 is provided on the semiconductor substrate 10. - 特許庁

アンダーメタル3を覆うように層間絶縁膜5が形成されている。例文帳に追加

An interlayer insulation film 5 is so formed as to cover the undermetal 3. - 特許庁

層間絶縁膜の形成方法、層間絶縁膜形成用の前駆体溶液、層間絶縁膜形成用のCVD原料、及びシロキサンオリゴマー形成用原料例文帳に追加

METHOD OF FORMING INTERLAYER INSULATION FILM, PRECURSOR SOLUTION FOR FORMING INTERLAYER INSULATION FILM, CVD MATERIAL FOR FORMING INTERLAYER INSULATION FILM, AND MATERIAL FOR FORMING SILOXANE OLIGOMER - 特許庁

その後、CMP法を用いて、金属配線3上の層間絶縁膜4aの残膜が所定の膜厚になるまで層間絶縁膜4の表面を研磨して、層間絶縁膜4aの表面を平坦化する。例文帳に追加

Subsequently, the surface of the interlayer insulation film 4a is polished using a CMP method until the interlayer insulation film 4 remaining on the metal wiring 3 has a predetermined thickness thus planarizing the surface of the interlayer insulation film 4a. - 特許庁

作用電極WE1上には第1層間絶縁膜13A、13Bが形成され、第1層間絶縁膜13A、13B上には第2層間絶縁膜14A、14Bが形成されている。例文帳に追加

First interlayer insulation films 13A and 13B are formed on the working electrode WE1 while second interlayer insulation films 14A and 14B are formed on the insulation films 13A and 13B. - 特許庁

層間絶縁膜64は、溝62aの位置で窪み、各受光画素上に層間絶縁膜64の凸部が形成され、この層間絶縁膜64によりマイクロレンズが構成される。例文帳に追加

The interlayer insulating film 64 is depressed in the position of the groove 62a, a convex part of the interlayer insulating film 64 is formed on each light-receiving pixel, and a microlens is constituted by this interlayer insulating film 64. - 特許庁

次に、第1層間絶縁膜を等方性エッチング法により部分的に除去した後、ゲート120間のギャップを完全に埋め込むように第1層間絶縁膜上に第2層間絶縁膜を蒸着する。例文帳に追加

Next, after the first inter-layer insulation film is partially removed with the isotropic etching process, the second inter-layer insulation film is evaporated on the first inter-layer insulation film to perfectly embed the gap between the gates 120. - 特許庁

層間絶縁膜となる多孔質膜形成用前駆体溶液の処理方法、層間絶縁膜となる多孔質膜の形成方法及び層間絶縁膜となる多孔質膜の形成装置例文帳に追加

PROCESSING METHOD OF PRECURSOR SOLUTION FOR FORMING POROUS FILM BECOMING INTERLAYER INSULATING FILM, AND METHOD AND SYSTEM FOR FORMING POROUS FILM BECOMING INTERLAYER INSULATING FILM - 特許庁

そして、上部電極15には、第3の層間絶縁膜16と、第4の層間絶縁膜19と、第5の層間絶縁膜20が順次形成されている。例文帳に追加

There are formed a third interlayer insulating film 16, a fourth interlayer insulating film 19, and a fifth interlayer insulating film 20 sequentially on the upper electrode 15. - 特許庁

層間絶縁膜上の第1のマスク膜及び層間絶縁膜に、層間絶縁膜の厚さ方向の途中まで達するビアホールを形成する。例文帳に追加

A via hole is formed in a first mask film on an interlayer insulation film and the interlayer insulation film so that it may reach the midway in the direction of thickness of the interlayer insulation film. - 特許庁

Si基板(1)上の不純物領域(7)を覆うように層間絶縁膜(8)が形成され、その層間絶縁膜(8)には、層間絶縁膜(8)を貫通して不純物領域(7)を掘り込むようにコンタクトホール(9)が形成されている。例文帳に追加

An interlayer dielectric (8) is formed to cover impurity regions (7) on a Si substrate (1), and in the interlayer dielectric (8), contact holes (9) are formed to dig the impurity regions (7) by penetrating the interlayer dielectric (8). - 特許庁

第1層間絶縁膜17上に静電容量素子の下部電極21と第2層配線22とを同時に形成した後、第1層間絶縁膜17上に堆積した第2層間絶縁膜24に開口部34を形成する。例文帳に追加

After a lower electrode 21 of the electrostatic capacitor and second layer wiring 22 are formed at the same time on a first interlayer insulating film 17, an opening 34 is formed in a second interlayer insulating film 24 deposited on the first interlayer insulating film 17. - 特許庁

第2層間絶縁膜は、周縁領域においてチャネル領域(1a’)を斜め上方から包む側に基板の面に対して傾斜しており、上側層間絶縁膜及び第1層間絶縁膜よりも低い屈折率を持つ。例文帳に追加

The second interlayer insulating film inclines to a surface of the substrate on the side which wraps the channel area (1a') from a slanting upper part in the peripheral are and has a refractive index lower than those of the top interlayer insulating film and the first interlayer insulating film. - 特許庁

その後、第1層間絶縁膜12上に、たとえばCVD法で第2層間絶縁膜14の材料を堆積させることにより、オーバーハング形状部分を有していない第2層間絶縁膜14を得ることができる。例文帳に追加

After that, the material for a second interlayer insulating film 14 is deposited on a first interlayer insulating film 12 by a CVD method, for example, where the film 14 which has no overhung-shaped part can be obtained. - 特許庁

層間絶縁膜16はトランジスタ10Aが形成された基板11上に形成されており、この層間絶縁膜16上に層間絶縁膜17が形成されている。例文帳に追加

The interlayer insulating film 16 is formed on a substrate 11 in which the transistor 10A is formed, and the interlayer insulating film 17 is formed on the interlayer insulating film 16. - 特許庁

内蔵工程では、コンデンサ10上及び硬化状態の樹脂層間絶縁層81上に上層側の樹脂層間絶縁層を被覆することにより、コンデンサ10を樹脂層間絶縁層81内に埋め込む。例文帳に追加

The capacitor 10 is embedded in the resin interlayer insulating layer 81 by covering the capacitor 10 and the resin interlayer insulating layer 81 in the cured state with the upper layer side resin interlayer insulating layer, in the built-in process. - 特許庁

MTJ素子を覆って全面に層間絶縁膜16を形成した後、層間絶縁膜16を選択的に貫通させ、ハードマスク層15上の層間絶縁膜16の一部にビアホール17を形成する。例文帳に追加

After an interlayer insulating film 16 is formed over the whole surface of an MTJ element to cover the element, a via hole 17 is formed in part of the interlayer insulating film 16 on a hard mask layer 15 by making the hole 17 selectively pass through the film 16. - 特許庁

下層配線層108上に第一エッチングストッパ膜107、第一層間絶縁膜106、第二エッチングストッパ膜105、第二層間絶縁膜104、および第三層間絶縁膜103を積層する。例文帳に追加

A first etching stopper film 107, a first interlayer insulating film 106, a second etching stopper film 105, a second interlayer insulating film 104 and a third interlayer insulating film 103 are stacked on a lower wiring layer 108. - 特許庁

そして、少なくとも第2の層間絶縁層から第1の層間絶縁層内に達する溝が素子分離領域に対応する第1及び第2の層間絶縁層の領域に配されている。例文帳に追加

Then, a groove at least from the second inter-layer insulating layer into the first inter-layer insulating layer is disposed in the region of the first and second inter-layer insulating layers corresponding to the element isolation region. - 特許庁

層間絶縁膜101及びCu膜104を有する配線105上に層間絶縁膜107を形成し、層間絶縁膜107にビア109及びトレンチ108を形成し、Cu膜104を露出させる。例文帳に追加

An interlayer insulating film 107 is formed on the wiring 105 with the interlayer insulating film 101 and a Cu film 104, a via 109 and a trench 108 are formed to the interlayer insulating film 107, and the Cu film 104 is exposed. - 特許庁

層間絶縁膜13上に、まずホール形成のためのレジスト(図示せず)をパターニングし、それに従って層間絶縁膜132、ストッパ膜12、層間絶縁膜131を順にエッチングする。例文帳に追加

First, a resist (not shown) for forming a hole is patterned on an interlayer dielectric 13, and according to it the interlayer dielectric 132, a stopper film 12, and the interlayer dielectric 131 are sequentially etched. - 特許庁

TFTアレイ基板10上に層間絶縁膜12、41、42が形成されており、その上に分岐配線91y、層間絶縁膜43、分岐配線93y及び層間絶縁膜44がこの順で形成されている。例文帳に追加

Interlayer insulating films 12, 41, 42 are formed on a TFT array substrate 10, and a branched line 91y, an interlayer insulating film 43, a branched line 93y and an interlayer insulating film 44 are formed thereon, in this order. - 特許庁

全面に層間絶縁膜8を成膜し、層間絶縁膜8,5に開口する第1接続孔8a、層間絶縁膜8および導電性パターン6bに開口する第2接続孔8bを同時に形成する。例文帳に追加

Then an interlayer insulating film 8 is formed over the whole surface, and a first connecting hole 8a which is made through the interlayer insulating films 8 and 5 and a second connecting hole 8b, which is made through the interlayer insulting film 8 and conductive pattern 6b are formed simultaneously. - 特許庁

薬液などの液体が層間絶縁膜中に侵入することに起因する層間絶縁膜の劣化を抑制し、かつ、層間絶縁膜の劣化を所定のガス(気体)により回復させることが可能な半導体装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device in which deterioration of an interlayer insulation film due to intrusion of liquid such as chemical into the interlayer insulation film is suppressed, and deterioration of the interlayer insulation film can be recovered by predetermined gas. - 特許庁

層間絶縁膜を2層分けて形成させ、基板上の第1層間絶縁膜を薄くし、その第1層間絶縁膜に第1コンタクトホールを形成させて、その内面にバリア金属層を形成させる。例文帳に追加

An interlayer insulation film is formed, while it is divided into two layers, a first interlayer insulation film on a substrate is made thin, a first contact hole is formed on the first interlayer insulation film, and a barrier metal layer is formed on the inner surface. - 特許庁

層間絶縁膜2にコンタクトホール5を形成する際に、最初にフォトレジスト3と層間絶縁膜2とのエッチング選択比が低い条件で、層間絶縁膜2の途中まで異方性のドライエッチングを行う。例文帳に追加

When the contact holes 5 is formed on an inter-layer insulating film 2, first anisotropic dry etching is applied to the midway of the inter-layer insulating film 2, under the condition of the etching selection ratio between a photoresist 3 and the inter-layer insulating film 2 being low. - 特許庁

例文

また、第1層間絶縁膜3上に第2層間絶縁膜7が積層され、第3コンタクトプラグ8が第2層間絶縁膜7を挿通して第1コンタクトプラグ4及び中間層配線5に接続されている。例文帳に追加

In addition, a second interlayer insulating film 7 is laminated upon the insulating film 3 and third contact plugs 8 are connected to the contact plug 4 and intermediate wiring 5 through the film 7. - 特許庁

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