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「array test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > array testに関連した英語例文

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array testの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 252



例文

ARRAY TEST APPARATUS例文帳に追加

アレイテスト装備 - 特許庁

ARRAY SUBSTRATE AND TEST METHOD THEREOF例文帳に追加

アレイ基板とその検査方法 - 特許庁

TEST ARRAY AND METHOD FOR TESTING MEMORY ARRAY例文帳に追加

メモリアレイをテストするためのテストアレイおよび方法 - 特許庁

TEST METHOD FOR FIELD PROGRAMMABLE GATE ARRAY例文帳に追加

フィ—ルドプログラマブルゲ—トアレイのテスト方法 - 特許庁

例文

TAB TEST FOR AREA ARRAY WIRING CHIP例文帳に追加

エリアアレイ配線チップのTABテスト - 特許庁


例文

METHOD FOR GROUND FAULT TEST OF SOLAR CELL ARRAY例文帳に追加

太陽電池アレイの地絡試験方法 - 特許庁

SELF-TEST SYSTEM FOR MAGNETORESISTIVE MEMORY ARRAY例文帳に追加

磁気抵抗メモリアレイの自己試験システム - 特許庁

MICRO-ARRAY, MICRO-ARRAY SYSTEM AND MEASURING METHOD OF TEST MATERIAL例文帳に追加

マイクロアレイ、マイクロアレイシステム及び被検物質の測定方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE TO TEST TFT ARRAY例文帳に追加

TFTアレイ試験方法および試験装置 - 特許庁

例文

To test the performance of a light emitting element array head.例文帳に追加

発光素子アレーヘッドの性能を試験する。 - 特許庁

例文

ELEMENT ARRAY APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR ELEMENT TEST HANDLER例文帳に追加

半導体素子テストハンドラ用素子整列装置 - 特許庁

CARRIER MODULE FOR SEMICONDUCTOR ELEMENT TEST HANDLER, AND TEST ARRAY PROVIDED THEREWITH例文帳に追加

半導体素子テストハンドラ用キャリアモジュール及びこれを備えたテストトレイ - 特許庁

TRANSFER SYSTEM AND ARRAY TEST DEVICE INCLUDING TEH SAME例文帳に追加

移送システム及びそれを備えたアレイテスト装置 - 特許庁

CURRENT-CARRYING TEST DEVICE FOR ARRAY TYPE SEMICONDUCTOR LASER ELEMENT例文帳に追加

アレイ型半導体レーザ素子の通電試験装置 - 特許庁

To test a partial array self-refresh function at high speed.例文帳に追加

パーシャルアレイセルフリフレッシュ機能を高速にテストする。 - 特許庁

To provide a test circuit of a memory circuit having a real cell array and a parity cell array.例文帳に追加

リアルセルアレイとパリティセルアレイを有するメモリ回路の試験回路を提供する。 - 特許庁

MULTI-SPECIFIC ELECTROCHEMILUMINESCENCE TEST FOR MULTI-ARRAY例文帳に追加

多重アレイの多重特異的な電気化学発光試験 - 特許庁

To provide an array tester capable of enhancing the test accuracy.例文帳に追加

検査精度を向上できるアレイテスタを提供する。 - 特許庁

PROBER CHANGEABLE FOR TFT-LCD ARRAY TEST例文帳に追加

TFT−LCDアレイテスト用の変更可能なプローバ - 特許庁

PHASED ARRAY PROBE AND ULTRASONIC TEST EQUIPMENT USING IT例文帳に追加

フェーズドアレイプローブ及びそれを用いた超音波探傷装置 - 特許庁

LAYOUT FOR DUT ARRAY USED FOR SEMICONDUCTOR WAFER TEST例文帳に追加

半導体ウェハ・テストに用いられるDUTアレイ用のレイアウト - 特許庁

A test circuit performs test determination by write-in and read-out for the memory array.例文帳に追加

テスト回路は、上記メモリアレイに対する書き込みと読み出しによる試験判定を行う。 - 特許庁

After the test data is written in the DRAM array 100, data corresponding to the test data is read.例文帳に追加

DRAMアレイ100にテストデータを書込んだ後、テストデータに対応するデータを読出す。 - 特許庁

TEST METHOD FOR REPRODUCING TROUBLE GENERATION STATE OF DISK ARRAY DEVICE例文帳に追加

ディスクアレイ装置における障害発生時の再現テスト方法 - 特許庁

To incorporate a circuit to simplify a test in an FPGA compatible gate array.例文帳に追加

FPGA互換ゲートアレイにテスト容易化回路を内蔵する。 - 特許庁

A test discriminating circuit compares data read out from the real cell array and the parity cell array with an expected value, and discriminates a test result.例文帳に追加

試験判定回路は、リアルセルアレイおよびパリティセルアレイから読み出されるデータを期待値と比較し、試験結果を判定する。 - 特許庁

DRIVE CIRCUIT ARRAY SUBSTRATE AND PRODUCTION AND TEST METHODS THEREOF例文帳に追加

駆動回路アレイ基板及び駆動回路アレイ基板の検査方法 - 特許庁

A test pattern generated by a pattern generating circuit is written in a real cell array at the time of a test mode.例文帳に追加

試験モード時に、パターン生成回路が生成する試験パターンが、リアルセルアレイに書き込まれる。 - 特許庁

At the time of a test, first, specific data is written in a memory cell array 30.例文帳に追加

テスト時には、まず、メモリセルアレイ30に特定のデータを書き込む。 - 特許庁

This also accepts a string in the format "href='/test.jpg' alt='test'", which will be parsed into the attributes array of the object. 例文帳に追加

ここには"href='/test.jpg' alt='test'" のような文字列も指定でき、これはオブジェクトの属性の配列として扱われます。 - PEAR

And, first, an electric characteristic test is performed respectively for the memory array and the redundant memory array in characteristic test processes S10 to S40.例文帳に追加

そして、先ず、特性テスト工程S10〜S40において、メモリアレイ及び冗長メモリアレイに対してそれぞれ電気的な特性テストを行う。 - 特許庁

On the other hand, a syndrome signal is generated from the data read out from the memory cell array 1 and the test data read out from the test data memory cell array 2.例文帳に追加

一方、メモリセルアレイ1から読み出したデータと検査データメモリセルアレイ2から読み出した検査データとからシンドローム信号を生成する。 - 特許庁

The memory device includes a memory cell array, a test data storage section and a decision section.例文帳に追加

メモリ装置はメモリセルアレイ、テストデータ貯蔵部、及び判断部を含む。 - 特許庁

To reduce human cost and a test time to be required for a scanning test when the scanning test is performed for a part of a gate array block.例文帳に追加

ゲートアレイブロックの一部に対してスキャンテストを実施する場合に、テストに要する人的なコストおよびテスト時間を短縮化できる。 - 特許庁

The parallel bit test method includes a step in which the test data are stored in the test data storage section, a step in which the test data and the inverted data of the test data are written in the memory cell array and a step in which decision is made to determine whether the data read from the memory cell array are the same as the test data and their inverted data or not.例文帳に追加

並列ビットテスト方法は、テストデータ貯蔵部にテストデータを貯蔵する段階、メモリセルアレイにテストデータやその反転されたデータをライトする段階、メモリセルアレイから読取りしたリードデータが前記テストデータやその反転されたデータと同じであるかを判断する段階を含む。 - 特許庁

To solve the problem that it is difficult to precisely inspect pixels by an array test of an array substrate having a built-in driving circuit since the test is influenced by characteristics difference of analog switches.例文帳に追加

駆動回路を内蔵したアレイ基板のアレイテストでは、アナログスイッチの特性差の影響を受けるために画素の検査を精度良く行うことが難しい。 - 特許庁

The array testing device includes a test part supporting a substrate to be tested.例文帳に追加

本発明のアレイテスト装置は、テストされる基板を支持するテスト部を備える。 - 特許庁

To shorten time of a test for quality discrimination of pixels of a TFT array.例文帳に追加

TFTアレイの画素の良否試験時間を短縮することができる - 特許庁

Therefore, a test pattern is given directly to the parity cell array and an incorporated self-test of a semiconductor memory can be performed.例文帳に追加

したがって、試験パターンをパリティセルアレイを直接与えて半導体メモリの組み込み自己検査を実施できる。 - 特許庁

A gate array block 2 having a scanning test inapplicable circuit 21, 23, and a scanning test applicable circuit 22 is provided.例文帳に追加

この発明は、スキャンテスト不適用回路21、23と、スキャンテスト適用回路22を有するゲートアレイブロック2を備える。 - 特許庁

Driving characteristics of a device under test (DUT) of the domain parts 23 of the array substrate 22 are electrically tested with an array tester body 47.例文帳に追加

アレイテスタ本体47でアレイ基板22の表示領域部23の被検査対象デバイスの駆動特性を電気的に検査する。 - 特許庁

To provide a new tissue array block creation method and a tissue array sheet used for test and analysis of living tissues.例文帳に追加

生体組織の検査や分析に用いられる新たな組織アレイブロック作製方法および組織アレイシートを提供する。 - 特許庁

Thereby, variation of characteristics is grasped by the test memory cell array in which rewriting is performed more than that in the memory cell array.例文帳に追加

それにより、本体メモリセルアレイに比べ書き換えがより多く行われたテストメモリセルにより特性の変化を把握する。 - 特許庁

A test control circuit controls the output circuit so that at a first test mode, refresh-operation of the real cell array is prohibited and data read from the real cell array is outputted, at a second test mode, data read from the parity cell array is outputted.例文帳に追加

試験制御回路は,第1の試験モード時に,リアルセルアレイのリフレッシュ動作を禁止してリアルセルアレイから読み出されたデータを出力し,第2の試験モード時に,パリティセルアレイから読み出されたデータを出力するよう前記の出力回路を制御する。 - 特許庁

The decision section determines whether the data in the memory cell array are the same as the test data and the inverted data of the test data or not.例文帳に追加

判断部はメモリセルアレイ内のデータがテストデータやテストデータの反転データと同じであるかの可否を判断する。 - 特許庁

Write-in data is stored in a memory cell array 1, while test data required for correcting an error is generated for the write-in data and stored in a test data memory cell array 2.例文帳に追加

書き込みデータをメモリセルアレイ1に記憶すると共に、上記書き込みデータに対してエラー訂正に必要な検査データを生成して検査データメモリセルアレイ2に記憶する。 - 特許庁

To provide an array substrate which makes test and driving easy, and also to provide a main substrate having the above array substrate, and a liquid crystal display device.例文帳に追加

検査及び駆動を容易にするためのアレイ基板、これを有する母基板、及び液晶表示装置が開示される。 - 特許庁

Therefore, the desired data can be written in the parity cell array PCA, a test of the parity cell array PCA can be easily conducted.例文帳に追加

このため、パリティセルアレイPCAに所望のデータを書き込むことができ、パリティセルアレイPCAの試験を容易に実施できる。 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT WITH CONTROLLABLE TEST ACCESS TO INTERNAL ANALOG SIGNAL PADS OF AREA ARRAY例文帳に追加

領域アレイの内部アナログ信号パッドへの制御可能テスト・アクセスをもつ集積回路 - 特許庁

例文

ON-LINE TEST OF PROGRAMMABLE INTERCONNECTED NETWORK IN FIELD PROGRAMMABLE GATE ARRAY例文帳に追加

フィールド・プログラム可能ゲート・アレイにおけるプログラム可能な相互接続ネットワークのオンライン試験 - 特許庁




  
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