「electron phase」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH PHASE PLATE AND LENS SYSTEM FOR PHASE PLATE例文帳に追加

位相板と位相板用レンズ系を備えた透過電子顕微鏡 - 特許庁

MICROWAVE PHASE SHIFTER OF ELECTRON SPIN RESONANCE DEVICE例文帳に追加

電子スピン共鳴装置のマイクロ波移相器 - 特許庁

PHASE PLATE LENS SYSTEM FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡の位相板用レンズシステム、および透過電子顕微鏡 - 特許庁

PHASE PLATE FOR ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡用位相板及びその製造方法 - 特許庁

PHASE CHANGE MEMORY SELECTION TYPE ELECTRON SOURCE AND PATTERN DRAWING APPARATUS例文帳に追加

相変化メモリ選択型電子源および描画装置 - 特許庁

OBSERVATION METHOD BY PHASE RETRIEVAL TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

位相回復方式の電子顕微鏡による観察方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, ELECTRON BEAM HOLOGRAM FORMING METHOD, AND PHASE REPRODUCED IMAGE FORMING METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡、電子線ホログラム作成方法及び位相再生画像作成方法 - 特許庁

An electron transfer layer 3 made of an insulating porous structure mixed of a gas phase and a solid phase is inserted between an electron supply layer 2 and an electron emitting layer 4.例文帳に追加

電子供給層２と電子放射層４間に、気相と固相が混在した絶縁性多孔質構造からなる電子伝達層３を挿入する。 - 特許庁

To provide a phase plate and a method of manufacturing the same, and a phase difference electron microscope capable of acquiring a stable, high-resolution phase difference electron microscope image.例文帳に追加

安定で、かつ高分解能の位相差電子顕微鏡像の取得が可能な位相板及びその製造方法、並びに位相差電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To enable observation of electron microscope images by using phase contrast technique.例文帳に追加

位相差法により電子顕微鏡像を観察可能にする。 - 特許庁

The electron conduction phase, the ion conduction phase and the gas diffusion phase have nearly the same shape and are regularly arranged.例文帳に追加

電子伝導相、イオン伝導相及びガス拡散相が、略同一形状であり且つ規則的に配設されている。 - 特許庁

To provide a phase difference electron microscope capable of alleviating the dimensional requirement of a phase shift element.例文帳に追加

位相シフト素子の寸法上の要件を軽減する位相差電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Scattered electron waves are shifted with a phase π/2 relative to the unscattered wave. 例文帳に追加

散乱波は、散乱されない波に対して位相π/2ずらされる。 - 科学技術論文動詞集

The electron emitting layer 3 is constituted of a base material made of a porous structure in which a gas phase and a solid phase are intermingled and a granular electron emitting material 5.例文帳に追加

電子放射層３を気相と固相が混在した多孔質構造からなる母材と粒子状電子放射材５とで構成する。 - 特許庁

To provide a method for vapor-phase film formation of an amorphous oxide thin film of low electron carrier concentration.例文帳に追加

電子キャリア濃度が低い、アモルファス酸化物薄膜の成膜方法の提供。 - 特許庁

MULTIPHASE SOLID ION- AND ELECTRON CONDUCTIVE FILM HAVING LOW VOLUME PERCENTAGE OF ELECTRON CONDUCTIVE PHASE AND ITS PRODUCTION例文帳に追加

低容積パーセンテージの電子導電性相を有する多相の固体のイオン及び電子導電性膜並びにその製造方法 - 特許庁

This transmission electron microscope is provided with a phase plate 8 for generating a phase difference between an electron beam passing through a predetermined region including a rear focal point of an object lens 6 and an electron beam passing through a region excluding the predetermined region.例文帳に追加

対物レンズ６の後焦点を含む所定の領域を通過する電子線と、前記所定の領域外の領域を通過する電子線との間に位相差を生じさせる位相板８を備える。 - 特許庁

The electron microscope performs adjustment and deletion of phase differences due to differences of electron beam paths, generated at focusing or image formation of the electron beams by a lens.例文帳に追加

本発明は、電子線をレンズにより収束もしくは結像する際に生じる、電子線経路の差により生じる位相差を調整し、その差をなくすことに関する。 - 特許庁

A white defect in a halftone phase shift mask or a recessed phase defect in a Levenson type phase shift mask is corrected to match the phase by depositing an electron beam CVD film 6 having high transmittance and a high phase effect such as tetramethoxysilane or the like.例文帳に追加

透過率が高く位相効果のあるテトラメトキシシラン等の電子ビームCVD膜６でハーフトーン型位相シフトマスクの白欠陥やレベンソン型位相シフトマスクの凹型の位相欠陥を位相が合うように修正する。 - 特許庁

In addition, this phase plate 10 is arranged in a passage of electrons passing through an objective lens of a phase difference electron microscope and a sample.例文帳に追加

そして、この位相板１０を、位相差電子顕微鏡の対物レンズ及び試料を通過した電子の通路に配置する。 - 特許庁

By choosing as appropriate the solid phase material used for the constituting base material, the film thickness, and the electron emitting material 5 of the electron emitting layer 3, since efficient electron transfer and electron emission become possible, the highly efficient electron emitting element can be realized.例文帳に追加

前記電子放射層３の構成母材に用いる固相材料、膜厚及び電子放射材５を適宜選択することにより、効率的な電子伝達と電子放射が可能となるので、高効率な電子放射素子を実現することができる。 - 特許庁

Any one of the electron conduction phase, the ion conduction phase and the gas diffusion phase in one of the electrode layers comes into contact with the three phases in the other electrode layers.例文帳に追加

１の電極層内の電子伝導相、イオン伝導相及びガス拡散相のうちの任意の１相が、他の電極層内の当該３相と接触している。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope having a phase plate and a phase plate lens system by which a high quality of image can be obtained stably.例文帳に追加

高い像質を安定して得ることができる位相板と位相板用レンズシステムを備えた透過電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a new method for phase contrast imaging in transmission electron microscopy.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡法における位相コントラスト結像のための新しい方法を提供すること。 - 特許庁

The data storage device 110 contains a phase change storage layer 112 and an array 114 of nanotubes 212 serving as its electron source.例文帳に追加

データ記憶デバイス(110)は、相変化記憶層(112)と、電子源としてナノチューブ(212)のアレイ(114)とを含む。 - 特許庁

With this, control of relative phase differences between object waves and reference waves becomes possible by giving the electron beams deflection on an image face of a electron-optical sample.例文帳に追加

これにより、電子光学上の試料の像面において電子線に偏向を与え物体波と参照波の相対的位相差のコントロールが可能となる。 - 特許庁

This electrode structure is composed by stacking a plurality of electrode layers, in each of which an electron conduction phase 1, an ion conduction phase 2 and a gas diffusion phase 3 are arranged so as to have a common contact point.例文帳に追加

電子伝導相１、イオン伝導相２及びガス拡散相３が共通の接触点を有するように配設された複数の電極層を積層た電極構造体である。 - 特許庁

By appropriately choosing a solid phase material and the thickness constituting the above electron transfer layer 3, efficient electron transfer is realized and thereby, a highly efficient electron emitting element can be realized.例文帳に追加

前記電子伝達層３を構成する固相材料、膜厚を適宜選択することにより、効率的な電子伝達が可能となるので、高効率な電子放射素子を実現することができる。 - 特許庁

To provide an observation technology by a phase retrieval type electron microscope, making the intensity distribution of a parallel electron beam with a microscopic diameter in measuring a real image and an electron diffraction pattern bright and uniform.例文帳に追加

実像と電子回折像を測定する際の微小径かつ平行な電子線を、明るくかつ均一な強度分布にする位相回復方式の電子顕微鏡による観察技術を提供する。 - 特許庁

To produce a phase servo pattern on a magnetic transfer substrate by using an electron beam.例文帳に追加

磁気転写用マスター担体における位相サーボパターンを、電子ビームにより容易に且つ高精度で描画する。 - 特許庁

A gas phase radiant heat reaction of hydrogen electron transition to a lower energy state is caused in the reactor.例文帳に追加

この反応装置内で、より低エネルギー状態への水素の電子遷移の放熱反応が気相で起こる。 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION SAMPLE PREPARING METHOD FOR SOLID PHASE REACTIVE SAMPLE AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

固相反応試料の透過電子顕微鏡観察用試料作製方法および荷電粒子ビーム装置 - 特許庁

Electron-microscope specimens thinner than 10 nm and of low atomic number behave as weak-phase objects. 例文帳に追加

10nmより薄く低い原子番号から成る電子顕微鏡の試料は、弱位相物体として振る舞う。 - 科学技術論文動詞集

A high-frequency circuit system having an electron tube and a power supply device supplying a predetermined DC voltage to the electron tube, has a phase comparator outputting a voltage corresponding to a phase difference between a first high-frequency signal to be inputted to the electron tube and a second high-frequency signal outputted from the electron tube.例文帳に追加

電子管及び該電子管に所定の直流電圧を供給する電源装置を備えた高周波回路システムに、電子管へ入力する第１高周波信号と電子管から出力された第２高周波信号との位相差に対応する電圧を出力する位相比較器を備える。 - 特許庁

To provide a phase plate of an electron microscope which minimizes shielding of an electron wave and prevents effect of charge of an insulation film without using an advanced manufacturing technology, and provide a phase difference electron microscope which does not require significant change and addition of an optical element.例文帳に追加

電子波の遮蔽を極小化し、かつ絶縁膜の帯電の影響を回避できる電子顕微鏡の位相板を高度な製造技術を利用せずに提供し、光学要素を大幅に変更・追加必要としない位相差電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a phase mask for working optical fiber by which electron-beam lithography of the phase mask having recessed groove pitches changing according to positions can be easily performed.例文帳に追加

凹溝ピッチが位置に応じて変化する位相マスクの電子線描画を簡単に行うことができる光ファイバー加工用位相マスクの製造方法。 - 特許庁

The microcapsule is obtained by dispersing oil phase prepared by dissolving a diazonium salt compound or an electron donative dye precursor in organic solvent in water phase.例文帳に追加

ジアゾニウム塩化合物または電子供与性染料前駆体を有機溶媒により溶解して油相とし、これを水相中に分散させ、マイクロカプセルを得る。 - 特許庁

To provide a microwave phase shifter for a pulse Fourier transform electron spin resonance device wherein an output level of a microwave is not changed even when a phase is switched.例文帳に追加

位相を切り換えてもマイクロ波の出力レベルが変化しないようなパルスフーリエ変換電子スピン共鳴装置用マイクロ波移相器を提供する。 - 特許庁

To provide an operating method at a high temperature, of an electron microscope, and the electron microscope, capable of stably setting a sample and efficiently heating the same with respect to high temperature properties such as phase transformation and phase transition required in the development of a heat-proof material.例文帳に追加

耐熱材料の開発において要求される相変態および相転移などの高温物性について、試料を安定に設定でき、効率よく加熱できる電子顕微鏡の高温での運転方法とその電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a phase difference electron microscope including a phase plate which is used for an electron microscope and gets around problems that spacial frequency information of an observed specimen is lost, and minimizes effect of charge of an insulation film.例文帳に追加

電子顕微鏡に用いられる位相板において、観察試料の空間周波数情報が欠損する問題を回避し、かつ絶縁膜の帯電の影響を最小限にすることのできる位相板を備えた位相差電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To adjust phase differences and improve on their interference properties in a device using electron beams, since, in case of focusing electron beams by a lens or using them, phase differences of the electron beams occur due to an effect of spherical aberration to hinder obtention of a substantial interference effect.例文帳に追加

電子線をレンズにより収束またはそれを使用した電子顕微鏡の像を結像しようとした場合、球面収差の効果によって電子線の位相差が生じ干渉効果が十分に得られないため、電子線を使用する装置において位相差を調整しその干渉性を向上させることに関する。 - 特許庁

An electron beam is injected into a magnetic field that is leaked outside from a specimen comprising a magnetic material, and a phase distribution of the electron beam passing through a space with the leaked magnetic field is detected using the electron holography in a condition where a phase shift of the electron beam formed in the space without the leaked magnetic field is minimum, thereby obtaining distribution of the magnetic field leaked from the specimen.例文帳に追加

磁性物質からなる試料より外部に漏洩する磁場中ヘ電子線を入射し、前記磁場が漏洩していない空間中に形成された電子線の位相のズレが最小となる条件で、前記磁場が漏洩している空間中を通過する電子線の位相分布を電子線ホログラフィーを用いて検知することにより前記試料の漏洩磁場分布を求める。 - 特許庁

To maintain a state after control by easily controlling a current period phase of a single-electron transistor with a simple configuration.例文帳に追加

単電子トランジスタの電流周期位相の制御を簡単な構成で容易に行い、制御後の状態が保持されるようにする。 - 特許庁

To provide a control device of a transmission electron microscope which can facilitate alignment of a transmitted wave and a through-hole of a phase plate.例文帳に追加

透過波と位相板の貫通孔との間のアライメントを容易化できる透過電子顕微鏡の制御装置を提供する。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope observation sample preparing method for a solid phase reactive sample and a charged particle beam device.例文帳に追加

固相反応試料の透過電子顕微鏡観察用試料作製方法および荷電粒子ビーム装置を提供する。 - 特許庁