「ELECTRICAL TEST」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

ELECTRICAL CONNECTION DEVICE AND TEST DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

電気的接続装置及びこれを用いる試験装置 - 特許庁

WIRING BOARD FOR ELECTRICAL TEST, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

エレクトリカルテスト用配線基板及びその製造法 - 特許庁

WIRING BOARD FOR ELECTRICAL TEST AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

エレクトリカルテスト用配線基板及びその製造法 - 特許庁

To provide an electrical connection appliance for test plug in which wiring work for test is performed easily and surely with little risk of electric shocks, and to provide an electrical test method that utilizes the electrical connection appliance for test plug.例文帳に追加

感電の危険が少なく、試験用の配線作業が容易で確実なテストプラグ用電気接続器具及びそのテストプラグ用電気接続器具を利用した電気試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a highly reliable apparatus for electrical test and an electrical testing method.例文帳に追加

信頼性の高い電気的試験用装置及び電気的試験方法を提供すること。 - 特許庁

CONTACTOR FOR ELECTRICAL TEST, ELECTRICAL CONNECTING APPARATUS USING THE SAME, AND METHOD FOR MANUFACTURING CONTACTOR例文帳に追加

電気試験用接触子、これを用いる電気的接続装置、及び接触子の製造方法 - 特許庁

ANISOTROPIC CONDUCTIVE SHEET, ITS MANUFACTURE, AND ELECTRICAL TEST DEVICE AND ELECTRICAL TEST METHOD FOR CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

異方導電性シートおよびその製造方法並びに回路装置の電気的検査装置および電気的検査方法 - 特許庁

An electrocardiogram is a test that measures the electrical activity of the heart.例文帳に追加

心電図は心臓の電気的活動を計測する検査です。 - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文

TESTER, PROBER, WAFER TEST SYSTEM AND ELECTRICAL CONTACT POSITION DETECTION METHOD例文帳に追加

テスタ、プローバ、ウエハテストシステム及び電気的接触位置検出方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR ATMOSPHERIC CORROSION TEST OF METAL MATERIAL FOR HOME ELECTRICAL APPLIANCE例文帳に追加

家電用金属材料の大気腐食試験方法およびその装置 - 特許庁

PROBE FOR CONTINUITY TEST FOR PROTECTION GROUND TERMINAL EQUIPPED ON ELECTRICAL DEVICE例文帳に追加

電気機器が備える保護接地端子のための導通試験用プローブ - 特許庁

The conductive layer includes at least one electrode portion and at least one electrical contact pad 112a, 112b, and the electrical contact pad is constituted so that an electrical connector pin of the test meter is moved along the electrical contact pad during insertion of the analyte test strip into the test meter.例文帳に追加

導電層は、少なくとも１つの電極部分と、少なくとも１つの電気接触パッド１１２ａ、１１２ｂとを有し、その電気接触パッドは、検査計に検体検査ストリップを挿入する間に検査計の電気コネクタピンが電気接触パッドに沿って移動するように構成されている。 - 特許庁

The wafer test host 21 transmits the wafer specification code J2 to an electrical inspection device 22, and the electrical inspection device 22 selects a test program and then executes the electrical inspection.例文帳に追加

ウエハテストホスト２１は電気的検査装置２２へウェハスペックコードＪ２を送信し、電気的検査装置２２はテストプログラムを選定した上で電気的検査を実行する。 - 特許庁

To provide an electrical apparatus testing device capable of preventing an electrical apparatus operation test from being performed with a test plug being inserted in a test terminal by mistake before a signal line is disconnected.例文帳に追加

信号線路を遮断する前に誤って試験プラグを試験端子に挿入して電気設備の動作試験を実施することを防ぐことができる電気設備の試験装置を提供する。 - 特許庁

The present invention relates to the contactless test of the electrical characteristics in a substrate ("chip carrier" and the like) for carrying the dense electrical connection.例文帳に追加

本発明は、密集した電気的接続部を担持する基板（「チップキャリア」およびその他）の電気的特性の非接触テストに関する。 - 特許庁

To provide an auxiliary test device for an electrical installation capable of simply switching the connection structure of wiring when testing the electrical installation including a plurality of relay elements.例文帳に追加

複数のリレー要素を含む電気設備の試験において、配線の接続構成を簡単に切り換えられる電気設備の試験補助装置を得る。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of performing an electrical test easily and appropriately by a circuit tester for electrical tests, having contact pins.例文帳に追加

コンタクトピンを備える電気テスト用テスタにより電気テストを容易且つ適切に行うことが可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

ELECTRICAL TEST METHOD OF PRINTED WIRING BOARD FOR MOUNTING ELECTRONIC COMPONENT, ELECTRICAL INSPECTION DEVICE, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加

電子部品実装用プリント配線板の電気検査方法および電気検査装置ならびにコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

Consequently, such problems as deformation of the tip of the nearly spherical terminals 11 do not arise, at electrical test of the electrical component 10.例文帳に追加

従って、電気部品１０の電気的テスト時に、略球形の端子１１の先端が変形するという不具合を生じない。 - 特許庁

The electrical tester (1) of the invention for testing the electrical test piece (2) preferably a wafer (3) has a contact region (12) in which the electrical test piece (2) directly contacts the contact apparatus (5), and is provided with an electrical connection mechanism (7) associated with a support mechanism (8).例文帳に追加

本発明は、電気試験片(2)と接触可能な接触装置(5)を直接接触させるための接触領域(12)を有しかつ支持機構(8)が関連付けられている電気接続機構(7)を備えた、電気試験片(2)、好ましくはウェハ(3)を試験するための電気試験装置(1)に関する。 - 特許庁

To test the electrical characteristics of a semiconductor device with high precision without damaging the semiconductor device.例文帳に追加

半導体素子に損傷を与えず、且つ半導体素子の電気的特性を高精度に試験する。 - 特許庁

In the sixth process, wafer probing 5 is performed for an electrical property test of semiconductor wafer.例文帳に追加

第６工程で、半導体ウエハの電気的特性試験のためにウエハプロービング５をする。 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR ELECTRICAL CHARACTERISTICS OF SEMICONDUCTOR PACKAGE, AND TEST HANDLER FOR THE SAME例文帳に追加

半導体パッケージの電気特性測定方法およびこのためのテストハンドラ - 特許庁

To test mechanical excitation without any electrical contact in the initial manufacturing process.例文帳に追加

初期の製造工程において、電気的な接触なくとも機械的励起の試験を行う。 - 特許庁

The taped wiring board can be repaired after electrical test.例文帳に追加

このテープド配線基板は、電気的テストをしたあとでリペアすることも可能である。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE PERMITTING TO WRITE VARIOUS PATTERN DATA THEREIN, ELECTRICAL TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

多様なパターンデータが書き込み可能な半導体メモリ素子およびその電気的検査方法 - 特許庁

A printed circuit board 38 is coupled to the pressure mechanism 20 for providing electrical connection to test apparatus.例文帳に追加

圧力機構２０には、検査装置に電気接続を供するプリント回路基板３８が結合されている。 - 特許庁

To perform electrical test on a plurality of kinds of packages with a single IC socket.例文帳に追加

一つのＩＣソケットで複数種のパッケージの電気的テストを行えるようにする。 - 特許庁

CONTACT FOR ELECTRICAL TEST OF ELECTRONIC DEVICE, MANUFACTURING METHOD THEREOF, AND PROBE ASSEMBLY例文帳に追加

電子デバイスの電気的試験用接触子、その製造方法及びプローブ組立体 - 特許庁

COOLING AND MOISTURE PROOF DEVICE FOR ELECTRICAL CHARACTERISTIC TEST OF FLAT DISPLAY SUBSTRATE例文帳に追加

平板ディスプレイ基板の電気的特性試験のための冷却及び防湿装置 - 特許庁

An electrical characteristics test using a BGA-type IC is made by making the outer leads 5a have continuity temporarily with electrodes for the test of a testing unit.例文帳に追加

このＢＧＡ型ＩＣの電気的特性試験は、アウターリード５ａと試験装置のテスト用電極を一時的に導通させて行う。 - 特許庁

A test pad addition part 2 adds a test pad for sampling and applying electrical signal to the layout pattern to form an additional layout pattern.例文帳に追加

テストパッド付加部２は、上記レイアウトパターンに、電気信号サンプリング／印加するテストパッドを付加し、付加レイアウトパターンとする。 - 特許庁

To improve the reliability of electrical test in a semiconductor integrated circuit, a manufacturing method of a semiconductor device, and a test method of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体集積回路、半導体装置の製造方法、及び半導体装置の試験方法において、電気的な試験の信頼性を高めること。 - 特許庁

The electrical conductive materials (for example, probe or connector) are inserted in the insertion openings and used as test terminals to test the chips during tests.例文帳に追加

テスト時には、挿入口に導電物（例えばプローブ又はコネクタ）を挿入しテスト端子として、チップをテストする。 - 特許庁

Non-destructive electrical measurements are taken from the test structures, to determine the coupling capacitances associated with the test structures.例文帳に追加

非破壊の電気測定が、テストストラクチャと関連する結合容量を決定するためにテストストラクチャから実行される。 - 特許庁

The analyte test strip also includes at least one meter identification mechanism 116a, 116b, and the meter identification mechanism is disposed on the electrical contact pad such that the electrical connector pin of the test meter is moved across the meter identification mechanism during insertion of the analyte test strip into the test meter.例文帳に追加

検体検査ストリップはまた、少なくとも１つの計器識別機構１１６ａ、１１６ｂを有し、その計器識別機構は、検査計に検体検査ストリップを挿入する間に検査計の電気コネクタピンが計器識別機構を横断して移動するように、電気接触パッド上に設けられている。 - 特許庁

The characteristic test device and characteristic test method are provided for testing optical characteristics or electrical characteristics by collectively setting a plurality of optical modules detachably mounted on test boards, to a prescribed test temperature.例文帳に追加

検査ボードに着脱自在に取り付けた複数の光モジュールを一括して所定の検査温度に設定して光学的特性或いは電気的特性を検査する特性検査装置と特性検査方法。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and its electrical inspection device capable of reducing cost by shortening a test (final test) time for electrical selection, concerning the semiconductor device having a built-in capacitor.例文帳に追加

コンデンサが内蔵された半導体装置において、電気的選別のためのテスト（ファイナルテスト）時間を短縮してコストダウンを図ることが可能な半導体装置と、その電気的検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a compact probe device capable of lowering a test head with high precision and causing the test head to come into electrical contact with a probe card securely when measuring the electrical characteristics of a substrate by causing a probe of a probe card to come into electrical contact with an electrode pad of the substrate as well as causing a test head to come into electrical contact with the probe card from above.例文帳に追加

テストヘッドを上側からプローブカードに電気的に接触させると共に、プローブカードのプローブを基板の電極パッドに電気的に接触させて当該基板の電気的特性を測定するにあたり、寸法精度高くテストヘッドを下降させてテストヘッドとプローブカードとを電気的に確実に接触させることが可能な小型化したプローブ装置の提供。 - 特許庁

As a result, the electrical test of the electrical component 10 is done with the nearly spherical terminals 11 of the electrical component 10 being fitted in the rings of the contact terminals 12.例文帳に追加

その結果、電気部品１０の略球形の端子１１が接触子１２とリング状に接触した状態で電気部品１０の電気的テストが行われる。 - 特許庁

The reference pin and each test pin are connected by a first switch and the electrical length between the reference pin and each test pin is measured by using the comparator in the test pin.例文帳に追加

第１のスイッチによって基準ピンと各テストピンを接続し、テストピン内のコンパレータを用いて基準ピンと各テストピン間の電気長を測定するようにした。 - 特許庁

To provide an IC package tray, an IC test apparatus and its test method, which can test electrical properties of an IC package without transferring ICs from an IC carrying package tray to an IC testing package tray.例文帳に追加

搬送用ＩＣパッケージトレイからテスト用ＩＣパッケージトレイにＩＣを移載することなく、ＩＣパッケージの電気的特性のテストを行うことができるＩＣパッケージトレイ、ＩＣテスト装置およびテスト方法を提供する。 - 特許庁

With this structure, the withstand voltage test and the electrical circuit verification test (sequence test) of a distribution panel can be carried out without detaching the wire connection device from the block terminal stand.例文帳に追加

このように構成することによって、結線装置をブロック端子台から取り外すことなく、配電盤の耐電圧試験及び電気回路検証試験（シーケンス試験）を行うことができる。 - 特許庁

As a sample, test terminals 15 and 17 are provided at substrate terminal parts for each substrate 11 and 12, electrodes 13 and 14 connected to the test terminals for each substrate are electrically connected to apply the electrical signal between the test terminals.例文帳に追加

一例として、基板端部に各基板１１、１２毎にテスト用端子１５、１７を設け、各テスト用端子に各基板毎に接続した電極１３、１４を電気的に接続し、テスト用端子間に電気信号を送る。 - 特許庁

When a withstand voltage test and an electrical circuit verification test (sequence test) of a distribution panel are carried out, a wire connection device is attached on a block terminal stand in the distribution panel.例文帳に追加

配電盤の耐電圧試験及び電気回路検証試験（シーケンス試験）を行う時に配電盤内のブロック端子台に結線装置を取り付ける。 - 特許庁