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BL2を含む例文一覧と使い方
該当件数 : 96件
A circuit cell 10 receiving the power supply from the branch line groups BL2 is arranged along the branch line groups BL2.例文帳に追加
分岐線群BL2から電源供給を受ける回路セル10は、分岐線群10に沿って配置される。 - 特許庁
Namely, in the test mode, the odd-numbered bit line pair BL1, BL1B and the even-numbered bit line pair BL2, BL2B are made to differ in sensing point of time.例文帳に追加
すなわち、テストモード時は、奇数番目ビットライン対BL1,BL1Bと偶数番目ビットライン対BL2,BL2Bとでセンシング時点を変える。 - 特許庁
In the test mode, when the odd-numbered sensing pair have been sufficiently sensed, the sensing of the even-numbered bit line pair BL2, BL2B are performed.例文帳に追加
テストモード時は、奇数番目ビットライン対BL1,BL1Bが充分にセンシングされた時点で偶数番目ビットライン対BL2,BL2Bのセンシングが行われる。 - 特許庁
Thereby, the pair of bit lines (BL0, the inverse of BL0) and the pair of bit lines (BL2, the inverse of BL2) can behave as though it is a shielding wire.例文帳に追加
このことによって、ビット線対(BL0、/BL0)および(BL2、/BL2)をあたかもシールド線のように振る舞わせることができる。 - 特許庁
At the time of reading out M data, potential difference in which amplitude is inverse between the pairs of bit lines BL1, /BL1 and BL2, /BL2 is generated, and M data is detected.例文帳に追加
Mデータの読み出し時に、ビット線対BL1,/BL1およびBL2,/BL2間で高低が逆の電位差を発生させて、Mデータを検知する。 - 特許庁
Bit lines BL1 and BL2 constitute the same pair of bit lines, and the bit line BL2 acts as a complementary line /BL1 for the bit line BL1 at the time of data reading.例文帳に追加
ビット線BL1およびBL2は同一のビット線対を構成し、ビット線BL2はデータ読出時において、ビット線BL1の相補線/BL1として動作する。 - 特許庁
A second bit line BL2 is selectively and electrically connected to the other end of the first cell group.例文帳に追加
第2ビット線BL2は、第1セル群の他端と選択的に電気的に接続される。 - 特許庁
That is to say, potentials of the pair of bit lines (BL0, the inverse of BL0) and the pair of bit lines (BL2, the inverse of BL2) are maintained, until the data is read out from and written to the input/output part from a precharged state.例文帳に追加
つまり、ビット線対(BL0、/BL0)および(BL2、/BL2)の電位を、プリチャージされた状態から入出力部へのデータの読み出しおよび書き込みが行なわれるまで維持する。 - 特許庁
The gate of the transistor TR2 is connected to the word line WL1, and its third source/drain to a bit line BL2.例文帳に追加
TR2は、ゲートをワード線WL1に、第3ソース・ドレインをビット線BL2に接続される。 - 特許庁
The other end of the TMR element 12 is connected respectively and independently to read/write bit lines BL1, BL2, BL3, BL4.例文帳に追加
TMR素子12の他端は、それぞれ独立に読み出し/書き込みビット線BL1,BL2,BL3,BL4に接続される。 - 特許庁
An MRAM cell array includes a memory cell group 200 and a reference cell, connected to the same bit line BL2.例文帳に追加
MRAMセルアレイは、同じビット線BL2に接続されたメモリセルグループ200と参照セルとを含む。 - 特許庁
When data is read out from and written to an input/output part, a pair of bit lines (BL0, the inverse of BL0) and a pair of bit lines (BL2, the inverse of BL2) which are adjacent to both sides of a pair of selected bit lines are set to an equipotential state.例文帳に追加
入出力部へのデータの読み出しおよび書き込みの際に、選択されたビット線対の両側に隣接するビット線対(BL0、/BL0)および(BL2、/BL2)を等電位の状態にする。 - 特許庁
The side surface 13b of the protruding part 13a and the source/drain regions BL1 and BL2 are covered with a tunnel insulating film 15a.例文帳に追加
凸部13aの側面13bとソース・ドレイン領域BL1, BL2とをトンネル絶縁膜15aが覆う。 - 特許庁
Bit lines BL1, BL2, BL3, BL4 are connected respectively to memory cells C11-C14, C21-C24, C31-C34, C41-C44.例文帳に追加
ビット線BL1,BL2,BL3,BL4はメモリセルC11〜C14,C21〜C24,C31〜C34,C41〜C44にそれぞれ接続されている。 - 特許庁
The light source apparatus is provided with lamp light sources BL1, BL2 and BL3 respectively illuminating a plurality of display regions into which a screen of a display panel is divided and a backlight driving circuit LD driving the lamp light sources BL1, BL2 and BL3.例文帳に追加
光源装置は表示パネルの画面を区分した複数の表示領域をそれぞれ照明するランプ光源BL1,BL2,BL3と、ランプ光源BL1,BL2,BL3を駆動するバックライト駆動回路LDとを備える。 - 特許庁
Complementary bit lines /BL1, /BL2 or BL1, BL2, to which a memory cell is not connected, are selected en bloc according to the bit line short circuit signals BRS0, BRS1, fixed to pre-charge voltage VPR, and sealing of a write-in noise is conducted.例文帳に追加
ビット線ショート信号BRS0、BRS1に応じてメモリセルが接続されない相補ビット線/BL1、/BL2、あるいはBL1、BL2を一括選択してプリチャージ電圧VPRに固定して書き込みノイズのシールド行う。 - 特許庁
An endoscope device 10 is provided with a lamp 36, a motor 38, an LED driving circuit 40, brushes BL1 and BL2 in its inside.例文帳に追加
電子内視鏡装置10内にランプ36、モータ38、LED駆動回路40、ブラシBL1、BL2を設ける。 - 特許庁
A capacitor C1 is constructed between the power source Vdd and the power source Vss with the branching lines BL1 and BL2 arranged facing.例文帳に追加
支線BL1と支線BL2とが対向して、電源Vddと電源Vssとの間に容量C1を構成する。 - 特許庁
A pair of source-drain areas BL1, BL2 and BL3 are formed on the surface of a semiconductor substrate pinching the projected part 13a.例文帳に追加
凸部13aを挟む半導体基板の表面に一対のソース・ドレイン領域BL1, BL2, BL3を形成する。 - 特許庁
At this point, column latches G3, G4 are separated from the bit line BL2 being not latched by a transfer gate TG2.例文帳に追加
このとき、カラムラッチG3、G4とリセットされていないビット線BL2とはトランスファーゲートTG2により分離されている。 - 特許庁
A capacitor C22 of a node N22 connected to the bit line /BL2 is smaller than a capacitor C21 of a node N21 connected to the bit line BL2, a capacitor C12 of a node N12 connected to the bit line /BL1 is larger than a capacitor C11 of a node N11 connected to the bit line BL1.例文帳に追加
ビット線/BL2につながるノードN22の容量C22はビット線BL2につながるノードN21の容量C21よりも小さく、かつ、ビット線/BL1につながるノードN12の容量C12はビット線BL1につながるノードN11の容量C11よりも大きい。 - 特許庁
Next, the bit line BL2 is pre-charged in accordance with data of the column latches G3, G4, and verify-voltage is applied to a word line WL.例文帳に追加
次に、カラムラッチG3、G4のデータに応じてビット線BL2をプリチャージし、ワード線WLにベリファイ電圧を印加する。 - 特許庁
Two bit lines BL1, BL2 are connected to a ground potential line GND through third transistors S13, S23 respectively.例文帳に追加
2つのビット線BL1,BL2が、ぞれぞれ第3トランジスタS13,S23を介して接地電位線GNDに接続されている。 - 特許庁
A tunnel insulation film is provided in a manner to cover the side surface 13c of the projected part 13a and the source-drain areas BL1, BL2 and BL3.例文帳に追加
凸部13aの側面13cとソース・ドレイン領域BL1, BL2, BL3とを覆うようにトンネル絶縁膜を設ける。 - 特許庁
A pair of n-type source/drain regions BL1 and BL2 are formed on a semiconductor substrate 12 sandwiching the protruding part 13b.例文帳に追加
n型の一対のソース・ドレイン領域BL1, BL2が、凸部13bを挟む半導体基板12の表面に形成されている。 - 特許庁
In a selection period t0, pixel data (1)(+) are applied to pixels A, C, and BL1 and black data (-) are applied to pixels B, BL2, and BL4.例文帳に追加
選択期間t0において、画素A,C,BL1に画素データ▲1▼(+)、及び画素B,BL2,BL4に黒データ(−)が印加される。 - 特許庁
Sense amplifiers SA1, SA2, SA3, SA4 in units connected to the bit lines BL1, BL2, BL3, BL4 switches successively a plurality of units synchronizing with a clock pulse and is started.例文帳に追加
ビット線BL1,BL2,BL3,BL4に接続されたユニット内のセンスアンプSA1,SA2,SA3,SA4が、クロックパルスに同期して複数のユニットを順次切り替えて起動する。 - 特許庁
Two bit lines BL1 and BL2 of the SRAM cell are respectively set to a low voltage state (Low) and a high voltage state (High).例文帳に追加
SRAMセルの2本のビット線BL1,BL2をそれぞれ低電圧状態(Low)、高電圧状態(High)にする。 - 特許庁
A sense amplifier 140 compares a potential of the bit line BL1 with a potential of the BL2, amplifies the higher potential to Vcc and amplifies the lower potential to zero volt.例文帳に追加
センスアンプ140は、ビット線BL1,BL2の電位を比較して、高い方をVccに増幅し且つ低い方を零ボルトに増幅する。 - 特許庁
Thereby, a non-selection bit line (e.g. BL2) can be fixed to a ground potential while separating it from a non-selection cell (cell 2) in a memory block.例文帳に追加
これにより、非選択ビット線(たとえば、BL2)を、メモリブロック内の非選択セル(セル2)と切り離しながら接地電位で固定できる。 - 特許庁
The read/write bit lines BL1, BL2, BL3, BL4 are extended in the direction of Y, and connected to a read circuit 29 through the column selection switch 29C.例文帳に追加
読み出し/書き込みビット線BL1,BL2,BL3,BL4は、Y方向に延び、カラム選択スイッチ29Cを経由して、読み出し回路29Bに接続される。 - 特許庁
An erase voltage for erasing the accumulated charges in the floating gate (FG) is applied between the control gate (CG) and the regions (BL1, BL2) and an erase current is allowed to flow toward the control gate (CG) or the regions (BL1, BL2), thereby erasing the accumulated charges.例文帳に追加
コントロールゲート(CG)と、ソース・ドレイン領域(BL1、BL2)との間に、フローティングゲート(FG)中の蓄積電荷を消去するための消去電圧を印加して、コントロールゲート(CG)またはソース・ドレイン領域(BL1、BL2)に向けて消去電流を流して、蓄積電荷を消去する。 - 特許庁
This device is provided with a memory cell 1 holding ternary data of H, M, L, sense amplifiers 18a, 18b, a pair of bit line BL, /BL, sense amplifier side bit lines BL1, BL2 being nodes for holding data, sense amplifier side bit lines /BL1, /BL2 being nodes for referring, and transfer gates 16, 17, 19.例文帳に追加
H,M,Lの3値データを保持できるメモリセル1と、センスアンプ18a,18bと、ビット線対BL,/BLと、データ保持用ノードとなるセンスアンプ側ビット線BL1,BL2と、参照用ノードとなるセンスアンプ側ビット線/BL1,/BL2と、各トランスファーゲート16,17,19とを備えている。 - 特許庁
The laminate structure DMM does not overlap with both of a pair of the adjoining second wiring BL2 in the peripheral circuit region, in top view.例文帳に追加
積層構造DMMは、周辺回路領域にて平面視において隣接する1対の第2の配線BL2の両方と重ならない。 - 特許庁
Potentials in accordance with polarization are read out at bit lines BL1, BL2 by turning on transistors 111, 121 and turning a plate line voltage to Vcc.例文帳に追加
トランジスタ111,121をオンさせてプレート線PLをVccにすることにより、分極に応じた電位がット線BL1,BL2に読み出される。 - 特許庁
Template areas Ret1, Ret2, and Ret3 in functional blocks BL1, BL2, and BL3 presents sizes of clock trees CT1, CT2, and CT3.例文帳に追加
各機能ブロックBL1,BL2,BL3内におけるテンプレート領域Ret1,Ret2,Ret3は、クロック木CT1,CT2,CT3の大きさをそれぞれ表している。 - 特許庁
The first bit line group consists of a plurality of bit lines BL0, BL2, BL4 and BL6 extending in the second direction orthogonal to the first direction.例文帳に追加
第1のビット線群は、第1の方向と直交する第2の方向に延びる複数のビット線BL0、BL2、BL4、BL6よりなる。 - 特許庁
Sense amplifiers 17, 18 are arranged respectively between a bit line BL1 of a memory cell block in which memory cells 29 are arranged and adjacent bit lines BL0, BL2.例文帳に追加
メモリセル29を配置したメモリセルブロックのビット線BL1と、隣接ブロックのビット線BL0,BL2との間に、それぞれセンスアンプ17,18を介設する。 - 特許庁
The discharge side of the deodorizing device 30 is provided with an auxiliary suction blower BL2 in such a manner that the inside of the exhaust system holds negative pressure to atm. pressure.例文帳に追加
この排気系統の内部を、大気圧に対し負圧に保たれるように、脱臭装置30の排出側に、補助吸引ブロワーBL2を設ける。 - 特許庁
A current IBL2 flowing in a bit line BL2 generates a scattered magnetic field in a MTJ memory cell I3 in an intersection part of a bit line BL3 and a word line WL1.例文帳に追加
ビット線BL2を流れる電流I_BL2 は、ビット線BL3とワード線WL1との交差部にあるMTJメモリセルl_3 に散乱磁場を発生させる。 - 特許庁
At the time, reference voltage VGEN is separated from the main reference bit line/BL0, other reference bit lines /BL1, /BL2, /BL3 are connected to the main reference bit line in parallel.例文帳に追加
その際、基準電圧VGENを主参照ビット線/BL0から分離し、別の参照ビット線/BL1,/BL2,/BL3を主参照ビット線に対し並列に接続する。 - 特許庁
An interlayer insulation layer is formed over the entire plane, after the trench region is formed, and the bit lines BL1', BL2' are formed side by side on the interlayer insulation layer.例文帳に追加
トレンチ領域が形成された後全面に層間絶縁層を形成し、層間絶縁層上に複数のビットラインBL1’、BL2’を並ぶように形成する。 - 特許庁
Delay generation circuits 21, 22 are constituted of delay elements having the supply voltage dependency and temperature dependency the same as those of the components of their corresponding circuit blocks BL1, BL2.例文帳に追加
遅延発生回路21,22は、対応する回路ブロックBL1,BL2の構成素子と同じ電源電圧依存性と温度依存性とを持つ遅延素子で構成される。 - 特許庁
When data of a memory cell MC are read to a bit line (a selecting bit line) BL1, a reference potential is supplied to a bit line (a reference bit line) BL2 from the cell DC.例文帳に追加
メモリセルMCのデータがビット線(選択ビット線)BL1に読み出されるとき、ビット線(参照ビット線)BL2には、ダミーセルDCから参照電位が供給される。 - 特許庁
This coupling is carried out by bonding wires BL1 formed in the surface of the wiring board 25 and bonding wires BL2 formed inside the wiring board 25.例文帳に追加
この接続を、配線基板25の表面に形成されているボンディング配線BL1と、配線基板25の内部に形成されているボンディング配線BL2により実施する。 - 特許庁
While the data is output in such a manner, a next reading operation may be started by precharging the potential of the bit line BL2 of the top block array.例文帳に追加
このようにしてデータを出力している間に、トップアレイブロックのビット線BL2の電位のプリジャージを行って、次の読み出し動作を開始することも可能である。 - 特許庁
And a write-in signal is inputted to a pair of bit lines(BL2, XBL2) of a cell MC12 to be written from a write-in circuit WC2 in this parallel connection.例文帳に追加
そして、この並列接続が行われた状態で、書き込み対象セルMC12のビット線対(BL2,XBL2)に対し書き込み回路WC2から書き込み信号が入力される。 - 特許庁
When a memory cell MC12 is read out, a discharge transistor selecting circuit 47 discharges selectively a bit line BL2 connected to the memory cell MC12 and two bit lines BL0, BL1 being adjacent to it.例文帳に追加
放電トランジスタ選択回路47は、メモリセルMC12を読み出す際に、メモリセルMC12に接続されたビット線BL2とそれに隣接する2本のビット線BL0,BL1とを選択的に放電する。 - 特許庁
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