「Probe Alignment」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a scanning probe microscope capable of securing high holding accuracy and provided with a holding mechanism in which a probe is removable with good reproducibility without using optical system alignment.例文帳に追加

高精度の保持精度が確保でき、光学系でのアライメントを必要とすることなく再現性良くプローブを着脱できる保持機構を備えた走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a probe capable of forming an electric contact capable of self-alignment for the use of thousands times by combining the material characteristic and the shape characteristic of an electric probe contact.例文帳に追加

電気プローブ接点の材料特性および形状特性を組み合わて何千回もの使用にわたって自己整合ができる電気接点を作り出すことのできるプローブを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor probe where a resistance chip is formed at an end of a cantilever having no alignment margin, and to provide a manufacturing method therefor.例文帳に追加

抵抗性チップが整列マージンなしにカンチレバーの端に形成された半導体探針及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope that accurately specifies the measuring region of a sample having a minute pattern that cannot be observed easily by an optical microscope, is capable of alignment, and can correct measuring profile distortion caused by the variation of a probe shape or probe wear, based on the state of the probe shape and probe wear.例文帳に追加

光学顕微鏡では観察が困難であるような微細パターンを有する試料の計測領域を正確に特定し、位置合わせすることができ、探針形状および探針磨耗の状態に基づいて、探針形状のばらつき、もしくは探針磨耗に起因する計測プロファイル歪みの補正を行うことのできる走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a probe scanning terahertz electromagnetic wave imaging device capable of simply performing alignment without using an optical system.例文帳に追加

光学系を用いることなく、アライメントを簡便に行うことのできる探針走査型テラヘルツ電磁波イメージング装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a probe block of a probe device for testing a liquid crystal panel, which facilitates alignment of a probe block electrode with an electrode, has high flexibility to cope with a difference in size of a liquid crystal panel and enables a test with reliability.例文帳に追加

液晶パネル検査用のプロ−ブ装置のプロ−ブブロックにおいて、プロ−ブブロック電極３と電極１２との位置合わせし易く、液晶パネル１１の大きさの違いがあっても対応できる汎用性が高く信頼性のある検査ができるようにする。 - 特許庁

Alignment between a probe and the electrode of a glass substrate 73 is made by finely adjusting an X-stage, a Y-stage, and a θ-stage.例文帳に追加

Ｘステージ６４とＹステージ６６とθステージ６８を微調整することで、プローブとガラス基板７３の電極とのアライメントを実施する。 - 特許庁

To provide a probe card positioning mechanism wherein alignment with a contact pin is facilitated, with a very simple mechanism for improved versatility.例文帳に追加

きわめて簡単な機構でコンタクトピンとの位置合わせができるとともに汎用性も向上し得るプローブカードの位置決め機構を提供すること。 - 特許庁

For example, by making the diameter of the probe for alignment to be larger than that of other probes, the pressure to the electrode can be heightened to other probes.例文帳に追加

例えば、前記位置合わせ用プローブの直径を他のプローブよりも大きくして、他のプローブよりも前記電極に対する圧力を高くした。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope for preventing an image from being distorted due to an alignment error of a scanner, and a measurement method utilizing it.例文帳に追加

スキャナーの整列誤差に起因するイメージの歪曲が防止された走査探針顕微鏡及びそれを利用した測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic probe having a piezoelectric element a backing layer, and two layers of acoustic alignment layers which turns a frequency characteristic into a broadband.例文帳に追加

圧電振動子と、バッキング層と、２層の音響整合層を備える超音波用探触子において、周波数特性を広帯域化する。 - 特許庁

By using the offset, coordinates of the alignment mark 29 on the wafer measured by the camera 8 are transformed into a coordinate system of the probe 1 with high accuracy.例文帳に追加

このオフセットを用いて、カメラ８で測定したウエーハ上のアライメントマーク２９の座標を、プローブ１の座標系に高精度に変換する。 - 特許庁

To provide a probe and its manufacturing method, a probe array and its manufacturing method, and an optical pickup device with which manufacturing can be performed simply without requiring alignment of a projection part and a condensing means.例文帳に追加

突起部と集光手段とのアライメントが必要なく、より簡単に製造することができる、プローブおよびその製造方法、プローブアレイおよびその製造方法、ならびに光ピックアップ装置を提供すること。 - 特許庁

The alignment adjusting apparatus 10 for the probe is constituted so as to adjust the angle of the probe 22 for measuring the shape of a portion to be measured before measurement and equipped with an angle adjusting means 21 capable of adjusting the angle of the probe 22 along an axial line becoming a standard.例文帳に追加

被測定部の形状を測定するプローブ２２の角度を、測定の前に調整するプローブのアライメント調整装置１０であって、プローブ２２の角度が基準となる軸線に沿うように、プローブ２２の角度を調整可能な角度調整手段２１を備えている。 - 特許庁

To provide a shape measuring device having a constitution for easily performing alignment work of a measuring probe and a specimen in shape measurement of the specimen.例文帳に追加

被検物の形状測定において、測定プローブと被検物との位置合わせ作業を簡単に行うことが可能な構成の形状測定装置を提供する。 - 特許庁

The chuck moving mechanism is provided over the adjacent probe sections, so that the chucks can be supported movably to the same alignment section.例文帳に追加

前記チャック移動機構は、隣接する複数の前記プローブ部に亘って設けられ、複数の前記チャックを同一の前記アライメント部に移動可能に支持する。 - 特許庁

To improve alignment accuracy between an electrode pad and a probe pin in an electric characteristic test of a semiconductor element, and work efficiency of the electric characteristic test.例文帳に追加

半導体素子の電気的特性試験における、電極パッドとプローブピンとの位置あわせの精度、電気的特性試験の作業効率を向上させる。 - 特許庁

To provide a testing apparatus capable of accurately, quickly and easily performing alignment work by enabling direct observation from the upper part of a thin film probe.例文帳に追加

薄膜プローブ上方からの直接観察を可能とすることで、高精度かつ短時間の位置合わせ作業を容易に行える検査装置を提供する。 - 特許庁

A lens on the wafer is measured by the probe 1, thereby highly accurately determining a lens center while defining a position of the alignment mark 29 on the wafer as a criterion.例文帳に追加

プローブ９でウエーハ上のレンズを測定すれば、ウエーハ上のアライメントマーク２９位置を基準で高精度にレンズ中心を求めることができる。 - 特許庁

The prober system is provided with probe sections each positioning a test object by driving chucks each supporting the test object in a fore-and-aft direction and a rotating direction, and executing a test by allowing the test object to contact with a probe needle; alignment sections each aligning the test object; and a chuck moving mechanism for moving the chucks between the probe sections and the alignment sections.例文帳に追加

プローバシステムは、被検査体を支持したチャックを前後左右および回転方向に駆動させて前記被検査体の位置合わせを行い、当該被検査体をプローブ針に接触させて試験を行うプローブ部と、前記被検査体のアライメントを行うアライメント部と、前記チャックを前記プローブ部と前記アライメント部との間で移動させるチャック移動機構とを具備している。 - 特許庁

To provide a method for reregistering an alignment object in which a photographed image 16A of a probe 12A after variation can be reregistered in a short time when the photographed image 16A is varied due to difference in model of the probe 12A.例文帳に追加

プローブ１２Ａが機種等の相違により撮像画像１６Ａが変動した場合、変動後のプローブ１２Ａの撮像画像１６Ａを短時間で再登録することができる位置合わせ対象物の再登録方法を提供する。 - 特許庁

The ring 4 and the probe 3 of the simple spherometer 1 are brought into contact with these counter ring reference face 11 and the counter probe reference face 12, respectively, to perform reference height alignment of the simple spherometer 1 without using the spherical face primary standards.例文帳に追加

これらの対リング基準面１１と対測定子基準面１２に簡易球面計１のリング４および測定子３をそれぞれ当接させて、球面原器を使用することなく簡易球面計１の基準高さ合わせを行う。 - 特許庁

To prevent the occurrence of connection failure by electrically connecting a probe terminal and a bump of a semiconductor chip with highly precise alignment and at a constant and sufficient pressing force.例文帳に追加

高精度な位置合わせ、および、均一かつ十分な押圧で、プローブ端子と半導体チップのバンプとを電気的に接続することにより、接続不良の発生を防止する。 - 特許庁

To provide a highly productive semiconductor chip testing apparatus capable of accurately and automatically accomplishing contact alignment of a semiconductor chip and a probe.例文帳に追加

半導体チップとプローブのコンタクト位置合わせを、高精度かつ自動で行うことができる生産性の高い半導体チップテスト装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

Alignment of a curved mirror 12 and the detector 13 is adjusted so as to converge the probe light on an appropriate position of the detector 13 in the state of the first rotational position.例文帳に追加

第１の回転位置の状態で、プローブ光が検出器１３の適切な位置に集光するように、曲面鏡１２及び検出器１３のアライメントを調整する。 - 特許庁

A kit 100 for setting the depth of the turbine probe includes a male measurement jig 110 having an extended leg 160 and an alignment barrel 120, and a female measurement jig 300 having a depth rod 340.例文帳に追加

タービン・プローブ深さをセットするためのキット100は、伸びた脚160及び整合バレル120を有する雄の測定治具110と、深さロッド340を有する雌の測定治具300とを含む。 - 特許庁

To laminate a wafer electrode and a contact by facilitating alignment of the wafer electrode and a contact probe stably over a long term even in a production process employing a large number of inspection boards and a large number of alignment devices when inspection of wafers is conducted in a block.例文帳に追加

ウエハ一括での検査を行う場合に、多数の検査ボード、多数のアライメント装置を用いる生産工程であっても、長期的に安定してウエハ電極とコンタクトプローブの位置合わせを容易に行いコンタクトと貼り合わせることを目的とする。 - 特許庁

The scattered light of near-field light 68 being generated from irradiation light 74 being applied to an alignment mark 61 from an excitation light irradiation means 71 is guided to a detector 137 via a fiber 87 of the probe 62 for alignment.例文帳に追加

励起光照射手段７１からアライメントマーク６１に対して照射された照射光７４により生じた近接場光６８の散乱光は、アライメント用プローブ６２のファイバ８７を介して検出器１３７へと導光される。 - 特許庁

Thus, the data side probe 26 and the data electrode 60 are accurately aligned, and alignment error can be prevented even when a large liquid crystal panel is irradiated with a high-luminance backlight.例文帳に追加

これにより，データ側プローブ２６とデータ電極６０との位置合わせが正確になり，大型の液晶パネルを高輝度バックライトで照明した場合でもアライメント不良を回避できる。 - 特許庁

Alignment of a curved mirror 9 and the generator 8 is adjusted so as to converge the probe light on a terahertz pulsed light generating point of the generator 8 in the state of the second rotational position.例文帳に追加

第２の回転位置の状態で、プローブ光が発生器８のテラヘルツパルス光発生点に集光するように、曲面鏡９及び発生器８のアライメントを調整する。 - 特許庁

To facilitate the alignment of a sample probe while preventing contamination or oxidation in the atmosphere in an observation device of a nanolevel structural composition and an observation method of the nanolevel structural composition.例文帳に追加

ナノレベル構造組成観察装置及びナノレベル構造組成観察方法に関し、試料探針の位置合わせを容易にするとともに、大気中での汚染や酸化を防止する。 - 特許庁

A wafer 65 that is coated with a resist 33 is placed on a stage 72, and also an ultraviolet-ray irradiation means 86 for washing a probe 62 for alignment where a film that causes photocatalysis reaction with ultraviolet rays is formed at a tip part surface and a probe 95 for exposure and provided.例文帳に追加

ステージ７２上にはレジスト３３の塗布されたウエハ６５が載置され、また、紫外線と光触媒反応を起こす膜が先端部の表面に形成されたアライメント用プローブ６２及び露光用プローブ９５を、それぞれ清浄するための紫外線照射手段８６が設けられている。 - 特許庁

To provide a silicon probe card in which the position of respective inspection terminals arranged and installed at microscopic pitches and composed of a needlelike crystal is calculated surely in a photographing operation with a camera, and in which the alignment of an electrode pad with the respective inspection terminals can be performed automatically, and to provide a method of manufacturing the silicon probe card.例文帳に追加

極小ピッチで配設される針状結晶からなる各検査用端子の位置を、カメラによる撮影で確実に割り出すことが出来、電極パッドと各検査用端子との位置合せを自動的に行うことが可能なシリコンプローブカードとその製造方法を提供する。 - 特許庁

An eddy-current probe 13 is held by a drive system 17 associated with a positioning baseplate 25 that holds a calibration part 35 including a hole similar to the hole for inspection and in alignment with an orifice thereof.例文帳に追加

渦電流プローブ（１３）は、検査のための孔と類似の孔を含み、そのオリフィスと整列する較正部品（３５）を保持する位置決めベースプレート（２５）に関連付けられる駆動システム（１７）によって保持される。 - 特許庁

A dicing tape 12 applied to a holder 11 for the dicing tape is fixed onto a chuck table 31, and an alignment mark 13 provided on the holder 11 for the dicing tape is recognized, so that the positions of the semiconductor chip 3b and a probe 42 are aligned, and the probe 42 is brought into contact with an electrode pad on the semiconductor chip 3b.例文帳に追加

ダイシングテープ用治具１１に貼り付けられたダイシングテープ１２をチャックテーブル３１上に固定し、ダイシングテープ用治具１１に設けられたアライメントマーク１３の認識を行うことにより、半導体チップ３ｂとプローブ４２の位置合わせを行い、プローブ４２を半導体チップ３ｂの電極パット上に接触させる。 - 特許庁

To provide a microprobe capable of simplifying the constitution, improving measuring accuracy on the sample surface, and not requiring alignment adjustment in each measurement, and a scanning probe device using the microprobe.例文帳に追加

構成を簡易にすることができるとともに、試料面の測定精度を向上させることができ、しかも測定毎のアライメント調整を不要にすることができるマイクロプローブおよびそれを用いた走査型プローブ装置を得ること。 - 特許庁

An alignment mark 14 is made by depositing such a substance (chromium oxide (CrO)) as ensuring a contrast sufficient for detecting a mark when a silicon substrate is irradiated with a probe light on a reticle substrate 10 made of silicon (Si).例文帳に追加

アライメントマーク１４は、シリコン（Ｓｉ）製のレチクル基板１０上にシリコン基板にプローブ光を照射した際にマークの検出に十分なコントラストが得られる物質（酸化クロム（ＣｒＯ））を成膜することにより作製されている。 - 特許庁

A device main body 25 is provided with two camera holding arms 26, extending toward each through hole 23a of the holding board 23, and a CCD camera 23 is fixed to the tip part of each camera- holding arm 26, which reads each image of a first alignment mark of the semiconductor wafer 1 and a second alignment mark of a probe seat positioned near each other.例文帳に追加

装置本体２５から保持基板２３の各貫通孔２３ａに向かって延びる２つのカメラ保持アーム２６が設けられ、各カメラ保持アーム２６の先端部には、互いに近傍に位置する半導体ウエハ１の第１のアライメントマーク及びプローブシートの第２のアライメントマークの各映像を読みとるＣＣＤカメラ２７が固定されている。 - 特許庁

After coarsely adjusting the position of a support stage 11 by alignment, the probe pin 32 is moved with respect to the surface forming an electrode pad 92 of an IC chip 90 horizontally (in the X direction and Y direction) to determine the coordinates of the support stage in the X direction and Y direction when the probe pin 32 falls from the electrode pad 92.例文帳に追加

アライメントによって支持ステージ１１の位置を祖調整した後で、プローブピン３２をＩＣチップ９０の電極パッド９２形成面に対して水平方向（Ｘ方向、Ｙ方向）に移動させて、プローブピン３２が電極パッド９２上から落ちたときの支持ステージの座標位置をＸ方向、Ｙ方向についてそれぞれ求める。 - 特許庁

The flow probe has two sensors (preferably thermistors), it is designed to provide detection results in the gas stream temperature and flow rate, and its shape and alignment decrease the occurrence of condensation on the sensors and enable accurate measurement.例文帳に追加

流量プローブは、２つの（サーミスタであるのが好ましい）センサを備え、ガス流の温度及び流量の検出結果を提供するように設計され、プローブの形状をよび整列が、センサ上での凝結の発生を減少させて正確な測定を可能にしている。 - 特許庁

The scanning type probe microscope is provided further with an acquisition-registering means for acquiring and registering a reference pattern for alignment, and a recipe formation means for recipe-registering the luminous energy to an illuminance when registering an image pattern to a recipe by the acquisition-registering means.例文帳に追加

さらに走査型プローブ顕微鏡は、アライメントのための参照用パターンを取得・登録する取得登録手段と、この取得登録手段によって画像パターンをレシピに登録した時の照度に光量をレシピに登録するレシピ化手段とを備える。 - 特許庁

To provide a method for attaching a probe 6 to an exhaust gas treating device 1 which is particularly characterized by the fact that its production is simplified and narrower tolerance can be achieved and a better alignment in a receptacle opening can be achieved.例文帳に追加

本発明は、排気ガス処理装置（１）へのプローブ（６）の取付方法に関し、特に、その製造が簡便化され、より狭い誤差が達成されることができ、開口レセプタクル内部でのよりよい整列が達成される、プローブ取付方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an optical information recording and reproducing device which can realize a correct tracking signal with a simple configuration without a special structure and shape for a probe, the sacrifice of recording density and alignment of an optical system for the tracking and an optical system for wiring/readout.例文帳に追加

プローブに特別な構造・形状が必要なく、また記録密度を犠牲にすることなく、トラッキング用光学系と書き込み・読み出し用の光学系のアライメントも必要なく、しかも正確なトラッキング信号を簡単な構成で実現することができる光情報記録再生装置を提供する。 - 特許庁

The device comprises a vertical cavity surface emitting laser element 11, a micro lens 21 arranged coaxially at the output side of the vertical cavity surface emitting laser element 11, and the near field light probe 22 formed coaxially with the micro lens by a self alignment.例文帳に追加

垂直共振器表面発光半導体レーザー素子１１と、前記垂直共振器表面発光半導体レーザー素子１１の出力側に同軸に配設されるマイクロレンズ２１と、前記マイクロレンズと同軸にセルフアライメントにより形成される近接場光プローブ２２とにより構成される。 - 特許庁

To provide a probe for light detection or light irradiation having an easy manufacturing process, satisfactory in shape reproducibility, capable of being manufactured at a low cost, advantageous to multiplication, not needing optical alignment of a condensing lens with an SIL, and capable of being reduced in size, and provide a manufacturing method thereof.例文帳に追加

本発明は、作製プロセスが容易で形状再現性が良く、安価に製造できると共に、マルチ化に有利であり、集光レンズとＳＩＬとの光学的なアライメントが不要で、装置の小型化が可能な光検出または光照射用のプローブ及びその製造方法を提供することを目的としている。 - 特許庁