「Burn-In」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

To simplify a burn-in test process in a wafer state, thus providing a compact device.例文帳に追加

ウェハ状態でのバーンイン試験の工程を簡素化し、装置のコンパクト化を計る。 - 特許庁

SUCTION HEAD AND ITS CONTROL SYSTEM IN LOADER/UNLOADER DEVICE FOR BURN-IN BOARD例文帳に追加

バーンインボード用ローダアンローダ装置における吸着ヘッドおよびその制御システム - 特許庁

To provide a burn-in method and apparatus which can accelerate burn-in, not only in a memory cell array part but also even a peripheral circuit part or logic circuit part.例文帳に追加

メモリセルアレイ部のみならず、周辺回路部やロジック回路部においてもバーンインの加速化を図ることが可能なバーンイン方法及び装置を得る。 - 特許庁

When performing the product inspection of an IC (Integrated Circuit) 1 by dynamic burn-in, a plurality of functions 9-11 provided at the IC 1 are connected in series on a burn-in board 4.例文帳に追加

ＩＣ１をダイナミックバーンインにより製品検査するに際して、ＩＣ１に設けられた複数の機能部９〜１１をバーンインボード４上で直列接続する。 - 特許庁

To provide a burn-in system, capable of reducing the time needed for storing determination result in a determination result memory and of shortening the burn-in test time.例文帳に追加

判定結果を判定結果メモリに格納するのに要する時間を短縮し、バーンイン試験時間の短縮化を図ることのできるバーンイン装置を提供する。 - 特許庁

To reduce the risk of the occurrence of burnout in a burn-in board or a burn-in socket, and to reduce losses, even when a burnout occurs.例文帳に追加

バーンイン基板やバーンインソケットにおける焼損発生の危険性を低減し、さらに、焼損が発生した場合であってもその損失を低減する。 - 特許庁

To simplify a burn-in process and to reduce cost in a surface-emission wafer, and a manufacturing method and a burn-in method of the wafer.例文帳に追加

面発光型ウエハ及びその製造方法、並びに面発光型ウエハのバーンイン方法において、バーンイン工程の簡略化及びコストダウンを図ることにある。 - 特許庁

Thus, it is possible to easily prepare/connect the external connection elements for the analog circuit without using any expensive burn-in board, and to realize burn-in in a wafer level.例文帳に追加

これにより、高価なバーンインボードを使用せずに、簡単にアナログ回路用外付け素子を作成・接続し、ウェハーレベルのバーンインを実現することができる。 - 特許庁

When such a state occurs that the semiconductor device 25 is fractured by some cause during burn-in and that the data are outputted continuously from the output terminal 4 for burn-in, a burn-in state detection circuit 5 switches the output terminal 4 for burn-in to HiZ by controlling a tristate buffer 6.例文帳に追加

バーンイン状態検知回路５は、バーンイン中に何らかの原因で半導体装置２５が破壊し、バーンイン用出力端子４からデータが出力され続けるような状態に陥った場合に、トライステートバッファ６を制御してバーンイン用出力端子４をＨｉＺにする。 - 特許庁

To impress a boost voltage to plural word lines at the time of burn-in test without increasing a chip area, to simultaneously perform the burn-in test to a lot of cells in a short time, to shorten time required for the burn-in test and to improve the processing efficiency of the burn-in test in production.例文帳に追加

チップ面積を増加させることなく、バーンインテスト時に複数のワード線に昇圧電圧を印可でき、より短時間に多数を同時にバーンインテスト可能とし、バーンインテストに必要な時間を短縮させ、製造におけるバーンインテストの処理効率を向上させることが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To conduct selection of high quality having wide test coverage by switching in order a serial mode and a parallel mode to be operated, in a burn-in test using a static burn-in test device.例文帳に追加

スタティックバーインテスト装置を用いたバーインテストにおいて、シリアルモードとパラレルモードを順次切り替えて動作させることにより、テストカバレージの大きな高品質な選別を行なう。 - 特許庁

BURN-IN TEST DEVICE, AND MANUFACTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE DEVICE例文帳に追加

バーンイン試験装置およびそれを用いた半導体装置の製造方法 - 特許庁

A screening test is next implemented on the burn-in tested semiconductor chip and a burn-in test is implemented on a non-tested semiconductor chip.例文帳に追加

次の回では、バーンイン試験した半導体チップに対し選別試験を実施し、未試験の半導体チップに対しバーンイン試験を実施する。 - 特許庁

The plurality of unit plates 4 are layered to execute the burn-in test.例文帳に追加

この試験ユニット板４を複数積層してバーンイン試験を実施する。 - 特許庁

A contact pin 2b is formed on the bottom face of an open-top socket 2 mounted on a burn-in board 1 so as to be connected to an electrode of the burn-in board 1.例文帳に追加

バーンインボード１に実装されたオープントップソケット２の底面にはコンタクトピン２ｂが形成され、バーンインボード１の電極と接続される。 - 特許庁

To obtain a test burn-in board(TBIB) control method and a burn-in testing system which dissolves the overflow problem of the production numbers of TBIBs.例文帳に追加

テストバーンインボード（ＴＢＩＢ）の製造番号のオーバーフロー問題を解決したＴＢＩＢ管理方法及びバーンイン試験システムを提供する。 - 特許庁

To reduce the size of a burn-in system used for performing a burn-in test on a semiconductor wafer, and to shorten the time required for the test.例文帳に追加

半導体のウエハにバーンインを実施するための半導体装置において、バーンイン装置の小型化、実施時間の短縮を目的とする。 - 特許庁

To provide a contact structure and method of burn-in testing after packaging.例文帳に追加

実装後のバーンイン試験の接触構造及び方法を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AUTOMATIC INSERTING APPARATUS FOR BURN-IN BOARD HAVING CONTACT CHECKING FUNCTION例文帳に追加

コンタクトチェック機能を有するバーンインボード用半導体デバイス自動挿抜装置 - 特許庁

REFERENCE VOLTAGE GENERATING CIRCUIT, SEMICONDUCTOR MEMORY, AND ITS BURN-IN METHOD例文帳に追加

基準電圧発生回路、半導体記憶装置及びそのバーンイン方法 - 特許庁

To provide a monitored burn-in test device for executing a monitored burn-in test without increasing the load of software or improving the function of the test device.例文帳に追加

ソフトウェアの負荷の増加やテスタ装置の機能を向上させることなくモニタードバーンインテストが実施できるモニタードバーンインテスト装置を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER, MANUFACTURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR WAFER, AND BURN IN TEST METHOD例文帳に追加

半導体ウエハ、半導体ウエハの製造方法およびバーンイン試験方法 - 特許庁

But all will end in sadness. and they lake will shine and burn.例文帳に追加

しかし みんなは悲しみに落ち込み 湖は火炎に包まれるだろう - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

What I want is to see the company burn to the ground, and you in prison.例文帳に追加

欲しいのは、 会社の滅亡だ。 それから、お前を刑務所に送る。 - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

The original purpose of a screen saver was to prevent burn-in. 例文帳に追加

スクリーンセーバの本来の目的は(画面への)焼き付きを防ぐことであった． - コンピューター用語辞典

When washing the burn-in board where the socket 33 is loaded, the socket is turned upward and the burn-in board is mounted on the body part 1 [(a)].例文帳に追加

ソケット３３が搭載された、バーンインボードを洗浄する際には、ソケットを上向きにしてバーンインボードを本体部１上に装着する〔（ａ）〕。 - 特許庁

To provide a burn-in board capable of performing accurate test, a test burn-in device, and a skew correction method capable of conducting correct skew correction.例文帳に追加

より正確な試験が出来るバーンインボード、テストバーンイン試験および、正確なスキュー補正を行うことが出来るスキュー補正方法を提供する。 - 特許庁

And his heart seemed to burn and melt away in his breast. 例文帳に追加

そして彼の心臓は、胸のなかで爆ぜ、溶け崩れていくかのようだった。 - D. H. Lawrence『馬商の娘』

To prevent pyropholic gas from reacting with gas having the susceptibility to burn in a vacuum treater, which uses simultaneously the pyropholic gas and the gas having the susceptibility to burn.例文帳に追加

自燃性ガスと支燃性ガスを同時に使用する真空処理装置において、自燃性ガスと支燃性ガスの反応を防止する。 - 特許庁

To freely change burn-in time by using a factor other than a process constant of a semiconductor element as a setting element for changing the burn-in time, related to a semiconductor inspecting device for performing burn-in with a semiconductor element in wafer.例文帳に追加

ウエハー状態の半導体素子にバーンインを実施するための半導体検査装置において、バーンイン時間を変更できる設定要素として、半導体素子のプロセス定数以外の要素を用いて、バーンイン時間を自由に変更する。 - 特許庁

The operation of an internal circuit 2 is switched to a test mode for burn-in by a test terminal 1 of the semiconductor device 25 during burn-in, and data in the internal circuit 2 are outputted not to an ordinary output terminal 3 but to an output terminal 4 for burn-in.例文帳に追加

バーンイン中に、半導体装置２５のテスト端子１により、内部回路２の動作をバーンイン用テストモードに切り替え、内部回路２のデータを通常の出力端子３ではなくバーンイン用出力端子４に出力する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of improving precision in controlling temperature in the semiconductor device when conducting a burn-in test.例文帳に追加

バーンイン試験の際に半導体装置内の温度制御の精度を向上させること。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage unit in which a fault eliminating rate in a burn-in test is improved.例文帳に追加

バーンイン試験における不良除去率を向上させた半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To facilitate the construction of I/F(interface) between a burn-in test device and an insertion and extraction machine and facilitate a burn-in test without causing a mistake in exchanging data in each information file such as installation position information on burn-in board and measurement result and the like.例文帳に追加

バーンイン試験装置と挿抜機との間のＩ／Ｆ（インターフェイス）の構築を容易にし、また、バーンインボードの実装位置情報および測定結果等の各情報ファイルのデータの受け渡しの際にミスを発生することがなく、バーンイン試験を容易にする。 - 特許庁

This burn-in test system is provided with a control circuit 6 for selecting a terminal corresponding to the burn-in pattern out of the plurality of terminals 7α, 7β, 7γ of a semiconductor device 5, and for connecting selected terminal electrically to an external terminal 3 of the burn-in board 1, in the burn-in test system for the semiconductor device 5.例文帳に追加

半導体装置５のバーンイン試験システムであって、前記半導体装置５の複数の端子７α、７β、７γの中からバーンインパターンに対応した端子を選択し、選択した端子を前記バーンインボード１の外部端子３と電気的に接続する制御回路６を備えることを特徴とするバーンイン試験システム。 - 特許庁

The manufacturing method comprises a first process (steps 30 to 32) of sealing up the semiconductor chips requiring burn-in with resin to package them and making the packaged semiconductor chips undergo burn-in, and a second process (step 36) of mounting the semiconductor chips which are judged non-defective in burn-in on a board together with the semiconductor chips requiring no burn-in.例文帳に追加

バーインの必要な半導体チップを樹脂封止してパッケージ化し、このパッケージ化された半導体チップにバーンインを行なう工程（ステップ３０〜３２）と、バーインにおいて良品と評価された半導体チップを、バーイン不要な半導体チップと共に基板上に搭載する工程（ステップ３６）とを有する。 - 特許庁

To enable testing read-out after burn-in including an access time in a flash memory.例文帳に追加

フラッシュメモリにおいて、アクセスタイムを含むバーイン後の読み出しの検査ができるようにする。 - 特許庁

To make efficient a burn-in test in a semiconductor integrated circuit provided with a plurality of scan chains.例文帳に追加

スキャンチェーンを複数備える半導体集積回路におけるバーンインテストの効率化。 - 特許庁

A burn-in voltage generation circuit section 20 generates a voltage for burning in the correction circuit 8.例文帳に追加

バーンイン電圧発生回路部２０は、補正回路８をバーンインする電圧を発生する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which stress can be applied effectively by a burn-in test.例文帳に追加

バーンインテストにより効果的にストレスを印加可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

This malfunction is caused by a voltage drop in power supply of the entire burn-in test board.例文帳に追加

この誤動作は、バーンインテストボード全体の電源における電圧降下が原因である。 - 特許庁

To uniformly heat a wafer and a contacter, when burn-in in a state of a wafer is performed.例文帳に追加

ウェハ状態でのバーンインを行なう時に、ウェハおよびコンタクタを均等に加熱する。 - 特許庁

However Mikado orders to burn them at the highest mountain in Japan, which is in Suruga Province. 例文帳に追加

しかし御門はそれを駿河国の日本一の一覧高い山で焼くように命じた。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

In Japan, noyaki is done to burn the dried grass in early spring before the grass plants start to sprout. 例文帳に追加

日本では、春先のまだ草本の新芽が出ない時期に、野山の枯れ草を焼く。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

In the same year, he brought the method of ascetic practice in the Tachikawa School of the Shingon Sect to light, and ordered it to burn and destroy ritual instruments. 例文帳に追加

同年、真言立川流の行法を摘発し、法具の焼却を命ずる。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス