「Burn-In」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

The maintenance manager, transmitting the confirmation mail for available correspondence, goes to the location where the burn-in device is placed to repair the abnormality in the burn-in tank.例文帳に追加

対応可能確認メールを送信した保守管理者は、バーンイン装置が設置された場所に行きバーンイン槽の異常を修復する。 - 特許庁

To provide a burn-in device capable of avoiding occurrence of a damage in a burn-in board or a connector, even if a position relation between a connector position on a connector mounting part and the tip part of the burn-in board has little deviation.例文帳に追加

コネクタ取付部のコネクタの位置と、バーンインボードの先端部との位置関係に多少のずれがあったとしても、バーンインボードやコネクタに損傷が生じるのを回避したバーンイン装置を提供する。 - 特許庁

Namely, the contour of the white image part included in the image of the speedometer is a burn-in line 205 seen as the burn-in and the whole burn-in line 205 is covered with the annular black display 200.例文帳に追加

つまり、スピードメータの画像に含まれる白の画像部分の輪郭が、焼き付きとして見える焼き付きライン２０５であり、その焼き付きライン２０５全体を環状の黒の表示２００で覆っている。 - 特許庁

To provide a semiconductor device for which a burn-in time can be shortened by performing burn-in of a logic circuit and burn-in of a DRAM- macro in a logic mix memory of a logic circuit and a DRAM-macro.例文帳に追加

論理回路とＤＲＡＭマクロのロジック混載メモリにおいて、論理回路のバーンインとＤＲＡＭマクロのバーンインとを並列的に行い、バーンイン時間を短縮することができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR SUPPLYING SEMICONDUCTOR DEVICE TO SUBSTRATE FOR BURN-IN TEST例文帳に追加

バーンイン試験用基板への半導体装置の供給方法 - 特許庁

The burn-in board 1 comprises the substrate 11 and the socket 13.例文帳に追加

バーンインボード１は、基板１１及びソケット１３を備えている。 - 特許庁

INSPECTION METHOD OF SEMICONDUCTOR CIRCUIT, BURN-IN SYSTEM, AND SEMICONDUCTOR PRODUCT例文帳に追加

半導体回路、バーンイン装置、半導体製品の検査方法 - 特許庁

The burn-in device is composed of burn-in device bodies 10-1 and 10-2, and an independent counter processing terminal 20.例文帳に追加

バーンイン装置を複数のバーンイン装置本体１０-1，１０-2と、これと独立した計数処理端末２０とにより構成する。 - 特許庁

To easily perform burn-in test on a semiconductor chip as it is a bare chip.例文帳に追加

半導体チップをベアチップのまま容易にバーンイン試験をする。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS MANUFACTURING METHOD, AND BURN-IN DEVICE例文帳に追加

半導体装置およびその製造方法、ならびにバーンイン装置 - 特許庁

BURN-IN CORRECTION DEVICE, DISPLAY DEVICE, AND IMAGE PROCESSING DEVICE AND PROGRAM例文帳に追加

焼き付き補正装置、表示装置、画像処理装置及びプログラム - 特許庁

To provide a technology for realizing an efficient wafer burn-in test.例文帳に追加

効率的なウェハバーンインテストを実現する技術を提供する。 - 特許庁

INPUT IDENTIFICATION CIRCUIT, IDENTIFICATION METHOD, AND BURN-IN SUBSTRATE例文帳に追加

入力確認回路、入力確認方法およびバーンイン基板 - 特許庁

I'm throwing everything I own in my casket and burn it all!例文帳に追加

俺の棺おけの中に 全財物 ぶち込んで 燃やしてやらあ! - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

Give it a good twenty-four hours of burn-in if you can. 例文帳に追加

可能ならばたっぷり 24 時間のならし運転をしてください - 研究社 英和コンピューター用語辞典

To prevent a malfunction from occurring when a plurality of integrated circuits mounted on a burn-in test board are subjected to a burn-in test simultaneously.例文帳に追加

バーンインテストボードに搭載された複数の集積回路が同時にバーンインテストを受ける際に発生する誤動作を予防する。 - 特許庁

One in four of us gets razor burn on a regular basis.例文帳に追加

われわれの四人に一人はいつもかみそり負けをしている。 - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文

For the burn-in method, a correction circuit 8 required for burn-in and a constant voltage source section 21 for supplying a supply voltage to the correction circuit 8 are included.例文帳に追加

バーンインの必要な補正回路８、補正回路８に電源電圧を供給する定電圧源部２１とを有する。 - 特許庁

BURN-IN METHOD IN WAFER LEVEL WITH EXTERNAL CONNECTION ELEMENT FOR ANALOG CIRCUIT BUILT-IN WAFER例文帳に追加

アナログ回路用外付け素子をウェハー内に内蔵したウェハーレベルでのバーンイン手法 - 特許庁

Incense is put in Kogo before making up tea, in order to burn incense in a hearth and so on when boiling water. 例文帳に追加

茶を点てる前、湯を沸かす時に炉等で焚くための香を中に入れる。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

By placing the burn-in board 22 in this state in the burn-in test apparatus, it is possible to collectively test the plurality of semiconductors 10.例文帳に追加

この状態のバーンインボード２２をバーンイン試験装置に入れることにより、複数の前記半導体１０を一括して試験することができるようになる。 - 特許庁

A burn-in control device 10 performs convergence determination (finish of a test) of an initial stage defect in the burn-in test relative to each lot (each classification) in the furnace 12.例文帳に追加

バーンイン制御装置１０は、バーンイン試験における初期不良の収束の判定（試験の終了）を炉１２内のロット毎（区分毎）に行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit in which a flash EEPROM capable of executing efficient burn-in test is built and provide its burn-in test method.例文帳に追加

効率のよいバーインテストを実施可能なフラッシュＥＥＰＲＯＭを内蔵する半導体集積回路、及び、そのバーインテスト方法の提供。 - 特許庁

Thus, the amounts of current that is consumed at the time of a burn-in test are equalized, and a voltage drop in power supply of the entire burn-in test board is inhibited.例文帳に追加

このようにして、バーンインテスト時の消費電流が平準化されて、バーンインテストボード全体の電源における電圧降下が抑制される。 - 特許庁

Then, the measured result processing device 15 makes the burn-in of all burn-in devices 11-13 to be completed, when the damage ratio enters to the stabilization period regarding all burn-in devices 11-13.例文帳に追加

そして、測定結果処理装置１５は全てのバーンイン装置１１〜１３について半導体デバイスの故障率が安定期に入ったとき、全てのバーンイン装置１１〜１３のバーンインを終了させる。 - 特許庁

Burn-in of the number of times of burn decided in this number of times deciding test are performed, after that, a function test is performed with the test object device unit, and a burn-in defect rate is monitored (step SP5, SP6).例文帳に追加

この回数決定テストにおいて決定されたバーンイン回数のバーンインを実施し、その後、テスト対象デバイス単位で機能テストを行なって、バーンイン不良率をモニタする（ステップＳＰ５，ＳＰ６）。 - 特許庁

A burn-in board BIB includes a burn-in board main body BIBM having on a front surface a plurality of sockets SKT on which a device under test is mounted, and an insertion edge EG provided on the burn-in board main body.例文帳に追加

バーンインボードＢＩＢは、被試験デバイスが装着される複数のソケットＳＫＴを表面に有するバーンインボード本体部ＢＩＢＭと、バーンインボード本体部に設けられた挿入エッジＥＧと、を有する。 - 特許庁

To perform a test by one burn-in test using one kind of a burn-in board even with respect to a case performing the burn-in test of an IC requiring the arrangement of a plurality of pins.例文帳に追加

複数のピン配置が必要なＩＣに対するバーンイン試験を行う場合についても、１種類のバーンインボードを使用し、１回のバーンイン試験にて試験の実施を可能とすることである。 - 特許庁

To provide a burn-out detecting circuit that can more precisely diagnose any abnormality of a temperature transmitter and choose between burn-up and burn-down with power supply in a single direction.例文帳に追加

温度伝送器の異常をより精細に診断可能であって、単一方向の電源でバーンアップおよびバーンダウンを選択可能なバーンアウト検出回路を提供する。 - 特許庁

To perform a monitor burn-in test method with a simple device requiring no external refresh circuit without reducing memory access speed of an element, in the monitor burn-in test method, and a monitor burn-in test device.例文帳に追加

モニターバーンイン試験方法およびモニターバーンイン試験装置に関し、素子のメモリアクセス速度を低下させることなく、かつ外部リフレッシュ回路を不要とした簡単な装置でモニターバーンイン試験を行うことを目的とする。 - 特許庁

To provide a versatile burn-in-board wherein each of ICs in different types corresponding to different test circuits can be inserted into the identical burn-in-board, and then measurement can be executed so that it is unnecessary to replace the whole burn-in-board.例文帳に追加

異なるタイプの異なるテスト回路に対応するＩＣであっても同一のバーインボード上に挿入し、測定を行なうことができ、バーインボード全体を交換する必要がない汎用型バーインボードを提供する。 - 特許庁

To provide a target assembly capable of improving operations for stabilizing characteristics of a sputtering target by reducing a burn-in time of the sputtering target.例文帳に追加

スパッタリングターゲットの特性を安定させるための動作、いわゆるバーンイン（burn-in）に要する時間を短縮するターゲットアセンブリを提供する。 - 特許庁

To reduce the man-hours for a probe inspection and a burn-in test of a semiconductor integrated circuit to facilitate probe inspection and the burn-in test result management.例文帳に追加

半導体集積回路のプローブ検査とバーンイン試験の工数を削減し、プローブ検査とバーンイン試験の結果を管理しやすくする。 - 特許庁

METHOD OF CONTROLLING LEAN BURN FOR GAS ENGINE IN GAS FILLING EQUIPMENT例文帳に追加

ガス充填装置におけるガスエンジンの希薄燃焼制御方法 - 特許庁

To provide a burn-in device for accelerating burn-in with a peripheral circuit part and a logic circuit part as well as with a memory cell array part.例文帳に追加

メモリセルアレイ部のみならず、周辺回路部やロジック回路部においてもバーンインの加速化を図ることが可能なバーンイン装置を得る。 - 特許庁

APPARATUS FOR SUBJECTING SEMICONDUCTOR DEVICE TO BURN-IN PROCESS ON WAFER SURFACE例文帳に追加

半導体装置をウエーハ面上でバーンイン処理するための装置 - 特許庁

BURN-IN METHOD FOR SURFACE EMITTING SEMICONDUCTOR LASER DEVICE, AND PROGRAM THEREOF例文帳に追加

面発光型半導体レーザ素子のバーンイン方法およびそのプログラム - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS BURN-IN OPERATION TESTING DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体装置およびそのバーンイン動作試験装置・試験方法 - 特許庁

Thereafter, the burn-in tests are conducted, by bringing the facing areas of a circuit substrate for burn-in test and the wafer WF closer to each other.例文帳に追加

その後、バーンイン試験用の回路基材とこの半導体ウェハＷＦの対向領域を接近させ、バーンイン試験がなされる。 - 特許庁

To provide a burn-in test adapter and a burn-in test device which can suppress low, the cost of obtaining semiconductor chip and test a multitude of chips at once.例文帳に追加

半導体チップを得るコストを低く抑え、一度に多数のチップをテストできるバーンインテスト用アダプタおよびバーンインテスト装置を得ること。 - 特許庁

To burn low-grade coal stably in a fluidized bed boiler.例文帳に追加

流動層ボイラにおいて低品位炭を安定して燃焼させる。 - 特許庁

BURN-IN TEST PROGRAM SIMULATION DEVICE, ITS METHOD, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

バーンイン試験プログラムのシミュレーション装置及び方法と記憶媒体 - 特許庁

BURN-IN APPARATUS AND METHOD FOR PERFORMING AGING SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

バ—ンイン装置およびそれを用いた半導体装置のエ—ジング方法 - 特許庁

The burn-in counter 1 is provided for grasping the burn-in stress applied to the circuit 3 to be tested as a semiconductor storage device.例文帳に追加

バーインカウンタ１は、半導体記憶装置としての被テスト回路部３に印加されるバーインストレスを把握するために設けられたものである。 - 特許庁

To burn for longer, look more spectacular, and in pure safety.例文帳に追加

より長時間燃え続け より派手に見せられるようになりました - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書