「Test Pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(28ページ目) - Weblio英語例文検索

The test circuit of a semiconductor integrated circuit device comprises a scan flip-flop circuit 10 for connecting a plurality of stages of flip-flops in series and supplies a serial test pattern inputted from the outside to a circuit to be tested; and a validity determining section 40 that is connected to the final stage of the scan flip-flop circuit in series and checks the validity of the inputted serial test pattern.例文帳に追加

半導体集積回路装置のテスト回路は、複数段のフリップフロップを直列に接続して、外部から入力されるシリアルテストパターンを試験対象回路に供給するスキャンフリップフロップ回路（１０）と、前記スキャンフリップフロップ回路の最終段に直列に接続されて、前記入力されるシリアルテストパターンの妥当性をチェックする妥当性判断部（４０）とを備える。 - 特許庁

The built-in self-test circuit 11 further has decoders 20-23 having a plurality of encoded processing data and successively decoding and outputting the processing data in response to each received common control signal Ccs respectively and a test pattern generating circuit 13 outputting bit data corresponding to the processing data received from the decoders 20-23 to the DRAM 17 as each test pattern.例文帳に追加

組込み自己テスト回路１１は更に、符号化された複数の処理データを有し、受け取った各共通制御信号Ｃｃｓに夫々対応して処理データを順次に復号化して出力するデコーダ２０〜２３と、デコーダ２０〜２３から受け取った処理データに対応するビットデータを各テストパターンとしてＤＲＡＭ１７に出力するテストパターン発生回路（１３）とを有する。 - 特許庁

The semiconductor memory test pattern forming method is structured; to make the operation data of the semiconductor memory test pattern described in a format independent of the types of semiconductor testing apparatus and; to output the test specifications of the above semiconductor memory based on the above operation data after verifying the above operation data with an emulation function corresponding to the above format.例文帳に追加

半導体メモリの試験パターンを作成する方法において、半導体試験装置の種類に依存しないフォーマットで記述された半導体メモリ試験パターンの動作データを作成し、上記動作データを上記フォーマットに対応するエミュレート機能により検証した後、上記動作データにもとづいて上記半導体メモリの試験仕様書を出力する構成とする。 - 特許庁

A burn-in test control and pattern generating circuit 503 is provided at periphery of a memory circuit as an exclusive test circuit at the reliability test such as burn-in inside a semiconductor integrated circuit including a memory circuit, the circuit supplies a pattern being able to apply appropriate stress, and it is confirmed whether the stress is applied correctly or not by providing an output discriminating circuit 505 inside the circuit.例文帳に追加

メモリ回路を含む半導体集積回路内部にバーンイン等の信頼性テスト時にメモリ回路周辺に専用のテスト回路としてバーンインテスト制御およびパターン発生回路５０３を設け適切なストレス印加が可能なパターンを供給し、この出力を回路内部に出力判定回路５０５を設けストレスが正しく印加されているか確認する。 - 特許庁

The color pattern of the color patch is set in response to the image characteristic (S203), and a test chart by the set color patch is outputted to the printer (S204).例文帳に追加

そして該画像特性に応じてカラーパッチの配色を設定し（Ｓ２０３）、該設定されたカラーパッチによるテストチャートをプリンタに出力させる（Ｓ２０４）。 - 特許庁

To provide a failure detection circuit and a failure detection method capable of easily detecting the failure with a test pattern prepared in a memory BIST circuit.例文帳に追加

メモリＢＩＳＴ回路が持つテストパターンにより容易に故障検出することが可能な故障検出回路、および故障検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a projector constituted to perform autofocus and image distortion correcting processing using a test pattern while displaying a video by an input signal.例文帳に追加

入力信号による映像を表示しながらも、テストパターンを使用したオートフォーカスや画像歪み補正の処理を常時可能とするプロジェクタを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, reducing a test time for outputting a result of comparing a data pattern for testing with a data read out from a memory cell array.例文帳に追加

テスト用のデータパターンとメモリセルアレイから読み出したデータとの比較結果を出力するテスト時間を短縮する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for promptly measuring pattern dependence in film thickness, etc., by using nondestructive test of surface shape for an optional chip section on a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウェハ上の任意のチップ領域の表面形状を非破壊で検査することによって膜厚のパターン依存性等を迅速に計測すること。 - 特許庁

To provide a projector capable of carrying out automatic focusing and processing of image distortion correction using a test pattern while displaying a video image by an input signal.例文帳に追加

入力信号による映像を表示しながらも、テストパターンを使用したオートフォーカスや画像歪み補正の処理を可能とするプロジェクタを提供する。 - 特許庁

For example, a white input picture and a white (a maximum gradation) test pattern produced in a liquid crystal display device 100 are simultaneously displayed side by side on the screen.例文帳に追加

例えば、白の入力画像と液晶表示装置内で作られる白（最大階調）のテストパターンをオンスクリーンにて同時に並べて表示する。 - 特許庁

To provide a method which optimizes design specifications by evaluating and examining a defogger function obtained with specifications of a hot-wire pattern, etc., under conducted test conditions.例文帳に追加

実施の試験条件のもとで、熱線パターン等の仕様により得られるデフォッガー機能を評価検討し、設計仕様の最適化を行う方法を提供する。 - 特許庁

Therefore, the edge effect in the conveying direction D16 is restrained, so that the position of each registration mark RM is accurately detected by a test pattern sensor 18.例文帳に追加

このため、搬送方向Ｄ16におけるエッジ効果が抑制されてテストパターンセンサ１８による各レジストマークＲＭの位置検出を精度良く行うことができる。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a semiconductor chip capable of efficiently removing a test pattern in a simple process while keeping versatility.例文帳に追加

テストパターンの除去を汎用性を確保しながら簡素な工程で効率よく行うことができる半導体チップの製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To shorten the input time of an input test pattern for simulation in an LSI comprising low speed operation logic circuits and high speed operation logic circuits mixedly.例文帳に追加

低速動作論理回路と高速動作論理回路が混在するＬＳＩにおけるシミュレーション用入力テストパターンの入力時間の短縮を図る。 - 特許庁

To form an image with the quality of a print result image approximately kept constant in a print step without needing to print a special image such as a test pattern, etc.例文帳に追加

テストパターン等の特殊な画像を印刷する必要なく、印刷において印刷結果画像の画質をほぼ一定に維持して画像形成を行う。 - 特許庁

To provide an image recorder and an image recording method which can output a good image by suppressing the effect of defective print of a test pattern for correcting density.例文帳に追加

濃度補正用テストパターンの印字不良の影響を抑え、良好な画像出力を行うことができる画像記録装置、画像記録方法を提供する。 - 特許庁

The method generates the test pattern that is hardly perceptible to human observation, but detectable by an imaging device in a printer on an image receiving member.例文帳に追加

方法が、人間観察に知覚されにくく、それにもかかわらずプリンタの中の画像装置により検出可能なテストパターンを受像部材上に生成する。 - 特許庁

To provide a judgement method and a device suitable for judgement of roughness of a line and a space pattern formed on a test piece.例文帳に追加

本発明の目的は、特に試料上に形成されたライン＆スペースパターンの凹凸判定に好適な判定方法、及び装置を提供することにある。 - 特許庁

A pattern control board 80 is mounted with connectors 121 to 126 for externally outputting the test signal from the testing CPU 161.例文帳に追加

そして、図柄制御基板８０には、試験用ＣＰＵ１６１からの試験信号を外部に出力するためのコネクタ１２１〜１２６が搭載されている。 - 特許庁

To provide a projector capable of always realizing processing for autofocus or processing for correcting image distortion using a test pattern even while displaying a video according to an input signal.例文帳に追加

入力信号による映像を表示しながらも、テストパターンを使用したオートフォーカスや画像歪み補正の処理を常時可能とするプロジェクタを提供する。 - 特許庁

To solve the difficulty of correctly reading the color of ink because a difference between the color of a transfer belt and the color of the ink is small when a test pattern is formed on the transfer belt.例文帳に追加

搬送ベルト上にテストパターンを形成すると搬送ベルトの色とインクの色の差が小さいため正確に読取ることが困難である。 - 特許庁

To clarify the defect of a driving system by eliminating color variation in a low density imaging area and adjusting an apparatus with a corrected test pattern.例文帳に追加

低濃度の画像形成領域の色変動をなくし、補正されたテストパターンで装置を調整して、駆動系の持つ不具合を明確にするようにする。 - 特許庁

To implement a function verification by inputting arbitrary image data within small circuit scale, without the need to prepare a test pattern or an expected value.例文帳に追加

テストパターンや期待値を予め用意する必要がなく、少ない回路規模で、任意の画像データを入力して機能検証の実施を可能にする。 - 特許庁

The image recording condition when the dot diameter D becomes the predetermined size in the test pattern image can be inputted into the control device 9.例文帳に追加

この制御装置９には、テストパターン画像においてドット径Ｄが所定の大きさとなるときの画像記録条件を入力可能となっている。 - 特許庁

The sheet is then fed up to a position where the carrying amount is regulated by means of a sheet discharge roller (S130), and the plurality of test pattern images are printed (S140).例文帳に追加

次に、排紙ローラにより搬送量が調整される位置まで紙送りし（Ｓ１３０）、上記複数のテストパターン画像を印刷する（Ｓ１４０）。 - 特許庁

Signals corresponding to the respective beams of the multiple beams by the secondary electron group are detected by a plurality of detectors, and the evaluation of the pattern on the test piece face is carried out.例文帳に追加

複数の検出器で二次電子群によるマルチビームの各ビームに対応する信号を検出し、試料面上のパターンの評価を行なう。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus for appropriately adjusting image quality by improving the transferability of a test pattern from an intermediate transfer body to a belt member.例文帳に追加

中間転写体からベルト部材へのテストパターンの転写性を良好にして、適正に画質調整を行うことができる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

An excessive polishing condition calculation device 30 which calculates an excessive polishing condition acquires a condition under which excessive polishing occurs, based on the results of polishing with a test pattern.例文帳に追加

過研磨条件を算出する過研磨条件算出装置３０は、試験パターンに対する研磨結果から、過研磨が発生する条件を求める。 - 特許庁

A sensitivity ratio calculation section 86 calculates a sensitivity ratio of each of signals of C and M having sensitivity to cyan for each density value of the test pattern of cyan.例文帳に追加

感度比率算出部８６によって、シアンのテストパターンの濃度値毎に、シアンに感度を有するＣ、Ｍの各信号の感度比率を算出する。 - 特許庁

To save the consumption of paper by urging the reuse of paper used for printing a test pattern, and to alleviate a workload of a user when the user reuses the paper.例文帳に追加

テストパターン印刷に用いる用紙の再利用を促して用紙の消費を節約すると共に用紙を再利用する際のユーザーの作業負担を軽減する。 - 特許庁

Through the image of the chart pattern and the image of the reticle projected on the screen 18 in a magnified manner, the resolution and eccentricity of the test lens 12 are evaluated.例文帳に追加

スクリーン１８に拡大投影されたチャートパターンの像及びレチクルの像によって、被検レンズ１２の解像度及び偏芯状態が評価される。 - 特許庁

Concerning the test pattern corresponding to the ratio having the highest value of a plurality of computed ratios, a focus point upon exposure is a best focusing (step S14).例文帳に追加

算出した複数の比率のうち最も値が大きい比率に対応するテストパターンについて露光した時のフォーカスポイントをベストフォーカスとする（ステップＳ１４）。 - 特許庁

A focus detection part (123) images the projected test pattern and detects a focus at a position on a multi-projection screen depending on the configuration of multi-projection.例文帳に追加

焦点検出部（１２３）は、投影されたテストパターンを撮像し、マルチ投影の構成に応じた、マルチ投影画面上での位置でフォーカスを検出する。 - 特許庁

The flare amount of a test pattern (Σ(K(i, j)×X (x+i, y+j))) is stored beforehand, and the input image Y (x, y) is corrected by Y(x, y)/(1+flare amount).例文帳に追加

テストパターンのフレア量（Σ（Ｋ（ｉ，ｊ）×Ｘ（ｘ＋ｉ，ｙ＋ｊ）））を予め記憶しておき、入力画像Ｙ（ｘ，ｙ）を、Ｙ（ｘ，ｙ）／（１＋フレア量）により補正する。 - 特許庁

A test pattern is printed using an ink other than yellow and defective nozzles are specified by checking all nozzles in each nozzle array of a print head unit 21.例文帳に追加

イエロー以外のインクを用いてテストパターンを印刷して印字ヘッドユニット２１の各ノズル列４３の全ノズル４２をチェックし不良ノズルを特定する。 - 特許庁

Print data for printing the test pattern is generated by performing halftoning using a diffusion matrix where the weight value of error diffusion is adjusted.例文帳に追加

このテストパターンを印刷するための印刷データは、誤差拡散の重み値を調整した拡散マトリクスを用いてハーフトーン処理することによって生成する。 - 特許庁

A unit delay simulator 4 is actuated first and the gate and wires of the logic circuit are estimated to a uniform delay time to find answer output to a test pattern.例文帳に追加

当初、ユニット遅延シミュレータ４を起動し、論理回路のゲートおよび配線を一律の遅延時間に見積もってテストパタンに対する応答出力を求める。 - 特許庁

A decision is made whether the image data falls within an allowable range from a true test pattern or not (S108) and the decision results are outputted (S110, 112).例文帳に追加

そして、画像データが真のテストパターンからの許容範囲内にあるか否かを判定し（Ｓ１０８）、その判定結果を出力する（Ｓ１１０，１１２）。 - 特許庁

After that, an image recognizing section 206 extracts the leading end of transfer paper and the leading end of the test pattern from an image stored in the image storage section 203.例文帳に追加

その後、画像記憶部２０３に記憶された画像より、転写紙先端とテストパターン先端の部分を画像認識部２０６にて、抽出する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus capable of accurately performing image density correction using an output test pattern by eliminating a reading error of an image reading means.例文帳に追加

画像読取手段の読取誤差を解消し、出力テストパターンを用いた画像濃度補正を精度良く行うことが可能な画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a layout display apparatus and method which enables to display, in a short time, a defined layout pattern in lithographic data or test data.例文帳に追加

描画データもしくは検査データに定義されたパターンレイアウトを短時間で表示することが可能なレイアウト表示装置およびレイアウト表示方法を提供する。 - 特許庁

Carrying amount of each roller can thereby be corrected by performing input operation based on a printed test pattern image (S160-S210).例文帳に追加

このため、印刷したテストパターン画像に基づく入力操作を行わせることで、各ローラによる搬送量を補正することができる（Ｓ１６０〜Ｓ２１０）。 - 特許庁

To form a TEG (test element group) for improving verification accuracy in verifying the pattern dimension of a semiconductor element and verifying it without deteriorating its production yield.例文帳に追加

半導体素子のパターン寸法を検証する際の検証精度を高め、且つ、その歩留ま りを損なうことなく検証するためのＴＥＧを形成する。 - 特許庁

Logical circuit simulation 302 is executed by using an RT net list of the entire LSI and a test pattern 301 to collect the number 303 of memory accesses.例文帳に追加

ＬＳＩ全体のＲＴネットリスト及びテストパタン３０１を用いて論理回路シミュレーション３０２を実行し、メモリアクセス回数３０３を収集しておく。 - 特許庁