「interference microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To obtain an interference microscope image of a multi-stage electron beam biprism by an electromagnetic lens system with the same number as the one-stage electron beam biprism without drop of operation flexibility of the multi-stage electron beam biprism.例文帳に追加

多段電子線バイプリズムの操作自由度を落とすことなく、１段電子線バイプリズムと同数の電磁レンズ系によって、多段電子線バイプリズムの干渉顕微鏡像を得る。 - 特許庁

To provide a focus detector by which the good accuracy of focusing can be easily and rapidly obtained even in the focusing operation during differential interference observation and a microscope into which this detector is built.例文帳に追加

微分干渉観察時の合焦動作においても簡単且つ迅速に良好な合焦精度を得ることの出来る焦点検出装置とそれを組込んだ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a microscope sample which makes it efficient and accurate to evaluate the performance of a microscope using a differential interference contract method and a phase difference contrast method and also measure the size of the microstructure of a transparent living body sample as an object to be observed, and its manufacturing method.例文帳に追加

微分干渉コントラスト法や位相差コントラスト法を用いた顕微鏡の性能の評価や、観察対象である透明な生物標本の微細構造の大きさ測定を効率良くかつ正確に行うことができる顕微鏡標本、およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device for detecting the concrete physical quantity of an observed object such as the inclination of the observed object, the minute planer part, the edge part, the level difference and the phase variation, etc., in a short time from the differential interference image of the observed object obtained through a differential interference microscope.例文帳に追加

観察物体の勾配，微小平面部，エッジ部，段差，位相変化量等の具体的な物理量を微分干渉顕微鏡によって得られる観察物体の微分干渉画像から短時間で検出するための装置とこれを用いた検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a lens holding device capable of preventing the occurrence of a flaw caused by the mutual interference of lenses and being easily handled in manufacturing work, and to provide an objective lens for a microscope equipped with the lens holding device.例文帳に追加

レンズ同士の干渉によるキズの発生を防止し、製造作業上取り扱いの容易なレンズ保持装置およびこのレンズ保持装置を備えた顕微鏡用対物レンズを提供する。 - 特許庁

To provide an automatic focusing microscope capable of detecting a focus at the time of differential interference observation and realizing accurate detection by eliminating influence by the reflection of an internal optical system to the utmost.例文帳に追加

微分干渉観察時に焦点検出が可能であり、かつ内部光学系の反射による影響を極力無くし、高精度な検出が可能な自動焦点顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for forming a polarization optical interference contrast for microscope imaging of a specimen which is free of problems of anisotropy of a specimen carrier, an objective, or a condenser.例文帳に追加

被検体用担体あるいは対物レンズやコンデンサについても、それらの異方性が問題とならない被検体の顕微鏡結像のための偏光光学的な干渉コントラストを形成する方法。 - 特許庁

A light wave interference device 50 for detecting the moving amount ΔL of a stage 22 or an objective lens 23 is assembled in the microscope device whose focusing is performed by moving the stage 22 or the lens 23 up and down.例文帳に追加

ステージ２２又は対物レンズ２３を上下動させて焦準を行う顕微鏡装置に、ステージ２２又は対物レンズ２３の移動量ΔＬを検出するための光波干渉計５０を組み込んだ。 - 特許庁

A differential interference microscope 1 includes: a light source 2; and a lateral deviation variable device 20 capable of varying a lateral deviation between first polarized light and second polarized light.例文帳に追加

光源２と、前記光源から射出された光のうち試料４表面上での第１の偏光と第２の偏光との横ズレ量を可変可能な横ズレ量可変装置２０と、を備えた微分干渉顕微鏡１に関する。 - 特許庁

In the example of the electronic component mounting state inspection method disclosed herein, first an observation image of the electrode pads 10a via a transparent mount board 10 by a differential interference microscope 1 is obtained as electronic image data.例文帳に追加

本発明に係る電子部品実装状態検査方法の一例では、まず、微分干渉顕微鏡１による透明な実装基板１０を介した電極パッド１０ａの観察像を、電子画像データとして得る。 - 特許庁

To obtain a fluorescence microscope in which a plurality of objectives can be mounted and interference between the objective and a stage accompanied with switching operation for the objective is avoided even when the space of a spot where the objective is installed is restricted.例文帳に追加

対物レンズを設置する箇所のスペースが制限されている場合であっても、複数の対物レンズを搭載することができ且つ対物レンズの切り替え操作に伴う対物レンズとステージとの干渉を回避する。 - 特許庁

Concerning the dielectric porcelain composition having a main component containing barium titanate, in the case of observation with an electronic transmission microscope, this composition contains crystal grains having interference stripes more than 30% of the field of observation view.例文帳に追加

チタン酸バリウムを含む主成分を有する誘電体磁器組成物であって、透過電子顕微鏡により観察した際に、干渉縞を有する結晶粒子を観察視野の３０％以上含有する。 - 特許庁

In this microscopic observation method of metallic soap particles in grease, the grease is sandwiched between the two transparent plates with a force having prescribed strength and observed by an optical microscope having differential interference or polarization function.例文帳に追加

グリース中の金属石鹸粒子の顕微鏡観察方法において、グリースを透明な２枚の板の間に所定の強度の力で挟み、微分干渉もしくは偏光機能を有した光学顕微鏡で観察する。 - 特許庁

In the confocal microscope apparatus where reflected light L3 from an object S to be measured and reference light L2 are coupled, and the interference light L4 is detected by an interference light detecting means 6, then, the tomographic image of the object S is obtained, an optical modulation part 20 for carrying out the frequency modulation of the reference light L2 is provided.例文帳に追加

測定対象Ｓからの反射光Ｌ３と参照光Ｌ２が合波され、その干渉光Ｌ４が干渉光検出手段６により検出され測定対象Ｓの断層画像が取得される共焦点顕微鏡装置において、参照光Ｌ２の周波数変調を行う光変調部２０が設けられている。 - 特許庁

When the stylus-type prove 10 is irradiated with illumination light from a laser light source 4 through the glass substrate 20, an interference fringe appears resulting from the gap G, and the position in the X-direction of the interference fringe is detected by a microscope 2 and a CCD camera 3, to thereby measure the irregularity quantity on the sample S surface.例文帳に追加

レーザー光源４からの照明光をガラス基板２０を通して触針式プローブ１０へ照射すると、ギャップＧに起因して干渉縞が現れ、その干渉縞のＸ方向の位置を顕微鏡２とＣＣＤカメラ３で検出することにより、試料Ｓの表面の凹凸量を測定する。 - 特許庁

To project images while maintaining the characteristics of an interchangeable lens and an intermediate when projecting the image of a CCD on the receiving surface of an CDD for instance by mounting the intermediate such as an interchangeable lens and an interference filter in an optical system such as a microscope.例文帳に追加

顕微鏡などの光学系に交換レンズと干渉フィルタのような中間物を装着し、ＣＣＤなどの受光部に物体像を投影するとき、交換レンズと中間物の特性、特徴を生かしたままで投影する。 - 特許庁

A DIC motor 118 moves the Nomarski prism 117 in a direction orthogonal to the optical axis of the optical system of the optical microscope in accordance with acquirement of designation by the operation part 3, to adjust the retardation in differential interference observation.例文帳に追加

ＤＩＣモータ１１８は、操作部３による該指示の取得に応じ、光学顕微鏡の光学系の光軸に直交する方向にノマルスキープリズム１１７を移動させて、微分干渉観察におけるリタデーションの調整を行う。 - 特許庁

The sheeted material for preventing electromagnetic interference is provided, in which at least one layer (layer A) of a soft magnetic metal film comprising microcrystal whose particle size is less than 100nm as observed by a transmission microscope, is formed by wet plating.例文帳に追加

透過型顕微鏡下における観察で粒径が１００ナノメートル未満の微結晶を含有する軟磁性金属皮膜の少なくとも一層（Ａ層）が湿式めっき法によって形成されてなるシート状電磁波障害防止用材料である。 - 特許庁

To provide a differential interference microscope device for observing a sample with an increased contrast, wherein epi-illumination is performed from an image side of an objective even when a slit is provided on a condenser lens side.例文帳に追加

本発明は、試料のコントラストを高めて観察する微分干渉顕微鏡装置に関し、コンデンサレンズ側にスリットを設けた場合にも対物レンズの像側から落射照明を行うことができる微分干渉顕微鏡装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a zoom microscope with high expandability which can be used for contrast observation (e.g., differential interference observation, etc.) of a sample and in which other optical systems (e.g., a fluorescent incident light illumination system, etc.) can be arranged between an objective lens part and a zoom part if necessary.例文帳に追加

標本のコントラスト観察（例えば微分干渉観察など）に用いることができ、必要に応じて対物レンズ部とズーム部との間に他の光学系（例えば蛍光落射照明系など）を配置することもできる拡張性の高いズーム顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an interference microscope and a measuring apparatus, capable of measuring the surface shape of a sample (object to be measured) such as a wafer just by slightly inclining a reference mirror by a simple structure, identify accurate coordinate positions of dirt, pole pieces, etc., transmit and receive their accurate data to a charged particle beam device such as an electronic microscope and an image drawing device, and contribute more to an improvement in workability.例文帳に追加

簡易な構成により、参照ミラーを僅かに傾斜させるだけで、ウェハなどの試料（被測定物）の表面形状を計測し、ごみやポールピースなどの正確な座標位置を特定し、電子顕微鏡、描画装置などの荷電粒子ビーム装置にその正確なデータを送受信して、作業効率の向上に一層貢献することができる干渉顕微鏡及び測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for inspection of a mounting state of an electronic component or the like capable of inspecting automatically without depending on the individual difference of an inspecting person and the material of an electrode pad, and performing image processing corresponding to a change of the background brightness observed by a differential interference microscope.例文帳に追加

この発明は、検査人の個人差または電極パッドの材質に依存すること無く自動的に検査することができ、また、微分干渉顕微鏡で観察された背景の明るさの変化に応じた画像処理が可能な電子部品実装状態検査方法等を提供する。 - 特許庁

Besides, by using an optical observation apparatus utilizing the interference and refraction of light, without shrinking the resist pattern like the conventional case of recognizing the resist pattern by using an electron microscope, the line width can be precisely measured in a nondestructive manner.例文帳に追加

また、光の干渉、回折を利用した光学観察装置を用いることにより、従来において電子顕微鏡を用いてレジストパターンの認識を行った場合のようにレジストパターンの収縮を発生させることはなく、非破壊で精密に線幅を測定することができる。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for identifying and inspecting a simple easy phase object image, whereby a wide, deep measurement visual field is provided and a phase difference interference image is sharply obtained in the place of conventional phase difference microscope used for observing a phase object such as a biological cell.例文帳に追加

生体細胞のような位相物体の観察に用いられてきた従来の位相差顕微鏡に代わって、広くて深い測定視界を持ち、位相差の干渉画像が鮮明に得られる、単純で簡便な位相物体画像の識別、検査の方法と装置を提供する。 - 特許庁

This transmission electron microscope can form an electron beam hologram H by a control device 17 by bringing an electron beam biprism 15 into a state in which interference is caused between an object wave E1 and a reference wave E2 by grounding an object wave side electrode 15a and a reference wave side electrode 15b and impressing positive potential V1 to a filament 15c.例文帳に追加

制御装置１７により、電子線バイプリズム１５を、物体波側電極１５ａと参照波側電極１５ｂとを接地し、フィラメント１５ｃに正の電位Ｖ１を印加し、物体波Ｅ１と参照波Ｅ２とを干渉させる状態にすることにより、電子線ホログラムＨを形成することができる。 - 特許庁

In a method of evaluating the surface of a principal surface of an attraction retainer onto which an object is to be attracted, surface evaluation of the principal surface is performed based on images of interference patterns in the principal surface obtained using a laser microscope.例文帳に追加

被吸着物を吸着する吸着保持装置の前記被吸着物を吸着する側の主面に対する表面評価方法であって、レーザ顕微鏡を用いて求められた前記主面における干渉縞の像に基づいて前記主面に対する表面評価を行うことを特徴とする吸着保持装置の表面評価方法。 - 特許庁

An infrared microscope system 1 includes an optical unit 50 that narrows down the infrared light flux supplied from an interference unit 22 of an FT-IR 2 to a smaller diameter in a substantially parallel light, so as to generate a high density infrared light flux having a higher light beam density than the supplied infrared light flux and to introduce it.例文帳に追加

本発明の赤外顕微システム１は、ＦＴ−ＩＲ２の干渉計部２２から供給された赤外光線束を実質的に平行光とした状態で小径に絞ることで、当該赤外光線束の光線密度よりも高い光線密度とされた高密度の赤外光線束を形成して導入する光学ユニット５０を備えている。 - 特許庁

To provide a three-dimensional shape measuring device for measuring and displaying a three-dimensional shape efficiently by relating surface optical image information acquired by a confocal laser scanning type microscope with a simple configuration to height information acquired by a microscopic interference measurement method for management and easily acquiring the three-dimensional shape of a high-definition and high-resolution sample over a wide magnification range.例文帳に追加

簡単な構成で共焦点レーザ走査型顕微鏡によって取得される表面光学像情報と顕微干渉計測法によって取得される高さ情報を関連付けて管理し、広い倍率範囲に渡って高精細、高分解能な試料の３次元形状を容易に取得し、効率的にこの３次元形状を測定、表示する３次元形状測定装置を提供する。 - 特許庁