「array test」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a ball grid array substrate which can steadily deliver and receive a test signal from a side surface without rise in cost.例文帳に追加

コストアップすることなく、テスト用の信号を安定に側面から受け渡しすることができるボールグリッドアレイ基板を提供する。 - 特許庁

The method to disable the access to the register/array is completed by executing a test preferably before the processor is sold.例文帳に追加

好ましくは、プロセッサが販売される前に、テストが実行されてレジスタ／アレイへのアクセスを不能にする方法が完了される。 - 特許庁

To provide a substrate unit for reliability test capable of testing the reliability of a plurality of array light sources, at low cost.例文帳に追加

低コストで複数のアレイ光源の信頼性を試験することを可能とする信頼性試験用基板ユニットを提供する。 - 特許庁

To provide a transistor array substrate in which efficient test can be made without any particular complicated working/treatment such as wire connection.例文帳に追加

結線等の特に複雑な加工・処理をせずとも効率よく検査することができるトランジスタアレイ基板を提供すること。 - 特許庁

When receiving a memory test pattern for a pattern input period, the flash ROM 40 latches the memory test pattern in its inside, and the latched data of memory test pattern are written in a memory cell array for a nonvolatile program period after a lapse of the pattern input period.例文帳に追加

フラッシュＲＯＭ４０は、メモリテストパターンをパターン入力期間に入力すると、これが内部でラッチされ、パターン入力期間経過後の不揮発性プログラム期間において、ラッチされたメモリテストパターンのデータがメモリセルアレイに書き込まれていく。 - 特許庁

A BIST circuit 100 detects the defective memory cell by conducting an operation test of a memory cell array 30 when the power source is turned on.例文帳に追加

ＢＩＳＴ回路１００は、電源起動時においててメモリセルアレイ３０に対して動作テストを実行し欠陥メモリセルを検出する。 - 特許庁

During the wafer burn-in test operation, a write/read control means 607 controls the write operation to the memory cell array 601 and read operation from the memory array 601 in response to the signal to be applied to the fourth pin A3.例文帳に追加

ウェハバーンインテスト時、書込み／読出し制御手段607 が第４ピンA3に印加される信号に応答して前記メモリセルアレイ601 に対する書込み動作及び前記メモリセルアレイ601 からの読出し動作を制御する。 - 特許庁

The fuse for redundancy substitution cuts off a memory cell array part corresponding to an address of a defective part to substitute a memory cell array part having a defect for a memory cell for redundancy according to a result of a pre-wafer-test.例文帳に追加

冗長置換用ヒューズは、プリウェハーテストの結果によって欠陥を有するメモリセルアレイ部分を冗長用メモリセルに置換するために、欠陥部のアドレスに対応するものを切断する。 - 特許庁

The layouts for DUT (device under test) formed on a semiconductor wafer for wafer tests include a first array DUT102, and a first pad set 104 formed adjacent to the first array.例文帳に追加

ウェハ・テスト用の半導体ウェハ上に形成されるＤＵＴ（被試験デバイス）用のレイアウトは、第１のアレイのＤＵＴ(102)と、その第１のアレイに隣接して形成された第１のパッド・セット(104)とを含んでいる。 - 特許庁

Each array is provided with transfer gates 91-96 that are switched on/off with the output of a linear control circuit and a test signal TEST so as to monitor the gate level of each FET switch from a monitor terminal MO.例文帳に追加

リニア制御回路の出力とテスト信号ＴＥＳＴでオンオフされるトランスファーゲート９１〜９６を各アレイに設け、モニター端子ＭＯからＦＥＴスイッチのゲート電位をモニターできるようにする。 - 特許庁

To enhance a thin-film transistor array substrate in test efficiency by a method wherein test patterns are checked to screen out defective chips before a drive circuit and pixel transistors are tested through a pulse response method.例文帳に追加

パルス応答法を用いて駆動回路及び画素トランジスタの検査を行う前に、テストパターンの検査を行って不良品チップのスクリーニングを行い、検査効率を向上することを目的とする。 - 特許庁

The control unit 6 previously measures a microphone distance between the speaker array 10 and the microphone 2, and sets the focal distance of the test audio beam at the same value as the microphone distance at the time of sweeping the test audio beam.例文帳に追加

制御部６は、スピーカアレイ１０からマイクロフォン２までのマイク距離を予め測定し、試験音声ビームの掃引時に試験音声ビームの焦点距離をマイク距離と同じ値に設定する。 - 特許庁

A microphone 2 is installed at a listening position so that a speaker array 10 radiates a test audio beam corresponding to a measuring signal, sweeping for gradually changing an angle of a test audio beam is executed, and the microphone 2 collects the audio beam.例文帳に追加

聴取位置にマイクロフォン２を設置し、スピーカアレイ１０から測定信号に応じた試験音声ビームを放射させ、試験音声ビームの水平掃引を行い、マイクロフォン２で集音する。 - 特許庁

The control section writes the test data output from the test-data output section into the memory, in the same writing sequence as a writing sequence of the pixel data outputted from the pixel array section into the memory, reads the test data written into the memory from the memory, in the same reading sequence as a reading sequence of the pixel data outputted from the pixel array section from the memory, and outputs the test data via the external interface.例文帳に追加

制御部は、テストデータ出力部から出力されたテストデータを、画素アレイ部から出力された画素データの前記メモリへの書き込み順序と同じ書き込み順序でメモリに書き込み、メモリに書き込まれたテストデータを、画素アレイ部から出力された画素データの前記メモリからの読み出し順序と同じ読み出し順序で前記メモリから読み出し、外部インタフェースを介して出力する。 - 特許庁

For this tester provided are a step installing a testing board having a terminal array similar to the terminal array of a semiconductor device 20 to a socket 50, a production step for producing test signals with a driver 76, a detection step for detecting the test signal having reached the testing board and a setting step for setting the output timing of the test signals, based on the test signals detected in the detection step.例文帳に追加

半導体デバイス２０の端子配列と同様の端子配列を有する試験用ボード１０をソケット５０に装着するステップと、ドライバ７６により試験信号を生成する生成ステップと、試験用ボード１０に到達した試験信号を検出する検出ステップと、検出ステップにより検出した試験信号に基づいて試験信号の出力タイミングを設定する設定ステップとを備えた。 - 特許庁

Next, a sector erase test is performed, by which the data stored in a selected sector among the plurality of sectors are erased within the sector erase guarantee time, and a data holding test is performed for the second memory cell array (20;20-1) in performing the sector erase test.例文帳に追加

次に、セクタ消去保証時間内に複数のセクタのうちの選択セクタに格納されたデータを消去するセクタ消去テストを実行し、セクタ消去テストが実行されているときに、第２メモリセルアレイ（２０；２０−１）に対するデータ保持テストを実行する。 - 特許庁

Test cells are disposed at ends of an array as an inverter circuit forming a ring oscillator, and the ring oscillator is operated by charging and discharging bit lines.例文帳に追加

リングオシレータを形成する反転回路としてアレイ端にテスト用のセルを配置し、ビット線を充放電しながらリングオシレータを動作させる。 - 特許庁

The test sample is subjected to an evaluation array equipped with a plurality of wells having different biological function-evaluation abilities.例文帳に追加

食材成分に応答した細胞抽出物を被検試料とし、生体機能性評価能が異なる複数のウエルを備えた評価アレイにかける。 - 特許庁

To provide a tester and a testing method for IC device or solder ball of a wafer in which a pressure required for bringing all solder bumps in an IC array into contact with a test array is reduced significantly.例文帳に追加

ＩＣアレイ内のすべてのはんだバンプを、テスト用のアレイと接触させるのに必要な圧力を大幅に低減させるような、ＩＣデバイス、あるいはウェハ用のはんだボールのテスト方法／装置を提供する。 - 特許庁

A microphone 2 is installed at a listening position so that a speaker array 10 radiates a test audio beam corresponding to a measuring signal, sweeping for gradually changing an angle of the test audio beam is executed, and the microphone 2 collects the audio beam.例文帳に追加

聴取位置にマイクロフォン２を設置し、スピーカアレイ１０から測定信号に応じた試験音声ビームを放射させ、試験音声ビームの角度を漸次変更する掃引を行い、マイクロフォン２で集音する。 - 特許庁

The inspection of a test pattern of a nozzle array which discharges at least the thinnest ink among the plurality of inks of similar colors and different concentrations is facilitated by increasing a printing density to thereby raise a density of a test pattern of thin inks.例文帳に追加

同系色で濃度の異なる複数のインクの内、少なくても一番薄いインクを吐出するノズル列のテストパターンを、印字密度をあげることにより薄いインクのテストパターンの濃度を上げて、検査しやすくする。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory that optimum burn-in operation is performed to realize shortening of a process burn-in time and a selection test time by providing plural test modes improving access duty for a memory array system.例文帳に追加

メモリアレイ系へのアクセスデューティを上げるテストモードを複数搭載することで、最適なバーンインオペレーションを行い、工程バーンイン時間の短縮、選別試験時間の短縮を実現できる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide an element array apparatus for a semiconductor element test handler capable of shortening a mounting time on a test tray by arraying semiconductor elements with a constitution capable of driving separately an aligner and a lower part pushing unit.例文帳に追加

アライナと下部プッシングユニットが別に駆動するように構成して半導体素子を整列することでテストトレイに装着する時間を短縮できるようにした半導体素子のテストハンドラ用素子整列装置を提供する。 - 特許庁

At the time of a test, a program data set circuit 15 can write a test pattern to the memory cell array 14 without passing through the shift register 12 by outputting set signals SA0, SA1 making forcedly the data latch circuit 13 a set state to the data latch circuit 13, and a transfer time of a test pattern can be omitted.例文帳に追加

テスト時に、プログラムデータセット回路１５は、データラッチ回路１３を強制的にセット状態にするセット信号ＳＡ０,ＳＡ１をデータラッチ回路１３に出力することによって、シフトレジスタ１２を介さずにテストパターンをメモリセルアレイ１４に書き込みでき、テストパターンの転送時間を省ける。 - 特許庁

To reduce the array pitch of a probe and to enable an electrode section to be used for a conduction test of a densely-arranged specimen.例文帳に追加

プローブの配列ピッチをより小さくして、電極部をより高密度に配置した被検査体の通電試験に用いることができるようにすることにある。 - 特許庁

Out of a plurality of serially connected repeaters 18, 20, and 22, a test device 1 is connected to the two repeaters 18 and 22 located at both ends of an array.例文帳に追加

直列に接続された複数の中継器１８，２０，２２のうち、検査機器１は、配列の両端に位置する２つの中継器１８，２２に接続されている。 - 特許庁

A test pattern is printed using an ink other than yellow and defective nozzles are specified by checking all nozzles in each nozzle array of a print head unit 21.例文帳に追加

イエロー以外のインクを用いてテストパターンを印刷して印字ヘッドユニット２１の各ノズル列４３の全ノズル４２をチェックし不良ノズルを特定する。 - 特許庁

This invention is directed to a method and apparatus for analyzing molecular structures within a sample substance using an array having a plurality of test sites upon which the sample substance is applied.例文帳に追加

サンプル物質を適用する複数の試験部位を有するアレイを使用してサンプル物質中の分子構造体を分析するための方法および装置。 - 特許庁

To provide a pinboard having a structure connectable to a plurality of kinds of test boards having each different array density of each connection pad without requiring a conversion board.例文帳に追加

接続パッドの配列密度が相違する複数種類のテストボードに変換ボードを要することなく接続することができる構造のピンボードを提供する。 - 特許庁

A solid state imaging element 100 comprises a pixel array portion 1, a test voltage applying portion 2, a reference voltage producing circuit 9, and an operation point control portion 8.例文帳に追加

固体撮像素子１００は、画素アレイ部１と、テスト電圧印加部２と、参照電圧生成回路９と、動作点制御部８とを備える構成とする。 - 特許庁

To previously test characteristic variations in a plurality of differential amplifying circuits being formed on a TFT array substrate for example, before forming a pixel section on the substrate.例文帳に追加

例えばＴＦＴアレイ基板に形成された複数の差動増幅回路の特性ばらつきを、当該基板に画素部を形成する前に予め検査する。 - 特許庁

The test accuracy is enhanced when the driving characteristics of the DUT in the domain part 23 of the array substrate 22 are electrically tested by the tester body 47.例文帳に追加

アレイ基板22の表示領域部23における被検査対象デバイスの駆動特性をアレイテスタ本体47にて電気的に検査する際の検査精度が向上する。 - 特許庁

An array coil in which a plurality of the element coils for receiving magnetic resonance signals from a test subject 200 are arranged is used as an RF coil unit 6b.例文帳に追加

ＲＦコイルユニット６ｂとしては、被検体２００からの磁気共鳴信号をそれぞれ受信する複数の要素コイルが配列されたアレイコイルが用いられる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, reducing a test time for outputting a result of comparing a data pattern for testing with a data read out from a memory cell array.例文帳に追加

テスト用のデータパターンとメモリセルアレイから読み出したデータとの比較結果を出力するテスト時間を短縮する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

PHASED SCAN EDDY CURRENT ARRAY PROBE AND PHASED SCANNING METHOD FOR PROVIDING COMPLETE AND CONTINUOUS COVERAGE OF TEST SURFACE WITHOUT SCANNING MECHANICALLY例文帳に追加

同期式走査渦電流アレイプローブ及び機械的に走査することなく検査面の完全で連続的な到達範囲を提供する同期式走査方法 - 特許庁

Through the use of the signal intensity of the detector array, a picture noise and a collimator aperture are fixed to test the picture noise.例文帳に追加

より詳しく述べると、検出器アレイの信号強度を用いることにより、画像ノイズ及びコリメータ・アパーチャを決定して、Ｘ線量を検定する。 - 特許庁

The resulting array of probes is used to analyze the presence or test the activity of one or more target molecules specifically interact with the probes.例文帳に追加

作成したプローブのアレイを用い、プローブと特異的に相互作用する1つまたはそれ以上の標的分子の存在を分析するか、または活性を試験する。 - 特許庁

To provide a semiconductor package having array electrodes in conjunction with facedown packaging and capable of improving connection accuracy to a socket for carrying out an electric characteristic test.例文帳に追加

フェイスダウン実装に伴うアレイ電極を有し、電気特性試験を実施するためのソケットへの接続精度を向上させる半導体パッケージを提供する。 - 特許庁

The memory cell array section MCA and a column selector CS receive the address signal a''' and a second test circuit section TCi2 receives the scan-out signal SiOUT1.例文帳に追加

アドレス信号ａ’’’は，メモリセルアレイ部ＭＣＡおよびカラムセレクタＣＳに入力され，スキャンアウト信号ＳｉＯＵＴ１は，第２テスト回路部ＴＣｉ２に入力される。 - 特許庁

The density value of the main scanning line of test patterns continuously formed on paper three times are detected while changing the sensing field of view of the sensor array.例文帳に追加

用紙へ３回にわたって連続して形成されるテストパターンの主走査ラインの濃度値を、センサアレイのセンシング視野を変化させながら検出する。 - 特許庁

With quick, nervous movements among his array of test-tubes, he turned a white solution to a wine color, and a light yellow solution to a dark brown. 例文帳に追加

ポールはずらりと並んだ試験管の間をすばやくかつ慎重に動きまわりながら、白い溶液を葡萄色に、黄色い溶液を茶褐色に変化させた。 - JACK LONDON『影と光』

A formidable array of bottles and test-tubes, with the pungent cleanly smell of hydrochloric acid, told me that he had spent his day in the chemical work which was so dear to him. 例文帳に追加

恐ろしく並んだ瓶や試験管と純然たる塩酸の刺激臭により、彼が一日、彼にとって大切な化学の作業をしていたことがわかった。 - Arthur Conan Doyle『シャーロック・ホームズの冒険』

By the memory test circuit described in this embodiment, the memory BIST is made for all the bits in a real array section and a redundancy section of a memory MEMR under test in the direct memory BIST mode, and the memory BIST can be made only for the bits in the real array section of the memory MEMR under test in the redundant memory BIST mode.例文帳に追加

これにより、本発明の実施形態によるメモリテスト回路によれば、ダイレクトメモリＢＩＳＴモードにおいて、テスト対象メモリＭＥＭＲの実アレイ部と冗長部との全てのビットを対象としたメモリＢＩＳＴを実行し、リダンダンシメモリＢＩＳＴモードにおいて、テスト対象メモリＭＥＭＲの実アレイ部のビットのビットのみを対象としたメモリＢＩＳＴを実行することができる。 - 特許庁

When a phased-array antenna of the synthetic aperture radar device 5 as a test body is mounted on a positioner 3 and the phased-array antenna changes the beam direction with electronic control, the positioner 3 is rotated to cancel the change, and the antenna is always directed to a test signal occurrence section 2 even when the beam direction is changed.例文帳に追加

供試体としての合成開口レーダ装置５のフェーズドアレイアンテナをポジショナ３に載せ、このフェーズドアレイアンテナが電子的な制御によりビーム方向を移動したときに、その移動を相殺するようにポジショナ３を回転させて、ビーム方向を移動しても常に試験信号発生部２を指向させる。 - 特許庁

This system comprises first resistance specification test circuits 108, 300, 400 which are connected to bit lines of a memory array 102, test resistance of each memory cell 310, 410 in the memory array 102, and decide whether the resistance is in a range of the highest limit and the lowest limit or not.例文帳に追加

メモリアレイ１０２のビット線に連結し、メモリアレイ１０２内の各メモリセル３１０、４１０の抵抗を試験し、その抵抗が所定の上限および下限内にあるか否かを決定する第１の抵抗仕様試験回路１０８、３００、４００を含んでいる磁気抵抗メモリアレイ集積回路用の組み込み自己試験システムを提供する。 - 特許庁