「Burn-In」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

To describe a heater for heating packaged die for burn-in and heat testing.例文帳に追加

バーンイン及び加熱試験用のパッケージダイを加熱するヒーターが記載される。 - 特許庁

Because Kagutsuchi was a god of fire, Izanami suffered a burn on her pubic region in giving birth. 例文帳に追加

火の神であったために、出産時にイザナミの陰部に火傷ができた。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

A drive signal /DVk is surely made a low level responding to a wafer burn-in signal.例文帳に追加

ウェハバーンイン信号に応答して、ドライブ信号/DV_kを確実にロウレベルにする。 - 特許庁

METHOD FOR REDUCING PARTICULATE SUBSTANCE THAT EXHAUST GAS IN LEAN BURN ENGINE CONTAINS例文帳に追加

リーンバーンエンジン等の排気ガスに含まれる粒子状物質の低減方法 - 特許庁

To solve a problem wherein a required power source voltage is not able to be supplied to an inspected semiconductor integrated circuit, when a burn-in board gets large, not to allow a proper burn-in test.例文帳に追加

バーンインボードが大型化すると被検査半導体集積回路に所要の電源電圧が供給できなくなり、適正なバーンインテストができない。 - 特許庁

The waveform shaping circuit 1b converts the signal for burn-in input from the connection terminal 4 into a signal for burn-in synchronized with the clock signal.例文帳に追加

波形整形回路１ｂは、接続端子４から入力される上記バーンイン用の信号を、上記クロツク信号に同期したバーンイン用の信号に変換する。 - 特許庁

REDUCING BURN-IN ASSOCIATED WITH MISMATCHED VIDEO IMAGE AND DISPLAY ASPECT RATIOS例文帳に追加

ビデオイメージおよびディスプレイのアスペクト比の不整合と関連したバーンインの低減 - 特許庁

I still remember seeing my father's fleet burn in lannisport.例文帳に追加

父の船が燃えた日のことを 私はまだ覚えている ラニスターポートの港だった - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

The author postulates that the sun will burn out in 100 million years. 例文帳に追加

著者は 1 億年後には太陽が消滅するという前提に立っている. - 研究社 新英和中辞典

To provide a holder for burn-in of a wafer, wherein a pressure of at least 1 kgf/cm2 is applied, while no vacuum conditions are required to be kept during the burn-in.例文帳に追加

バーンイン中に真空状態を保つ必要がなく、かつ１ kgf／cm^2 以上の圧力をかけることができるウェハのバーンイン用保持具を提供する。 - 特許庁

I am now about to burn it in oxygen gas, and look at the difference. 例文帳に追加

これからこいつを酸素の中で燃やしてみます。ちがいを見てください。 - Michael Faraday『ロウソクの科学』

To evaluate a burn-up of a spent fuel assembly by correcting a positional shift in measurement to provide a precise burn-up data.例文帳に追加

測定時の位置ずれを補正し、精度よく燃焼度データを得ることができる使用済み燃料集合体の燃焼度を評価する。 - 特許庁

A burn-in control circuit 30 turns off forcedly the transistor 103 in the local decoder corresponding to a word line to be activated at the burn-in test.例文帳に追加

バーンイン制御回路３０は、バーンイン試験時において、活性化の対象となるワード線に対応するローカルデコーダ内のトランジスタ１０３を強制的にターンオフする。 - 特許庁

To continuously carry out a burn-in process by connecting a wafer and a probe together and then performing heating and signal application when a batch burn-in process is performed in a wafer state.例文帳に追加

ウェーハ状態にて一括バーンインを行う時にウェーハとプローブを接続し、引き続いて加熱および信号印加を行い、連続的にバーンインを行うことを可能とする。 - 特許庁

Consequently, the wafers for which burn-in inspection is performed in the final test process can be collected, and burn-in simplification can be performed efficiently.例文帳に追加

したがって、ファイナルテスト工程においてバーンイン検査を行なうべきウェハを１つのロットに集めることができ、バーンイン簡略を効率的に行なうことが可能となる。 - 特許庁

A circuit for generating an input signal exclusive to the burn-in test is not provided in the logic circuit 2, and the burn-in test is carried out using an input signal for the scanning test.例文帳に追加

ロジック回路２は、バーンイン試験専用の入力信号を生成するための回路を具備せず、スキャン試験用の入力信号を用いてバーンイン試験が行われる。 - 特許庁

A test in which the number of times of burn-in is decided with a test object device unit contacting to a prober for tester before performing burn-in at the time of wafer test (step SP4).例文帳に追加

ウェハテスト時において、バーンイン実施前に、テスタ用のプロ-バに接触するテスト対象デバイス単位でバーンイン回数を決定するテストを行なう（ステップＳＰ４）。 - 特許庁

A function test circuit 21 in the burn-in device 200 is mounted on a burn-in board 30, and specifies a plurality of devices to be inspected DUT operated normally.例文帳に追加

バーンイン装置２００内のファンクションテスト回路２１はバーンインボード３０上に実装され、かつ正常に動作する複数の被検査デバイスＤＵＴを特定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device having an interline burn-in function of main word lines for applying a stress voltage across the main word lines in a state of wafer burn-in.例文帳に追加

ウェーハバーンイン状態において、メインワード線の線間ヘストレス電圧を印加するメインワード線の線間バーンイン機能を備えた半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

Each of these four chambers A/B/C/D independently functions as a burn-in testing device, the burn-in testing device 1 of this embodiment may also be defined as the one consisting of four burn-in testing devices linked by the common duct 2.例文帳に追加

４基のチャンバーＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄは、いずれも単独でバーンイン試験装置として機能するものであり、本実施形態のバーンイン試験装置１は、４台のバーンイン試験装置を共通ダクト２で繋いだものであるとも言える。 - 特許庁

To provide a burn-in board from which the mounted state of a semiconductor device can be confirmed easily before impressing a voltage for burn-in test upon the device even when the device has no input protective circuit, and to provide a method for burn-in test.例文帳に追加

入力保護回路を持たない半導体デバイスであっても、バーンインの試験用電圧を印加する前に半導体デバイスの装着状態を容易に確認することができるバーンインボードおよびバーンイン試験方法を提供する。 - 特許庁

In a mode where a burn-in process is to be carried out, burn-in data are inputted through the first input terminal, the selector 50 selects output signals from the first input terminal and outputs them to a scan chain in a burn-in target circuit 2 corresponding to the second input terminal.例文帳に追加

バーンインを行うモードの時には、第１の入力端子からバーンインデータを入力し、セレクタはこの第１の入力端子からの出力信号を選択して第２の入力端子に対応したバーンイン対象回路２内のスキャンチェーンへ出力する。 - 特許庁

The voltage controller includes a signal generation means of outputting a burn-in control signal and a burn-in precharge signal in response with an all bank precharge instruction and a voltage control means for supplying any one of a first voltage or a second voltage lower than the first voltage in response to the burn-in control signal and the burn-in precharge signal.例文帳に追加

オールバンクプリチャージ命令に応答してバーンイン制御信号およびバーンインプリチャージ信号を出力する信号生成手段と、前記バーンイン制御信号と前記バーンインプリチャージ信号に応答して、第１電圧又は前記第１電圧より低い第２電圧のうちいずれか１つをワード線に供給する電圧制御手段とを含む。 - 特許庁

In one staging, she looks at a burn of her face in the reflection in a tray, puts the tray on tatami, and looks up at Sabu. 例文帳に追加

顔のやけどを盆に移移し見て、その盆を畳について三婦を見上げる形がある。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

For the purpose to release the NOx from the NOx absorbing agent 26, the air-fuel mixture with the average air-fuel ratio of the lean burn condition is changed by shifting the lean burn condition to a rich burn condition, and weakening the movements of swirling streams being generated in the combustion chamber.例文帳に追加

ＮＯ_x 吸収剤２６からＮＯ_x を放出させるために平均空燃比をリッチにするときには平均空燃比をリーンからリッチに切換え、燃焼室内に発生している旋回流を弱める。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR BURN-IN TESTING OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置のバーイン試験方法、バーイン試験装置および半導体装置 - 特許庁

QUALITY JUDGING BOARD FOR BURN-IN TEST SYSTEM AND QUALITY JUDGMENT RESULT MEMORY METHOD例文帳に追加

バーンインテストシステムの良否判定ボードおよびその良否判定結果記憶方法 - 特許庁

Further, at the time of the burn-in test, the voltage drop circuits 43, 45 are made non-activation.例文帳に追加

なお、バーンイン試験時には、電圧降下回路４３，４５は非活性化される。 - 特許庁

To provide an edge connector capable of increasing amount of current supplied to a burn-in board.例文帳に追加

バーンインボードに供給する電流量を増大できるエッジコネクタの提供。 - 特許庁

The washing tool is dipped into a cleaning fluid and washed together with the burn-in board.例文帳に追加

洗浄用治具はバーンインボードと共に洗浄液に浸漬され、洗浄される。 - 特許庁

In fact, let everything burn and imagine waking up tomorrow with nothing.例文帳に追加

すべてを焼却し何もなしで 翌日目を覚ますことを想像して下さい - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

If that's the case, i've got just enough fuel left to drop out of orbit and burn up in the atmosphere.例文帳に追加

その時は... 軌道を外れ 燃え尽きるに 十分な燃料があります - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

I have some of the same gas in another vessel, mixed with a body that will burn the hydrogen of the gas, but will not burn the carbon. 例文帳に追加

同じ気体が別の容器に用意してあります。こいつは、気体の水素は燃やすけれど、炭素は燃やさない物質と混ぜてあるんです。 - Michael Faraday『ロウソクの科学』

Burn-in is conducted by writing data of the data signal in the memory cell MC.例文帳に追加

このデータ信号のデータを選択されたメモリセルＭＣに書き込むことにより、バーンインをしている。 - 特許庁

A burn-in mode test pattern preparing circuit prepares a test pattern, in synchronism with the operation clock CLK.例文帳に追加

バーンインモードテストパターン作成回路は、動作クロックＣＬＫに同期してテストパターンを作成する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which word lines can be fully driven at the time of water-burn-in.例文帳に追加

ウェーハバーンイン時にワードラインを十分駆動できる半導体メモリ装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device that eliminates the need for facilities for burn-in in a chip state.例文帳に追加

チップ状態でバーンインするための設備が不要な半導体装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide an inexpensive burn-in method for a surface emitting semiconductor laser device in a short time.例文帳に追加

短時間かつ低コストで面発光型半導体レーザ素子をバーンインする方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device capable of reducing power consumption in a burn-in test.例文帳に追加

バーンイン試験時の消費電力を低減することが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE TESTER, BURN-IN TESTER AND METHOD OF TESTING IN SEMICONDUCTOR DEVICE TESTER例文帳に追加

半導体デバイス試験装置、バーンイン試験装置、および、半導体デバイス試験装置における試験方法 - 特許庁

and torches were blazing in men's hands to burn the ships, as in the day of the valour of Hector: 例文帳に追加

ヘクトールの武勲の日と同じように、トロイア兵の手には船を焼き払うため松明が燃えていた。 - Andrew Lang『トロイア物語：都市の略奪者ユリシーズ』

A processing means is preset in a test condition memory portion 24 as a test condition when block failure is detected from an input portion 22 during a burn-in test, so that a burn-in board is attached/detached when block failure is detected during a burn-in test.例文帳に追加

予め入力部２２からバーンイン試験中にブロック不良を検出した場合の処理の仕方を試験条件として試験条件記憶部２４に設定しておき、バーンイン試験中にブロック不良を検出した場合には、バーンインボードの着脱を行う。 - 特許庁

To prevent an oversight in a test of error caused by improper contact in a circuit device for a burn-in test of a semiconductor module including a memory circuit provided with a connection terminal allowing a burn-in test signal of a burn-in test device having active/inactive conditions to be applied.例文帳に追加

活性／非活性状態を有しているバーン・インテスト装置のバーン・インテスト信号Ｔ１；Ｔ６が印加可能である接続端子を備えたメモリ回路１を含んでいる半導体モジュールのバーン・インテストのための回路装置において、コンタクト不良に起因するエラーの検査漏れを克服する。 - 特許庁

The frequency of the signal output from the signal generator 1 is converted by the converter 3, the burn-in signal of higher frequency is supplied to the semiconductor device in the burn-in vessel, and the dynamic burn-in is allowed thereby even for the fast and highly functional semiconductor device to be conducted in a short time.例文帳に追加

信号発生器１が出力するバーンイン信号の周波数を変換器３により変換し、周波数が高いバーンイン信号を、バーンイン槽内の半導体装置に供給しているので、高速、高機能な半導体装置に対しても、短時間でダイナミック・バーンインを行うことができる。 - 特許庁

The respective burn-in devices 11-13 carry out a measurement of burn-in at every sampling time TS and transmit the measured results at every sampling time to a measured result processing device 15.例文帳に追加

各バーンイン装置１１〜１３は、サンプリング時間ＴＳ毎にバーンインの測定を行い、その時々の測定結果をそれぞれ測定結果処理装置１５に転送する。 - 特許庁