「inspection algorithm」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

In the inspection apparatus, a control section 305 determines which algorithm should be used for the inspection on the basis of position coordinates from an X/Y interferometer 5, and controls a switch SW-A, thereby bringing image memories to store a reference image.例文帳に追加

Ｘ／Ｙ干渉計５からの位置座標に基づき、制御部３０５は、どのアルゴリズムで検査するかを判定し、スイッチＳＷ−Ａを制御して画像メモリＭ１〜Ｍ４に参照画像を記憶する。 - 特許庁

Moreover, a test item extracting part 13 receives the analytic result of the program analyzing part 11 and extracts the inspection item of the program A for each symbol of the algorithm chart.例文帳に追加

さらに、テスト項目抽出部１３は、プログラム解析部１１の解析結果を受け、アルゴリズムチャートのシンボルごとにプログラムＡの検査項目を抽出する。 - 特許庁

To provide an X-ray inspection device in which setting operation of an optimum image processing algorithm for accurately identifying foreign matter can be easily performed.例文帳に追加

異物を精度良く識別する最適な画像処理アルゴリズムの設定操作を容易に行うことができるＸ線検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a storage structure of a test program file of an automatic inspection device capable of easily adding, deleting and altering even if an inspection algorithm, an image obtaining condition and the like are added, deleted or altered.例文帳に追加

検査アルゴリズムや画像取得条件などが追加、削除、変更された場合であっても、容易にその検査プログラムを追加、削除、変更することができる自動検査装置における検査プログラムファイルの格納構造を提供する。 - 特許庁

To provide an inspecting device which generates a newly optimized image processing algorithm to correspond to an image which can not be processed with the present processing algorithm, so as to continue an inspection even when the noncompliant image is inputted to an image processing part during the working of a line.例文帳に追加

ライン稼動中に現在の画像処理アルゴリズムでは対応できない画像が画像処理部に入力された場合でも、その画像にも対応できるように新たに最適化された画像処理アルゴリズムを生成して検査を続行できる検査装置を提供することである。 - 特許庁

To provide an inspection method of a substrate for electro-optical device capable of performing highly accurate height measurement by determining the height by executing a prescribed algorithm to three-dimensional shape data, or the like.例文帳に追加

三次元形状データに対して、所定のアルゴリズムを実行して高さを求めることで、高精度の高さ測定ができる電気光学装置用基板の検査方法等を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method for inspecting fine defects by imaging transmitted light through a light-transmitting body, such as a glass tube, an image processing algorithm of the picked-up image, and to provide a device using them.例文帳に追加

ガラス管等の光の透過体の透過光を撮像し、それにより微細な欠陥を検出する検査方法と、その撮像画像の画像処理アルゴリズムおよびそれらを用いた装置を提供すること。 - 特許庁

This inspection is carried out by analyzing the compressed data by an algorithm or comparing with blank page compressed data or blank band compressed data held in a ROM 6 beforehand.例文帳に追加

この検査は、前記圧縮データをアルゴリズム的に解析して、あるいは予めＲＯＭ６に保持させておいた白紙ページ圧縮データ、あるいは白紙バンド圧縮データと比較することにより行われる。 - 特許庁

On an automobile inspection certificate 2, a QR code 2a including ciphered data generated by ciphering respective data on the manufacture year, model, etc., in addition to the body number of the corresponding automobile 7 by algorithm different from that of the side of the automobile 7 is printed.例文帳に追加

自動車検査証２には、対応する自動車７の車台番号の他に、年式、車種などの各データを自動車７側のものとは異なるアルゴリズムで暗号化した暗号化データを含むＱＲコード２ａが印刷される。 - 特許庁

The remaining effective bucket life is predicted by comparing the time varying temperature distribution of at least one rotating turbine bucket measured with a pyrometer with well known inspection data while the turbine is rotating by using a diagnosis algorithm.例文帳に追加

タービンの動作中に、少なくとも１つの回転しているタービンバケットの、高温計によって測定された時間変動温度分布を診断アルゴリズムで、周知の検査データとの比較に従って、残り有効バケット寿命を予測する。 - 特許庁

A program for executing a functional inspection algorithm for calculating a feature amount for an input waveform signal, for determining the normality or abnormality based on the obtained feature amount, and for outputting a result determined therein is constituted of individual program components P generated a function by a function.例文帳に追加

入力された波形信号に対して特徴量を算出し、得られた特徴量に基づいて正常，異常を判定し、その判定結果を出力する官能検査アルゴリズムを実施するプログラムを、機能ごとに生成された個々のプログラム部品Ｐにより構成した。 - 特許庁

A collection of data processing algorithm is suitably used instead of a high pass filter stage of the eddy current inspection system, and is simultaneously used for providing required data for an optimized system for inspecting test pieces on whether to be a slender defect of traveling in parallel to the scanning axis.例文帳に追加

渦電流検査システムの高域通過フィルタ段の代わりに用いるのに適し、また、走査軸に平行に走る細長い欠陥がないか試験片を検査するために最適化されたシステムに必要なものを提供する同時に用いられるデータ処理アルゴリズムの集合体。 - 特許庁

In the implementation substrate inspecting apparatus for comparatively inspecting the whole substrate surface using the uniform image processing algorithm, the inspection speed is achieved and fully copes with the speed of the highest-speed manufacturing line, since an automatically inspected area is limited from the visible image as a whole to a substrate area or a component implementing area.例文帳に追加

基板全面を均一の画像処理アルゴリズムで比較検査する実装基板検査装置において、自動検査の範囲を、視野画像全体から基板領域もしくは部品実装領域に限定したので、最高速製造ラインの速度に十分対応できる検査速度が実現する。 - 特許庁

According to algorithm for discriminating the kind of defect on a wafer, if the size of defect measured with a wafer inspection device containing a plurality of dark field part detectors is smaller than a limit value indicating the maximum size of COPs, the kind of defect is decided as being not particles.例文帳に追加

ウェーハ上の欠陥の種類を判別するためのアルゴリズムによれば、複数の暗視野部検出器を含むウェーハ検査装置によって測定されたウェーハ上の欠陥のサイズがＣＯＰの最大サイズを表わす限界値よりも小さければ前記欠陥の種類がパーチクルでないと判定する。 - 特許庁

The deciphering processing testing device is provided with a ciphered key information fixing means 1021 for fixing ciphered key information to be used for the ciphering processing and deciphering processing of data and an algorithm inspection means 1022 for inspecting whether the algorithms of the ciphering processing and deciphering processing are coincident with each other in the state of fixing the ciphered key information with respect to time by the fixing means 1021.例文帳に追加

本発明の秘匿解読処理試験装置は、データの秘匿処理及び秘匿解読処理に使用する秘匿鍵情報を時間に対して固定にする秘匿鍵情報固定手段１０２１と、前記秘匿鍵情報固定手段１０２１により前記秘匿鍵情報を時間に対して固定にした状態において前記秘匿処理及び前記秘匿解読処理のアルゴリズムが一致するか否かを検証するアルゴリズム検証手段１０２２と、を具備している。 - 特許庁

An appearance inspection device for detecting defects occurred in a construction layer (barrier rib 3) of the substrate by illuminating the surface of the substrate, detecting a reflected light from the surface of the substrate by a line sensor S (or an area sensor) and treating variations in the intensity with a specific algorithm comprises an illumination utilizing a parallel incident light at a specific angle to the substrate or a diffused light.例文帳に追加

基板の表面に照明を当て、その基板の表面からの反射光をラインセンサーＳ（或いはエリアセンサー）で検出し、その輝度変化を特定のアルゴリズム処理を行うことにより、その基板の構成層（バリヤーリブ３）に発生している欠陥を検出する外観検査装置において、照明として、基板に対してある特定の角度で入射する平行光を用いるようにするか、或いは、拡散光を用いるようにする。 - 特許庁