「Burn-In」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

To reduce cost by reducing the number of intake valves in a combustion chamber of a lean burn engine.例文帳に追加

希薄混合気燃焼エンジンにおける燃焼室の吸気弁の数を減らし、コストを削減すること。 - 特許庁

This semiconductor device has a means for detecting an overcurrent flow during the burn-in operation test.例文帳に追加

半導体装置が、バーンイン動作試験中に過電流が流れたことを検出する手段を有する。 - 特許庁

I was off planet, doing my job while your federation did nothing and allowed my people to burn while their planet broke in half.例文帳に追加

私は星外で 仕事中だった そして連邦は 何もしなかった 我々の星は 真っ二つに割れ - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

Do you wanna prevent acts of terror... or do you wanna stay in the dark and watch your country burn?例文帳に追加

あなたはテロ行為を防ぎたい... または何も知らずじっとして 国が利用されるのを見たいですか? - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

Then, the mixed powder is heated in an electric furnace at 500°C for 60 minutes to burn and decompose the nuclei.例文帳に追加

続いて、混合粉末を、電気炉において５００℃で６０分間加熱し、核を燃焼・分解する。 - 特許庁

This semiconductor memory is provided with a memory cell array divided into plural memory mats, a memory mat selecting circuit 71 selecting a memory mat to be activated, and a burn-in test mode detecting circuit 76 generating a burn-in test mode detecting signal BI being made an active state when a burn-in test is performed.例文帳に追加

本発明の半導体記憶装置は、複数のメモリマットに分割されたメモリセルアレイと、活性化されるメモリマットを選択するメモリマット選択回路と、バーンイン試験が実施される場合に活性状態となるバーンイン試験モード検出信号ＢＩを生成するバーンイン試験モード検出回路７６を備える。 - 特許庁

that if the lamp continued to burn so long as she could keep it in sight, her betrothed was still alive; 例文帳に追加

もし見えている限り炎がもえつづけていれば、彼女のいいなづけはまだ生きているということを。 - Hans Christian Andersen『絵のない絵本』

Steam puts out a fire—it does not burn; but you saw that what I had in that jar burnt. 例文帳に追加

蒸気は火を消します。燃えたりしません。でも、いまびんの中にあったものが燃えたのをみましたね。 - Michael Faraday『ロウソクの科学』

The locking control device for the valve-timing adjusting device and the lock control system is applied for a V-type engine or a horizontal opposed engine in which right and left banks alternately burn so that a plurality of cylinders constituting one of the banks which burn serially and then a plurality of cylinders constituting the other bank which burn serially.例文帳に追加

そして、Ｖ型エンジン又は水平対向型エンジンであって、一方のバンクを構成する複数の気筒が順次燃焼した後、他方のバンクを構成する複数の気筒が順次燃焼するよう、左右のバンクが交互に燃焼するエンジンに適用する。 - 特許庁

When the device to be tested is burned in, the burn-in board is arranged in a burn-in chamber while the device to be tested is mounted.例文帳に追加

試験対象デバイスをバーンインする際に、当該試験対象デバイスを搭載した状態でバーンインチャンバ内に配置されるバーンインボードであって、試験対象デバイスに供給される電源電圧の大きさを制御するレギュレータ回路５１を含んだ構成となっている。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which the reliability of a wafer burn-in test can be improved by detecting whether stress voltage is securely applied to all word lines including redundant word lines at the time of a wafer burn-in test.例文帳に追加

ウェハーバーイン試験時に、冗長ワード線を含むすべてのワード線にストレス電圧が確実に印加されたか否かを検出可能とすることにより、ウェハーバーイン試験の信頼性を向上させ得る半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a burn-in device capable of making testing conditions even, by restraining dispersion of temperatures in a plurality of tested objects generating heat by an operation, and capable of enhancing thereby reliability for a burn-in test and an aging test.例文帳に追加

動作することによって発熱する複数の被試験体の温度のばらつきを抑制することによって試験条件を揃え、バーンイン試験およびエージング試験の信頼性を向上させることができるバーンイン装置を提供する。 - 特許庁

A wire excellent in burn through resistance for the arc welding of a sheet steel iron which is prescribed in an ingredient, resistivity and a diameter, and arc welding method for the sheet iron excellent in burn through- resistance of the weld using the wire are provided.例文帳に追加

成分、比抵抗、直径を規定した薄鋼板のアーク溶接用の耐溶け落ち性に優れたワイヤおよびそれを用いることにより溶接部の溶け落ちを防止する耐溶け落ち性に優れた薄鋼板のアーク溶接方法。 - 特許庁

Even in the case of burn-in test for which the test signal T4 becomes 'H' level, concerning a redundant row selector circuit 2, the word line selection inhibit signal RDE becomes 'L' level, a redundant cell and a normal cell are simultaneously selected and the burn-in test is performed at the same time.例文帳に追加

テスト信号T4が「H」レベルとなったバーンインテストの場合にも、冗長行選択回路2は、ワード線選択禁止信号RDEが「L」レベルとなり、冗長セルとノーマルセルとは一括して選択され、バーンインテストが同時に行われる。 - 特許庁

A control circuit 4 for controlling an operation mode in the test for the logic circuit 2 and the DRAM 3 is provided on the same chip mounted with the logic circuit 2 and the DRAM 3, a scanning test mode is set in the burn-in test in the logic circuit 2, a burn-in test mode is set therein in the DRAM 3.例文帳に追加

ロジック回路２とＤＲＡＭ３が搭載される同一チップ上に、これらの試験時の動作モードを制御するためのコントロール回路４を設け、バーンイン試験時には、ロジック回路２についてはスキャン試験モードに設定させ、ＤＲＡＭ３についてはバーンイン試験モードに設定させる。 - 特許庁

To prevent a semiconductor element contained in a macro on the side lower in operation voltage from being broken, by outputting a signal from a macro which is supplied with high power voltage to perform burn-in to a macro which is supplied with low power voltage to perform burn-in, in a semiconductor integrated circuit which includes two macros where burn-in is performed while they are supplied with different power voltages.例文帳に追加

異なる電源電圧を供給されながらバーンインが行われる２つのマクロを含む半導体集積回路において、高い電源電圧が供給されてバーンインが行われるマクロから低い電源電圧が供給されてバーンインが行われるマクロに信号が出力されることにより、動作電圧が低い方のマクロに含まれる半導体素子が破壊されるのを防止する。 - 特許庁

Many word lines can be fully driven at the time of wafer-burn-in even when the driving capability of a row decoder in a row decoding block 121 is small by controlling by the burn-in control section 111 the row decoding block 121 generating many normal word line enable-signal NWEi controlling a word line driving block 131 during wafer-burn- in.例文帳に追加

ウェーハバーンイン中は、ワードライン駆動ブロック１３１を制御する多数個のノーマルワードラインイネーブル信号ＮＷＥｉを発生させるローデコーディングブロック１２１を前記バーンイン制御部１１１で制御することにより、ローデコーディングブロック１２１中のローデコーダの駆動能力が小さい場合であっても、ウェーハバーンイン時に多数本のワードラインを十分駆動可能とする。 - 特許庁

To provide a test burn-in device and a method of a burn-in test capable of conducting a burn-in test for every IC by connecting two kinds of scanning signals to each IC and controlling an access stop of every IC, and for controlling in real time the access stop by controlling the scanning signals based on the judging result whether the IC is good or bad.例文帳に追加

本発明の課題は、（１）各ＩＣに２種類のスキャン信号を接続することによってＩＣ毎のアクセスストップを制御して、ＩＣ毎にバーンイン試験を実施可能であり、（２）ＩＣの良否の判定結果に基づいてスキャン信号を制御してリアルタイムでアクセスストップを制御するテストバーンイン装置及びバーンイン試験方法を提供する。 - 特許庁

To enable simplification and a low cost of a burn-in test by simply generating a burn-in test signal to an analog circuit.例文帳に追加

ＬＳＩ内のアナログ回路のバーンインテストでは、デジタル信号印加のみではバーンイン効果が不十分で効果向上のために各種アナログ回路毎にＬＳＩ外部で発生させたアナログ信号を印加する必要があり手間がかかる。 - 特許庁

The contact pin 1 is adapted to contact with each IC terminal of IC sockets to be used for a burn-in test, and electrically connects each of the IC terminal with a substrate mounting the IC socket for the burn-in test.例文帳に追加

このコンタクトピン１をバーンイン試験のための使われるＩＣソケットのＩＣの各端子に対応して装着し、ＩＣの各端子とバーンイン試験にためのＩＣソケットを搭載した基板との電気的接続を行う。 - 特許庁

At the burn-in test, an output signal of the program circuit 3b is selected by a selection circuit 4 and input to the boosted voltage generating circuit 2 to generate the voltage necessary at the burn-in test by the boosted voltage generating circuit 2.例文帳に追加

バーンインテスト時には、プログラム回路３ｂの出力信号をセレクタ回路４で選択して、昇圧電圧発生回路２に入力させ、バーンインテスト時に必要な電圧を昇圧電圧発生回路２に発生させる。 - 特許庁

A control circuit 110 generates burn-in test signals BI, BI_-0, BI_-1 and a signal Get add2, and output them to a pre-decoder 120 according to an address ADB for shifting a semiconductor memory device to a burn-in test mode.例文帳に追加

制御回路１１０は、半導体記憶装置をバーンインテストモードへ移行させるためのアドレスＡＤＢに基づいてバーンインテスト信号ＢＩ，ＢＩ＿０，ＢＩ＿１および信号Ｇｅｔ ａｄｄ２を生成してプリデコーダ１２０へ出力する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory that optimum burn-in operation is performed to realize shortening of a process burn-in time and a selection test time by providing plural test modes improving access duty for a memory array system.例文帳に追加

メモリアレイ系へのアクセスデューティを上げるテストモードを複数搭載することで、最適なバーンインオペレーションを行い、工程バーンイン時間の短縮、選別試験時間の短縮を実現できる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a wafer level burn-in device and a wafer level burn-in method for preventing a probe from being exhausted and burned, by reducing an electric load applied to a wafer simultaneously and suppressing the transitional rise of the temperature of the wafer.例文帳に追加

ウエーハに同時に印加される電気的負荷を低減し、ウエーハ温度の過渡的な上昇を抑制することで、プローブの消耗、焼けを防止するウエーハレベルバーンイン装置およびウエーハレベルバーンイン方法を提供すること。 - 特許庁

Then, a failure rate is calculated based on entire modulus being set to the total number of the modulus and the measurement data, and the burn-in of each of the burn-in device bodies 10-1 and 10-2 is collectively stopped when the failure rate is set to a specific value.例文帳に追加

そして、母数の総数である全体母数及び測定データに基づき故障率を計算し、故障率が所定値となった時に各バーンイン装置本体１０-1，１０-2のバーンインを一括して停止させる。 - 特許庁

Thus, a function for expanding the input interface is attained, and even a memory burn-in device structure with an existing hardware facility enables chip burn-in, and thereby cost is saved on, and a convenient advantages is acquired at high speed.例文帳に追加

こうして入力インタフェース拡充の機能を達成し、既存のハードウエア設備を改修せずにメモリバーンイン装置構造でチップバーンインを可能とし、コストを節約し、快速で、便利な長所を具備するようにした。 - 特許庁

Therefore, for example, a high electric field can be applied between the word lines WL0 and WL2 by giving potential difference at the time of burn-in test, a fault eliminating rate at the time of burn-in test can be improved.例文帳に追加

したがって、たとえば、ワード線ＷＬ０、ＷＬ２の間にもバーンイン試験時に電位差を与えて高電界をかけることができ、バーンイン試験時における不良の除去率を向上させることができる。 - 特許庁

To provide a D/A converter that realizes a wafer-level burn-in test without externally connecting resistor elements and the like for the burn-in test.例文帳に追加

一般に、Ｄ／Ａコンバータは、使用条件に汎用性をもたせるため、ＬＳＩ外部より、出力負荷用抵抗器，電流値設定用抵抗器を接続し、さらに電流値設定用リファレンス電圧を入力する構成となっている。 - 特許庁

For defective wafers, the protection film is attached onto the entire chip surface including the terminals, burn-in inspection is performed under the condition, power supply and application of a signal are blocked to the defective chips that are found before burn-in inspection is performed on them.例文帳に追加

不良品には、端子も含むチップ表面全体に保護膜を付加し、その状態でバーンイン検査を行い、バーンイン投入前に判明した不良品チップへの電源供給、信号印加を遮断する。 - 特許庁

Integrated circuits according to the present invention individually changes the order of execution of a plurality of subprograms contained in a burn-in test program.例文帳に追加

本発明による集積回路は、バーンインテスト用プログラムに含まれる複数のサブプログラムの実行順序を個別に変更する。 - 特許庁

To provide a burn-in environmental testing device which reaches a testing temperature in a short period of time at lower power consumption.例文帳に追加

試験温度に達するまでの時間が短く、且つ消費電力が低いバーンイン試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a vacuum chuck type wafer support table for use in burn-in apparatus which hardly adheres the wafer surface to silicone rubber.例文帳に追加

シリコーンゴムとウエハ表面の固着が起りにくい、バーンイン装置に使用される真空吸引式のウエハ支持台を提供。 - 特許庁

Thus, the after-burn period of PM in which residual oxygen in a cylinder participates is extended, and space PM is reduced.例文帳に追加

これにより、筒内の残留酸素が関与するＰＭの再燃焼期間を延長し、空間ＰＭを低減することができる。 - 特許庁

To shorten the time required for burn-in for actualizing potential defects, in the screening method of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置のスクリーニング方法において、潜在的欠陥を顕在化させるためのバーンインに要する時間を短縮する。 - 特許庁

Therefore, there was significant military potential in such weapons as it could burn down defense facilities and ships in siege warfare and naval battles. 例文帳に追加

こうした理由から攻城戦や水上戦で防御施設や船を焼き払うことができるために重要な戦力となった。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

To provide a plasma display device capable of properly preventing thermal breakage or burn-in of a plasma display panel in accordance with a driving state of the plasma display panel.例文帳に追加

プラズマディスプレイパネルの駆動状態に応じてプラズマディスプレイパネルの熱破壊や焼付をより適切に防止できるようにする。 - 特許庁

To make the connection between a semiconductor chip and signal lines on a contactor confirmable with accuracy at the time of making burn-in test in the state of a wafer.例文帳に追加

ウェーハ状態でバーンインを行なう際に、半導体チップとコンタクタ上の信号線の接続を精度よく確認する。 - 特許庁

To favorably perform lean burn even in acceleration in an internal combustion engine including a variable valve system and a supercharger.例文帳に追加

例えば可変動弁機構及び過給機を備える内燃機関において、加速する際にも希薄燃焼を好適に行う。 - 特許庁

To enable shortening a test process in a semiconductor storage and to enable reducing power consumption in a burn-in test process.例文帳に追加

半導体記憶装置における検査工程を短縮できるようにし、また、バーンイン検査工程において、消費電力を低減できるようにする。 - 特許庁

To provide a reference voltage generating circuit in which defect can be actualized without affecting to operation of an internal circuit in a burn-in acceleration test.例文帳に追加

バーイン加速試験で内部回路の動作に支障を与えず不良を顕在化することができる参照電圧生成回路を提供する。 - 特許庁

To provide a grinding burn detection device and a grinding burn detection method capable of executing inline total inspection of grinding burn without requiring breakage of a measuring object component or the like, and miniaturizing a head part in comparison with a method utilizing an ultrasonic wave.例文帳に追加

測定対象となる部品を破壊等する必要がなくインラインで研削焼けの全数検査を実施することができ、さらに超音波を利用した方法と比較してヘッド部の小型化を図ることができる研削焼け検出装置および研削焼け検出方法を提供する。 - 特許庁

When the wafer is subjected to burn-in, it can be exposed to the convecting air.例文帳に追加

被測定ウェハに対してバーンインを行う場合，被測定ウェハを循環対流する空気にさらすことが可能となる。 - 特許庁

An NO_x occluding reduction catalyst 17 is arranged in an exhaust gas pipe 15 of a supercharged lean burn engine 1 to control emission.例文帳に追加

過給リーンバーンエンジン１の排気管１５にＮＯ_Ｘ吸蔵還元触媒１７を配置し排気浄化を行う。 - 特許庁

A plurality of the internal circuits individually operate when receiving the first high level voltage, and operate during the burn-in test.例文帳に追加

複数の内部回路は、第１高レベル電圧を受けて個別に動作するとともに、バーンイン試験中に動作する。 - 特許庁

An access control circuit 3 is set to a WLBI mode holding a test mode as it is, and wafer level burn-in is performed.例文帳に追加

テストモードを保持したまま、アクセス制御回路３をＷＬＢＩモードに設定し、ウェハレベルバーンインを実行する。 - 特許庁