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「False Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > False Defectに関連した英語例文

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False Defectの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 27



例文

To provide a defect inspection device and defect inspection method capable of omitting a false defect and inspecting a defect at high inspection sensitivity.例文帳に追加

擬似欠陥を除外して高い検査感度で欠陥検査が可能な欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

A defect detecting means 2 detects a defect on the surface of a sample at a predetermined inspection sensitivity, a false defect specifying means 4 specifies a false defect from defect information acquired by the defect detection, and a non-inspected region setting means 5 sets the detection part of the specified false defect in a non-inspected region.例文帳に追加

欠陥検出手段2は、所定の検査感度で試料表面の欠陥検出を行い、擬似欠陥特定手段4は、欠陥検出により得られた欠陥情報から擬似欠陥を特定し、非検査領域設定手段5は、特定した擬似欠陥の検出箇所を非検査領域に設定する。 - 特許庁

Self-diagnosis is conducted based on detection of the false defect as a prescribed defect signal.例文帳に追加

この疑似欠陥が所定の欠陥信号として検出されるかどうかにより、自己診断を行う。 - 特許庁

To provide a defect detector and a defect detection method for reducing false detections of defects.例文帳に追加

欠陥を誤って検出することが少ない欠陥検出装置及び欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

例文

METHOD OF GENERATING FALSE SEM IMAGE DATA AND METHOD OF EXAMINING DEFECT OF PHOTOMASK例文帳に追加

擬似SEM画像データの生成方法およびフォトマスクの欠陥検査方法 - 特許庁


例文

To provide a pattern inspection device which eliminates an erroneous detection of false defect macroscopically, and enables high defect detection accuracy microscopically.例文帳に追加

マクロには擬似欠陥の誤検出がなく、ミクロには欠陥検出精度が高いパターン検査装置を提供する。 - 特許庁

To efficiently suppress a false defect and to carry out reticle inspection where a defect is detected with high detection sensitivity.例文帳に追加

本発明は、効率良く擬似欠陥を抑制し、高い検出感度で欠陥検出可能なレチクル検査を実現する。 - 特許庁

The reflected light from the steel plate 3 is changed, thereby generates a false defect.例文帳に追加

これにより鋼板3からの反射光も変化し、疑似欠陥が発生したことになる。 - 特許庁

To provide a method for inspecting a phase shift mask, which never detects a false defect of a pattern as a pattern defect by mistake when a pattern defect of the phase shift mask is inspected.例文帳に追加

位相シフトマスクのパターン欠陥検査に際し、パターンの疑似欠陥を誤ってパターン欠陥として検出することがないようにした、位相シフトマスクの検査方法を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a defect inspection device that can efficiently detect an actual defect by removing a false defect due to unevenness caused by the growth of crystal grains or the like generating on the circuit pattern of a semiconductor integerated circuit, and to provide a defect inspection method.例文帳に追加

半導体集積回路の回路パターン上に発生する結晶粒成長等によって生じる凹凸による疑似欠陥を除去し、実欠陥を効率よく検出する欠陥検査装置、および、欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

例文

To increase the defect detecting accuracy by preventing incorrect detection of a false defect apt to occur when two images are in a high-frequency region, in pattern inspection for comparing a multi-level image.例文帳に追加

多値画像を比較するパターン検査において、2枚の画像が高周波領域にある場合に発生しやすい擬似欠陥の誤検出を防止して、欠陥検出精度を高くする。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a method for manufacturing a semiconductor device for suppressing false detection due to color irregularity even when a wafer subjected to defect inspection has color irregularity on a surface thereof.例文帳に追加

欠陥検査を行うウエハ表面に色むらがある場合でも色むらによる虚報の検出を抑制できる欠陥検査方法及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

Resultantly, since discrimination between an actual defect and a false report can be performed accurately by performing the false report determination following the decision tree by utilizing the image characteristic quantity and the coordinate characteristic quantity, high-sensitivity inspection becomes possible, while suppressing false reports.例文帳に追加

検出欠陥の画像をもとに画像特徴量を算出し、検出欠陥の位置座標をもとに座標特徴量を算出し、画像特徴量と座標特徴量のいずれかに対するしきい値処理からなる決定木に従って虚報判定を行う構成とする - 特許庁

To provide a defect extraction method and a printed wiring board final appearance inspection device, supressing generation of false information due to fluctuation in manufacturing process for an object board to be inspected.例文帳に追加

被検査対象基板の製造工程のバラツキによる虚報の発生をおさえた欠陥抽出手法及びプリント配線板最終外観検査装置を提供すること。 - 特許庁

Consequently, in-plane unevenness is suppressed in all density regions and image quality defect (e.g. false contour line) caused by in-plane unevenness correction processing can be prevented from being actualized.例文帳に追加

これにより、全ての濃度領域における面内むらを抑制し、かつ、面内むら補正処理に起因する画質欠陥(擬似輪郭など)の顕在化を防止することができる。 - 特許庁

To provide an inspection method and apparatus having higher performances than conventional ones whereby the unintended kinds of defects including false informations can be removed from their inspection results and automatic-defect-classification (ADC) results.例文帳に追加

検査結果や自動欠陥分類(ADC)の結果から、虚報を含む目的としていない種類の欠陥を除去可能な、より高性能な検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁

A removing circuit pattern memory 105 stores an image Qc showing the circuit pattern of an object to be inspected as an area where a false defect is easy to be generated and the other area.例文帳に追加

除去回路パターン記憶部105には、検査対象物の回路パターンを、疑似欠陥が発生しやすい領域とそれ以外の領域とで示した画像Qcが格納されている。 - 特許庁

A function of suppressing the influence of a noise signal due to a flaw of the recording medium 1 on an SD signal enables a DEFECT signal SDD from the recording medium to be detected without generating any false DEFECT signal.例文帳に追加

当該SD信号に対する記録媒体1の傷などに起因するノイズ信号からの影響を抑制する機能により、疑似DEFECT信号を発生させることなく、記録媒体1からDEFECT信号SDDを検出することを可能とする。 - 特許庁

Then, based on the stored sample data, an offset signal for offsetting an influence of the control signal based on a false error signal obtained within a prescribed time corresponding to the delay in detecting the defect is generated, and such an offset signal is outputted immediately after the defect is detected.例文帳に追加

そして、記憶されたサンプルデータに基づいて、ディフェクトの検出遅れに相当する所定時間内に得られる偽のエラー信号に基づく制御信号の影響を打ち消すためのキャンセル信号が生成され、かかるキャンセル信号がディフェクトの検出直後に制御信号として出力される。 - 特許庁

To provide a false-twisting machine, without being influenced by mechanical disturbance and capable of accurately detecting a defect when dispersion exists in the elongation of feed yarn and swell exists in tension.例文帳に追加

メカ的外乱の影響を受けることなく、給糸の伸度にバラツキがあり、その張力にうねりがある場合等の不良を正確に検出することができる仮撚機を提供することにある。 - 特許庁

The change of characteristic amount of an object to be inspected is statistically analyzed to automatically change the threshold of the defect extraction, whereby the generation of false information due to variation in the manufacturing process can be restrained.例文帳に追加

検査対象物の特徴量の変化量を統計的に解析し、欠陥抽出のしきい値を自動的に変化させることで製造工程のバラツキによる虚報の発生をおさえた。 - 特許庁

A control computation part 102 generates an image Qb wherein an area corresponding to the area where the false defect of an image Qb is easy to be generated is not indicated in the image Qa from the images Qa and Qc.例文帳に追加

制御演算部102では、画像Qaと画像Qcとから、画像Qaのうち、画像Qbの疑似欠陥が発生しやすい領域に相当する領域の画像が表示されない画像Qbを生成する。 - 特許庁

To provide an interpolation device which enables preventing bit shift of demodulation signal when a 'false pulse' due to a noise is superposed to the phase-encoded modulated input signal or due to the pulse omitted caused by the defect, etc., on a disk.例文帳に追加

フェーズエンコード変調信号入力にノイズによる「偽のパルス」が重畳されたり、ディスク上のディフェクト等によりパルスが欠落した場合に復調信号のビットずれをなくすことができる内挿装置を提供する。 - 特許庁

To provide an information recording booklet for sending in which false adhesion requirements as a final product and the maintenance of adhesion during working are consistent, and a large product loss caused by the defect of adhesion is not generated, and to provide a method for producing the same.例文帳に追加

最終的な製品としての擬似接着要件と、加工中の接着維持とを両立し、接着不良に伴う大きな製品ロスが発生しない送付用情報記録冊子及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

Thereby, only a real defect excluding the part where patterns are joined (false defects) is left in the part where defects are detected by the comparing inspection, which lessens works for deciding defects by an operator and reduces the inspection time for the mask.例文帳に追加

これにより、比較検査で得られた欠陥検出部には、描画繋ぎ部分(擬似欠陥)を除いた正真の欠陥だけが残されるので、作業者の欠陥判定の負担を軽くすることができ、マスクの検査時間を短縮できる。 - 特許庁

To provide an electronic still camera provided with an image signal processor by which a false signal based on a defect pixel of a solid-state image pickup element included in an object picture from the solid-state image pickup element with high resolution at image pickup is reduced and a video image of the picture is displayed on a monitor in real time.例文帳に追加

撮影時の高解像度の固体撮像素子からの被写体画像に含まれる固体撮像素子の欠陥画素に基づく偽信号を低減しかつその画像の映像を実時間でモニタに表示できる画像信号処理装置を備えた電子スチルカメラを提供。 - 特許庁

例文

To provide a cation-dyeable special cross section false-twisted finished yarn from which a fabric that can deeply and clearly be dyed with a cation dye, has an excellent water-absorbing/quick-drying property, give a soft touch, does not give a sticky touch, does not have a defect of warp stripes, and has an excellent grade can be produced.例文帳に追加

異形断面仮撚加工糸においても、カチオン染料により濃色且つ鮮明に染色可能であると共に、吸水・速乾性に優れ、ソフト感が良好で、ベタツキ感がなく、しかも経筋欠点がない品位に優れた布帛を製造することが可能なカチオ染料可染性特殊断面仮撚加工糸を提供すること。 - 特許庁




  
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