「Test Pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(24ページ目) - Weblio英語例文検索

Respective light receiving elements of light receiving circuits 54Y, 54M, 54C, 54K receive the reflected light from a test pattern to output detecting signals to the controller.例文帳に追加

受光回路５４Ｙ，５４Ｍ，５４Ｃ，５４Ｋの各受光素子は、テストパターンからの反射光を受光し、検出信号を制御器に出力する。 - 特許庁

The technique can be fully integrated into flows of design for testability (DFT) and automatic test pattern generation (ATPG).例文帳に追加

記載された技術は、テスト容易化設計（ＤＦＴ）及び自動テストパターン生成（ＡＴＰＧ）のフローに完全に組込むことができる。 - 特許庁

To efficiently prepare a test pattern for an updated program when contents of a program to be tested are changed.例文帳に追加

テスト対象のプログラムの内容が更新された場合に、更新後のプログラム用のテストパターンを効率的に作成できるようにする。 - 特許庁

To provide a test pattern which enables the ease identification of a poor place even in a print head with many nozzles arrayed in a highly dense state.例文帳に追加

多数のノズルが高密度に配置された印刷ヘッドについても不良箇所を容易に識別できるテストパターンを提案する。 - 特許庁

The inkjet recording apparatus detects the position of both ends of the test pattern according to the recording format of the margined or the marginless recording.例文帳に追加

インクジェット記録装置は、縁有り記録、縁無し記録の記録形式に応じたテストパターンの両端部の位置を検出する。 - 特許庁

The image of this test pattern is picked up by a CCD camera 3 and data on the luminance of the fluorescent substances are taken in by the data fetch control part 2.例文帳に追加

このテストパターンをＣＣＤカメラ３で撮像して螢光体の輝度データがデータ取込制御部２に取り込まれる。 - 特許庁

To provide a formation method of a dynamic test pattern, a diagnostic method of image quality base in which document processing system is automated, and a system of the diagnostic method.例文帳に追加

動的テストパターン生成方法、ドキュメント処理システムの自動化された画質ベースの診断方法、及びシステムを提供する。 - 特許庁

The data at the time of outputted the test pattern for correction of the output condition information 128 is collated with the output history information.例文帳に追加

また、出力条件情報１２８の較正用テストパターン出力時の日時と出力履歴情報とを照合する。 - 特許庁

To provide a pattern selector which allows reduction in the circuit scale adapted to increase in functions and pins of devices under test.例文帳に追加

被測定デバイスの多機能化，多ピン化に対応しつつ、回路規模を縮小することが可能なパターン選択回路を提供する。 - 特許庁

Thereafter, image control part 11 adjusts the output density of the object to be imaged, on the basis of output results of the test pattern.例文帳に追加

そして、このテストパターンの出力結果に基づいて、画像制御部１１は、前記対象画像の出力濃度を調整する。 - 特許庁

The first and third video images A, B' are then added by an arithmetic part, thereby intensively extracting the test pattern.例文帳に追加

しかる後に、第１および第３の映像Ａ，Ｂ´を演算部で加算演算することにより、テストパターンを強調して抽出する。 - 特許庁

To highly precisely sense the property of a reflection density sensor by securely forming a test pattern toner image for sensing a sensing property of the reflection density sensor with a sufficient amount of toner depositions.例文帳に追加

トナー付着量が十分な反射濃度センサ検出特性検出用テストパターントナー画像を確実に形成する。 - 特許庁

Each timing when the test pattern data are outputted from each driver 30 to the DUTs, is calibrated individually by a delay adjustment part 20.例文帳に追加

各ドライバ３０からＤＵＴに対して試験パターンデータが出力されるタイミングは、個々に遅延調整部２０で校正される。 - 特許庁

When a control section 11 makes a display section 13 display N-pieces test patterns, it makes one pattern to be switched and displayed on one screen respectively.例文帳に追加

Ｎ個のテストパターンを表示部１３に表示させる際、制御部１１は一画面に一パターンづつ切り替え表示させる。 - 特許庁

A driver DR generates the test signal S1 having a level corresponding to the pattern signal S_PTN, and outputs it to the DUT1.例文帳に追加

ドライバＤＲは、パターン信号Ｓ_ＰＴＮに応じたレベルを有する試験信号Ｓ１を生成し、ＤＵＴ１に出力する。 - 特許庁

Using the single loop allows for the use of pattern data for performing a test created by commercial scan testware.例文帳に追加

単一ループを用いることにより、市販のスキャンテストウェアによって作成した試験を行うためのパターンデータを使用することができる。 - 特許庁

The amount of toner stuck to the test pattern image is detected to calculate a toner sticking amount when the line area ratio is 100%.例文帳に追加

このテストパターン像のトナー付着量を検出して、ライン面積率が１００％のときのトナー付着量を算出する。 - 特許庁

To provide an image processing system in which unevenness correction processing can be performed with a predetermined color as an object without using a test pattern.例文帳に追加

テストパターンを使わずに、所定の色を対象としてむら補正処理を行うことができる画像処理システムを提供する。 - 特許庁

To provide a test pattern which enables the ease identification of a poor place even in a print head with many nozzles arrayed in a highly dense state.例文帳に追加

多数のノズルが高密度に配置された印刷ヘッドについても不良位置を容易に識別できるテストパターンを提案する。 - 特許庁

Since the illumination I can be specified on the basis of a visual result of a test pattern, there is no need to prepare an illumination photometer.例文帳に追加

照度Ｉはテストパターンの視覚結果に基づいて特定することが可能であるため、照度計を用意する必要はない。 - 特許庁

An LED head is previously arranged in a position deviated from a focusing position and every time the head is moved successively at every prescribed amount in the focusing direction, the formation of two kinds of test pattern images comprised of a first pattern 30 and a second pattern 31 is performed.例文帳に追加

ＬＥＤヘッドを合焦位置から外れた位置に配置しておき、合焦方向に所定量ずつ順次移動させる毎に、第１パターン３０及び第２パターン３１から成る二種類のテストパターン画像の形成を行う。 - 特許庁

Glass frit components existing in the metal pattern 4 or on the boundary surface of the metal pattern 4 and the ceramic substrate 2 can be prevented from flowing to the boundary surface of the metal pattern 4 and the metal coating 8 by high temperature high humidity test.例文帳に追加

金属パターン４の内部又は金属パターン４とセラミック基板２界面に存在していたガラスフリット成分が高温高湿試験によって金属パターン４と金属被膜８界面に流動することを防ぐことができる。 - 特許庁

The monochrome pattern 36 of the test pattern 34A has length covering all over the area in a light beam scanning direction and includes yellow(Y), magenta(M), cyan(C), black(K) and a secondary color pattern 36YC by the secondary color (superimposition) of yellow(Y) and cyan(C).例文帳に追加

テストパターン３４Ａの単色パターン３６は、光ビーム走査方向全域を覆う長さとなっており、イエロー（Ｙ）、マゼンタ（Ｍ）、シアン（Ｃ）、ブラック（Ｋ）、イエロー（Ｙ）とシアン（Ｃ）の二次色（重ねあわせ）による二次色パターン３６ＹＣを含んでいる。 - 特許庁

The designated optical transmitter-receiver e.g. 18-1 returns a test pattern optical signal 22 synchronously with an idle pattern 22b through an allocated time slot to the station transmitter 10.例文帳に追加

指定された光送受信装置、例えば１８−１は、割り当てられたタイムスロットで、アイドルパターン２２ｂに同期した試験パターン光信号２２を局伝送装置１０に返信する。 - 特許庁

A service transfer test system 1 stores information related to a transfer pattern of the service transfer into a transfer pattern storage 11, and also stores a medium for the above service transfer into a medium storage 12.例文帳に追加

サービス移動試験システム１は、サービス移動の移動パターンに関する情報を移動パターン蓄積部１１に蓄積すると共に、上記サービス移動のメディアをメディア格納部１２に格納する。 - 特許庁

The paper carriage correcting control means corrects the carriage of the printing paper with the paper carrying means in accordance with detection information for the test pattern of the printing paper detected by the pattern detecting sensor.例文帳に追加

用紙搬送修正制御手段は、パターン検知センサが検知したプリント用紙のテストパターンの検知情報に基づいて、用紙搬送手段によるプリント用紙の搬送を修正する。 - 特許庁

A reception synchronous pulling control circuit 431 is provided between a pattern input control circuit 419 connected to a transmission line 417 for selecting a test object and a pseudo random pattern detection circuit 430.例文帳に追加

試験対象を選択するため伝送路417に接続されるパターン入力制御回路419と、疑似ランダムパターン検出回路430との間に受信同期引き込み制御回路431を設ける。 - 特許庁

The testing device is provided with a test board having a wiring pattern connected with the channel of the testing device and an IC socket having a plurality of pogo pins that are respectively connected with the land of the wiring pattern.例文帳に追加

テスト装置は、テスト装置のチャンネルと連結される配線パターンを有するテストボードと配線パターンのランドとそれぞれ連結される複数のポゴピンを有するＩＣソケットとを備える。 - 特許庁

The first test pattern is a pattern set to include maximum and minimum values of potential in photoreceptor potential irregularity data stored in a photoreceptor potential characteristics uneven data memory 105, in advance.例文帳に追加

第１のテストパターンは、あらかじめ感光体電位特性ムラデータメモリ１０５に記憶された感光体電位ムラデータの電位の最大と最小の値を含むように設定されたパターンである。 - 特許庁

To provide: a generation method of pattern data for electron beam drawing, which can draw an excellent minute pattern without using a trial-and-error method by test drawing, in drawing a minute pattern using an electron beam drawing device; a proximity effect correction method used for it; and a pattern formation method using the data.例文帳に追加

電子線描画装置を用いて極小なパターンを描画する際、テスト描画による試行錯誤無しに、良好な極小パターンが描画できる電子線描画用パターンデータの作成方法及びそれに用いる近接効果補正方法、そのデータを用いたパターン形成方法を提供する。 - 特許庁

The validity determining section includes a first check value setting circuit 20a for outputting the check result of validity in the serial input direction of the serial test pattern; and a second check value installation circuit 20b for outputting the check value of validity, in the direction of the time of the serial test pattern.例文帳に追加

妥当性判断部は、シリアルテストパターンのシリアル入力方向の妥当性のチェック結果を出力する第１のチェック値設定回路（２０ａ）と、シリアルテストパターンの時間方向の妥当性のチェック結果を出力する第２のチェック値設置回路（２０ｂ）とを含む。 - 特許庁

A processor 1 compares a result of the user preparation DRC rule checked using a test pattern graphic form with a result of the automatically generated DRC rule checked using the test pattern graphic form, and determines the user preparation DRC rule to be correct when matched.例文帳に追加

処理装置１が、ユーザ作成のＤＲＣルールをテストパターン図形を用いてチェックした結果と、自動生成したＤＲＣルールをテストパターン図形を用いてチェックした結果と、を比較し、一致した場合はユーザ作成のＤＲＣルールが正しいと判定する。 - 特許庁

The projection type video display device 100 calculates the positional relationship between the projection type video display device 100 and the projection surface 400, on the basis of three or more intersections in a stored test pattern image and three or more intersections in an imaged test pattern image.例文帳に追加

投写型映像表示装置１００は、記憶テストパターン画像における３つ以上の交点及び撮像テストパターン画像における３つ以上の交点に基づいて、投写型映像表示装置１００と投写面４００との位置関係を算出する。 - 特許庁

A test pattern generating unit 10 generates a test pattern having data before conversion such that the same value of bit 0 or 1 in the data converted according to a code conversion table is successively transferred to each of a plurality of serial transfer channels of a high-speed serial transfer device.例文帳に追加

試験パターン作成部１０は、高速シリアル転送デバイスが有する複数のシリアル転送チャネルの各々に、符号変換テーブルによる変換後データでビット０又は１の同値が連続転送されるように変換前データを並べた試験パターンを作成する。 - 特許庁

The driving operation assistance device for the vehicle generates a test pattern from a side support of a seat back part of a driver's seat when a main switch is turned on and presumes the physique of the driver on the basis of a side support angle and a motor input current during generation of the test pattern.例文帳に追加

車両用運転操作補助装置は、メインスイッチがオンされると運転席シートのシートバック部のサイドサポートからテストパターンを発生し、テストパターン発生中のサイドサポート角度およびモータ入力電流とに基づいて、運転者の体格を推定する。 - 特許庁

A test pattern data is input into a data input of the IP core 12, an output data output from a data output of the IP core 12 is compared with an expected value for the test pattern data, and the power source noise resistance is inspected when testing a function of the IP core 12.例文帳に追加

ＩＰコア１２のデータ入力にはテストパターンデータが印加され、ＩＰコア１２のデータ出力から出力される出力データとテストパターンデータに対する期待値と比較してＩＰコア１２のファンクションテスト時に電源ノイズ耐性の検査を行う。 - 特許庁

A rectangular test pattern is actually drawn in the drawing apparatus to obtain test pattern images 91a to 91f influenced by the distortion of the reflection faces or the like, and an object drawing region 92 is set in a common region 911 that is independent from the reflection faces.例文帳に追加

描画装置では矩形のテストパターンを実際に描画して反射面等の歪みの影響を受けたテストパターン画像９１ａ〜９１ｆが取得され、反射面に依存しない共通領域９１１内に対象描画領域９２が設定される。 - 特許庁

A K(black) test pattern is obtained by arranging a plurality of lines in parallel, and a C(cyan) test pattern is obtained by arranging a plurality of patterns in a step state obtained by providing level differences in a direction orthogonally crossing with a K line in a direction in parallel with the K line.例文帳に追加

Ｋ（ブラック）のテストパターンは、複数のラインを平行に並べられたパターンであり、Ｃ（シアン）のテストパターンは、Ｋのラインに直交する方向に段差を設けて形成された階段状のパターンを、Ｋのラインと平行な方向に複数並べたパターンである。 - 特許庁

A changeover means 16 is provided on the partial channel of the supply system path of the test pattern signal applied on each semiconductor device, and the test pattern signal of the other channel is selected by the changeover means to be applied on the specied pin of the semiconductor device to be tested.例文帳に追加

各半導体デバイスに印加する試験パターン信号の供給系路の一部のチャンネルに切換手段１６を設け、この切換手段により他のチャンネルの試験パターン信号を選択して被試験半導体デバイスの特定のピンに印加する構成とした。 - 特許庁

To make optionally designable the start address numbers of test pattern programs to be merged and also to efficiently process the redundant part of a merged pattern program caused by the designation of the start address numbers in a program processor for an IC test.例文帳に追加

本発明の課題は、ＩＣテストのためのプログラム処理装置において、マージされるテストパタンプログラムの開始アドレス番号を任意に指定可能とすると共に、開始アドレス番号の指定によって生じる併合パタンプログラムの冗長部分を効率よく処理することである。 - 特許庁

At the time of verifying a low speed operation logic circuit, a low speed test pattern is inputted as the input data 6 for setting register and a test pattern outputted from the speed converting section 1 of the low speed operation logic circuit is selected at a selector section 2 and delivered to the poststage circuit.例文帳に追加

低速動作論理回路検証時には、レジスタ設定用入力データ（６）として低速テストパターンを入力し低速動作論理回路の速度変換部（１）から出力されたテストパターンを、セレクタ部（２）にて選択し後段の回路へ出力する。 - 特許庁

In this burn-in test method for collectively testing two or more objects to be tested having test patterns, at least two objects to be tested are simultaneously designated during burn in, the test patterns are read from the parts to be tested, and the test patterns read after the burn in are compared with an expectation value pattern.例文帳に追加

テストパターンを有する被試験対象物を複数個まとめてテストするバーンインテスト方法において、バーンインの間、少なくとも２以上の該被試験対象物を同時に指定し、当該被試験対象部品から該テストパターンを読み出し、該バーンイン後に読み出したテストパターンと、期待値パターンとの比較を行うよう、構成する。 - 特許庁

This semiconductor testing device has a semiconductor testing circuit 101 having a driver 110 for making and outputting a test signal corresponding to a test pattern to a test object device 20, replica drivers 120 and 130 for generating a comparison signal by synthesizing the test signal and a reference signal and resistances 122a, 122b, 132a and 132b.例文帳に追加

本発明にかかる半導体試験装置は、試験パターンに対応する試験信号を生成し試験対象装置２０に出力するドライバー１１０と、試験信号と基準信号とを合成した比較信号を生成するレプリカドライバー１２０，１３０および抵抗１２２ａ，１２２ｂ，１３２ａ，１３２ｂとを備えた半導体試験回路１０１を有する。 - 特許庁

A plurality of test patterns is set to a test device 6 of a semiconductor memory, a different test pattern is applied to a plurality of semiconductor memories 1 to be tested, while it is discriminated whether test result output of each semiconductor memory 1 to be tested is in the prescribed tolerance or not.例文帳に追加

半導体記憶装置の試験装置６に複数のテストパターンを設定し、試験装置に接続された複数個の被試験半導体記憶装置１に異なるテストパターンを適用すると共に、各被試験半導体記憶装置１の試験結果出力が所定の許容範囲内にあるか否かを判定するようにした方法。 - 特許庁

Thus, the liquid crystal module tester dispenses with the process of connecting an exclusive substrate 110 and an image data generating unit 120 needed only for the test/regulation and a process for switching the test pattern, by operating prescribed equipment by a worker, whenever the test content changes each time test/regulation are performed in each base of the liquid crystal module 10.例文帳に追加

従って、液晶モジュール１０の各台について検査・調整を行う度に、同検査・調整のためだけに要していた専用基板１１０や画像データ発生器１２０を接続する工程や、検査内容が変わる度に作業員が所定の機器を操作して検査用パターンを切替える工程が不要となる。 - 特許庁