「Burn-In」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

To improve yield of a semiconductor device 25 by suppressing row failure generated during burn-in, especially wafer level burn-in, for screening a defective product of the semiconductor device 25 produced in the primary stage of manufacture.例文帳に追加

製造初期に発生する半導体装置２５の不良品をスクリーニングするために行うバーンイン、特にウェーハレベルバーンイン中に発生する列不良を抑え、半導体装置２５の歩留まりを向上させるようにする。 - 特許庁

In this semiconductor integrated circuit, a burn-in mode to be set when burn-in is performed and a normal operation mode set when normal operation is performed are exclusively set.例文帳に追加

本発明による半導体集積回路は、バーンインが行われる際に設定されるバーンインモードと、通常動作が行われる際に設定される通常動作モードとが、排他的に設定される半導体集積回路である。 - 特許庁

To provide flux for solder paste excellent in burn through property and low in reactivity with Zn solder powder, to provide solder paste excellent in burn through property, to provide a circuit board packed with electronic parts using the solder paste and to provide its production method.例文帳に追加

版ぬけ性に優れ、かつＺｎ系ハンダ粉との反応性の低いハンダペースト用フラックス、版ぬけ性に優れたハンダペースト、並びに該ハンダペーストを用いて電子部品を実装した回路板およびその製造法の提供。 - 特許庁

This circuit ahs such constitution that a wafer burn-in signal WBI1 is inputted to an inverter 410 taking its share of the least significant bit in plural pre-decoder circuit sections 40, and a wafer burn-in signal WBI0 to the other inverters 411-41n.例文帳に追加

複数のプリデコーダ回路部４０中の最下位ビットを分担するインバータ４１_0 にウエハーバーンイン信号ＷＢＩ_1 を入力し、他のインバータ４１__1 〜４１_n には、ウエハーバーンイン信号ＷＢＩ_0 を入力する構成とする。 - 特許庁

Further, by performing the scanning design of the memory BIST circuit 202, the burn-in test of the memory BIST circuit 202 is performed efficiently, and the toggle ratio of the whole of the burn-in test can be enhanced.例文帳に追加

さらに、メモリＢＩＳＴ回路２０２をスキャン設計することにより、メモリＢＩＳＴ回路２０２のバーインテストを効率的に行い、バーインテスト全体のトグル率を向上させることもできる。 - 特許庁

To provide a system for measuring maximum value of applied stress voltage which can determine whether burn-in test of a semiconductor device has been performed under proper conditions or not during the burn-in testing.例文帳に追加

本発明は、半導体装置のバーンインテスト時にバーンインテストが適切な条件で実施されたか否かを判断することができる印加ストレス電圧の最大値を測定する装置を提供する。 - 特許庁

By mounting the semiconductor transfer tray 40 on a housing part 27 of a housing 25 of the burn-in board 22 and closing a lid body, it is possible to mount a large number of semiconductors 10 onto the burn-in board 22.例文帳に追加

半導体搬送トレイ４０をバーンインボード２２のハウジング２５の収納部２７に装着して蓋体を閉じることにより、前記バーンインボード２２上に多数の半導体１０を設置することができる。 - 特許庁

Additionally, the burn-in apparatus comprises the plurality of members capable of performing heat transfer contact with the plurality of devices on the burn-in board; and the flexible heat-conducting material for connecting the plurality of members.例文帳に追加

また、バーンインボード上の複数のデバイスそれぞれに対応して伝熱接触し得る複数の部材と、複数の部材間を結合する可撓性のある熱伝導部材とを具備する装置である。 - 特許庁

The correction quantity is determined so that luminous brightness change due to a burn-in phenomenon may gently change around the boundary of the pixel, with the boundary of the deterioration characteristics as a reference, to make the burn-in phenomenon inconspicuous.例文帳に追加

劣化特性の境界を基準に、焼き付き現象による発光輝度が画素の境界周辺で緩やかに変化するように、補正量を決定することで、焼き付き現象を目立たなくする。 - 特許庁

To provide a wafer to be inspected together with a method for wafer level burn-in test using it, wherein with the supply of a voltage to a defective chip being limited, a normal wafer level burn-in test is conducted with other satisfactory chips.例文帳に追加

故障が生じたチップへの電圧の供給を制限し、他の良品チップに関して正常なウェハレベルバーンイン試験を実行し得る被検ウェハ、及びそれを用いたウェハレベルバーンイン試験方法を得る。 - 特許庁

An I/O cell 101 becomes an output at the time of a burn-in test by a burn-in test mode signal M, and the output of a port output signal setting resistor 106 is selected.例文帳に追加

Ｉ／Ｏセル１０１は、バーンインテスト時にバーンインテストモード信号Ｍによって出力となり、出力信号選択回路１０５では、ポート出力信号設定レジスタ１０６の出力が選択される。 - 特許庁

To provide an exhaust emission control device effectively purifying NO_X in exhaust gas, in an engine being under combustion conditions of both lean burn and stoichiometric burn depending on operating conditions.例文帳に追加

動作条件によって希薄燃焼と量論燃焼の両方の燃焼条件となるエンジンにおいて、排気ガス中のＮＯ_ｘを有効に浄化することができる排気ガス浄化装置を提供する。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit 1 is provided with a logic circuit 2 connected to external terminals 10-12, a built-in memory 3 connected to this logic circuit, and a burn-in test circuit 4 writing the prescribed data in the built-in memory when a burn-in test of this built-in memory is performed.例文帳に追加

半導体集積回路１に、外部端子１０〜１２と接続されたロジック回路２と、このロジック回路と接続された内蔵メモリ３と、この内蔵メモリのバーンイン・テストを行う際に、前記内蔵メモリに所定のデータを書き込むバーンイン・テスト回路４とを設けた。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory permitting to perform an efficient burn-in test in a logic-consolidated device or the like.例文帳に追加

ロジック混載デバイス等において、効率的なバーンイン試験を実行することが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To perform burn-in of a semiconductor device mounted on a printed wiring board in product stage without using a thermostatic oven.例文帳に追加

製品段階のプリント配線基板上に実装された半導体デバイスを恒温槽を使用することなくバーンインする。 - 特許庁

To perform a burn-in of a high-speed high-function semiconductor device in a short time by using an adapter card having a simple circuit constitution.例文帳に追加

回路構成の簡単なアダプタ・カードを使用して、高速、高機能な半導体装置を短時間でバーンインすること。 - 特許庁

To provide a burn-in device capable of uniformly removing heat from a device to be tested and keeping it in a narrow target temperature range.例文帳に追加

被験装置から熱を均一に除去して狭い目標温度範囲内に維持できるバーンイン装置の提供。 - 特許庁

To provide a color filter structure of a liquid crystal display device solved in problem that the occurrence of burn-in of image at the corner of the display device.例文帳に追加

コーナー画像焼付きが発生する問題を解決する液晶表示装置のカラーフィルタ構造を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor management device which can perform burn-in simplification efficiently in final test process.例文帳に追加

ファイナルテスト工程におけるバーンイン簡略を効率的に行なうことが可能な半導体管理装置を提供すること - 特許庁

To easily verity the restriction for burn-in examination of a wafer level in a design stage of a single chip.例文帳に追加

ウェハレベルのバーンイン検査を行なうための制約を単体チップの設計段階で容易に検証することを可能にする。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage having a function for performing a burn-in test efficiently and accurately in a mold state.例文帳に追加

モールド状態で、効率的かつ正確にバーンインテストを行なう機能を有する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

Although the custom of utagaki may be observed in both swidden and rice-growing farmers, it is prominent among the people in mountainous areas of slash-and-burn agriculture. 例文帳に追加

歌垣の習俗は、焼畑農業民にも稲作民にも見られるが、特に山岳焼畑地帯で顕著である。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

To prevent erroneous operation caused by that the prescribed test mode is not set due to defect of a line in a burn-in test.例文帳に追加

バーンイン試験におけるライン不良により所定のテストモードに入れていないことによる誤動作を防止すること。 - 特許庁

To insulate a sample which a leakage failure occurs before wafer burn-in, without fail, without causing contamination of a plating bath or plating liquid with a coating resin, with regard to a semiconductor device in which wafer burn-in is performed before a plating step, and with regard to a manufacturing method of the semiconductor device in which the wafer burn-in is performed before the plating step.例文帳に追加

めっき工程前にウエハーバーンインが実施された半導体装置において、また、めっき工程前にウエハーバーンインを実施する半導体装置の製造方法において、被膜樹脂によるめっき槽またはめっき液の汚染を発生させることなくウエハーバーンイン前にリーク不良が発生したサンプルを確実に絶縁させることが可能となる。 - 特許庁

The burn-in device comprises board supports 27-32 for supporting in a chamber 10 burn-in boards 51 on which the device to be tested is mounted, a blower 26 for generating a circulated air flow in the chamber 10, a heat exchanger 600 for removing heat generated during burn-in, and at least one linear riser 500 arranged upstream from the board supports.例文帳に追加

バーンイン装置は被験装置を取り付けるバーンインボード５１をチャンバ１０内で支持するボード支持体２７〜３２と、チャンバ１０内に循環気流を発生させるためのブロワ２６と、バーンイン中に発生した熱を除去する熱交換器６００と、ボード支持体の上流に配置された少なくとも一つのリニアライザ５００とを有する。 - 特許庁

To surely insulate a sample wherein a leakage failure has occurred before wafer burn-in without contaminating a plating tub or a plating liquid with a coating resin, in a semiconductor device subjected to wafer burn-in before a plating process and in a method for manufacturing the semiconductor device, which executes wafer burn-in before the plating process.例文帳に追加

めっき工程前にウエハーバーンインが実施された半導体装置において、また、めっき工程前にウエハーバーンインを実施する半導体装置の製造方法において、被膜樹脂によるめっき槽またはめっき液の汚染を発生させることなくウエハーバーンイン前にリーク不良が発生したサンプルを確実に絶縁させることが可能となる。 - 特許庁

To raise void fraction in a core while maintaining safety in order to efficiently burn plutonium in a boiling water reactor.例文帳に追加

沸騰水型原子炉において、プルトニウムを効率良く燃焼させるために、安全性を維持しながら炉心におけるボイド率を高くする。 - 特許庁

To provide a single chip microcomputer in which a burn-in test of built-in nonvolatile memories can be performed by using a simple tester.例文帳に追加

内蔵された不揮発性メモリのバーインテストを簡易なテスターを用いて実施することが可能なシングルチップマイクロコンピュータを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which voltage stress can be applied between adjacent column selecting lines in a burn-in test period.例文帳に追加

バーインテスト期間中において、隣接する列選択線間に電圧ストレスを印加することが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT WITH BUILT-IN OVERHEAT DETECTING CIRCUIT, INTEGRATED CIRCUIT WITH BUILT-IN TEMPERATURE RISE AVOIDING/CONTROLLING MEANS, AND METHOD OF THEIR BURN-IN TEST例文帳に追加

過熱検知回路内蔵の集積回路と温度上昇回避制御手段内蔵の集積回路及びそのバーンイン試験方法 - 特許庁

To inspect burn mark at reduced manhours without damaging a metal component, and to accurately inspect the burn mark in the metal component.例文帳に追加

金属部品を傷つけることなしに、少ない工数で研磨焼けの有無を検査でき、かつ、正確に金属部品の研磨焼きを検査できる金属部品の研磨焼けの検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a burn-in test system capable of transferring a test signal at a high speed.例文帳に追加

本発明の課題は、高速なテスト信号の転送が可能となるバーンインテストシステムを提供することである。 - 特許庁

Two connection terminals 22a and 22b of the connection terminals 22 of the connector 20 and two bonding wires 23a and 23b connecting the two connection terminals 22a and 22b with the circuit board 11 are made as the external power supply terminals for the burn-in inspection and for cutting the burn-in voltage application line after the burn-in inspection.例文帳に追加

コネクタ２０の接続端子２２のうちの２本の接続端子２２ａ，２２ｂと、２本の接続端子２２ａ，２２ｂと回路基板１１をつなぐ２本のボンディングワイヤ２３ａ，２３ｂとが、バーンイン検査用およびバーンイン検査後のバーンイン電圧印加ライン切断用の外部電源供給端子となっている。 - 特許庁

To provide an efficient sensing module for light emitting devices for performing a burn-in test of the light emitting device.例文帳に追加

発光素子のバーンイン試験を行うための効率的な発光素子用検知モジュールを提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device that prevents display image burn-in and has high transmittance.例文帳に追加

表示画像の焼付きが防止され、透過率の高い液晶表示装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device having no burn-in or promptly and precisely displaying a picture.例文帳に追加

焼き付きが無く、あるいは、迅速かつ的確に画像を表示する液晶表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a boiling water reactor capable of controlling excess reactivity increase in an initial burn-up by a procedure different from a procedure for changing a core flow or mixing a burnable poison into a fuel rod, generating and accumulating plutonium in the initial burn-up, and burning plutonium efficiently in the latter stage burn-up.例文帳に追加

炉心流量を変化させ或いは燃料棒に可燃性毒物を混入する手法とは別異なる手法をもって、燃焼初期の余剰反応度増大を制御でき且つ燃焼初期にプルトニウムを生成・蓄積して燃焼後期にプルトニウムを効率的に燃焼できる沸騰水型原子炉等を提供すること。 - 特許庁

To relatively easily prepare a burn-in pattern signal even by a person having no expert knowledge.例文帳に追加

専門的な知識を持たないものでも、比較的容易にバーンインパターン信号を作成できるようにすること。 - 特許庁

To provide a light-emitting element wafer carrying out a burn-in uninfluenced by any outgoing light from each light-emitting element.例文帳に追加

各発光素子からの出射光に影響されずにバーンインできる発光素子ウェハを提供する。 - 特許庁

OPTICAL ELEMENT WAFER, MANUFACTURING METHOD THEREOF, APPARATUS AND METHOD FOR BURN-IN OF OPTICAL ELEMENT WAFER例文帳に追加

光素子ウェハおよびその製造方法、光素子ウェハのバーンイン装置、ならびに光素子ウェハのバーンイン方法 - 特許庁

To concurrently perform burn-in operations of a plurality of semiconductor integrated circuits that operate by receiving high frequency signals.例文帳に追加

高周波信号を受けて動作する複数の半導体集積回路のバーンインを同時に実施する。 - 特許庁

In addition, Tadazane KAWAKAMI ordered Shigeharu SETOGUCHI to burn down the food warehouse of the enemy and succeeded. 例文帳に追加

また川上忠実は瀬戸口重治に命じて敵の食糧庫を焼き討ちさせ、これに成功した。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

To test individual dies before mounted onto a PCB (printed circuit board), and to conduct a test up to burn-in when possible.例文帳に追加

ＰＣＢに実装する前の個々のダイを試験し、できることならバーインまで試験できるようにする。 - 特許庁

To provide a paper tray excellent in display effect and also functioning as a heat insulating cover for preventing a burn.例文帳に追加

ディスプレィ性に優れ、火傷防止用の断熱カバーとしても機能する紙製トレーを提供する。 - 特許庁

(ii) Burn ointment in the case of a workshop where workers handle materials of high temperatures or where workers are liable to get burnt. 例文帳に追加

二　高熱物体を取り扱う作業場その他火傷のおそれのある作業場については、火傷薬 - 日本法令外国語訳データベースシステム