「Test Pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(20ページ目) - Weblio英語例文検索

An image-forming part 3 forms a color image of a predetermined test pattern to be output to a paper sheet.例文帳に追加

画像形成部３は、所定のテストパターンのカラー画像を形成して用紙に出力可能に構成されている。 - 特許庁

To decrease frequency of maintenances and raise throughput by providing a test pattern print method with a high clogging preventing effect.例文帳に追加

目詰まり防止効果の高いテストパターン印刷方法を提供し、メンテナンスの回数を減らし、スループットを高める。 - 特許庁

To provide a technology to reduce the occurrence of defective in a printed circuit board having a circuit pattern for a continuity test.例文帳に追加

導通テスト用の回路パターンを有するプリント基板において、不具合発生を低減する技術を提供する。 - 特許庁

A test pattern composed of prescribed fine lines is recorded by the same procedure as a recording procedure of a usual image.例文帳に追加

通常の画像の記録手順と同じ手順で記録媒体に所定の細線からなるテストパターンを記録する。 - 特許庁

TEST PATTERN WAFER FOR DEFECT INSPECTING DEVICE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND EVALUATION METHOD OF DEFECT INSPECTION APPARATUS USING IT例文帳に追加

欠陥検査装置用テストパターンウエハ、その製造方法及びそれを用いた欠陥検査装置の評価方法 - 特許庁

The image of this test pattern is picked up by a CCD camera 3 and the data fetch control section 2 fetches the picked-up image.例文帳に追加

このテストパターンはＣＣＤカメラ3で撮像され、その撮像画像はデータ取込制御部２に取り込まれる。 - 特許庁

To provide a projection lens inspection device for easily modifying the color of illumination light and a test pattern.例文帳に追加

照明光の色及びテストパターンを容易に変更することができる投写レンズ検査装置を提供する。 - 特許庁

To reduce man-hours and errors in test pattern creation for a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の試験パターン生成の工数を短縮し、かつ誤りを低減することを課題とする。 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION METHOD FOR FAILURE VERIFICATION AND ITS DEVICE, FAILURE VERIFICATION METHOD AND ITS DEVICE, AND PROGRAM例文帳に追加

故障検証用テストパターン生成方法及びその装置、故障検証方法及びその装置、並びにプログラム - 特許庁

In S2, transfer to the test pattern is simulated by using a model used for the proximity effect correction method for the model base.例文帳に追加

Ｓ_２ でモデルベースの近接効果補正法に使用するモデルを使ってテストパターンに転写シミュレーションを行う。 - 特許庁

If the digital camera is connected to the printer and is in a photographing mode, the digital camera transmits a photographed test pattern to the printer side.例文帳に追加

デジタルカメラは、プリンタ接続状態で、かつ、撮影モードであると、撮影したテストパターンをプリンタ側に伝送する。 - 特許庁

An imaging section 10 forms a test pattern image 9 on a printing medium 1, and a detecting section 2 detects its density.例文帳に追加

印刷媒体１に、作像部１０がテストパターン画像９を形成し、検出部２がその濃度を検出する。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR PREPARING TEST PATTERN, AND PROGRAM FOR ALLOWING COMPUTER TO PERFORM PROCESSING BY THE APPARATUS例文帳に追加

テストパターン作成装置、テストパターン作成方法及びその装置での処理をコンピュータに行なわせるためのプログラム - 特許庁

TONER DENSITY ESTIMATING METHOD AND APPARATUS USING TEST PATTERN AND TONER SUPPLYING METHOD AND APPARATUS USING THEM例文帳に追加

テストパターンを用いたトナー濃度推定方法及び装置、並びにそれを用いたトナー供給方法及び装置 - 特許庁

To detect a failure in contact chain by effectively utilizing a testing pattern to conduct the voltage contrast test.例文帳に追加

ボルテージコントラスト検査を行う場合における検査パターンを有効に利用してコンタクトチェーンの不良を検出する。 - 特許庁

Encoded image data (code data) is stored in a memory 14 and a test pattern is detected by a detecting means 28.例文帳に追加

コード化された画像データ（コードデータ）をメモリ１４に保存し、検出手段２８によってテストパターンを検出する。 - 特許庁

Moreover, since no '001' pattern generator 20 required at the outside of the transmitter, the configuration of test measurement can be simplified.例文帳に追加

更に、外部に“００１”パターン発生器２０を不要としたので、試験測定構成を簡素化することがでる。 - 特許庁

To provide a drawing device capable of quickly drawing a test pattern for adjusting alignment, and a drawing method.例文帳に追加

アライメント調整用のテストパターンを高速に描画可能な描画装置、および描画方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an ATE apparatus capable of coping with a data volume required for expressing a test pattern of an ATPG.例文帳に追加

ＡＴＰＧの試験パターンを表すのに必要なデータ量の増加に対応したＡＴＥ装置を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR JUDGMENT OF PRESENCE OR ABSENCE OF READING OF DENSITY OF FOREIGN OBJECT AND METHOD FOR CALCULATION OF REPRESENTATIVE VALUE OF DENSITY OF TEST PATTERN例文帳に追加

異物濃度の読み取り有無の判定方法、及び、テストパターンの濃度の代表値を算出する方法 - 特許庁

To provide a wiring test pattern and an evaluation method therefor capable of easily specifying a short-circuit defective part.例文帳に追加

ショート不良の箇所を容易に特定可能な配線テストパターン及びその評価方法を提供すること。 - 特許庁

A solid pattern (a) for test is printed and the recording area is divided into a plurality of blocks depending on the number of print lines.例文帳に追加

テスト用のベタパターン（ａ）を印画し、この記録エリアを印画ラインの数に応じて複数のブロックに分ける。 - 特許庁

The test land 14 in continuity with the wiring pattern of a printed circuit board 10 is formed on the end surface of the printed circuit board 10.例文帳に追加

プリント基板１０の端面に、プリント基板１０の配線パターンと導通するテストランド１４を形成する。 - 特許庁

To reduce a resource of an external memory for storing data for configuration of an IO circuit, or a data quantity of a test pattern.例文帳に追加

ＩＯ回路のコンフィグレーション用のデータを格納する外部メモリのリソースやテストパターンのデータ量を削減する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus for reducing the labor and time required for sampling a test pattern for automatic gradation correction.例文帳に追加

自動階調補正のテストパターンのサンプリングを行う際の手間の削減と時間の短縮を目的とする。 - 特許庁

(A) On the basis of a plurality of tone command values, the test pattern with a plurality of regions of different densities is printed.例文帳に追加

（Ａ）複数の指令階調値に基づいて、濃度が異なる複数の領域を有するテストパターンを印刷する。 - 特許庁

An electrically conductive circuit pattern extends between the contact pads of the test device and the contact pads of the printed circuit board.例文帳に追加

導電性回路パターンは、テスト・デバイスのコンタクト・パッドとプリント回路基板のコンタクト・パッドとの間に延びている。 - 特許庁

To alleviate time required for pattern inspection processing of a test piece for inspection, and at the same time to ensure high inspection sensitivity.例文帳に追加

検査対象試料のパターンの検査処理時間を軽減すると同時に高い検査感度を確保すること。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus which can detect a test pattern without receiving the influence by the displacement of a belt.例文帳に追加

ベルトの位置ずれの影響を受けずにテストパターンを検出することができる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

The pattern generator PG schedules the order of the test patterns S_PTN independently for each of the plurality of DUTs 1.例文帳に追加

パターン発生器ＰＧは、複数のＤＵＴ１ごとに、テストパターンＳ_ＰＴＮの順序を独立にスケジューリングする。 - 特許庁

To effectively correct an image automatically in compliance with density of a pattern image of a test target specimen.例文帳に追加

検査対象試料のパターン画像の疎密に自動的に適応した効果的な画像補正を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor and its test method with which misalignment of a pattern can be measured effectively.例文帳に追加

パターンの合わせずれを効率的に測定できる半導体装置およびその試験方法を提供すること。 - 特許庁

When there are indeterminate values remaining inside a test pattern, a state of '0' or '1' is randomly allocate.例文帳に追加

テストパタン内に不確定値が残っている場合には、“０”または“１”のいずれかの状態をランダムに割り当てる。 - 特許庁

(A) The test pattern with a plurality of regions different in density is printed on the basis of a plurality of instruction tone values.例文帳に追加

（Ａ）複数の指令階調値に基づいて、濃度が異なる複数の領域を有するテストパターンを印刷する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit verifying device which speedily verifies the function of a device to be tested and a test pattern used for its test fast without using the actual device and a tester.例文帳に追加

被試験デバイスの機能やその試験に用いるためのテストパターンを実際のデバイスやテスタを用いずに高速に検証する半導体集積回路検証装置の提供。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit, a semiconductor integrated circuit design method, a scanning test pattern generation method, and a program capable of reducing cost in a scanning test.例文帳に追加

スキャンテストにおけるコストを低減することができる半導体集積回路、半導体集積回路設計方法、スキャンテストパタン生成方法及びそのプログラムを提供すること - 特許庁

The conversion circuit 16 generates a test pattern and a clock used for adjustment and inspection of an optical module section (LD/PD) 3 and supplies them to a test mode circuit 11.例文帳に追加

変換回路１６は、光モジュール部（ＬＤ／ＰＤ）３の調整検査を行なうためのテストパターン及びクロックを発生してテストモード回路１１に供給する。 - 特許庁

A pattern generator PG generates test patterns S_PTN that describe test signals S_TEST to be supplied to each of the input/output terminals P3 of the plurality of DUTs 1.例文帳に追加

パターン発生器ＰＧは、複数のＤＵＴ１の各入出力端子Ｐ３に供給すべき試験信号Ｓ_ＴＥＳＴを記述するテストパターンＳ_ＰＴＮを生成する。 - 特許庁

The selector 110 is connected to a preceding stage of a flip-flop 100 serving as a start point for the objective path, and a test pattern is input to activate the objective path, in the test mode.例文帳に追加

また、対象パスの始点となるフリップフロップ１００の前段にセレクタ１１０を接続して、テストモード時には、対象パスを活性化するテストパタンを入力する。 - 特許庁

A test pattern is recorded/reproduced on/from a recording and reproducing area of a magneto-optical recording medium as a test while changing at least either of a recording laser power and a reproduction laser power.例文帳に追加

光磁気記録媒体のテスト記録再生領域にテストパターンを記録レーザーパワー及び再生レーザーパワーの少なくとも一方を変化させながらテスト記録再生する。 - 特許庁

A pattern control board is mounted with a test signal output circuit 120 for externally outputting a test signal from a testing CPU and connectors 121 to 126.例文帳に追加

図柄制御基板には、試験用ＣＰＵからの試験信号を外部に出力するための試験信号出力回路１２０およびコネクタ１２１〜１２６が搭載されている。 - 特許庁

The printing data generating part has a test pattern output mode for outputting a plurality of test patterns for each of the plurality of control contents by using the same input image.例文帳に追加

印刷データ生成部は、同一の入力画像を用いて複数の制御内容毎に複数のテストパターンを出力させるテストパターン出力モードを有する。 - 特許庁

This method also includes a step of performing a test among the domains and implementing a second subset of the domain of the plurality of circuits provided with the dynamic defect detection test pattern.例文帳に追加

本方法はまた、ドメイン間テストを実施して、動的欠陥検出テストパターンを実装する複数の回路のドメインの第２サブセットを実行する段階を含む。 - 特許庁

A programmable logic device 150 is formed on a burn-in board BIB, and when performing a burn-in test, a test pattern signal and a logical value are supplied to the programmable logic device 150.例文帳に追加

バーンインボードＢＩＢ上に、プログラマブルロジック装置１５０を設け、バーンイン試験の際には、このプログラマブルロジック装置１５０に、テストパターン信号と論理値を供給する。 - 特許庁

The test pattern generator dynamically arranges a test signal to a line selected in advance for a VBI period in the video frame at a period of the frame by adopting a concealment technology.例文帳に追加

テスト・パターン・ジェネレータはＶＢＩ期間における事前選択されたラインに、ビデオ・フレームの時間周期でテスト信号を隠蔽技法を使用してそのフレームに動的に配置する。 - 特許庁