「Probe Alignment」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The probe alignment confirmation circuit and the probe alignment confirmation method of the semiconductor device are disclosed.例文帳に追加

半導体装置の探針整列確認回路及び探針整列確認方法が掲示される。 - 特許庁

PROBE ALIGNMENT METHOD, MOVABLE PROBE UNIT MECHANISM, AND INSPECTION DEVICE例文帳に追加

プローブ位置合わせ方法及び可動式プローブユニット機構並びに検査装置 - 特許庁

PROBE CARD, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, AND ALIGNMENT METHOD例文帳に追加

プローブカード、その製造方法、およびアライメント方法 - 特許庁

To provide a probe alignment confirmation circuit of a semiconductor device for confirming the alignment state of a probe, without additional consumption of channels, and to provide a probe alignment confirmation method.例文帳に追加

チャネルの追加的な消耗なしに、探針の整列状態を確認できる半導体装置の探針整列確認回路及び探針整列確認方法を提供する。 - 特許庁

METHOD OF ADJUSTING ALIGNMENT OF PROBE AND SHAPE MEASUREMENT MACHINE例文帳に追加

プローブのアライメント調整方法および形状測定機 - 特許庁

PROBE CARD AND METHOD FOR FORMING ALIGNMENT MARK THERETO例文帳に追加

プローブカード及びこれにアライメントマークを形成する方法 - 特許庁

ALIGNMENT METHOD, TIP POSITION DETECTING DEVICE AND PROBE APPARATUS例文帳に追加

アライメント方法、針先位置検出装置及びプローブ装置 - 特許庁

To provide a probe which can accurately and easily perform alignment, and to provide a probe card.例文帳に追加

正確にかつ容易にアライメントが可能なプローブ、およびプローブカードを提供する。 - 特許庁

SELF-ALIGNMENT MECHANISM IN CONTACT BETWEEN ELECTRONIC COMPONENT AND PROBE CARD例文帳に追加

電子部品とプローブカードの接触におけるセルフアライメント機構 - 特許庁

ALIGNMENT METHOD FOR MEASUREMENT, CANTILEVER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

測定位置合わせ方法、カンチレバ及び走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING TIP POSITION OF PROBE, ALIGNMENT METHOD, TIP POSITION DETECTOR AND PROBE UNIT例文帳に追加

プローブの針先位置の検出方法、アライメント方法、針先位置検出装置及びプローブ装置 - 特許庁

To provide a probe card capable of maintaining the tip of the probe pin of the probe card at uniform height continuously, performing alignment easily, and reducing alignment time.例文帳に追加

プローブカードのプローブピンの先端部を常に均一の高さに保ち、容易にアライメントができ、アライメント時間を短縮することができるプローブカードを提供することを目的とする。 - 特許庁

The probe alignment confirmation circuit comprises a sensor pad provided with an insulating part and a conduction part, a probe alignment confirming part for generating a confirmation signal in a non-alignment state of the probe, and a normal pad for receiving the confirmation signal transmitted from the probe alignment confirming part.例文帳に追加

本発明の探針整列確認回路は、絶縁パートと伝導パートを備えるセンサーパッドと、探針の非整列状態での確認信号を発生する探針整列確認部及び探針整列確認部から伝送される確認信号を受信するためのノーマルパッドを備える。 - 特許庁

PROBE END DETECTION METHOD, ALIGNMENT METHOD, RECORDING MEDIUM RECORDED WITH METHOD, AND PROBE DEVICE例文帳に追加

プローブ先端の検出方法、アライメント方法及びこれらの方法を記録した記憶媒体、並びにプローブ装置 - 特許庁

To facilitate alignment of a probe to a wire of a device to be inspected.例文帳に追加

被検査装置の配線に対するプローブの位置合わせを容易にする。 - 特許庁

The probe holder part is contained within the probe holder holding part and the probe holder 3 is inserted in the probe holder part 4 with the cut groove aligned with the opening; the probe holder part 4 is then rotated to move the cut groove and the opening out of alignment with each other to hold the probe cable 3.例文帳に追加

プローブホルダ部をプローブホルダ保持部に収容し、切り溝と開口部とを一致させて、プローブケーブルをプローブホルダ部内に入れ、プローブホルダ部を回転して切り溝と開口部とをずらし、プローブケーブルを保持する。 - 特許庁

To provide a probe device and an alignment method for quickly and surely detecting the position of the needle point of the probe of a probe card without erroneously recognizing it, and for shortening an alignment time.例文帳に追加

従来のアライメント方法の場合には、プローブカード１からの反射光や針先の形状の影響を受け、撮像手段２の焦点をプローブ１Ａの針先に合わせる時間が長くなる。 - 特許庁

To provide a probe end detection method which can surely prevent damages to probe cards during alignment thereof by surely and accurately detecting the heights of the probe ends of the probe cards at the time of alignment, even if the probe cards are of different type or there are manufacturing variations between the probe cards.例文帳に追加

例えば品種の異なるプローブカードや製造上バラツキのあるプローブカードであっても、アライメント時にプローブカードのプローブの先端の高さを確実且つ高精度に検出し、アライメント時に、プローブカードの損傷を確実に防止することができるプローブ先端の検出方法を提供する。 - 特許庁

In order to implement alignment between the probe apical end and the electrode, a probe is arranged for alignment with higher pressure than other probes to the electrode.例文帳に追加

前記プローブ先端部と前記電極との位置合わせを行うため、他のプローブよりも前記電極に対する圧力の高い位置合わせ用プローブを設けた。 - 特許庁

Each of the alignment sections is disposed between the two adjacent probe sections.例文帳に追加

前記アライメント部は、隣接する2つの前記プローブ部の間にそれぞれ配置される。 - 特許庁

To provide an alignment adjusting apparatus for a probe capable of accurately aligning the angle of the probe and the angle of a hole and capable of preventing the damage of the probe, a measuring machine equipped therewith and an alignment adjusting method for the probe.例文帳に追加

プローブの角度と穴の角度とを正確に一致させることができ、プローブの破損を防止することができるプローブのアライメント調整装置、その装置を備えた測定機およびプローブのアライメント調整方法を提供する。 - 特許庁

Thereafter, the alignment of a proper electrode pattern part with the probe head 12 of the testing device is executed, and alignment information is obtained.例文帳に追加

その後、適宜の電極パターン部と検査装置のプローブヘッド１２とのアライメントが実施され、アライメント情報が得られる。 - 特許庁

To provide a probe card facilitating alignment when fixing a probe substrate to a wiring board, and improving a mounting accuracy of the probe substrate, and also to provide a method for manufacturing the probe card.例文帳に追加

プローブ基板を配線基板に固着させる際の位置合わせを容易化し、プローブ基板の実装精度を向上させることができるプローブカード及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe unit capable of performing easily alignment with an electrode of a specimen.例文帳に追加

検体の電極との位置合わせが容易なプローブユニットを提供することを目的とする。 - 特許庁

PROBE TIP TO DEVICE PAD ALIGNMENT IN OBSCURED VIEW PROBING APPLICATIONS例文帳に追加

不明瞭な表示を有するプロービングアプリケーションにおけるデバイスパッドに対するプローブチップのアライメント - 特許庁

To provide a probe card that facilitates the alignment of a probe needle to an inspected object and can be even in a probing device for a blade type or cantilever type probe card.例文帳に追加

被検査物に対するプローブ針の位置合わせが容易であり、ブレードタイプやカンチレバータイプのプローブカード用のプロービング装置でも使用できるプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of performing simply and accurately probe part alignment with respect to an observation domain on a sample.例文帳に追加

試料上の観察領域に対する探針部位置合わせが簡単且つ正確に行われる走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Two or more columns each having the probe section and the alignment section alternately arranged are disposed in parallel to each other.例文帳に追加

前記プローブ部及び前記アライメント部を交互に並べた列を平行に２以上配設した。 - 特許庁

An alignment mechanism is used to align the fiber optical guide to an input end of the temperature probe.例文帳に追加

ファイバ光ガイドを温度プローブの入力端に調心するために、調心機構が用いられる。 - 特許庁

As a result, even if the alignment adjusting apparatus is inserted in a deep hole or the like, the probe does not interfere with the side surface thereof and the damage of the probe can be prevented.例文帳に追加

その結果、深穴等に挿入させてもその側面にプローブが干渉することがなくなり、プローブの破損を防止することができる。 - 特許庁

The first liquid crystal panel is aligned by using three alignment marks on the panel and three cameras on the probe stage, and the alignment of the probe and the electrodes on the panel is checked by using a microscope.例文帳に追加

１枚目の液晶パネルは，パネル上の三つのアライメントマークとプローブステージ上の三つのカメラを用いてアライメントし，かつ，顕微鏡を用いてプローブとパネルの電極との位置合わせ状態を確認する。 - 特許庁

A first liquid crystal panel is aligned by using three alignment marks on the panel and three cameras on a probe stage, and an alignment state of a probe and an electrode of the panel is confirmed by using a microscope.例文帳に追加

１枚目の液晶パネルは，パネル上の三つのアライメントマークとプローブステージ上の三つのカメラを用いてアライメントし，かつ，顕微鏡を用いてプローブとパネルの電極との位置合わせ状態を確認する。 - 特許庁

A tilting probe pin 24 for alignment is disposed in a probe card substrate 21, an alignment mark 28 is disposed in an inspected chip 26 of a semiconductor wafer 25 to be inspected, and the positional relation between the tips of two tilting probe pins 24 and the alignment mark 28 can be observed through an opening 23.例文帳に追加

プローブカード基板２１に位置合わせ用の傾斜プローブピン２４を設け、さらに被検査物である半導体ウェーハ２５の被検査チップ２６に位置合わせマーク２８を設け、２本の傾斜プローブピン２４の先端と位置合わせマーク２８との位置関係を開口部２３を通して観察できるように構成した。 - 特許庁

The probe device 10 is equipped with a probe card 11, a wafer transferring mechanism 12, an XY stage 13, chuck tables 14a, 14b, an alignment mechanism 15 and a control unit 16.例文帳に追加

プローブ装置１０は、プローブカード１１、ウェハ搬送機構１２、ＸＹステージ１３、チャックテーブル１４ａ，１４ｂ、アライメント機構１５、及び制御部１６を有する。 - 特許庁

Thus, the semiconductor device that applies probe alignment confirmation circuit (DPAC) is different from conventional types and enables confirmation of the non-alignment state, between the probe and the pad of the semiconductor device 300.例文帳に追加

従って、本発明の探針整列確認回路(DPAC)を適用する半導体装置は、従来とは違い、追加的な信号チャネルの消耗なしに、探針と半導体装置３００のパッドの間の非整列状態を確認できる。 - 特許庁

To provide a probe card and a wafer inspection system having the probe card, which make alignment of a sheet-shaped probe with respect to an inspection circuit board, and easily perform an assembly operation.例文帳に追加

検査用回路基板に対するシート状プローブの位置合わせを確実に行うことができ、組立作業を容易に行うことができるプローブカードおよびこのプローブカードを具えたウエハ検査装置の提供。 - 特許庁

A hollow section 3 where inert gas, such as N_2, is sealed is provided inside the probe card, and uniform pressure is applied to each probe pin 7 via a guide 8, thus maintaining the height of the probe pin 7 uniformly, facilitating alignment, and reducing alignment time.例文帳に追加

プローブカード内部にＮ_２などの不活性ガスが封入された中空部３を設け、ガイド８を介して各プローブピン７に均一の圧力をかけることができるため、プローブピン７の高さを一定に保つことができ、容易にアライメントができ、アライメント時間を短縮することができる。 - 特許庁

To provide an inexpensive probe card which facilitates an alignment even though an adapter board system is employed, and can prevent deterioration of the contact between a probe and an electrode pad.例文帳に追加

中継基板方式を採用しつつ、安価で位置合わせが容易であるとともに、プローブと電極パッドとの接触の悪化を抑制するプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide a probe device capable of securing the alignment accuracy of a semiconductor wafer and a probe needle as usual in addition to the simplification of structure and the miniaturization of the whole device.例文帳に追加

構成の簡易化、および装置全体の小型化が実現できる上に、半導体ウェハとプローブ針のアライメント精度を従来と同様に確保できるプローブ装置の提供。 - 特許庁

To provide a probe card and an inspection method, allowing reduction of excess man-hours caused by an alignment failure of the probe card generated by reduction of the area or a pitch of an IO pad, or electroconductivity failure between the probe card and a wafer.例文帳に追加

ＩＯパッドの小面積化、狭ピッチ化により発生するプローブカードのアライメント不良、プローブカードとウエーハの導通不良により生じる余分な工数を削減出来るプローブカードおよび検査方法を提供する。 - 特許庁

To solve the problem wherein a zero contact point where a wafer W and a probe pin 8A are brought into electric contact with each other can not be determined exactly, while alignment between the wafer W and the probe pin 8A of a probe card 8 is performed when inspecting the wafer W by using a probe device.例文帳に追加

プローブ装置を用いてウエハＷの検査を行う際にウエハＷとプローブカード８のプローブピン８Ａとのアライメントを行っているが、ウエハＷとプローブピン８Ａとが電気的に接触するゼロコンタクトポイントを正確に求めることができない。 - 特許庁

The system is also capable of determining the angular alignment of the probe with respect to a known coordinate system.例文帳に追加

上記システムはまた一定の既知の座標系に対する上記プローブの角度的整合状態を決定することもできる。 - 特許庁

To provide a probe with an alignment mark hardly affected by cutting scraps from an electrode cut by a needlepoint.例文帳に追加

針先によって削られる電極の削りかすによる影響を受けにくいアライメントマークが設けられたプローブを提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope for actualizing the downsizing of a device by dispensing with alignment adjustment on a detection system.例文帳に追加

検出系のアライメント調整を無くして装置の小型化を実現可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Moreover, the apparatus is equipped with functions such as an electron probe controlling function, an electron beam alignment function, the CT function and the element analysis function.例文帳に追加

更に、電子プローブ制御機能、電子線軸合わせ機能、ＣＴ機能、元素分析機能などの機能を搭載する。 - 特許庁