「ELECTRICAL TEST」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

Thus, the accurate electrical measurement of the semiconductor chip can be performed, and the yield drop caused by a test can be prevented.例文帳に追加

これにより、半導体チップの正確な電気測定を行うことができ、テスト起因による歩留まり低下を防止することができる。 - 特許庁

To utilize electrical test results of a wafer effectively, and identify the causes of defects adequately and promptly.例文帳に追加

ウェーハの電気検査の結果を有効に活用し、不良原因を的確かつ迅速に絞り込むことができるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and its inspection method, capable of performing inspection of the electrical properties of its internal circuit with satisfactory accuracy and by using a few test pads.例文帳に追加

内部回路の電気特性が少数のテストパッドで、且つ十分な精度で検査できる半導体装置およびその検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a wiring board for IC test which performs electrical inspection at precision with a narrow (small) pitch and small diameter pad.例文帳に追加

狭（小）ピッチ・小径パッドを対象とした電気検査を精度よく行うことができるＩＣ試験用配線板の提供。 - 特許庁

To ensure good electrical contact at all times between each solder ball and test pad, even if the solder balls under a BGA differ in height.例文帳に追加

ＢＧＡの下部のはんだボールの高さが異なっても各はんだボールと試験パッドとの間の良好な電気接触を常に保証する。 - 特許庁

According to such a device test method, the electrical characteristics of the semiconductor device are tested with high precision without damaging the semiconductor device.例文帳に追加

このような素子試験方法によれば、半導体素子に損傷が与えられず、且つ半導体素子の電気的特性が高精度に試験される。 - 特許庁

CHIP-ON-FILM PACKAGE HAVING TEST PAD FOR ELECTRICAL CHARACTERISTIC EVALUATION AND METHOD FOR FORMING THE SAME例文帳に追加

電気的特性評価のためのテストパッドを有するチップオンフィルムパッケージ及びチップオンフィルムパッケージ形成方法 - 特許庁

To provide a device and method for using a single electrical fuse (eFuse) bank in order to preserve test data continuously.例文帳に追加

テスト・データを連続的に保存するために単一の電気的ヒューズ（eFuse）バンクを使用するための装置および方法の提供。 - 特許庁

To provide a suitable IC socket for the electrical characteristic test of a BGA type and an LGA type semiconductor devices.例文帳に追加

ＢＧＡ型やＬＧＡ型半導体デバイスの電気的特性検査に適したＩＣソケットを提供する。 - 特許庁

The object of a specific green color (PANTONE 5743C or a color for which resonance reaction with this color is detected in an O-ring test) is disposed near an electrical contact.例文帳に追加

特定の緑色（PANTONE 5743Ｃ又はＯ−リングテストでこの色と共鳴反応が検出される色）の物体を電気接点の近傍に配置すること。 - 特許庁

The control circuit 10 breaks electrical connection between the RAM 2 and other internal circuits 3 during the retention test.例文帳に追加

コントロール回路１０は、リテンションテスト中、ＲＡＭ２と他の内部回路３との間の電気的接続を遮断する。 - 特許庁

To prevent interference from adjoining LEDs from influencing the electrical and optical data acquired during wafer stage test.例文帳に追加

隣接するＬＥＤからの干渉がウエハステージテスト中に得た電気的および光学的データに影響しないようにすること。 - 特許庁

To increase reliability in electrical continuity between a connection pad of a head slider and a connection terminal of a suspension in a test of the head slider.例文帳に追加

ヘッド・スライダのテストにおいて、ヘッド・スライダの接続パッドとサスペンションの接続端子との導通の信頼性を高める。 - 特許庁

To provide a surface mount package which can be aligned for an electrical test without using a solder ball.例文帳に追加

ハンダボールを用いることなく電気的テストのための位置合わせを可能とする表面実装型パッケージを提供すること。 - 特許庁

Finally, the computation section 14 can determine the condition of the thin film 54 formed on the surface of the test object, based on the electrical signals received from the spectroscopic section 12.例文帳に追加

演算処理部１４は、分光部１２から受けた電気信号に基づいて、検査対象の表面に形成された薄膜５４の状態を判定する。 - 特許庁

The electrical connection appliance for test 1 is the so-called "conduction angle", equipped with a conductive member 10 and an insulator 20.例文帳に追加

試験用電気接続器具１は、導電部材１０と絶縁体２０とを備えるいわゆる導通アングルである。 - 特許庁

INPUT/OUTPUT TRANSFORMER, TEST METHOD OF POWER PROTECTION CONTROL DEVICE, AND ELECTRICAL QUANTITY INPUT/OUTPUT METHOD OF POWER PROTECTION CONTROL DEVICE例文帳に追加

入出力変成器、電力用保護制御装置の試験方法、並びに電力用保護制御装置の電気量入出力方法。 - 特許庁

To reduce an exclusive area of a prober and reduce cracks of a wafer at the time when an electrical test is made in the condition of a wafer.例文帳に追加

プローバの専有面積を削減すると共にウェハ状態での電気試験時のウェハ割れを低減する。 - 特許庁

To shorten a test time for the electrical measurement of a semiconductor device at low cost without impairing the effect of noise attenuation.例文帳に追加

ノイズ減衰の効果を損なうことなく、低コストで、半導体装置の電気的測定のテスト時間を短縮する。 - 特許庁

This tester 100 controls the temperature of a device 120 under test in testing electrical characteristics of the device 120.例文帳に追加

試験装置１００は、被試験デバイス１２０の電気的特性試験を行う際に、被試験デバイス１２０の温度を制御する。 - 特許庁

To provide an IC socket capable of executing the accurate electrical test for a long period under a temperature of 150°C.例文帳に追加

１５０℃の温度環境下、長期間正確な電気的テストを行うことができるＩＣソケットを提供する。 - 特許庁

To provide a surface acoustic wave device which can improve moisture resistance and prevent a change in electrical characteristics in a moisture resistance test.例文帳に追加

耐湿性が向上し、耐湿試験での電気特性の変化を防止することができる弾性表面波デバイスを提供する。 - 特許庁

The signal degradation due to the test stab conductors is not generated during normal operations since the electrical conductive materials are not inserted.例文帳に追加

通常動作時には、導電物が挿入されないためテスト用スタブ配線による信号の劣化も発生しない。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing protection of a power receiving and distributing facility system which can safely and efficiently test various electrical device of a power receiving and distributing facility.例文帳に追加

受配電設備の各種電気機器を安全で効率的に行える受配電設備系統保護試験装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a press-fit pin connection testing method, capable of detecting all the press-fit pin press-fitting defective modes using only electrical test.例文帳に追加

電気検査のみにより全てのプレスフィットピン圧入不良モードを検出可能なプレスフィットピン接続検査方法を提供することである。 - 特許庁

The test circuit having first and second terminals tests the electrical characteristic of a circuit to be tested having a pair of two terminals connected to the first and the second terminals.例文帳に追加

第１及び第２の端子に接続された２端子対の被試験回路の電気的特性を試験する試験回路に関する。 - 特許庁

To test a power conditioner in accordance with an electrical characteristic regardless of the scale of an external power generation device such as a photovoltaic power generation panel.例文帳に追加

太陽光発電パネルなどの外部発電装置の規模に拘わらず、その電気的特性に合わせてパワーコンディショナの試験ができる。 - 特許庁

To reduce the cost of a jig and tool employed for the electrical test of a semiconductor device by making positions of terminals in the semiconductor device common.例文帳に追加

半導体装置における端子位置を共通化して、半導体装置の電気的試験に用いられる治工具のコストを低減する。 - 特許庁

To provide a probe card inhibited in flexure of a wiring substrate due to needle pressure, and enhanced in the reliability of the electrical test results.例文帳に追加

針荷重による配線基板の撓みを抑制し、電気的試験結果の信頼性が高められたプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide an IC socket excellent in the durability capable of conducting an electrical test of IC accurately for a long period of time.例文帳に追加

ＩＣの電気的テストを長期間正確に行うことができる耐久性に優れたＩＣソケットを提供する。 - 特許庁

To surely conduct the electrical contact with a ball terminal in the electric characteristic test of a ball type package.例文帳に追加

ボールタイプパッケージの電気的特性試験におけるボール端子との電気的接触を確実に行なう。 - 特許庁

To provide a power source tester and a power source test method on vehicle-mounted electrical equipment for appropriately checking a phenomenon owing to a power source voltage.例文帳に追加

電源電圧に起因する現象確認を適切に行うことができる車載電装品の電源試験装置および電源試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testpiece collecting device of an electrical discharge machining method to obtain test pieces from the surface of metal components.例文帳に追加

金属構成部品の表面から試料を得るための放電加工式試料採取装置が提供される。 - 特許庁

The electrical test of the plurality of semiconductor chips 4 is effected, and thereafter, the resin-sealed parts 2 and the substrate 1 are cut to divide the semiconductor chip 4 into several individual pieces.例文帳に追加

複数の半導体チップ４の電気的試験を行った後、樹脂封止部２および基板１を切断して半導体チップ４を個片化する。 - 特許庁

TCC (TEST CELL CONDITIONER)'S SURROGATE CLEANING DEVICE OF PIN ELEMENT ON LOADING BOARD, OR ELECTRICAL INTERFACE RECEPTACLE, AND CLEANING METHOD例文帳に追加

搭載盤上のピン素子、または電気インタフェース・レセプタクル（ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌｉｎｔｅｒｆａｃｅｒｅｃｅｐｔａｃｌｅ）のＴＣＣ清掃装置（ｔｅｓｔｃｅｌｌｃｏｎｄｉｔｉｏｎｅｒ（ＴＣＣ）ｓｕｒｒｏｇａｔｅｃｌｅａｎｉｎｇｄｅｖｉｃｅ）と清掃方法 - 特許庁

Since the test program suitable for the inspection of each semiconductor device is selected on the basis of the manufacture process information J1 and the electrical inspection is executed, the efficiency of the electrical inspection is improved, the inspection time is shortened and the burdens of the correction and alteration, etc., of the test program are reduced.例文帳に追加

製造プロセス情報Ｊ１に基づいて各半導体装置の検査に好適なテストプログラムが選定され、電気的検査が実行されるので、電気的検査の効率が高められて検査時間が短縮され、テストプログラムの修正、改定等の負担が軽減される。 - 特許庁

To provide an electrical leak detector that can test an electrical leak detecting circuit without supplying power supply for loading to a load, and can use low withstanding pressure article as a component used for a circuit for supply/stop of test current.例文帳に追加

負荷用の電源を負荷に供給せずに漏電検出回路のテストを行うことができるとともに、テスト電流の供給・停止のための回路に使用される部品として低耐圧品を使用することができる漏電検出装置を提供する。 - 特許庁

The testing facility terminal (13) automatically changes an interface (14) based on the transferred information to meet the electrical equipment (1) to be tested, carries out the electrical characteristics evaluation/test and transfers the test result via the network (10) to the host computer (11).例文帳に追加

転送された情報から試験設備端末（１３）は、対象となる電気機器（１）に合わせてインターフェイス（１４）を自動的に変更し、電気特性評価試験を行い、試験結果をホストコンピュータ（１１）にネットワーク（１０）を介して転送する。 - 特許庁

To provide a power regeneration system that reduces electrical power received from a commercial power supply to prevent the greenhouse gas emissions, by conducting a running test on an engine under optional conditions and converting an engine output into electrical power and regenerating it to a load system during the running test.例文帳に追加

任意の条件でエンジンの運転試験を行うとともに、運転試験中のエンジン出力を電力に変換し負荷設備に回生することで、商用電源の受電電力を低減し温暖化ガスの排出を抑制することができる電力回生システムの提供を目的とする。 - 特許庁

To enable precise discrimination between passing or failure of a semiconductor element in an electrical characteristic test, by leaving a resist film to only one of semiconductor elements considered as acceptable and unacceptable in the electrical characteristic test and in the subsequent steps, through determination depending on the presence of the resist film on the semiconductor element that the element is acceptable or unacceptable.例文帳に追加

電気的特性試験で不合格とされた半導体素子にインクによってバッドマークを形成する方法では、インク径のばらつき等によるマークの不均一性によって識別ミスが発生する虞れがあるうえ、不合格品の再生も困難になる。 - 特許庁

A detection circuit 5 is provided for detecting the electrical load factors, affecting test results occurring at testing of a semiconductor device 4 from the electrical signal applied to input/output terminals of the semiconductor device 4.例文帳に追加

半導体装置４の試験時に発生する試験結果に影響を与える電気的負荷要因を、半導体装置４の入出力端子に印加する電気信号から検出する検出回路５を設ける。 - 特許庁

Further, the analysis system has a means 24 of moving the electrical contact element onto the electrical contact surface 16 of the assay element 6 positioned at a measurement position in the test element holder 23.例文帳に追加

さらに該分析システムは、試験エレメントホルダー（２３）中の測定位置に位置決めされる分析試験エレメント（６）の電気的接触表面（１６）に、電気的接触エレメントを移動させるための手段（２４）を持っている。 - 特許庁

To provide a contact probe pin having both electrical conductivity and durability, and providing low adhesion to an object under test (particularly, tin contained therein) and thereby stably maintaining electrical contact over a long period of time.例文帳に追加

導電性と耐久性を兼ね備えると共に、被検体（特に、それに含まれるＳｎ）の低付着性を実現して長期間に亘って安定な電気的接触を保つことのできるコンタクトプローブピンを提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method of a wiring board, capable of reliably performing an electrical test, by always properly connecting measurement terminals for electrical inspection, to solder bumps.例文帳に追加

電気検査用の測定端子を半田バンプに常に良好に接続することによって確実に電気テストを行なうことができる配線基板の検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a contact pin and a socket for electrical components wherein pasting to the electrical components terminal is suppressed and a resistance value can be made small even after a burn-in test.例文帳に追加

バーンイン試験後でも電気部品端子との貼り付きを抑制すると共に、抵抗値を小さくできるコンタクトピン及び電気部品用ソケットを提供する。 - 特許庁