「電子回折」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

転位のバーガーズベクトルは、LACBED(大角度収束電子回折)によって決定できる。例文帳に追加

The Burgers vectors of dislocations can be determined by LACBED (large-angle convergent-beam diffraction).  - 科学技術論文動詞集

光学回折計は電子顕微鏡とほぼ同じように、注意深く調節および較正される必要がある。例文帳に追加

The optical diffractometer, much like the electron microscope, needs to be carefully aligned and calibrated.  - 科学技術論文動詞集

その後、劣化領域における電子後方散乱回折像を撮像する（ステップＳ１３）。例文帳に追加

Thereafter, the electron backscattering diffraction image in the deteriorated domain is imaged (step S13). - 特許庁

さらに、試料の観察領域における電子後方散乱回折像を撮像する（ステップＳ１４）。例文帳に追加

Then, the electron backscattering diffraction image in the observation domain of the sample is imaged (step S14). - 特許庁

試料上の各観察点において、電子回折図形Ｄ_ｘｙをＣＣＤカメラで撮像する。例文帳に追加

An electron diffraction figure D_xy is photographed by a CCD camera at each observation point on a sample. - 特許庁

試料上の各観察点において、電子回折図形Ｄ_ｘｙがＣＣＤカメラで撮像される。例文帳に追加

At each observing point on a sample, an electronic diffraction pattern D_xy is imaged by a CCD camera. - 特許庁

後方散乱電子回折（ＥＢＳＤ）パターンの磁場歪みを修正する方法が提供される。例文帳に追加

A method is provided for correcting magnetic field distortions in the electron backscatter diffraction (EBSD) pattern. - 特許庁

（ａ）電子回折図形上の所定範囲の像を、複数の部分像Ｓ_１〜Ｓ_４に分割する。例文帳に追加

(a) An image in a designated zone on the electron diffraction figure is divided into a plurality of partial images S_1-S_4. - 特許庁

収束電子回折法による局所領域の格子歪み測定方法及びその測定装置例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR LATTICE DISTORTION MEASUREMENT IN LOCAL REGION IN CONVERGENT ELECTRON DIFFRACTION METHOD - 特許庁

収束電子回折法による結晶軸比測定方法及び結晶軸比測定装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING CRYSTAL AXIS RATIO BY CONVERGENT BEAM ELECTRON DIFFRACTION METHOD - 特許庁

まず、電子回折図形上の所定範囲の像が、複数の部分像Ｓ_１〜Ｓ_３２に分割される。例文帳に追加

First, an image in a predetermined range on the electronic diffraction pattern is divided into a plurality of partial images S_1-S_32. - 特許庁

判定工程と解析工程とは、電子後方散乱回折像法を用いて行うことができる。例文帳に追加

The determination process and the analysis process can be performed by using an electronic back scattering diffraction image method. - 特許庁

２つの回折格子を光路中に直列に、かつ電子デバイスを構成するウエハ等と２つの回折格子とが所定の間隔を持って配置し、回折格子により生じた干渉縞の明暗パターンを、ウエハ等に露光する。例文帳に追加

Two diffraction gratings are arranged in an optical path in series and at a designated interval with a wafer etc., constituting the electronic device, and the wafer etc., is exposed to a light-dark pattern of interference fringes formed by the diffraction gratings. - 特許庁

電子線を照射した試料からの特性Ｘ線を回折格子により回折させてイメージセンサでスペクトルを採取するシステムにおいて、回折格子やイメージセンサに入射するＸ線の比率を大きくする。例文帳に追加

To increase a ratio of x rays made incident on a diffraction grating and an image sensor in a system for diffracting characteristic x-rays from a sample irradiated with an electron beam by the diffraction grating and sampling a spectrum by the image sensor. - 特許庁

このような構成をした光電子顕微鏡は、試料の実像だけでなく、電子回折像も観察することができる。例文帳に追加

In the photoelectric microscope thus configurated, not only a real image of a specimen but also an electron diffraction image can be observed. - 特許庁

試料の実像だけでなく、電子回折像も観察することができる光電子顕微鏡を提供すること。例文帳に追加

To provide a photoelectric microscope in which not only a real image of a specimen but also an electron diffraction image can be observed. - 特許庁

電子線回折像の観察領域を重複及び欠落なしに、見つけ出すことができる透過型電子顕微鏡装置を提供する。例文帳に追加

To provide a transmission electron microscope capable of finding an observation area of an electron beam diffraction image without overlapping and omission. - 特許庁

出射面は、電子源からの電子線が入射することにより、回折格子へ向かうＸ線を出射する。例文帳に追加

When an electron beam from the electron source is made incident, the emitting surfaces emit x-rays to the diffraction grating. - 特許庁

透過電子拡大像を観察している状態から電子回折像の観察への切換時には、安全機能が備えられている。例文帳に追加

A safety function is provided when the microscope is changed from the state of observation of transmission electron enlarged image into an observation of an electron diffraction image. - 特許庁

電子回折の理論、回折図形、電子(顕微鏡)写真のコントラストの解釈に関するセミナー(開催)へのニーズに応じるために、サマースクールが1963年7月ケンブリッジで開催された。例文帳に追加

In order to meet a need for a seminar on the theory of electron diffraction and the interpretation of diffraction patterns and contrast on electron micrographs, a Summer School was held in Cambridge in July 1963.  - 科学技術論文動詞集

取得した電子回折図形Ｄ_ｘｙ毎に次の処理が行われて、１つの電子回折図形Ｄ_ｘｙに対して１つの磁化分布像データＭ_ｘｙが求められる。例文帳に追加

The following processes are performed on each acquired electronic diffraction pattern D_xy to obtain each one piece of magnetization distribution image data M_xy for each electronic diffraction pattern D_xy. - 特許庁

取得した電子回折図形Ｄ_ｘｙ毎に以下の（ａ）〜（ｃ）の処理を行って、１つの電子回折図形Ｄ_ｘｙに対して１つの磁区構造画像データＭ_ｘｙを求める。例文帳に追加

One magnetic domain structural image data M_xy against one electron diffraction figure D_xy is calculated by performing the following (a)-(c) processing on each obtained electron diffraction figure D_xy. - 特許庁

異なるエネルギーに対して回折面の位置変化の小さいレンズを有する角度分解型電子分光測定を実現可能な回折面アパチャー透過エネルギー制御方式の角度分解型電子分光器を提供するにある。例文帳に追加

To provide an angle resolving electron spectroscope of a diffraction planar aperture transmissive energy control type, having a lens with a diffraction plane which has a small positional change with different energies for achieving angular resolution electron spectral measurement. - 特許庁

本発明は、走査透過像と電子線回折像を用いた結晶方位合せにおいて、走査透過像における試料の結晶配列方向と、電子線回折像の方向を一致させることに関する。例文帳に追加

A crystal arrangement direction of the sample in a scanning transmission image and a direction of an electron beam diffraction image are to be coincided with each other in crystal orientation direction alignment using the scanning transmission image and the electron beam diffraction image. - 特許庁

電子線装置に、電子線回折像観察用ＴＶカメラ１０によって取り込んだ回折像から格子面間隔を算出する電子線回折像解析部３、ＥＤＸ検出器９に接続され物質組成を求めるＥＤＸ分析部２、物質同定のための検索用データベースとデータベース検索機能を備えた物質同定部４を有する。例文帳に追加

An electron beam apparatus has an electron beam diffraction image analyzing part 3 for calculating lattice spacing based on a diffraction image taken in by a TV camera 10 for observing the electron beam diffraction image, an EDX analyzing part 2 connected to an EDX detector 9 to find a substance composition, and a substance identifying part 4 provided with a database for retrieval for identifying the substance and a database retrieving function. - 特許庁

電子線装置に、電子線回折像観察用ＴＶカメラ１０によって取り込んだ回折像から格子面間隔を算出する電子線回折像解析部３、ＥＤＸ検出器９に接続され物質組成を求めるＥＤＸ分析部２、物質同定のための検索用データベースとデータベース検索機能を備えた物質同定部４を有する。例文帳に追加

This system has an electron beam diffraction image analytical part 3 for calculating a lattice spacing from an electron beam diffraction image picked up by a TV camera 10 for observing the electron beam diffraction image, in an electron beam device, an EDX analytical part 2 connected to an EDX detector 9 to find a substance composition, and a substance identification part 4 provided with a database for retrieval for substance identification, and a database retrieval function. - 特許庁

ＥＶＦ（電子ビューファインダー）の接眼レンズに回折光学素子を適用するため、回折効率の高い設計波長を好適に設定する方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of appropriately setting designed wavelength having high diffraction efficiency, for applying a diffraction optical element to the eyepiece of an EVF (electronic view finder). - 特許庁

実験的に得られるX線回折データにMEM構造解析を適用することで詳細な電子密度分布を求め，これをもとに観測されていないX線回折データを予測することで静電ポテンシャルを求める。例文帳に追加

An electron density distribution is found by applying the MEM structural analysis to an X-ray diffraction data obtained experimentally, and an X-ray diffraction data not observed is predicted based thereon to find the electrostatic potential. - 特許庁

電子線を照射した試料からの特性Ｘ線を回折格子により回折させてイメージセンサでスペクトルを採取するシステムにおいて、幅広いエネルギー領域の測定を行う。例文帳に追加

To perform measurements on wide energy regions in the system which diffracts, with a diffraction grating, the characteristic X-ray from a sample irradiated with an electron beam and collects spectra with an image sensor. - 特許庁

電子写真感光体を始めとする円筒状の基体の上に形成された薄膜のＸ線回折を十分な強度で測定することができるＸ線回折装置を提供する。例文帳に追加

To provide an X-ray diffraction apparatus in which an X-ray diffraction of a thin film formed on a cylindrical basic body, including an electrophotographic photosensitive body, can be measured with sufficient intensity. - 特許庁

電子ビーム（ＥＢ）露光法により、回折格子部２内においてのみ、キャップ層１６に開口部１９を形成しながら回折格子層１５の表面に複数の溝状の凹部１７を形成する。例文帳に追加

While forming apertures 19 in a cap layer 16 only in a diffraction grating part 2 by an electron beam (EB) exposure method, a plurality of groove-like recesses 17 are formed in the surface of a diffraction grating layer 15. - 特許庁

Ｘ線撮像装置は、電子源とターゲットとを有するＸ線源と、Ｘ線源からのＸ線を回折する回折格子と、遮蔽格子からのＸ線を検出する検出器と、を備える。例文帳に追加

The x-ray imaging apparatus includes: an x-ray source having an electron source and a target; a diffraction grating for diffracting x-rays from the x-ray source; and a detector for detecting x-rays from a screen grid. - 特許庁

走査透過型電子顕微鏡１２を用い、収束した電子線を試料に入射させ、試料についての収束電子回折像を取得するステップと、取得された収束電子回折像に基づいて、試料における格子歪み量を算出するステップと、算出された格子歪み量を、試料の電子顕微鏡像に対応させて表示するステップとを有している。例文帳に追加

This method has a step for allowing focused electron beams to enter a sample and acquiring a convergent electron diffraction image on the sample by using a scanning transmission electron microscope 12, a step for calculating the lattice strain quantity in the sample based on the acquired convergent electron diffraction image, and a step for displaying the calculated lattice strain quantity corresponding to an electron microscope image of the sample. - 特許庁

走査透過型電子顕微鏡像をデジタル化しコンピュータに取り込み、デジタル２次元フーリエ変換をすることによって回折パターンを形成し、回折パターン中の一又は複数の回折スポット位置を求め、理想的な結晶構造の場合の回折点の位置と比較することで、結晶格子の歪みを検出する。例文帳に追加

Scanning transmission type electronography is digitalized to be taken in a computer and subjected to digital two-dimensional Fourier transform to form a diffraction pattern and one or a plurality of diffraction spot positions in the diffraction pattern are calculated to be compared with the position of a diffraction point in the case of an ideal crystal structure to detect the strain of a crystal lattice. - 特許庁

大きな結晶からの反射電子回折図形中でのフリーデル則の破れの観察が、三宅と上田によって(1950年に)報告された。例文帳に追加

Observations of the failure of Friedel's law in reflection electron diffraction patterns from large crystals were reported by Miyake and Ueda (1950).  - 科学技術論文動詞集

1928年、ベーテは反射の場合(ブラッグケース)についての高エネルギー電子回折の問題を解くために「ブロッホ波」を使うことを記述した。例文帳に追加

In 1928, Bethe described the use of Bloch waves to solve the high-energy electron diffraction problem for the reflection case.  - 科学技術論文動詞集

暗視野法では、対物絞りが移動され、像が入射電子ビームではなく適切な回折ビームで形成されるようにされる。例文帳に追加

In the dark-field method, the objective aperture is displaced so that the image is formed not by the incident electron beam but by an appropriate diffracted beam.  - 科学技術論文動詞集

収束電子回折(用の)カメラは、1937年、メーレンシュテットにより、45kVでの稼動に対して(45kVの加速電圧での稼動条件で使えるように)設計された。例文帳に追加

A convergent-beam diffraction camera was designed by Moellenstedt in 1937 for operation at 45 kV.  - 科学技術論文動詞集

その図に示すゼロロスフィルタ(ゼロロス電子を通した)回折図形は、明るい(余分の強度をもつ)菊池ライン(のコントラスト)を強める。例文帳に追加

The zero-loss filtered diffraction pattern shown in the figure enhances the excess Kikuchi lines.  - 科学技術論文動詞集

収差ディスクは個々の回折電子ビームに属し、これらのディスクの幅がディローカライゼーション(非局在化)効果をもたらす。例文帳に追加

The aberration discs belong to individual diffracted electron beams and the width of these discs causes the delocalization effect.  - 科学技術論文動詞集

中心対称のない結晶によって作られる中心対称のある(電子回折)図形は、11個のラウエ群に属する。例文帳に追加

Centric patterns produced by acentric crystals belong to the eleven Laue classes.  - 科学技術論文動詞集

回折斑点はディスクに広がる; なぜなら、CBED図形は試料に集束された電子プローブで形成されるからである。例文帳に追加

Diffraction spots broaden out into discs because CBED patterns are formed with the electron probe focused onto the specimen.  - 科学技術論文動詞集

電子回折図形は、結晶の位相と方位的な関係に関する定量的な構造情報を得るために利用される。例文帳に追加

Electron diffraction patterns are used to obtain quantitative structure information about crystal phases and orientational relationships.  - 科学技術論文動詞集

回折線から失われる強度は散漫なバックグラウンド強度として現れ、そして入射電子はkTのオーダーのエネルギーを増すかまたは失う。例文帳に追加

The intensity lost from diffracted rays appears as diffuse background intensity, and the incident electrons can gain or lose energy of the order of kT.  - 科学技術論文動詞集

英国の物理学者（ジョセフ・ジョン・トムソンの息子）で、結晶による電子の回折の共同発見者（1892年−1975年）例文帳に追加

English physicist (son of Joseph John Thomson) who was a co-discoverer of the diffraction of electrons by crystals (1892-1975 )  - 日本語WordNet