「Burn-In」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

TEMPERATURE CONTROL DEVICE AND BURN-IN TESTING DEVICE例文帳に追加

温度制御装置、並びに、バーンイン試験装置 - 特許庁

STRUCTURE AND METHOD FOR PACKAGE BURN-IN TEST例文帳に追加

パッケージ・バーンイン試験用の構造及び方法 - 特許庁

STRUCTURE AND METHOD FOR PACKAGE BURN-IN TESTING例文帳に追加

パッケージ・バーンイン試験用の構造及び方法 - 特許庁

In burn-in test mode, the charge pump circuits 2, 3, 5, 6, 7, and 8 are stopped from being driven with a burn-in mode signal.例文帳に追加

バーンインテスト時にバーンインモード信号によりチャージポンプ回路２，３，５，６，７，８の駆動を停止させる。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE WITH BUILT-IN BURN-IN CIRCUIT AND TEST METHOD THEREOF例文帳に追加

バーンイン回路内蔵半導体装置およびテスト方法 - 特許庁

An infrared sensor 1b is provided in a burn-in vessel 1.例文帳に追加

バーンイン槽１内に赤外線センサ１ｂを設ける。 - 特許庁

To prevent image burn-in in a liquid crystal panel.例文帳に追加

液晶パネルにおける画像の焼き付きを防止すること。 - 特許庁

BURN-IN METHOD FOR INTEGRATED SEMICONDUCTOR LASER DEVICE例文帳に追加

集積型半導体レーザ装置のバーイン方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE EQUIPPED WITH BURN-IN STRESS CIRCUIT, AND METHOD FOR APPLYING BURN-IN STRESS TO THE SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

バーンインストレス回路を備えた半導体装置および半導体装置へのバーンインストレス印加方法 - 特許庁

BURN-IN TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のバーンイン試験方法 - 特許庁

BURN-IN METHOD FOR BARE CHIP AND SUBSTRATE THEREFOR例文帳に追加

ベアチップのバーンイン方法およびバーンイン用基板 - 特許庁

To provide a burn-in test method and a burn-in test device that conduct a stable burn-in test with high reliability.例文帳に追加

安定した信頼性の高いバーンイン試験を実施することが可能となるバーンイン試験を行う試験方法及び試験装置を提供する。 - 特許庁

COOLING AIR FLOW CONTROL FOR BURN-IN SYSTEM例文帳に追加

バーンインシステム用の冷却空気流量制御 - 特許庁

The burn-in counter 1 grasps the burn-in stress (the temperature applied and the voltage applied) applied to the circuit 3 to be tested, counts up (monitors) the burn-in stress, and outputs the burn-in stress information corresponding to the applied temperature, the applied voltage, and a burn-in stress time to the outside.例文帳に追加

バーインカウンタ１は、被テスト回路３に印加されるバーインストレス（印加温度及び印加電圧）を把握し、バーインストレスをカウントアップ（モニター）して、印加温度、印加電圧、及びバーインストレス時間に対応したバーインストレス情報を外部に出力する。 - 特許庁

BURN-IN DEVICE, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

バーンイン装置および半導体集積回路装置 - 特許庁

After burn-in, the wafer is diced into chip size packages.例文帳に追加

バーンイン後，ウェハはチップサイズパッケージに分割される。 - 特許庁

Further, one can burn incense in various postures.例文帳に追加

また、様々な姿勢で焼香することができる。 - 特許庁

METHOD FOR TESTING BURN-IN BOARD AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

バーンインボード及び半導体装置の試験方法 - 特許庁

BURN-IN METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND CIRCUIT THEREFOR例文帳に追加

半導体デバイスのバーンイン方法及びその回路 - 特許庁

WAFER LEVEL BURN-IN USING LIGHT AS STIMULANT SIGNAL例文帳に追加

刺激信号として光を用いるウエハレベルバーンイン - 特許庁

MANUFACTURING METHOD FOR ELECTRONIC PART AND BURN-IN DEVICE例文帳に追加

電子部品の製造方法およびバーンイン装置 - 特許庁

TEST BURN-IN DEVICE FOR MIDDLE POWER AND HIGH POWER IC例文帳に追加

ミドルパワー及びハイパワーＩＣ用テストバーンイン装置 - 特許庁

MULTILAYER BURN-IN SUBSTRATE STRUCTURE HAVING POWER SUPPLY TOWER例文帳に追加

電源タワーを具えた多層バーンイン基板構造 - 特許庁

DETACHABLE ATTACHMENT APPARATUS AND BURN-IN BOARD例文帳に追加

取り外し可能型取り付け装置、及び、バーンインボード - 特許庁

To restrain the increase in the cost of a burn-in test and in the unit price of chip by making a burn-in test pattern capable of enhancing the activation ratio able to be set in a short time in the burn-in test for a logical LSI.例文帳に追加

ロジックLSI のバーンインテストに際して、活性化率を高めることが可能なバーンインテストパターンを短時間で設定でき、バーンインテストのコストアップひいてはチップ単価の高騰を抑制する。 - 特許庁

To provide a method for supplying burn-in power and a burn-in board, which allow efficient burn-in test operation for a semiconductor device, and to provide a semiconductor device suitable therefor.例文帳に追加

半導体装置のバーンインテスト工程の効率化に向けたバーンイン電源供給方法、バーンインボード及びそれに好適な半導体装置を提供する。 - 特許庁

The generated burn-in pattern signal is input into the semiconductor device of the tested object attached to a burn-in card 32 to conduct a burn-in test.例文帳に追加

生成されたバーンインパターン信号は、バーンインカード３２に装着された被試験対象の半導体装置に入力されバーンイン試験が行われる。 - 特許庁

To directly confirm whether a power supply and a burn-in mode set signal for a burn-in test are fed to a semiconductor device at the burn-in test.例文帳に追加

バーンイン試験時において、半導体装置にバーンイン試験のための電源とバーンインモード設定信号が供給されているか直接確認する。 - 特許庁

This device is provided with a burn-in control section 111 to which a wafer-burn-in enable-signal PWBE setting a semiconductor memory 101 to a wafer-burn-in mode is inputted.例文帳に追加

半導体メモリ装置１０１をウェーハバーンインモードに設定するウェーハバーンインイネーブル信号ＰＷＢＥが入力されるバーンイン制御部１１１を設ける。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AUTOMATIC SORTING DEVICE IN SEMICONDUCTOR BURN-IN PROCESS例文帳に追加

半導体バ—ンイン工程の半導体デバイス自動分類装置 - 特許庁

You're saying the whole world should burn in hell just from losing in a horse race?例文帳に追加

競馬に 負けただけで 世界燃えろとか言ってんの!? - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

The carrier 2 used in the burn-in test is used in a selection test as well.例文帳に追加

また、選別試験時にもバーンイン試験時のキャリア２を用いる。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND BURN-IN TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体記憶装置およびそのバーンインテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS BURN-IN TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路及びそのバーインテスト方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND BURN-IN APPARATUS例文帳に追加

半導体装置の製造方法及びバーンイン装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND BURN-IN TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路、およびバーンイン試験方法 - 特許庁

After the burn-in test, the wafer is divided into chip size packages.例文帳に追加

バーンイン後、ウェハはチップサイズパッケージに分割される。 - 特許庁

To provide a burn-in method and a burn-in apparatus for improving working efficiency and energy efficiency.例文帳に追加

作業効率およびエネルギ効率の向上が可能なバーンイン方法およびバーンイン装置を提供すること。 - 特許庁

BURN-IN DEVICE AND DEVICE DRIVING METHOD THEREOF例文帳に追加

バーンイン装置及びバーンイン装置のデバイス駆動方法 - 特許庁

If this doesn't work, we burn the base to the ground with everyone in it.例文帳に追加

なかったら... 全員が避難して 基地を焼く - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

BURN-IN TESTING DEVICE AND METHOD, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

バーンイン試験装置、試験方法及び記憶媒体 - 特許庁

To prevent generation of burn-in stress deficiency during a burn-in operation test of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置のバーンイン動作試験中におけるバーンインストレス不足の発生を防止できるようにする。 - 特許庁

To improve testing efficiency in an easy testing process without narrowing the power range of a device in which burn-in is possible, in a burn-in test method and burn-in system.例文帳に追加

本発明は、バーンイン試験方法及びバーンインシステムに関し、バーンイン可能なデバイスのパワー範囲を狭めることなく、簡単な試験工程で試験効率を向上することを目的とする。 - 特許庁

METHOD OF WIRING FOR BURN-IN USING REAR SURFACE OF LSI WAFER例文帳に追加

ＬＳＩウェハ裏面を用いたバーンイン配線方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND BURN-IN TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体集積回路およびそのバーンインテスト方法 - 特許庁