「電流テスト」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

メモリのテスト時の消費電流を抑え、メモリテスト時の周波数を高速化する。例文帳に追加

To suppress consumption current in a memory test and increase the frequency during the memory test. - 特許庁

スタンバイ電流テストにおけるテスト時間を大幅に短縮し、かつ高精度に不良を検出する。例文帳に追加

To significantly shorten the test time required for a standby current test and to detect failure with precision. - 特許庁

ハードディスク電流のテストシステム及びそのアダプターボード例文帳に追加

HARD DISK CURRENT TEST SYSTEM AND ADAPTER BOARD THEREFOR - 特許庁

ストレス印加テスト時の消費電流の増大を抑制する。例文帳に追加

To reduce an increase in current consumption during a stress test. - 特許庁

スキャンテスト時に瞬間的に流れる大電流を大幅に低減する。例文帳に追加

To reduce greatly a heavy current flowing momentarily at a scan test time. - 特許庁

増幅部のテストおよび受光素子間のリーク電流のテストを行う、チップサイズの小さいテスト回路を提供する。例文帳に追加

To provide a test circuit which performs a test of an amplifier part and a test of a leak current between light receiving elements, of which the chip size is small. - 特許庁

そして、２つのテストパッド間を接続する配線を切断することで、該２つのテストパッドを電流測定用テストパッドとして利用する。例文帳に追加

The two test pads are used as test pads for measuring current, by cutting wiring for connecting the two test pads. - 特許庁

スクリーニングテスト前のスタンバイテストで、各テストポイントでの消費電流を測定し、それら消費電流値が第１の消費電流しきい値よりも大きい場合には、その半導体装置を不良とする。例文帳に追加

In a standby test before a screening test, a consumption current is measured at each test point, and when the consumption current value exceeds a first consumption current threshold, the semiconductor device is regarded as faulty. - 特許庁

テストモードにおいて、電流切換回路１２０および１３０は、アクセス電流Ｉａｃおよび基準電流Ｉｒに代えて、同一のテスト電流ＩｔをノードＮｃおよびＮｄへ流す。例文帳に追加

In a test mode, current switching circuits 120 and 130 makes the same test current It flow in the nodes Nc and Nd in stead of the access current Iac and the reference current Ir. - 特許庁

過電流保護回路、過電流保護回路を備える半導体装置及び過電流保護回路の動作テストの方法例文帳に追加

EXCESS CURRENT PROTECTION CIRCUIT, SEMICONDUCTOR DEVICE COMPRISING THE SAME, AND METHOD FOR OPERATION TEST THEREOF - 特許庁

電流検出回路１９ａはテスト用のデータ電流Ｖｄａｔａに対する駆動電流を検出できる。例文帳に追加

The current detection circuit 19a can detect the driving current to the data current Vdata for test. - 特許庁

次に、スクリーニングテスト後のスタンバイテストでは、各テストポイントで測定した消費電流とスクリーニングテスト前に測定した消費電流との差分を算出し、それらが第２の消費電流しきい値よりも大きい半導体装置を不良品とする。例文帳に追加

In a standby test after the screening test, as a result of the calculation of the difference between the consumption current measured at each test point and the consumption current measured before the screening test, the semiconductor device of which the difference exceeds a second consumption current threshold is regarded as faulty. - 特許庁

また、他の発明は、テストモードが活性化し、半導体メモリ装置のスタンバイ状態時、前記半導体メモリ装置の動作時の動作電流と同一の電流量を有する漏れ電流を発生させるテスト回路を含む。例文帳に追加

In another aspect, the semiconductor memory device includes a test circuit for generating leakage current having the amount of current equal to that of operation current during the operation of the semiconductor memory device when a test mode is activated and the semiconductor memory device is in a standby state. - 特許庁

テストモード時には、電源ノード４３ａ，４３ｂに対しては、電流スイッチ１０２ａ，１０２ｂによって電源電圧Ｖｃｃからの電流供給が停止される一方で、外部から調整可能なテスト電流Ｉｔが供給される。例文帳に追加

In a test mode, the current supply from a power supply voltage Vcc to the power source nodes 43a and 43b is stopped by current switches 102a and 102b and an externally adjustable test current is supplied. - 特許庁

Ｄ／Ａコンバータ１００でテストモードに設定し、テスト用の電流スイッチ５０が最下位の定電流源１０−１の電流スイッチ２０−１と連動してオン、オフする。例文帳に追加

A test mode is set in this D/A converter 100 and a current switch 50 for a test is turned ON and OFF in linkage with the current switch 20-1 of the constant current source 10-1 of a lowest order. - 特許庁

半導体集積回路装置（ＬＳＩ）のテストシステムにおいて、ＬＳＩテスト時の消費電流を低減することができる技術を提供する。例文帳に追加

To provide a technology capable of reducing consumption of electric power, at the testing of semiconductor integrated circuit devices (LSIs), in a testing system for LSI. - 特許庁

容易かつ迅速に電流測定を行うことができるテストプラグ用短絡具及びテストプラグの短絡構造を提供すること。例文帳に追加

To provide a short-circuit tool for a test plug capable of easily and rapidly measuring a current, and to provide a short-circuit structure for the test plug. - 特許庁

複数の良品サンプルについて、複数のテストベクタを切り換えながら、テストベクタごとの静的電源電流（ＩＤＤＱ）を測定する（Ｓ１０２）。例文帳に追加

Regarding the plurality of good samples, static power supply current (IDDQ) for each test vector is measured while a plurality of test vectors are switched over (S102). - 特許庁

機能テストにおいて検出できなかった故障が静止電源電流テストによってどれだけ検出されるかを容易に判定可能とする。例文帳に追加

To easily decide how many failures which can not be detected in a functional test are detected by a stationary power current test. - 特許庁

被テスト回路の可変電圧と入力電圧のレベルを可変して、テスト時の誤動作をなくして電流を測定し、故障を検出する。例文帳に追加

To measure a current by removing a malfunction during a test, while changing each level of a variable voltage and an input voltage of a circuit to be tested, and to thereby detect a failure. - 特許庁

したがって、テスト終了後にテスト電圧パッドを切断しても、昇圧回路にリーク電流が流れなくなる。例文帳に追加

Therefore, a leak current is not made to flow in a boosting circuit even if a test voltage pad is cut off after finish of a test. - 特許庁

制御部１４からの制御信号により、スイッチング素子２８がオン状態になると、テスト用電源２７から零相変流器２４の一次側にテスト電流を流すためのテストライン２６にテスト電流が供給される。例文帳に追加

When a switching element 28 is put into an ON state by a control signal from a control section 14, test current is supplied to the test line 26 for making the test current flow from a power supply 27 for test to the primary side of the zero-phase current transformer 24. - 特許庁

テスト回路１４は、テストスイッチ１５が閉極するとテスト電流を流し、漏電検出回路７が信号を出力していない場合には所定の時間経過後にテスト電流を停止させ、漏電検出回路７が信号を出力している場合には所定の時間が経過する前にテスト電流を停止させる。例文帳に追加

The test circuit 14 flows test current when a test switch 15 closes, stops the test current after elapse of a given time in case the leak detection circuit 7 does not output signals, and stops the test current before elapse of the given time in case the leak detection circuit 7 keeps on outputting signals. - 特許庁

テスト回路が不要な過電流保護回路を有するボルテージレギュレータを提供すること。例文帳に追加

To provide a voltage regulator having an overcurrent protection circuit for which a test circuit is not required. - 特許庁

そして、半導体装置に対する過電流検出結果をテスト装備に出力する。例文帳に追加

Then, the overcurrent detection result of the semiconductor device is outputted to testing equipment. - 特許庁

ウエハテストの工程で過電流検出機能の良否判定を可能にする。例文帳に追加

To enable decision on quality of an overcurrent detection function in a wafer test process. - 特許庁

また、テスト時に複数のビット線のうちの１本に第２のデータ書込電流を供給する。例文帳に追加

Also, A second data write current is supplied to one of a plurality of bit lines during the test time. - 特許庁

構造が簡単なプローブカードを用いて、大電流を必要とすることなくバーンインテストを行なう。例文帳に追加

To execute burn-in test using a simple-structured probe card without requiring a high current. - 特許庁

各画素行には、テストトランジスタ１４５からの電圧または電流が印加される。例文帳に追加

A voltage or current from the test transistor 145 is applied to each pixel row. - 特許庁

外部からのテストベクタに対する制御信号の変化を解析して、リーク電流を見積もる。例文帳に追加

The system estimates the leakage current by analyzing variations in a control signal against an external test vector. - 特許庁

コンピュータから電池パックに試験電流を測定するためのテスト・コマンドを送る。例文帳に追加

A test command for measuring test currents is transmitted from a computer to a battery pack. - 特許庁

これにより、電流消耗量の増加無しに半導体メモリ装置のテスト時間を短縮しうる。例文帳に追加

Thereby, a test time of the semiconductor memory can be shortened without increasing quantity of current consumption. - 特許庁

スキャンパステストを行うときに回路内を流れる電流の増加を抑制する。例文帳に追加

To suppress an increase of an electric current flowing through a circuit when the scan path test is implemented. - 特許庁

テスタは、モニタ信号Ｍに基づいてスタンバイ電流テストの判定を行う。例文帳に追加

A tester judges the standby current test based on the monitor signal M. - 特許庁

テスト実行制御部２３１は、ライト電流値を変化させて同様の処理を繰り返す。例文帳に追加

The test execution control section 231 repeats same processing by changing the write current value. - 特許庁

低電流によるプローブテストにより高精度の大電流特性を得ることのできる半導体装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device in which large current characteristic of high precision can be obtained by a probe test using a low current. - 特許庁

各電流供給回路は、テスト時にデータ書込時よりも少ないデータ書込電流を供給する。例文帳に追加

Respective current supply circuits supply data write current being less than the current during data writing at the test time. - 特許庁

特殊なテスト設備を要せず、メイン電流の過電流保護値が正常範囲に収まっているか判定する。例文帳に追加

To decide whether an over current protection value of a main current is within a normal range without a special test facility. - 特許庁

テストモードの間に、検出回路は、電流検知抵抗を流れる電流が予想範囲外にあるか否かを検出する。例文帳に追加

During the test mode, the detection circuits detect whether or not the current running through the current detecting resistors is outside an expected range. - 特許庁

したがって、メモリ３０のスタンバイリーク電流にテスト回路２４の消費電流が含まれることはない。例文帳に追加

Therefore, current consumption of the test circuit 24 is included in a standby leak current of the memory 30. - 特許庁

テスト回路が、第１の検出抵抗器を流れる第１の電流および第２の検出抵抗器を流れる第２の電流を検出するように接続され、第１の電流と第２の電流との間の関係に応答してテスト信号を生成する。例文帳に追加

A test circuit is coupled to sense a first current flowing through the first sense resistor and a second current flowing through the second sense resistor and to generate a test signal responsively to a relation between the first and second currents. - 特許庁

変流器に、過電流検知用の第１のコイルの他、過電流検出回路の動作テストを行うための第２のコイルを設け、過電流検出回路の動作テストを行うとき、該第２のコイルにテスト電流を通電して該第１のコイルに起電力を誘起させ、該起電力に基づき過電流検出回路を動作させる構成とする。例文帳に追加

The electronic circuit breaker is structured such that a second coil for executing an operation test of the overcurrent detection circuit is arranged in a current transformer in addition to a first coil for overcurrent detection; and, when the operation test of the overcurrent detection circuit is executed, a test current is carried to the second coil to induce electromotive force in the first coil, and the overcurrent detection circuit is operated based on the electromotive force. - 特許庁

テストヘッド２２側に電流制限回路２３、２４を設け、少なくとも試験電源装置の電流機構が機能するまでの間、電流制限回路２３、２４で短絡時の過大な電流を制限する。例文帳に追加

Current limiting circuits 23, 24 are arranged on the side of a test head 22, and an excessive current which flows when a short circuit occurs is limited by the limiting circuits 23, 24, at least in an interval up to when the current mechanism of a test power supply device starts to function. - 特許庁

したがって、最下位の電流スイッチ２０−１のオン時（すなわち奇数時）には、定電流源１０−１とテスト用の定電流源４０が合成され、電流スイッチ５０を介して出力される。例文帳に追加

Thus, when the current switch 20-1 of the lowest order is ON (that is at the time of an odd number), the constant current source 10-1 and the constant current source 40 for the test are synthesized and output is performed through the current switch 50. - 特許庁

本発明に係るハードディスク電流のテストシステムは、ハードディスク、アダプターボード、テスト装置、第一ケーブル、第二ケーブル及び２つのクリップオン電流計を備える。例文帳に追加

A hard disk current test system includes a hard disk, an adapter board, a test device, a first cable, a second cable, and two clip-on ammeters. - 特許庁