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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > defectlessに関連した英語例文

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defectlessを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 23



例文

After a wafer is subjected all layer forming steps, defectless/defective wafer discrimination 75 for classifying chips into defectless chips and defective chips is performed on the wafer by performing electric functional inspections.例文帳に追加

すべての層形成工程を経たウェハに、電気機能検査を行い、良品チップと不良品チップとに区分けする良/不良判定73を行う。 - 特許庁

To provide a thermoplastic resin film having high grade heat resistance, transparency, optical isotropy, tenacity and defectless property.例文帳に追加

高度な耐熱性、透明性、光学等方性、靭性、無欠点性を有する熱可塑性樹脂フィルムを提供する。 - 特許庁

Firstly, the pulse number or voltages of the all or selected nets of defectless boards and defective boards are measured (S1).例文帳に追加

まず、ステップS1で、良品基板、不良品基板の全ネットまたは選択されたネットのパルス数または電圧を測定する。 - 特許庁

To provide a method which can achieve defectless plating onto a structure having microholes of narrow openings deep apertures.例文帳に追加

開口部が狭くかつ深い微細な孔を有する構造体上に欠陥のないめっきを施すことができる方法を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a silicon single crystal wafer and its manufacturing method which has a stable defectless layer formed on a surface layer and impurity gettering zones of clustered fine crystal defect groups formed in an inner layer deeper than the defectless layer and is suited for forming devices.例文帳に追加

表層に安定した無欠陥層が形成され、その無欠陥層より深い内層に、微細結晶欠陥群が密集した不純物ゲッタリング帯域が形成されたデバイス形成に好適なシリコン単結晶ウエハ及びその製造方法を提供する。 - 特許庁


例文

To provide a defectless metal product by detecting immediately contamination of a contaminant into molten metal bath and coping therewith.例文帳に追加

溶融金属湯への汚染物の混入を即時検出して、対処することで、欠陥のない金属製品を提供できるようにすること。 - 特許庁

To provide a flexible printed board, for while the contact pattern of a contact section can be inspected easily for misalignment and defectless/ defective products can be discriminated rationally.例文帳に追加

コンタクト部のコンタクトパターンの位置ずれを容易に検査でき、良品/不良品を合理的に判断できるフレキシブルプリント基板を提供する。 - 特許庁

To provide a welding method which makes defectless lamination possible by regulating a lamination method at the time of forming a laminated section on a single crystal and unidirectionally solidified base metal 11.例文帳に追加

単結晶及び一方向凝固の母材に積層部を形成するに際し、積層方法を規定することで健全な積層が可能となる溶接方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a convex sheet which is thick in its convex part, defectless and high in quality, and is manufactured in good productivity; and to provide a device for manufacturing the convex sheet.例文帳に追加

シートの凸部の厚さが厚く、欠陥がなく高品質で、かつ、生産性よく製造することができる凸状シートの製造方法および製造装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

例文

To provide a joining method which makes it possible to obtain a defectless joint part which does not give a cracking and other defects in a short joining work time in heating and joining of martensitic stainless steels.例文帳に追加

マルテンサイト系ステンレス鋼の加熱接合において、短い接合作業時間で、割れ、その他の欠陥を生じることがない健全な接合部が得られる接合方法を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a method of forming a DZ layer on the surface of a wafer to promote an oxygen deposit formation inside when thermal treatment is performed by using a defectless wafer of low oxygen concentration.例文帳に追加

低酸素濃度の無欠陥ウェーハを用いて熱処理する際に、ウェーハ表面にDZ層を形成し、内部での酸素析出物形成を促進する熱処理方法を提供する。 - 特許庁

To efficiently manufacturing defectless seamless capsules in a method for manufacturing the seamless capsules of a spherical shape formed by coating packing materials, such as drugs, with a film material, such as gelatin.例文帳に追加

医薬等の充填物質をゼラチン等の皮膜物質で被覆してなる球形状のシームレスカプセルを製造する方法において、欠陥のないシームレスカプセルを効率よく製造する。 - 特許庁

In addition, the cause of yield deterioration is specified by obtaining the measured values of circuit dimensions, film thicknesses, interlayer alignment dimensions, electrical characteristics 74, etc., from the same wafer at every measurement item and comparing the results with the yield of the defectless chips.例文帳に追加

また、同じウェハで測定した回路寸法、膜厚寸法、層間位置合せ寸法、電気特性74などの測定値を測定項目毎にそれぞれ求め、その結果と欠陥無チップの歩留りを比較し、歩留り劣化原因を特定する。 - 特許庁

To provide a coating method which enables alternate, defectless, and uniform formation of a laminated layer consisting of an upper coating layer and a lower coating layer and a single layer consisting only of the upper coating layer onto a surface of an object to be coated along its moving direction moving relative to a coating apparatus.例文帳に追加

塗布装置と相対的に移動する被塗布物の表面に、上層塗膜と下層塗膜との積層部と上層塗膜のみからなる一層部とを移動方向に交互に、欠陥なく、均一に形成する。 - 特許庁

To provide a method which is capable of efficiently forming a defectless butt welded joint which is less rugged on bead surfaces and wide in back bead width while achieving a good bead surface shape and reducing a cost required for assist gas.例文帳に追加

良好なビード表面形状とアシストガスに要するコスト低減を図りながら、ビード表面の凹凸が少なく且つ裏面ビード幅も広く、健全な突合わせ溶接継手を効率よく形成することのできる方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a plating method capable of applying defectless sound metallic plating having convenience for use equal to that of wafer base electroless plating in particular, e.g. on the surface of a substrate having fine recessed parts or the like for wiring.例文帳に追加

特に水系無電解めっきに相当する使い勝手を有し、例えば配線用の微細な凹部等を有する基板の表面に欠陥のない健全な金属めっきを施すことができるようにしためっき方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device by which only defectless semiconductor substrates are fed to a succeeding semiconductor process by mechanically prechecking the outer peripheral surfaces of the substrates and the ground edge faces of the surfaces for microdefects, such as chipping, etc., before the substrates enter the semiconductor process.例文帳に追加

半導体プロセスに入る前の状態で半導体基板の外周面及びそのエッジの研削面のチッピングなど微細欠陥の有無を予め機械的にチェックし、欠陥のない半導体基板のみを後に続く半導体プロセスに提供するようにすることにある。 - 特許庁

To provide an apparatus for generating an appearance inspection discriminator, fully letting a discriminator which determines whether an inspection object is defectless or not, fully learn, even when there are only a few available images showing a defect on the defective inspection object.例文帳に追加

検査対象物の不良品に生じた欠陥を写した画像が少数しか得られない場合でも、検査対象物が良品か否かを識別する識別器を十分に学習させることが可能な外観検査用識別器生成装置を提供する。 - 特許庁

When the double exposure is performed by adjusting the electron intensity of each exposure to 0.5 (total intensity/number of reticles = 1/2) under a condition where the total intensity of the double exposure is '1' and the threshold is '0.7', the obtained resist image becomes the same reticle image 14 as that obtained by using defectless reticles.例文帳に追加

二重露光電子全強度を「1」とし、しきい値は「0.7」とした場合、それぞれの電子強度を全強度/レチクル枚数(1/2)で0.5として二重露光を行うと、得られるレジスト像は、無欠陥レチクルで形成したレチクル像と同様のレチクル像14となる。 - 特許庁

Thereby the thermal stress generated between the film and the plating layer at the time of the drying and baking treatment is suppressed and the reaction time of the film and the plating layer is sufficiently assured and therefore the defectless non-chromium treated film which does not give rise to the cracking and powdering can be obtained.例文帳に追加

このことによって、乾燥焼付け処理時における皮膜とめっき層との間に生じる熱応力が抑制され、皮膜とめっき層との反応時間が充分に確保されるので、亀裂およびパウダリングの生じない健全な非クロム処理皮膜を得ることができる。 - 特許庁

Since the occurrence of particles caused by being supplied to the drying tank while the fluid for drying is solidified is suppressed, this invention has the effect that stable and defectless substrate processing can be obtained resulting in enhancing the production amount or the yield.例文帳に追加

本発明によれば、乾燥用流体が凝固された状態で乾燥槽に提供されることによって引き起こされるパーティクルの発生が抑制されるから、安定的かつ不良のない基板処理が可能になって、生産量又は歩留まりが向上するという効果がある。 - 特許庁

Thereafter, the memory circuits 4 are tested on the wafer 2 and, in case either one of the memory circuits 4 on both sides of one logic circuit 6 is defective, the semiconductor chip of one memory IC is formed by joining the other defectless memory circuit 4 with the logic circuit 6.例文帳に追加

その後、すべてのメモリ回路4に対してウェハー2上で試験を行い、ロジック回路6を挟む2つのメモリ回路4のうちの一方が不良品であった場合には、もう一方の良品のメモリ回路4とロジック回路6とを組にして1つのメモリICの半導体チップを形成する。 - 特許庁

例文

To provide colloid aqueous solution including defectless protein particles and usable instead of the human blood at the testing time of a medical tool or the like or at the experimental training time of a medical diagnosis action or the like, and model blood wherein the protein particles are allowed to simulate erythrocyte in human blood.例文帳に追加

医療用具等の試験、あるいは医療診断行為の実験実習などの際にヒトの血液の替わりに使用でき、欠点のないタンパク質粒子を含むコロイド水溶液、およびそのタンパク質粒子をヒト血液中の赤血球に擬した模擬血液を提供する。 - 特許庁




  
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